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一種pcb板測(cè)試裝置的制造方法

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一種pcb板測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種PCB板測(cè)試裝置,具體地涉及一種探針式PCB板測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前,PCB板的測(cè)試是電子制作領(lǐng)域中的重要環(huán)節(jié),它可以判斷被測(cè)對(duì)象是否實(shí)現(xiàn)了初始的設(shè)計(jì)目標(biāo)。對(duì)PCB板的測(cè)試可以降低板卡和裝置的出廠故障率,是提高產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。因此,PCB板的測(cè)試具有十分重要的意義,也日益受到公司和廠家的重視。PCB板檢測(cè)的常用方法之一是使用測(cè)試探針,其基本原理是將單板測(cè)試點(diǎn)通過(guò)測(cè)試裝置的測(cè)試探針引出,通過(guò)測(cè)試探針向PCB板的待定測(cè)試點(diǎn)提供測(cè)試信號(hào),并通過(guò)待定測(cè)試點(diǎn)讀取輸出信號(hào),判斷PCB是否處于正常工作狀態(tài)。
[0003]在PCB板的生產(chǎn)過(guò)程中,在不同的工序點(diǎn)位需要對(duì)PCB進(jìn)行抽查;如果檢測(cè)到不合格板,這時(shí)就會(huì)需要重新在電路板中寫程序。寫好程序的PCB板需要重新進(jìn)行檢測(cè),以確保品質(zhì)合格。同樣,在PCB板的維修過(guò)程中,也需要對(duì)于檢修好的電路板進(jìn)行檢測(cè)?,F(xiàn)有技術(shù)中的PCB板檢測(cè)裝置常見(jiàn)的是多板測(cè)試,十幾塊不同規(guī)格的PCB板在一臺(tái)測(cè)試裝置上測(cè)試,如果對(duì)于單板損壞的情況,使用這種多板測(cè)試裝置,操作不便,效率低下。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]為了提高現(xiàn)有的單板測(cè)試裝置的便捷性和實(shí)用性,本實(shí)用新型提供了一種PCB板測(cè)試裝置,包括:探針以及用于容置PCB板的底座和測(cè)試臂,測(cè)試臂可旋轉(zhuǎn)地樞接于底座上以便打開(kāi)和閉合;探針設(shè)置在測(cè)試臂上;當(dāng)測(cè)試臂打開(kāi)后,可以放入待測(cè)PCB板;測(cè)試臂閉合后,測(cè)試臂上的探針的一端與PCB板接觸以便測(cè)試。
[0005]通過(guò)這樣的結(jié)構(gòu),測(cè)試臂繞樞軸旋轉(zhuǎn),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板方便地取放;當(dāng)測(cè)試臂閉合后,探針每次與PCB板接觸的位置固定,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板精確的測(cè)試。
[0006]較佳地,測(cè)試臂上設(shè)置有凹槽,凹槽內(nèi)設(shè)置有多個(gè)針孔,多根探針對(duì)應(yīng)穿過(guò)多個(gè)針孔并固定于針孔內(nèi)。
[0007]通過(guò)這樣的結(jié)構(gòu),便于探針的另一端與數(shù)據(jù)線相連接,數(shù)據(jù)線的端頭可以放在凹槽中,兩者的連接更加緊密。
[0008]進(jìn)一步,探針的另一端與數(shù)據(jù)線相連接,以便下載程序。數(shù)據(jù)線與電腦或者其他電子介質(zhì)相連接。
[0009]更進(jìn)一步,還包括鎖緊臂,鎖緊臂可旋轉(zhuǎn)地樞接于底座上,使得測(cè)試臂處于閉合位置時(shí),鎖緊臂能卡合于測(cè)試臂上并固定測(cè)試臂。
[0010]通過(guò)這樣的結(jié)構(gòu),鎖緊臂可以將測(cè)試臂固定在測(cè)試位置,測(cè)試臂壓住待測(cè)得PCB板,探針與待測(cè)位置精確定位,保證了測(cè)試數(shù)據(jù)較高的正確率。
[0011]較佳地,鎖緊臂為L(zhǎng)型。
[0012]鎖緊臂也可以為其它形狀,比如C型等,只要能夠提供卡鎖力于測(cè)試臂,使得測(cè)試臂能夠被鎖住即可。
[0013]較佳地,鎖緊臂的一端通過(guò)旋轉(zhuǎn)軸可旋轉(zhuǎn)地連接在底座上,鎖緊臂的旋轉(zhuǎn)軸通過(guò)螺栓螺母鎖緊固定。
[0014]通過(guò)這樣的結(jié)構(gòu),可以通過(guò)旋緊或者松開(kāi)螺母而轉(zhuǎn)換鎖緊狀態(tài),使得鎖緊臂打開(kāi)或者閉合。
[0015]進(jìn)一步,底座上設(shè)置有PCB板容置腔,其大小與PCB板的外形相適應(yīng)。
[0016]更進(jìn)一步,底座上設(shè)置有定位塊,用于輔助定位PCB板。
[0017]待測(cè)PCB板上有方形開(kāi)口時(shí),定位塊可以用于固定住開(kāi)口的邊緣,起到輔助定位作用。
[0018]較佳地,定位塊為至少兩個(gè)。
[0019]較佳地,兩個(gè)定位塊為對(duì)稱分布。
[0020]本實(shí)用新型的一種PCB板測(cè)試裝置操作簡(jiǎn)便,定位精確,方便下載程序和進(jìn)行測(cè)試,提高了工作效率。
【附圖說(shuō)明】
[0021]為了更清楚的說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案,下面通過(guò)附圖簡(jiǎn)要的介紹,顯而易見(jiàn)的,下面描述中的附圖僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0022]圖1為本實(shí)用新型的一個(gè)較佳實(shí)施例的一種PCB板測(cè)試裝置在閉合狀態(tài)下的立體示意圖;
[0023]圖2為本實(shí)用新型的一個(gè)較佳實(shí)施例的一種PCB板測(cè)試裝置在打開(kāi)狀態(tài)下的立體示意圖;
[0024]圖3為本實(shí)用新型的一個(gè)較佳實(shí)施例的一種PCB板測(cè)試裝置的測(cè)試臂的立體示意圖;
[0025]圖4為本實(shí)用新型的一個(gè)較佳實(shí)施例的一種PCB板測(cè)試裝置的鎖緊臂的立體示意圖;
[0026]圖5為本實(shí)用新型的一個(gè)較佳實(shí)施例的一種PCB板測(cè)試裝置在打開(kāi)狀態(tài)下的另一個(gè)立體示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整的描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0028]請(qǐng)參閱圖1和圖2,本實(shí)用新型的一個(gè)較佳實(shí)施例提供了一種PCB板測(cè)試裝置,包括:用于容置PCB板的底座I和測(cè)試臂2,測(cè)試臂2可旋轉(zhuǎn)地樞接于底座I上以便打開(kāi)和閉合;測(cè)試臂2上設(shè)置有探針6 ;當(dāng)測(cè)試臂2打開(kāi)后,可以放入待測(cè)PCB板5 ;測(cè)試臂2閉合后,測(cè)試臂2上的探針6的一端與PCB板5接觸以便測(cè)試。
[0029]通過(guò)這樣的結(jié)構(gòu),測(cè)試臂繞樞軸旋轉(zhuǎn),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板方便地取放;當(dāng)測(cè)試臂閉合后,探針每次與PCB板接觸的位置固定,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板精確的測(cè)試。
[0030]如圖3所示,測(cè)試臂2上設(shè)置有凹槽21,凹槽21內(nèi)設(shè)置有多個(gè)針孔22,多根探針6對(duì)應(yīng)穿過(guò)多個(gè)針孔22并固定于針孔22內(nèi)。探針6的另一端與數(shù)據(jù)線3相連接,以便下載程序。數(shù)據(jù)線3與電腦或者其他電子介質(zhì)相連接。
[0031]通過(guò)這樣的結(jié)構(gòu),便于探針的另一端與數(shù)據(jù)線相連接,數(shù)據(jù)線的端頭可以放在凹槽中,兩者的連接更加緊密。
[0032]測(cè)試臂2的一端設(shè)置有軸孔23,通過(guò)轉(zhuǎn)軸(圖中未示出)可以連接到底座I上,測(cè)試臂2可以旋轉(zhuǎn)自如,以便在打開(kāi)和閉合狀態(tài)下自由轉(zhuǎn)換。
[0033]如圖4所示,還包括鎖緊臂4,鎖緊臂4可旋轉(zhuǎn)地樞接于底座I上,使得測(cè)試臂2處于閉合位置時(shí),鎖緊臂4能卡合于測(cè)試臂2上并固定測(cè)試臂2。
[0034]通過(guò)這樣的結(jié)構(gòu),鎖緊臂4可以將測(cè)試臂2固定在測(cè)試位置,測(cè)試臂2壓住待測(cè)得PCB板5,探針6與待測(cè)位置精確定位,保證了測(cè)試數(shù)據(jù)較高的正確率。
[0035]在本實(shí)施例中,鎖緊臂4為L(zhǎng)型。
[0036]鎖緊臂也可以為其它形狀,比如C型等,只要能夠提供卡鎖力于測(cè)試臂,使得測(cè)試臂能夠被鎖住即可。
[0037]鎖緊臂4的一端設(shè)有孔41,穿過(guò)旋轉(zhuǎn)軸后可旋轉(zhuǎn)地連接在底座I上。鎖緊臂4的旋轉(zhuǎn)軸可通過(guò)螺栓螺母鎖緊固定。通過(guò)旋緊或者松開(kāi)螺母而轉(zhuǎn)換鎖緊狀態(tài),使得鎖緊臂4打開(kāi)或者閉合。
[0038]請(qǐng)參閱圖5,此時(shí),測(cè)試臂2和鎖緊臂4處于打開(kāi)狀態(tài),待測(cè)PCB還未置于測(cè)試裝置中。該底座I上設(shè)置有PCB板容置腔,其大小與PCB板的外形相適應(yīng)。底座I上設(shè)置有定位塊7,用于輔助定位待測(cè)PCB板。
[0039]在本實(shí)施例中,底座I的外形為敞口盒狀,利用盒底的形狀和定位塊7以及測(cè)試臂2閉合后一起對(duì)待測(cè)PCB板進(jìn)行精準(zhǔn)的定位。
[0040]如圖2所示,待測(cè)PCB板5上有方形開(kāi)口時(shí),定位塊7可以用于固定住開(kāi)口的邊緣,起到輔助定位作用。
[0041]在本實(shí)施例中,定位塊7為兩個(gè),且為對(duì)稱分布。
[0042]在另一實(shí)施例中,底座I也可以設(shè)計(jì)成板狀,定位塊可以設(shè)計(jì)為多個(gè),利用板上設(shè)置的多個(gè)定位塊對(duì)于待測(cè)PCB板的邊緣或者內(nèi)孔進(jìn)行定位。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)待測(cè)PCB板的形狀進(jìn)行相應(yīng)的變形設(shè)計(jì),只要能使PCB板放上后精確定位即可。
[0043]需要注意的是,所公開(kāi)實(shí)施例的上述說(shuō)明使得本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠顯而易見(jiàn)地對(duì)于本實(shí)施例進(jìn)行多種類似變化和修改,這種類似變化是本領(lǐng)域技術(shù)人員能從本實(shí)用新型公開(kāi)的內(nèi)容直接得出或者很容易便聯(lián)想到的所有變形,均應(yīng)屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此本實(shí)用新型不會(huì)受到該實(shí)施例的限制。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種PCB板測(cè)試裝置,包括探針,其特征在于,還包括用于容置PCB板的底座和測(cè)試臂,所述測(cè)試臂可旋轉(zhuǎn)地樞接于所述底座上以便打開(kāi)和閉合;所述探針設(shè)置在所述測(cè)試臂上;當(dāng)所述測(cè)試臂打開(kāi)后,可以放入待測(cè)PCB板;所述測(cè)試臂閉合后,所述測(cè)試臂上的探針的一端與所述PCB板接觸以便測(cè)試。2.如權(quán)利要求1所述PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,所述測(cè)試臂上設(shè)置有凹槽,所述凹槽內(nèi)設(shè)置有多個(gè)針孔,多根所述探針對(duì)應(yīng)穿過(guò)所述多個(gè)針孔并固定于所述多個(gè)針孔內(nèi)。3.如權(quán)利要求1或2所述的PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,所述探針的另一端與數(shù)據(jù)線相連接,以便下載程序。4.如權(quán)利要求1所述的PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,還包括鎖緊臂,所述鎖緊臂可旋轉(zhuǎn)地樞接于所述底座上,使得所述測(cè)試臂處于閉合位置時(shí),所述鎖緊臂能卡合于所述測(cè)試臂上并固定所述測(cè)試臂。5.如權(quán)利要求4所述的PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,所述鎖緊臂為L(zhǎng)型。6.如權(quán)利要求5所述的PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,所述鎖緊臂的一端通過(guò)旋轉(zhuǎn)軸可旋轉(zhuǎn)地連接在所述底座上,所述旋轉(zhuǎn)軸通過(guò)螺栓螺母鎖緊固定。7.如權(quán)利要求1所述的PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,所述底座上設(shè)置有PCB板容置腔,其大小與所述PCB板的外形相適應(yīng)。8.如權(quán)利要求1或7所述的PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,所述底座上設(shè)置有定位塊,用于輔助定位所述PCB板。9.如權(quán)利要求8所述的PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,所述定位塊為至少兩個(gè)。10.如權(quán)利要求9所述的PCB板測(cè)試裝置,其特征在于,所述兩個(gè)定位塊為對(duì)稱分布。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種PCB板測(cè)試裝置,包括:用于容置PCB板的底座和測(cè)試臂,測(cè)試臂可旋轉(zhuǎn)地樞接于底座上以便打開(kāi)和閉合;測(cè)試臂上設(shè)置有探針;當(dāng)測(cè)試臂打開(kāi)后,可以放入待測(cè)PCB板;測(cè)試臂閉合后,測(cè)試臂上的探針的一端與PCB板接觸以便測(cè)試。本實(shí)用新型的一種PCB板測(cè)試裝置操作簡(jiǎn)便,定位精確,方便下載程序和進(jìn)行測(cè)試,提高了工作效率。
【IPC分類】G01R31/28
【公開(kāi)號(hào)】CN204882815
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520618415
【發(fā)明人】李慧敏
【申請(qǐng)人】航天信息股份有限公司
【公開(kāi)日】2015年12月16日
【申請(qǐng)日】2015年8月17日
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