測光束發(fā)光元件6，其設(shè)置于傳輸帶4的一側(cè)，檢測光束發(fā)光元件6包含復數(shù)個檢測光束發(fā)光光源61，復數(shù)個檢測光束發(fā)光光源61皆位于傳輸帶4的上方，且依不同垂直高度排列，用以發(fā)射復數(shù)個檢測光束7 ;檢測光束接收元件8，其設(shè)置于傳輸帶4的相對于檢測光束發(fā)光元件6的另一側(cè)，其包含復數(shù)個對應(yīng)各檢測光束發(fā)光光源61的檢測光束接收器81，用以接收復數(shù)個檢測光束7 ;以及信號處理器9，其耦接于檢測光束發(fā)光元件6與檢測光束接收元件8，用以分析檢測光束發(fā)光元件6發(fā)出的復數(shù)個檢測光束的強度與檢測光束接收元件8所接收的復數(shù)個檢測光束的強度的差異，并將復數(shù)個檢測光束強度差異轉(zhuǎn)換為以電子信號呈現(xiàn)的翹曲資訊；其中，復數(shù)個檢測光束發(fā)光元件6發(fā)射出的檢測光束7形成與傳輸帶4垂直的垂直平面10，當待檢測光學薄膜5通過垂直平面10時，藉由檢測光束發(fā)光元件6與檢測光束接收元件8之間的檢測光束的強度差異，以取得待檢測光學薄膜5的翹曲資訊。
[0022]當待檢測光學薄膜尚未通過光學薄膜翹曲裝置時，檢測光束發(fā)光元件6與檢測光束接收元件8之間的檢測光束強度并無差異，意即檢測光束發(fā)光元件6所發(fā)射出的檢測光束7，完全被檢測光束接收元件8接收。
[0023]但當具有翹曲的待檢測光學薄膜通過光學薄膜翹曲裝置時，檢測光束的強度會因穿透具部分翹曲的光學薄膜而減弱，因此檢測光源發(fā)光元件6與檢測光束接收元件8間的檢測光束強度即產(chǎn)生差異。
[0024]且根據(jù)產(chǎn)生檢測光束強度差異的垂直高度位置，信號處理器可將此轉(zhuǎn)換為以電子信號呈現(xiàn)的翹曲資訊。
[0025]于本實用新型的一實施例中，復數(shù)個檢測光束發(fā)光光源61為激光光源或普通光源。
[0026]于本實用新型的一實施例中，前述檢測光束接收器81可為光電倍增管、光二極體或電荷親合元件。
[0027]于本實用新型的一實施例中，前述信號處理器9可為電腦。
[0028]于本實用新型的一實施例中，前述檢測光束7與傳輸帶4之間的垂直高度并不相同。
[0029]請配合參看圖3所示，圖3為本實用新型所提供的自動檢測光學薄膜翹曲的檢測系統(tǒng)的另一較佳實施態(tài)樣。此實施態(tài)樣的檢測系統(tǒng)與圖2所示的檢測系統(tǒng)的差異在于，圖3的實施態(tài)樣還包括顯示裝置11、警示裝置12以及分類裝置13。
[0030]前述顯示裝置11，其耦接于信號處理器9，用以顯示信號處理器9所呈現(xiàn)的翹曲資訊，此翹曲資訊包含待檢測光學薄膜5的實際翹曲數(shù)值，當翹曲數(shù)值符合所制定的翹曲規(guī)格，則顯示裝置11即顯示OK (表示為良品)，反之，則顯示NG (表示為不良品)。
[0031]前述警示裝置12，其耦接于顯示裝置11，用以警示特定的翹曲資訊。當顯示裝置11顯示NG時，此警示裝置12可以聲音或燈光來提出警示。
[0032]前述分類裝置13，其設(shè)置于復數(shù)檢測光束7之后，并耦接于信號處理器9，根據(jù)信號處理器9所提供的翹曲資訊以將待檢測光學薄膜5進行不同翹曲等級的分類。
[0033]以上所述的實施例僅為說明本實用新型的技術(shù)思想及特點，其目的在使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠了解本實用新型的內(nèi)容并據(jù)以實施，當不能以之限定本實用新型的專利范圍，即大凡依本實用新型所揭示的精神所作的均等變化或修飾，仍應(yīng)涵蓋在本實用新型的專利范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種自動檢測光學薄膜翹曲的檢測系統(tǒng)，其特征在于該檢測系統(tǒng)包括: 傳輸帶，用以傳輸待檢測光學薄膜；以及 光源薄膜翹曲檢測裝置，其包含: 檢測光束發(fā)光元件，其設(shè)置于該傳輸帶的一側(cè)，該檢測光束發(fā)光元件包含復數(shù)個檢測光束發(fā)光光源，該復數(shù)個檢測光束發(fā)光光源皆位于該傳輸帶的上方，且依不同垂直高度排列，用以發(fā)射復數(shù)個檢測光束； 檢測光束接收元件，其設(shè)置于該傳輸帶的相對于該檢測光束發(fā)光元件的另一側(cè)，該檢測光束接收元件包含對應(yīng)該復數(shù)個檢測光束發(fā)光光源的復數(shù)個檢測光束接收器，該復數(shù)個檢測光束接收器用以接收復數(shù)個檢測光束；以及 信號處理器，其耦接于該檢測光束發(fā)光元件與該檢測光束接收元件，該信號處理器用以分析該檢測光束發(fā)光元件發(fā)出的該復數(shù)個檢測光束的強度與該檢測光束接收元件所接收的復數(shù)個檢測光束的強度的差異，并將該復數(shù)個檢測光束的強度差異轉(zhuǎn)換為以電子信號呈現(xiàn)的翹曲資訊； 其中，該復數(shù)個檢測光束發(fā)光光源發(fā)射出的復數(shù)個檢測光束形成與該傳輸帶垂直的垂直平面，當該待檢測光學薄膜通過該垂直平面時，藉由該檢測光束發(fā)光元件與該檢測光束接收元件之間的該復數(shù)個檢測光束的強度差異，以取得該待檢測光學薄膜的翹曲資訊。2.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于該復數(shù)個檢測光束發(fā)光光源為激光光源或普通光源。3.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于該復數(shù)個檢測光束接收器為光電倍增管、光二極體或電荷耦合元件。4.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于該復數(shù)個檢測光束與該傳輸帶之間的垂直高度不相同。5.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于該檢測系統(tǒng)還包括: 顯示裝置，其耦接于該信號處理器，該顯示裝置用以顯示該信號處理器所呈現(xiàn)的翹曲資訊。6.如權(quán)利要求5所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于該檢測系統(tǒng)還包括: 警示裝置，其耦接于該顯示裝置，當該翹曲資訊不符合翹曲規(guī)格時，該警示裝置用以發(fā)出警示。7.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于該檢測系統(tǒng)還包括: 分類裝置，其設(shè)置復數(shù)個檢測光束之后，該分類裝置耦接于該信號處理器，并根據(jù)該信號處理器所提供的該翹曲資訊，將該待檢測光學薄膜進行不同翹曲等級的分類。
【專利摘要】本實用新型提供一種自動檢測光學薄膜翹曲的檢測系統(tǒng)，其包含傳輸帶，以及光源薄膜翹曲檢測裝置；其中光源薄膜翹曲檢測裝置包含檢測光束發(fā)光元件、檢測光束接收元件以及信號處理器。利用本實用新型的檢測系統(tǒng)，可縮短檢測光學薄膜翹曲的時間，提高檢測精準度，并減少所需設(shè)備空間。
【IPC分類】G01B11/16
【公開號】CN204831212
【申請?zhí)枴緾N201520453567
【發(fā)明人】趙新民
【申請人】明基材料有限公司, 明基材料股份有限公司
【公開日】2015年12月2日
【申請日】2015年6月29日