金屬探測(cè)儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種金屬探測(cè)儀，特別是涉及一種具有溫度穩(wěn)定性補(bǔ)償技術(shù)的金屬探測(cè)儀。
【背景技術(shù)】
[0002]金屬探測(cè)儀是一種在野外探測(cè)金屬目標(biāo)物的儀器，需要在較寬的溫度范圍內(nèi)穩(wěn)定工作，但現(xiàn)有技術(shù)中金屬探測(cè)儀不能解決如下的問(wèn)題:
[0003]普通金屬探測(cè)儀在不同環(huán)境溫度下工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生誤差，比如在金屬類(lèi)別判定和地面礦物質(zhì)平衡時(shí)會(huì)產(chǎn)生誤差。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中普通金屬探測(cè)儀在不同環(huán)境溫度下工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生誤差的缺陷，提供一種金屬探測(cè)儀。
[0005]本實(shí)用新型是通過(guò)下述技術(shù)方案來(lái)解決上述技術(shù)問(wèn)題的:
[0006]本實(shí)用新型提供了一種金屬探測(cè)儀，其特點(diǎn)在于，包括單片機(jī)、二極管、三極管、熱敏電阻及分壓電阻，所述二極管的負(fù)極與所述單片機(jī)的第一引腳電連接，所述三極管的集電極與所述單片機(jī)的第二引腳電連接，所述熱敏電阻與所述單片機(jī)的第三引腳電連接，所述熱敏電阻與所述分壓電阻相串聯(lián)。
[0007]較佳地，所述二極管用于將產(chǎn)生的電壓信號(hào)通過(guò)負(fù)極發(fā)送至所述單片機(jī)。
[0008]較佳地，所述三極管用于將產(chǎn)生的脈沖信號(hào)通過(guò)集電極發(fā)送至所述單片機(jī)。
[0009]較佳地，所述二極管為1N4148 二極管。
[0010]較佳地，所述三極管為C945三極管。
[0011]較佳地，所述熱敏電阻為RTl電阻。
[0012]較佳地，所述分壓電阻的阻值為22ΚΩ (千歐姆)。
[0013]較佳地，所述單片機(jī)還包括一 A/D轉(zhuǎn)換器(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)。
[0014]本實(shí)用新型的積極進(jìn)步效果在于:本實(shí)用新型提供了一種新型的金屬探測(cè)儀，在只增加少量成本的條件下，解決了現(xiàn)有技術(shù)中金屬探測(cè)儀在不同環(huán)境溫度下會(huì)產(chǎn)生誤差的問(wèn)題，從而提高了金屬探測(cè)儀的探測(cè)穩(wěn)定性。
【附圖說(shuō)明】
[0015]圖1為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例的金屬探測(cè)儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖給出本實(shí)用新型較佳實(shí)施例，以詳細(xì)說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。
[0017]如圖1所示，本實(shí)用新型的金屬探測(cè)儀包括單片機(jī)1、二極管2、三極管3、熱敏電阻4及分壓電阻5，其中，所述二極管2的負(fù)極與所述單片機(jī)I的第一引腳電連接，所述三極管3的集電極與所述單片機(jī)I的第二引腳電連接，所述熱敏電阻4與所述單片機(jī)I的第三引腳電連接，所述熱敏電阻4與所述分壓電阻5相串聯(lián)。
[0018]當(dāng)金屬探測(cè)儀測(cè)得金屬目標(biāo)物時(shí)，所述二極管會(huì)將產(chǎn)生的電壓信號(hào)通過(guò)負(fù)極發(fā)送至所述單片機(jī)的第一引腳，不同深度的金屬目標(biāo)物產(chǎn)生的電壓信號(hào)的電壓值不同；而所述三極管會(huì)將產(chǎn)生的脈沖信號(hào)通過(guò)集電極發(fā)送至所述單片機(jī)，不同類(lèi)型的金屬目標(biāo)物產(chǎn)生的脈沖信號(hào)的占空比不同。
[0019]在本實(shí)用新型的具體實(shí)施過(guò)程中，所述二極管具體可以為1N4148 二極管，所述三極管具體可以為C945三極管。
[0020]然而在不同環(huán)境溫度下，電壓信號(hào)的電壓值和脈沖信號(hào)的占空比會(huì)有一定偏移，而如果可以先通過(guò)溫度實(shí)驗(yàn)測(cè)定這個(gè)偏移系數(shù)，再在金屬探測(cè)儀工作時(shí)測(cè)定環(huán)境溫度，就可以通過(guò)單片機(jī)來(lái)修正溫度對(duì)測(cè)試信號(hào)的影響。在本實(shí)用新型中，通過(guò)熱敏電阻與分壓電阻串聯(lián)組成了簡(jiǎn)單的溫度傳感器，二者產(chǎn)生的分壓值經(jīng)過(guò)單片機(jī)自帶的A/D轉(zhuǎn)換器，可計(jì)算出當(dāng)前熱敏電阻的阻值，再根據(jù)熱敏電阻的溫度曲線(xiàn)即可換算出當(dāng)前的環(huán)境溫度。
[0021]在本實(shí)用新型的具體實(shí)施過(guò)程中，所述熱敏電阻優(yōu)選為RTl電阻，所述分壓電阻的阻值優(yōu)選為22ΚΩ。
[0022]在本實(shí)用新型中，單片機(jī)通過(guò)自帶的A/D轉(zhuǎn)換器測(cè)定第一引腳的電壓值a，根據(jù)環(huán)境溫度T，根據(jù)預(yù)先設(shè)定的電壓補(bǔ)償系數(shù)表，得出電壓補(bǔ)償系數(shù)C，將a和C代入公式A =a*C，得出經(jīng)過(guò)溫度補(bǔ)償后的電壓值，其中A表示電壓值；
[0023]單片機(jī)還通過(guò)內(nèi)部定時(shí)器的脈寬測(cè)量功能，首先測(cè)定脈沖信號(hào)的占空比p，根據(jù)環(huán)境溫度T和脈沖補(bǔ)償系數(shù)表，得出脈沖補(bǔ)償系數(shù)D，將P和D代入公式P = p*D，得出經(jīng)過(guò)溫度補(bǔ)償后的脈沖占空比，其中P表示脈沖占空比。進(jìn)而根據(jù)電壓值A(chǔ)和脈沖占空比P即可得出正確的金屬目標(biāo)物深度和類(lèi)別。
[0024]本實(shí)用新型的上述技術(shù)方案可以較好地解決不同環(huán)境溫度時(shí)，金屬探測(cè)儀的工作穩(wěn)定性的問(wèn)題，同時(shí)在進(jìn)行大批量生產(chǎn)時(shí)，本實(shí)用新型的金屬探測(cè)儀所產(chǎn)生的材料成本和人工成本都非常有限，只增加了熱敏電阻和分壓電阻，因此，本實(shí)用新型并沒(méi)有改變主要金屬探測(cè)電路，同時(shí)又可以保證達(dá)到較理想的溫度補(bǔ)償效果。
[0025]雖然以上描述了本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，這些僅是舉例說(shuō)明，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍是由所附權(quán)利要求書(shū)限定的。本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不背離本實(shí)用新型的原理和實(shí)質(zhì)的前提下，可以對(duì)這些實(shí)施方式做出多種變更或修改，但這些變更和修改均落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種金屬探測(cè)儀，其特征在于，包括單片機(jī)、二極管、三極管、熱敏電阻及分壓電阻，所述二極管的負(fù)極與所述單片機(jī)的第一引腳電連接，所述三極管的集電極與所述單片機(jī)的第二引腳電連接，所述熱敏電阻與所述單片機(jī)的第三引腳電連接，所述熱敏電阻與所述分壓電阻相串聯(lián)。2.如權(quán)利要求1所述的金屬探測(cè)儀，其特征在于，所述二極管用于將產(chǎn)生的電壓信號(hào)通過(guò)負(fù)極發(fā)送至所述單片機(jī)。3.如權(quán)利要求1所述的金屬探測(cè)儀，其特征在于，所述三極管用于將產(chǎn)生的脈沖信號(hào)通過(guò)集電極發(fā)送至所述單片機(jī)。4.如權(quán)利要求1所述的金屬探測(cè)儀，其特征在于，所述二極管為1N4148二極管。5.如權(quán)利要求1所述的金屬探測(cè)儀，其特征在于，所述三極管為C945三極管。6.如權(quán)利要求1所述的金屬探測(cè)儀，其特征在于，所述熱敏電阻為RTl電阻。7.如權(quán)利要求1所述的金屬探測(cè)儀，其特征在于，所述分壓電阻的阻值為22ΚΩ。8.如權(quán)利要求1所述的金屬探測(cè)儀，其特征在于，所述單片機(jī)還包括一A/D轉(zhuǎn)換器。
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種金屬探測(cè)儀，包括單片機(jī)、二極管、三極管、熱敏電阻及分壓電阻，所述二極管的負(fù)極與所述單片機(jī)的第一引腳電連接，所述三極管的集電極與所述單片機(jī)的第二引腳電連接，所述熱敏電阻與所述單片機(jī)的第三引腳電連接，所述熱敏電阻與所述分壓電阻相串聯(lián)。本實(shí)用新型提供了一種新型的金屬探測(cè)儀，在只增加少量成本的條件下，解決了現(xiàn)有技術(shù)中金屬探測(cè)儀在不同環(huán)境溫度下會(huì)產(chǎn)生誤差的問(wèn)題，從而提高了金屬探測(cè)儀的探測(cè)穩(wěn)定性。
【IPC分類(lèi)】G01V3/00
【公開(kāi)號(hào)】CN204882888
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520465704
【發(fā)明人】沈家益
【申請(qǐng)人】上海廿一世紀(jì)電子設(shè)備有限公司
【公開(kāi)日】2015年12月16日
【申請(qǐng)日】2015年7月1日