Led芯片結構的成像測量裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種測量裝置，尤其涉及一種LED芯片結構的成像測量裝置。
【背景技術】
[0002]通常使用的LED、特別是大功率LED由芯片、熒光粉、封裝材料等組成，LED芯片中主要包含電極結構、半導體發(fā)光PN結等部件。不同品牌的LED芯片在電極設計上各有特點，既有利于更高的發(fā)光效率，又可以通過芯片電極結構差異進行區(qū)分。但LED芯片尺寸很小通常不到5mm，芯片上又涂覆熒光粉，發(fā)光時亮度高十分刺眼，以上原因使得人們難以直接觀察到LED芯片電極結構的特征情況，也難以從外觀上區(qū)分不同品牌不同成本的LED，這一現(xiàn)狀導致照明產業(yè)在選用LED作原料時極易出現(xiàn)以次充好的不良生產情況。若采用破壞LED結構、刮去熒光粉等封裝部件觀察LED芯片電極形貌方法，則分析步驟繁瑣、檢測效率低、檢測成本高，且技術專業(yè)性強，普通人員難以掌握。因此設計一種LED芯片結構的成像測量裝置是十分有必要的。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型為克服上述的不足之處，目的在于提供LED芯片結構的成像測量裝置，該裝置依據(jù)LED發(fā)光時芯片的電極與其他部件在發(fā)光波長、亮度等光學指標上存在一定程度區(qū)分的特性，進而通過光學原理得到LED芯片中電極的形貌圖案及電極尺寸數(shù)據(jù)，從而實現(xiàn)在不破壞LED芯片結構的基礎上完成測量。
[0004]本實用新型是通過以下技術方案達到上述目的:LED芯片結構的成像測量裝置，包括:驅動電源、導軌、LED光源固定支架、幾何光學組件、成像部件；LED光源固定支架、幾何光學組件、成像部件從左到右依次軸接在導軌上；驅動電源用于給待測LED供電。
[0005]作為優(yōu)選，所述的幾何光學組件包括濾波片、光強衰減片、透鏡組；濾波片、光強衰減片、透鏡組自左及右依次軸接在導軌上，并能在導軌上自由滑動。
[0006]作為優(yōu)選，所述的透鏡組是球面透鏡組合或菲涅爾透鏡組合兩種中的任意一種，透鏡組能夠通過調焦，實現(xiàn)被測LED芯片清晰成像到成像部件上，且要求每一透鏡的透光率彡95%。
[0007]作為優(yōu)選，所述的成像部件為成像屏、光電成像設備兩種內的任意一種。
[0008]作為優(yōu)選，所述的成像部件若為光電成像設備，光電成像設備將圖像數(shù)據(jù)傳給圖像處理設備分析并存儲。
[0009]作為優(yōu)選，所述的導軌為可移動導軌。
[0010]本實用新型的有益效果在于:(I)本實用新型裝置具有結構緊湊、成像清晰、成像大小可調、圖像噪聲小、光強可調的優(yōu)點；(2)本實用新型裝置可以在不破壞LED芯片結構的前提下實現(xiàn)測量，且能應用于市面上多種型號的大功率LED產品。
【附圖說明】
[0011]圖1是本實用新型的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0012]下面結合具體實施例對本實用新型進行進一步描述，但本實用新型的保護范圍并不僅限于此:
[0013]實施例:如圖1所示，LED芯片結構的成像測量裝置包括:驅動電源1、可移動導軌2、LED光源固定支架3、濾波片5、光強衰減片6、透鏡組7、成像部件；LED光源固定支架3、濾波片5、光強衰減片6、透鏡組7、成像部件從左到右依次軸接在可移動導軌2上，并能在可移動導軌2上沿軸向自由滑動；驅動電源I用于給待測LED供電。
[0014]所述的LED光源固定支架3用于固定LED，使發(fā)光面面向透鏡組7。驅動電源I給被測LED 4供電，使其正常點亮發(fā)光，驅動電源I可通過調節(jié)電流對LED光強大小實現(xiàn)調節(jié)控制。
[0015]所述的透鏡組7可根據(jù)需要在軌道上軸向移動，透鏡組7為LED成像透鏡(可使用球面透鏡，也可使用菲涅爾透鏡)，透鏡作用是對被測LED實現(xiàn)光學成像。
[0016]使用時，根據(jù)常規(guī)的白光LED發(fā)光特性，增加藍光波段的高通濾波片，作用是使LED光源中芯片發(fā)出的450nm左右的藍色光通過，盡量過濾掉熒光粉等產生的其他混合光成分，并減少成像圖像噪聲，有利于提高成像形貌的清晰度和對比度。
[0017]所述的光強衰減片6對LED光適當衰減，使成像亮度明暗適宜。
[0018]所述的成像部件若為成像屏，在導軌上調節(jié)成像屏的位置，使屏上獲得LED芯片清晰放大的影像，即可供直接觀察。如果在屏上進行適當刻度標度，之后通過數(shù)學計算，也可算出LED芯片中各部件的具體尺寸；若成像部件為光電成像設備8，不僅得到清晰的數(shù)字圖像，而且再通過圖像處理設備9分析，還能夠記錄存儲圖像形貌并獲得詳細的尺寸數(shù)據(jù)。通過以上所述兩種成像方式均能獲得較為清晰的芯片結構、電極形狀圖案。
[0019]以上的所述乃是本實用新型的具體實施例及所運用的技術原理，若依本實用新型的構想所作的改變，其所產生的功能作用仍未超出說明書及附圖所涵蓋的精神時，仍應屬本實用新型的保護范圍。
【主權項】
1.LED芯片結構的成像測量裝置，其特征在于包括:驅動電源(I)、導軌(2)、LED光源固定支架(3)、幾何光學組件、成像部件；LED光源固定支架(3)、幾何光學組件、成像部件從左到右依次軸接在導軌(2)上；驅動電源(I)用于給待測LED供電。2.根據(jù)權利要求1所述的LED芯片結構的成像測量裝置，其特征在于:所述的幾何光學組件包括濾波片(5)、光強衰減片￠)、透鏡組(7);濾波片(5)、光強衰減片￠)、透鏡組(7)自左及右依次軸接在導軌(2)上，并能在導軌(2)上自由滑動。3.根據(jù)權利要求2所述的LED芯片結構的成像測量裝置，其特征在于:所述的透鏡組(7)為球面透鏡組合或菲涅爾透鏡組合兩種中的任意一種。4.根據(jù)權利要求1所述的LED芯片結構的成像測量裝置，其特征在于:所述的成像部件為成像屏、光電成像設備兩種內的任意一種。5.根據(jù)權利要求1或4所述的LED芯片結構的成像測量裝置，其特征在于:所述的成像部件若為光電成像設備，光電成像設備將圖像數(shù)據(jù)傳給圖像處理設備(9)分析并存儲。6.根據(jù)權利要求1所述的LED芯片結構的成像測量裝置，其特征在于:所述的導軌(2)為可移動導軌。
【專利摘要】本實用新型涉及LED芯片結構的成像測量裝置，包括驅動電源、可移動導軌、LED光源固定支架、濾波片、光強衰減片、透鏡組、成像部件；LED光源固定支架、濾波片、光強衰減片、透鏡組、成像部件從左到右依次軸接在可移動導軌上，并能在可移動導軌上沿軸向自由滑動；驅動電源用于給待測LED供電。有益效果在于：(1)本實用新型裝置具有結構緊湊、成像清晰、成像大小可調、圖像噪聲小、光強可調的優(yōu)點；(2)本實用新型裝置可以在不破壞LED芯片結構的前提下實現(xiàn)測量，且能應用于市面上多種型號的大功率LED產品。
【IPC分類】G01N21/84, G01B11/00
【公開號】CN204666522
【申請?zhí)枴緾N201520210666
【發(fā)明人】朱騰飛, 慎月強, 汪哲弘, 沈斌, 陳琪
【申請人】杭州市質量技術監(jiān)督檢測院
【公開日】2015年9月23日
【申請日】2015年4月9日