用于dam自動測試的測試適配器和檢測連接設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于數(shù)字陣列雷達(dá)技術(shù)領(lǐng)域，尤其屬于數(shù)字陣列模塊(DAM)的自動化測試設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及用于DAM自動測試的測試適配器和檢測連接設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]數(shù)字陣列雷達(dá)是一種接收和發(fā)射波束均采用數(shù)字波束形成技術(shù)的全數(shù)字化相控陣?yán)走_(dá)，較之傳統(tǒng)相控陣?yán)走_(dá)，數(shù)字陣列雷達(dá)具有其無法比擬的優(yōu)點，如動態(tài)范圍大、容易實現(xiàn)多波束、低損耗、低副瓣、抗干擾能力強、精度高、可靠性高等，因此，數(shù)字陣列雷達(dá)的應(yīng)用前景非常廣闊。數(shù)字陣列模塊是數(shù)字陣列雷達(dá)最重要和數(shù)量最多的基本單元，其測試指標(biāo)繁瑣龐雜，如何實現(xiàn)計算機自動化測試具有非常實際的意義。
[0003]如今基于計算機的自動檢測方法已相當(dāng)成熟，如果市場上能夠提供一種用于DAM與計算機之間連接的測試適配器以及檢測連接設(shè)備，無疑能夠?qū)崿F(xiàn)計算機對DAM的通訊與控制，進(jìn)而實現(xiàn)自動檢測，極大地提高檢測的效率。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]針對目前缺乏計算機與DAM之間連接的測試適配器以及檢測連接設(shè)備的難題，本實用新型提供一種用于DAM自動測試的測試適配器和檢測連接設(shè)備。其具體結(jié)構(gòu)如下:
[0005]用于DAM自動測試的測試適配器:由10個單刀雙擲開關(guān)101、1個單刀十?dāng)S開關(guān)102、I個一分十功率合成器103和I個一分四功分器104構(gòu)成。其中，單刀雙擲開關(guān)101均包括I個公共端口和2個切換端口。單刀十?dāng)S開關(guān)102包括I個公共端口和10個切換端口。一分十功率合成器103包括I個輸入端口和10個輸出端口。一分四功分器104包括I個輸入端口和4個輸出端口。
[0006]每個單刀雙擲開關(guān)101的一個切換端口與單刀十?dāng)S開關(guān)102的I個切換端口相連接，單刀雙擲開關(guān)101的另一個切換端口與一分十功率合成器103的I個輸出端口相連接。一分十功率合成器103的輸入端口與一分四功分器104的輸入端口相連接。一分四功分器104的4個輸出端口、單刀十?dāng)S開關(guān)102的輸入端口、每個單刀雙擲開關(guān)101的公共端口均為本測試適配器對外接口。
[0007]采用本實用新型所述測試適配器的檢測連接設(shè)備:包括第二程控電源2、信號源3、頻譜儀4、功率計5和噪聲源6。所述第二程控電源2、信號源3、頻譜儀4、功率計5和噪聲源6分別與本實用新型所提供的用于DAM自動測試的測試適配器相連接。其中，第二程控電源2給本新型所述的測試適配器提供工作電源，信號源3負(fù)責(zé)提供信號激勵，頻譜儀4負(fù)責(zé)接受頻率信號，功率計5負(fù)責(zé)接受功率信號，噪聲源6負(fù)責(zé)提供噪聲激勵。
[0008]有益的技術(shù)效果
[0009]本實用新型具有測試精度高，連接簡單，無需反復(fù)插拔或配線，易于人員操作的優(yōu)點，尤其表現(xiàn)如下方面:
[0010]本實用新型所述的測試適配器能夠?qū)⒂糜贒AM檢測的儀器連接在一起，公用一套連線，避免每檢測一個參數(shù)就要搭建一次檢測平臺所帶來的耗時耗力的問題。
[0011]本實用新型所述的檢測連接設(shè)備將測試適配器與用于DAM檢測的儀器優(yōu)化地整合在一起，并實現(xiàn)檢測連接設(shè)備與計算機/工控機的通訊連接，能夠?qū)⒛軌驅(qū)⒂嬎銠C的指令傳遞至各個檢測儀器及待測的DAM，同時接收各個檢測儀器及待測的DAM的返回信息。
[0012]本實用新型中的所有儀器設(shè)備都能通過總線與計算機相連，實現(xiàn)計算機控制下實現(xiàn)數(shù)字陣列模塊的自動化測試。
【附圖說明】
[0013]圖1為本實用新型所述測試適配器的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖2為本實用新型所述檢測連接設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0015]現(xiàn)結(jié)合附圖詳細(xì)說明本實用新型的結(jié)構(gòu)特點。
[0016]參見圖1，用于DAM自動測試的測試適配器:由10個單刀雙擲開關(guān)101、1個單刀十?dāng)S開關(guān)102、I個一分十功率合成器103和I個一分四功分器104構(gòu)成。其中，單刀雙擲開關(guān)101均包括I個公共端口和2個切換端口。單刀十?dāng)S開關(guān)102包括I個公共端口和10個切換端口。一分十功率合成器103包括I個輸入端口和10個輸出端口。一分四功分器104包括I個輸入端口和4個輸出端口。
[0017]每個單刀雙擲開關(guān)101的一個切換端口與單刀十?dāng)S開關(guān)102的I個切換端口相連接，單刀雙擲開關(guān)101的另一個切換端口與一分十功率合成器103的I個輸出端口相連接。一分十功率合成器103的輸入端口與一分四功分器104的輸入端口相連接。一分四功分器104的4個輸出端口、單刀十?dāng)S開關(guān)102的輸入端口、每個單刀雙擲開關(guān)101的公共端口均為本測試適配器對外接口。
[0018]進(jìn)一步說，單刀雙擲開關(guān)101和單刀十?dāng)S開關(guān)102均為有源開關(guān)。在每個單刀雙擲開關(guān)101還設(shè)有I個電源端口和I個控制端口。單刀十?dāng)S開關(guān)102還包括I個電源端口和I個控制端口。
[0019]參見圖2，包括第二程控電源2、信號源3、頻譜儀4、功率計5和噪聲源6。所述第二程控電源2、信號源3、頻譜儀4、功率計5和噪聲源6分別與本實用新型所提供的用于DAM自動測試的測試適配器相連接。其中，第二程控電源2給本新型所述的測試適配器提供工作電源，信號源3負(fù)責(zé)提供信號激勵，頻譜儀4負(fù)責(zé)接受頻率信號，功率計5負(fù)責(zé)接受功率信號，噪聲源6負(fù)責(zé)提供噪聲激勵。
[0020]參見圖1，進(jìn)一步說，信號源3、頻譜儀4、功率計5分別與一分四功分器104的I個輸出端口相連接。噪聲源6與單刀十?dāng)S開關(guān)102的公共端口相連接。第二程控電源2分別與單刀雙擲開關(guān)101的電源端口、單刀十?dāng)S開關(guān)102的電源端口相連接。
[0021]參見圖2，進(jìn)一步說，還包括第一程控電源1、時鐘本振單元8和光纖接口板9。其中，第一程控電源I負(fù)責(zé)向待測DAM供電。時鐘本振單元8負(fù)責(zé)向待測DAM提供時鐘本振激勵。光纖接口板9向待測DAM提供控制激勵，同時，光纖接口板9還與待測DAM進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。
[0022]參見圖1和圖2，進(jìn)一步說，還包括一塊負(fù)責(zé)輸出控制信號的FPGA控制板7。所述FPGA控制板7分別與單刀雙擲開關(guān)101的控制端口、單刀十?dāng)S開關(guān)102的控制端口相連接。
[0023]參見圖2，進(jìn)一步說，第一程控電源1、第二程控電源2、信號源3、頻譜儀4、功率計5、噪聲源6、時鐘本振單元8和光纖接口板9均通過數(shù)據(jù)總線與工控機相連接。所述數(shù)據(jù)總線的格式包括CPC1、以太網(wǎng)、GPIB和422。
[0024]參見圖1，進(jìn)一步說，一分四功分器104的第4個輸出端口與負(fù)載相連接。
[0025]進(jìn)一步說，所述負(fù)載的阻值為50歐姆。
[0026]測試噪聲系數(shù)時，通過控制測試適配器內(nèi)的單刀雙擲開關(guān)和單刀10擲開關(guān)的切換，使被測通道與噪聲源連接。測試DAM輸出功率時，通過切換單刀雙擲開關(guān)將DAM輸出信號送至I分10功率合成器，I分10功率合成器內(nèi)有衰減器，發(fā)射通道輸出的大功率信號首先經(jīng)過衰減再合成輸出至功率計測試。時鐘本振給數(shù)字陣列模塊提供時鐘本振激勵，作為測試的同步信號。光纖接口板內(nèi)部包含光模塊，可以實現(xiàn)數(shù)字陣列模塊的數(shù)據(jù)傳輸和控制激勵。數(shù)字陣列模塊和測試適配器通過程控電源供電。
【主權(quán)項】
1.用于DAM自動測試的測試適配器，其特征在于:由10個單刀雙擲開關(guān)(101)、1個單刀十?dāng)S開關(guān)(102)、I個一分十功率合成器(103)和I個一分四功分器(104)構(gòu)成；其中，單刀雙擲開關(guān)(101)均包括I個公共端口和2個切換端口 ；單刀十?dāng)S開關(guān)(102)包括I個公共端口和10個切換端口 ；一分十功率合成器(103)包括I個輸入端口和10個輸出端口 ；一分四功分器(104)包括I個輸入端口和4個輸出端口 ； 每個單刀雙擲開關(guān)(101)的一個切換端口與單刀十?dāng)S開關(guān)(102)的I個切換端口相連接，單刀雙擲開關(guān)(101)的另一個切換端口與一分十功率合成器(103)的I個輸出端口相連接；一分十功率合成器(103)的輸入端口與一分四功分器(104)的輸入端口相連接；一分四功分器(104)的4個輸出端口、單刀十?dāng)S開關(guān)(102)的輸入端口、每個單刀雙擲開關(guān)(101)的公共端口均為本測試適配器對外接口。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于DAM自動測試的測試適配器，其特征在于:單刀雙擲開關(guān)(101)和單刀十?dāng)S開關(guān)(102)均為有源開關(guān)；在每個單刀雙擲開關(guān)(101)還設(shè)有I個電源端口和I個控制端口 ；單刀十?dāng)S開關(guān)(102)還包括I個電源端口和I個控制端口。3.采用權(quán)利要求2所述測試適配器的檢測連接設(shè)備，其特征在于:包括第二程控電源(2)、信號源(3)、頻譜儀(4)、功率計(5)和噪聲源(6);所述第二程控電源(2)、信號源(3)、頻譜儀(4)、功率計(5)和噪聲源(6)分別與本實用新型所提供的用于DAM自動測試的測試適配器相連接； 其中，第二程控電源(2)給本新型所述的測試適配器提供工作電源，信號源(3)負(fù)責(zé)提供信號激勵，頻譜儀(4)負(fù)責(zé)接受頻率信號，功率計(5)負(fù)責(zé)接受功率信號，噪聲源(6)負(fù)責(zé)提供噪聲激勵。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述測試適配器的檢測連接設(shè)備，其特征在于:信號源(3)、頻譜儀(4)、功率計(5)分別與一分四功分器(104)的I個輸出端口相連接；噪聲源(6)與單刀十?dāng)S開關(guān)(102)的公共端口相連接；第二程控電源(2)分別與單刀雙擲開關(guān)(101)的電源端口、單刀十?dāng)S開關(guān)(102)的電源端口相連接。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述測試適配器的檢測連接設(shè)備，其特征在于:還包括第一程控電源(I)、時鐘本振單元(8 )和光纖接口板(9 );其中，第一程控電源(I)負(fù)責(zé)向待測DAM供電；時鐘本振單元(8)負(fù)責(zé)向待測DAM提供時鐘本振激勵；光纖接口板(9)向待測DAM提供控制激勵，同時，光纖接口板(9)還與待測DAM進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。6.根據(jù)權(quán)利要求4所述測試適配器的檢測連接設(shè)備，其特征在于:還包括一塊負(fù)責(zé)輸出控制信號的FPGA控制板(7 );所述FPGA控制板(7 )分別與單刀雙擲開關(guān)(1I)的控制端口、單刀十?dāng)S開關(guān)(102)的控制端口相連接。7.根據(jù)權(quán)利要求4所述測試適配器的檢測連接設(shè)備，其特征在于:第一程控電源(1)、第二程控電源(2)、信號源(3)、頻譜儀(4)、功率計(5)、噪聲源(6)、時鐘本振單元(8)和光纖接口板(9)均通過數(shù)據(jù)總線與工控機相連接。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述測試適配器的檢測連接設(shè)備，其特征在于:所述數(shù)據(jù)總線的格式包括CPC1、以太網(wǎng)、GPIB和422。9.根據(jù)權(quán)利要求4所述測試適配器的檢測連接設(shè)備，其特征在于:一分四功分器(104)的第4個輸出端口與負(fù)載相連接。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述測試適配器的檢測連接設(shè)備，其特征在于:所述負(fù)載的阻值為 50歐姆。
【專利摘要】針對目前缺乏計算機與DAM之間連接的測試適配器以及檢測連接設(shè)備的難題，本實用新型提供一種用于DAM自動測試的測試適配器和檢測連接設(shè)備。所述測試適配器：由單刀雙擲開關(guān)、單刀十?dāng)S開關(guān)、一分十功率合成器和一分四功分器構(gòu)成；采用本實用新型所述測試適配器的檢測連接設(shè)備：包括第二程控電源、信號源、頻譜儀、功率計和噪聲源；有益的技術(shù)效果：本實用新型具有測試精度高，連接簡單，無需反復(fù)插拔或配線，易于人員操作的優(yōu)點。
【IPC分類】G01S7/40
【公開號】CN204649961
【申請?zhí)枴緾N201520167570
【發(fā)明人】蔡寧霞, 方東, 王立, 任鳳, 陳雨君, 金瑾, 吳文娟, 李慶
【申請人】安徽四創(chuàng)電子股份有限公司
【公開日】2015年9月16日
【申請日】2015年3月24日