一種多功能主控板測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種多功能主控板測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]FPC功能測(cè)試機(jī)通常會(huì)有很多測(cè)試電路及控制顯示部分組成，可測(cè)試多種FPC板載元器件，常見的有電容，電阻，二極管，OS等。但其體積較大，不便于移動(dòng)，且需要搭配獨(dú)立載具或夾具才能使用。在這個(gè)快速發(fā)展的數(shù)碼時(shí)代，電子產(chǎn)品技術(shù)的不斷提升，對(duì)FPC的測(cè)試早已不僅僅局限于一些電容，電阻，二極管這些常見的元件，對(duì)一些芯片元件的功能也要進(jìn)行很全面的檢測(cè)，這個(gè)時(shí)候，現(xiàn)有這些測(cè)試機(jī)就無法滿足測(cè)試要求。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種多功能主控板測(cè)試系統(tǒng)。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了如下的技術(shù)方案：
[0005]本實(shí)用新型一種多功能主控板測(cè)試系統(tǒng)，其包括：
[0006]微控制單元，其用于進(jìn)行測(cè)試所需的動(dòng)作控制及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)運(yùn)算；
[0007]選點(diǎn)模塊，與所述微控制單元連接，其用于提供待測(cè)產(chǎn)品點(diǎn)位選擇，將待測(cè)試點(diǎn)位切入各測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試；
[0008]開路短路OS測(cè)試模塊，與微控制單元連接，其用于與選點(diǎn)模塊配合進(jìn)行電阻測(cè)試；
[0009]恒流電源模塊，與微控制單元連接，其用于為TVS瞬變電壓抑制二極管測(cè)試模塊和四線測(cè)試模塊提供恒定電流；
[0010]IXD12864接口，與微控制單元連接，所述IXD12864接口用于實(shí)時(shí)顯示測(cè)試結(jié)果及狀態(tài)；
[0011]按鍵接口，與微控制單元連接，其用于提供輸入功能，并配合所述IXD12864接口實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互界面；
[0012]信號(hào)輸入模塊，其用于檢測(cè)外部信號(hào)的輸入變化并傳送至微控制單元，所述微控制單元做出相應(yīng)的動(dòng)作或行為回應(yīng)；
[0013]信號(hào)輸出模塊，與微控制單元連接，所述信號(hào)輸出模塊用于向外部傳遞微控制單元發(fā)出的指令。
[0014]進(jìn)一步地，所述微控制單元還連接有擴(kuò)展接口模塊，所述擴(kuò)展接口模塊上集成有若干不同類型的通訊接口。
[0015]進(jìn)一步地，所述通訊接口為IIC接口，所述IIC接口用于測(cè)試芯片的內(nèi)部功能。
[0016]進(jìn)一步地，所述微控制單元還連接有UART接口，所述UART接口用于串口通訊及上位機(jī)通訊。
[0017]進(jìn)一步地，所述微控制單元還連接有CAP電容測(cè)試模塊，其用于與選點(diǎn)模塊配合進(jìn)行電容測(cè)試，并得到測(cè)試數(shù)據(jù)以供分析。
[0018]進(jìn)一步地，所述微控制單元還連接有TVS瞬變電壓抑制二極管測(cè)試模塊，所述TVS瞬變電壓抑制二極管測(cè)試模塊配合恒流電源和選點(diǎn)模塊對(duì)二極管以及TVS管進(jìn)行測(cè)試。
[0019]進(jìn)一步地，所述微控制單元還連接有四線測(cè)試模塊，所述四線測(cè)試模塊配合恒流源、TVS瞬變電壓抑制二極管測(cè)試模塊以及選點(diǎn)模塊，用于測(cè)試低阻值的待測(cè)產(chǎn)品。
[0020]進(jìn)一步地，所述開路短路OS測(cè)試模塊的測(cè)試范圍為10ohm-2Mohm。
[0021]進(jìn)一步地，所述CAP電容測(cè)試模塊的測(cè)試范圍為10nF-10uF。
[0022]進(jìn)一步地，所述四線測(cè)試模塊的測(cè)試范圍為O. 05mohm-2ohm。
[0023]本實(shí)用新型所達(dá)到的有益效果是：
[0024]本實(shí)用新型多功能主控板測(cè)試系統(tǒng)除測(cè)試機(jī)所具有的一般功能外，更具有體積小，靈活，方便，易植入測(cè)試夾具的特點(diǎn)，可根據(jù)不同的測(cè)試需求和不同的產(chǎn)品類型，進(jìn)行實(shí)時(shí)的定制，以滿足不同客戶不同產(chǎn)品的測(cè)試要求，同時(shí)又具備一些芯片內(nèi)部功能的測(cè)試條件，解決了傳統(tǒng)測(cè)試機(jī)無法完成的問題，并可進(jìn)行一些特殊功能測(cè)試的擴(kuò)展，具有與時(shí)俱進(jìn)的發(fā)展特點(diǎn)。
[0025]多功能主控板測(cè)試系統(tǒng)還具有成本低，效率高等特點(diǎn)，一般測(cè)試機(jī)能完成的工作，此系統(tǒng)只需一塊主控板和一塊開關(guān)板即可替代傳統(tǒng)測(cè)試機(jī)的絕大多數(shù)功能。大大減少了制作成本，同時(shí)也免去傳統(tǒng)測(cè)試機(jī)的復(fù)雜操作及設(shè)置。更不受區(qū)域的限制，使用此主控板制作出來的治具，不僅體積小，更方便移動(dòng)和存貯。主控板本身也具有維修方便，可回收多次利用的優(yōu)點(diǎn)，減少對(duì)環(huán)境的污染。
【附圖說明】
[0026]附圖用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本實(shí)用新型的實(shí)施例一起用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的限制。在附圖中：
[0027]圖I是本實(shí)用新型的系統(tǒng)框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說明，應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的優(yōu)選實(shí)施例僅用于說明和解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0029]如圖I所示，本實(shí)用新型一種多功能主控板測(cè)試系統(tǒng)，其包括：
[0030]微控制單元，其用于進(jìn)行測(cè)試所需的動(dòng)作控制及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)運(yùn)算；微控制單元的供電電壓為+5V/+15V/-15V ；
[0031]選點(diǎn)模塊，與所述微控制單元連接，其用于提供待測(cè)產(chǎn)品點(diǎn)位選擇，將待測(cè)試點(diǎn)位切入各測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。如將產(chǎn)品點(diǎn)位切入開路短路OS測(cè)試模塊，通過微控制單元控制及數(shù)據(jù)分析運(yùn)算，即可測(cè)試相應(yīng)點(diǎn)位之間的阻值。
[0032]開路短路OS測(cè)試模塊，與微控制單元連接，其用于與選點(diǎn)模塊配合進(jìn)行電阻測(cè)試；同時(shí)與OS測(cè)試系統(tǒng)共用，在保證功能的前提減少了部分硬件成本；
[0033]恒流電源模塊，與微控制單元連接，能提供兩種參數(shù)不同的恒流源，分別為TVS瞬變電壓抑制二極管測(cè)試模塊和四線測(cè)試模塊提供恒定電流；
[0034]IXD12864接口，與微控制單元連接，所述IXD12864接口用于實(shí)時(shí)顯示測(cè)試結(jié)果及狀態(tài)；方便使用者根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)狀態(tài)作出相應(yīng)處理。
[0035]按鍵接口，與微控制單元連接，其用于提供輸入功能，并配合所述IXD12864接口實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互界面，是一種更人性化的體現(xiàn)；
[0036]信號(hào)輸入模塊，其用于檢測(cè)外部信號(hào)的輸入變化并傳送至微控制單元，所述微控制單元做出相應(yīng)的動(dòng)作或行為回應(yīng)；
[0037]信號(hào)輸出模塊，與微控制單元連接，所述信號(hào)輸出模塊用于向外部傳遞微控制單元發(fā)出的指令，如控制電磁閥等。
[0038]所述微控制單元還連接有擴(kuò)展接口模塊，所述擴(kuò)展接口模塊上集成有若干不同類型的通訊接口