晶片外觀挑選臺的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種石英晶片外觀挑選設(shè)備，尤其涉及一種晶片外觀挑選臺。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有石英晶片在生產(chǎn)出貨前需要進行外觀上的挑選，意在將晶片外觀上存在的一些不良問題進行剔除，如缺角、破損、崩口、刮痕和裂片等。對于比較明顯的外觀缺陷，一般做法是人工在室內(nèi)燈光下直接目視或者利用放大鏡進行挑選；但當遇到一些如邊緣小崩口、輕微刮痕或者細微裂紋的時候，由于這些缺陷很不明顯，用肉眼甚至借用放大鏡也無法挑選，此時就只能使用顯微鏡去進行不良品的挑選，這樣挑選的效率就會大大降低，也增大了生產(chǎn)的成本，不適應(yīng)現(xiàn)在社會大批量生產(chǎn)的需求。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型所要解決的技術(shù)問題就是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種有效提高晶片缺陷挑選的速度和成功率，同時也能有效控制生產(chǎn)成本的晶片外觀挑選臺。
[0004]本實用新型所采用的技術(shù)方案是:本實用新型包括箱體以及設(shè)置在所述箱體頂端的工作臺面，所述箱體內(nèi)還設(shè)置有發(fā)光體，所述工作臺面中部設(shè)置有透光區(qū)，所述透光區(qū)上放置有待測晶片，所述發(fā)光體的光源透過所述透光區(qū)射向所述待測晶片。
[0005]進一步的，所述工作臺面包括架板以及玻璃載物臺，所述架板固定設(shè)置在所述箱體上，且其中間設(shè)有通孔，所述玻璃載物臺固定設(shè)置在所述架板上并蓋住所述通孔。
[0006]進一步的，在所述玻璃載物臺下方還設(shè)置有保護卡紙。
[0007]更進一步的，所述箱體內(nèi)側(cè)面板上還鋪設(shè)有一層黑色隔布。
[0008]本實用新型的有益效果是:由于本實用新型包括箱體以及設(shè)置在所述箱體頂端的工作臺面，所述箱體內(nèi)還設(shè)置有發(fā)光體，所述工作臺面中部設(shè)置有透光區(qū)，所述透光區(qū)上放置有待測晶片，所述發(fā)光體的光源透過所述透光區(qū)射向所述待測晶片。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型利用光線透過晶片后，觀察光線折射的情況來判斷晶片外觀的好壞，由于晶片缺損部分的光線會受到缺損部分轉(zhuǎn)折面的折射，使光線異常于正常折射的光線，這樣不管晶片外觀有多么細微的缺陷，甚至是缺陷出現(xiàn)的位置都能被工作人員準確的觀察到，有效保證了挑選工作的速度和成功率；同時本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，而且并不需要使用顯微鏡等成本較高的輔助工具。所以，本實用新型有效提高晶片缺陷挑選的速度和成功率，同時也能有效控制生產(chǎn)成本。
【附圖說明】
[0009]圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0010]如圖1所示，本實用新型包括箱體I以及設(shè)置在所述箱體I頂端的工作臺面，所述箱體I內(nèi)還設(shè)置有發(fā)光體2，所述工作臺面中部設(shè)置有透光區(qū)，所述透光區(qū)上放置有待測晶片，所述發(fā)光體2的光源透過所述透光區(qū)射向所述待測晶片。所述工作臺面包括架板3以及玻璃載物臺4，所述架板3固定設(shè)置在所述箱體I上，且其中間設(shè)有通孔5，所述玻璃載物臺4固定設(shè)置在所述架板3上并蓋住所述通孔5。在所述玻璃載物臺4下方還設(shè)置有保護卡紙7。所述箱體I內(nèi)側(cè)面板上還鋪設(shè)有一層黑色隔布6。
[0011]通過本實用新型，檢查晶片的光線是從晶片底部射入檢驗員眼中，晶片缺損部分的光線受到缺損部分轉(zhuǎn)折面的折射，會異常于正常折射的光線，這樣作業(yè)員在觀察時，就能很明顯感覺到缺損部分的光線亮度會有不同，進而確認該晶片是否有不良，因為光線的穿透性不局限于破損的大小，所以輕微的劃痕、小崩口或者是小裂紋都能夠通過光線折射到作業(yè)員的視野中，作業(yè)員很容易挑出不良品。
[0012]本實用新型適用于石英晶片質(zhì)檢領(lǐng)域。
【主權(quán)項】
1.一種晶片外觀挑選臺，其特征在于:所述晶片外觀挑選臺包括箱體(I)以及設(shè)置在所述箱體(I)頂端的工作臺面，所述箱體(I)內(nèi)還設(shè)置有發(fā)光體(2)，所述工作臺面中部設(shè)置有透光區(qū)，所述透光區(qū)上放置有待測晶片，所述發(fā)光體(2 )的光源透過所述透光區(qū)射向所述待測晶片。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片外觀挑選臺，其特征在于:所述工作臺面包括架板(3)以及玻璃載物臺(4 )，所述架板(3 )固定設(shè)置在所述箱體(I)上，且其中間設(shè)有通孔(5 )，所述玻璃載物臺(4 )固定設(shè)置在所述架板(3 )上并蓋住所述通孔(5 )。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶片外觀挑選臺，其特征在于:在所述玻璃載物臺(4)下方還設(shè)置有保護卡紙(7 )。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片外觀挑選臺，其特征在于:所述箱體(I)內(nèi)側(cè)面板上還鋪設(shè)有一層黑色隔布(6)。
【專利摘要】本實用新型公開并提供了一種有效提高晶片缺陷挑選的速度和成功率，同時也能有效控制生產(chǎn)成本的晶片外觀挑選臺。本實用新型包括箱體（1）以及設(shè)置在所述箱體（1）頂端的工作臺面，所述箱體（1）內(nèi)還設(shè)置有發(fā)光體（2），所述工作臺面中部設(shè)置有透光區(qū)，所述透光區(qū)上放置有待測晶片，所述發(fā)光體（2）的光源透過所述透光區(qū)射向所述待測晶片。本實用新型適用于石英晶片質(zhì)檢領(lǐng)域。
【IPC分類】G01N21/88
【公開號】CN204705593
【申請?zhí)枴緾N201520293867
【發(fā)明人】劉興波
【申請人】珠海東錦石英科技有限公司
【公開日】2015年10月14日
【申請日】2015年5月8日