一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片。
【背景技術(shù)】
[0002]流式細(xì)胞檢測(cè)是一種在功能水平上對(duì)單細(xì)胞或其他生物粒子進(jìn)行定量分析和分選的檢測(cè)手段，它可以高速分析上萬個(gè)細(xì)胞，并能同時(shí)從一個(gè)細(xì)胞中測(cè)得多個(gè)參數(shù)，與傳統(tǒng)的熒光鏡檢查相比，具有速度快、精度高、準(zhǔn)確性好等優(yōu)點(diǎn)，成為當(dāng)代最先進(jìn)的細(xì)胞定量分析技術(shù)。1956年，Coulter在多年研宄的基礎(chǔ)上利用Coulter效應(yīng)生產(chǎn)了 Coulter計(jì)數(shù)器。其基本原理是:使細(xì)胞通過一個(gè)小孔，只在細(xì)胞與懸浮的介質(zhì)之間存在著導(dǎo)電性上的差異，便會(huì)影響小孔道的電阻特性，從而形成電脈沖信號(hào)，測(cè)量電脈沖的強(qiáng)度和個(gè)數(shù)則可獲得有關(guān)細(xì)胞大小和數(shù)目方面的信息。
[0003]樣品聚焦是流式細(xì)胞檢測(cè)的關(guān)鍵技術(shù)，目前的檢測(cè)中都是通過外力作用對(duì)樣品液實(shí)現(xiàn)聚焦，這類檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜，成本高，外力驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)需要消耗能源。因此有必要設(shè)計(jì)了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、聚焦效果好、不需要外力驅(qū)動(dòng)即可進(jìn)行流式細(xì)胞檢測(cè)的芯片。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、聚焦效果好、不需要外力驅(qū)動(dòng)即可進(jìn)行檢測(cè)的流式細(xì)胞檢測(cè)芯片。
[0005]實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型目的的技術(shù)方案是:一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，包括芯片本體、前側(cè)膜和后側(cè)膜；所述前側(cè)膜和后側(cè)膜分別貼附在芯片本體的前后兩側(cè)；所述芯片本體的背面從上至下設(shè)有通過流道依次連通的儲(chǔ)液槽、檢測(cè)槽和廢液槽；所述芯片本體的頂部設(shè)有連通儲(chǔ)液槽的加樣孔；所述芯片本體的正面設(shè)有多個(gè)分別與儲(chǔ)液槽、檢測(cè)槽和廢液槽連通的檢測(cè)孔。
[0006]所述芯片本體呈倒梯形。
[0007]所述前側(cè)膜的膠面上與芯片本體正面的檢測(cè)孔對(duì)應(yīng)的區(qū)域設(shè)置為鏤空；所述后側(cè)膜的膠面上與芯片本體背面的儲(chǔ)液槽、檢測(cè)槽和廢液槽對(duì)應(yīng)的區(qū)域設(shè)置為鏤空。
[0008]一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，還包括保護(hù)膜；所述保護(hù)膜貼附在前側(cè)膜上。
[0009]采用了上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型具有以下的有益效果:(1)本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，前側(cè)膜和后側(cè)膜分別貼附在芯片本體的前后兩側(cè)，使得樣品能夠依靠自身的重力在芯片本體內(nèi)的儲(chǔ)液槽、檢測(cè)槽和廢液槽內(nèi)依次流動(dòng)，從而不需要外力驅(qū)動(dòng)即可進(jìn)行檢測(cè)。
[0010](2)本實(shí)用新型的芯片本體呈倒梯形，便于安裝，并且使測(cè)試更加穩(wěn)定。
[0011](3)本實(shí)用新型的前側(cè)膜和后側(cè)膜的膠面上的鏤空區(qū)域能夠避免膠面對(duì)樣品造成影響。
[0012](4)本實(shí)用新型的前側(cè)膜上貼附保護(hù)膜，能有效保護(hù)檢測(cè)芯片的前側(cè)膜在檢測(cè)前不被破壞。
【附圖說明】
[0013]為了使本實(shí)用新型的內(nèi)容更容易被清楚地理解，下面根據(jù)具體實(shí)施例并結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明，其中
[0014]圖1為本實(shí)用新型的側(cè)視圖。
[0015]圖2為本實(shí)用新型的芯片本體的正面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖3為本實(shí)用新型的芯片本體的背面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]附圖中的標(biāo)號(hào)為:
[0018]芯片本體1、儲(chǔ)液槽11、檢測(cè)槽12、廢液槽13、檢測(cè)孔14、前側(cè)膜2、后側(cè)膜3、保護(hù)膜4。
【具體實(shí)施方式】
[0019](實(shí)施例1)
[0020]見圖1至圖3，本實(shí)施例的流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，包括芯片本體1、前側(cè)膜2、后側(cè)膜3和保護(hù)膜4。
[0021]芯片本體I呈倒梯形。芯片本體I的背面從上至下設(shè)有通過流道依次連通的儲(chǔ)液槽11、檢測(cè)槽12和廢液槽13。芯片本體I的頂部設(shè)有連通儲(chǔ)液槽11的加樣孔。芯片本體I的正面設(shè)有多個(gè)分別與儲(chǔ)液槽11、檢測(cè)槽12和廢液槽13連通的檢測(cè)孔14。前側(cè)膜2和后側(cè)膜3分別貼附在芯片本體I的前后兩側(cè)。前側(cè)膜2的膠面上與芯片本體I正面的檢測(cè)孔14對(duì)應(yīng)的區(qū)域設(shè)置為鏤空。后側(cè)膜3的膠面上與芯片本體I背面的儲(chǔ)液槽11、檢測(cè)槽12和廢液槽13對(duì)應(yīng)的區(qū)域設(shè)置為鏤空。保護(hù)膜4貼附在前側(cè)膜2上。
[0022]使用時(shí)，先取出一片本實(shí)施例的流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，撕開保護(hù)膜4，然后插入流式細(xì)胞檢測(cè)裝置的芯片支架的芯片槽中。然后在芯片本體I的在加樣孔中加入待測(cè)樣品。然后旋轉(zhuǎn)流式細(xì)胞檢測(cè)裝置的芯片支架，使流式細(xì)胞檢測(cè)裝置的電極板上的電極刺破前側(cè)膜2，并進(jìn)入芯片本體I的檢測(cè)孔14內(nèi)開始檢測(cè)；最后檢測(cè)完成后生成測(cè)試報(bào)告。
[0023]以上所述的具體實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例而已，并不用于限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，其特征在于:包括芯片本體(1)、前側(cè)膜(2)和后側(cè)膜(3);所述前側(cè)膜(2)和后側(cè)膜(3)分別貼附在芯片本體(I)的前后兩側(cè)；所述芯片本體(I)的背面從上至下設(shè)有通過流道依次連通的儲(chǔ)液槽(11)、檢測(cè)槽(12)和廢液槽(13);所述芯片本體(I)的頂部設(shè)有連通儲(chǔ)液槽(11)的加樣孔；所述芯片本體(I)的正面設(shè)有多個(gè)分別與儲(chǔ)液槽(11)、檢測(cè)槽(12)和廢液槽(13)連通的檢測(cè)孔(14) ?
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，其特征在于:所述芯片本體(I)呈倒梯形。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，其特征在于:所述前側(cè)膜(2)的膠面上與芯片本體(I)正面的檢測(cè)孔(14)對(duì)應(yīng)的區(qū)域設(shè)置為鏤空；所述后側(cè)膜(3)的膠面上與芯片本體⑴背面的儲(chǔ)液槽(11)、檢測(cè)槽(12)和廢液槽(13)對(duì)應(yīng)的區(qū)域設(shè)置為鏤空。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，其特征在于:還包括保護(hù)膜⑷；所述保護(hù)膜⑷貼附在前側(cè)膜⑵上。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種流式細(xì)胞檢測(cè)芯片，包括芯片本體、前側(cè)膜和后側(cè)膜；所述前側(cè)膜和后側(cè)膜分別貼附在芯片本體的前后兩側(cè)；所述芯片本體的背面從上至下設(shè)有通過流道依次連通的儲(chǔ)液槽、檢測(cè)槽和廢液槽；所述芯片本體的頂部設(shè)有連通儲(chǔ)液槽的加樣孔；所述芯片本體的正面設(shè)有多個(gè)分別與儲(chǔ)液槽、檢測(cè)槽和廢液槽連通的檢測(cè)孔。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，前側(cè)膜和后側(cè)膜分別貼附在芯片本體的前后兩側(cè)，使得樣品能夠依靠自身的重力在芯片本體內(nèi)的儲(chǔ)液槽、檢測(cè)槽和廢液槽內(nèi)依次流動(dòng)，從而不需要外力驅(qū)動(dòng)即可進(jìn)行檢測(cè)。
【IPC分類】G01N15-14
【公開號(hào)】CN204556464
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520225700
【發(fā)明人】沙俊, 吳旭東, 湯騰, 江吉蕊
【申請(qǐng)人】鎮(zhèn)江吉蕊生物科技有限公司
【公開日】2015年8月12日
【申請(qǐng)日】2015年4月15日