偏光光測定裝置及偏光光照射裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型的實施方式涉及一種偏光光測定裝置及偏光光照射裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在進(jìn)行液晶顯示元件的配向膜(alignment film)、或視角補(bǔ)償膜(film)的配向膜等的配向處理時，對被照射體照射規(guī)定波長的偏光光。
[0003]這種配向處理方法被稱為光配向(optical alignment)法。
[0004]為了進(jìn)行廣范圍的配向處理而需要長的偏光元件，但難以制造長的偏光元件。
[0005]因此，使用呈直線狀排列設(shè)置的多個偏光元件進(jìn)行配向處理。
[0006]然而，如果使用多個偏光元件，則可能會因安裝誤差等而導(dǎo)致照射至被照射體的偏光光的偏光方向產(chǎn)生不均。
[0007]因此，提出有如下技術(shù):使用被稱為檢偏元件(analyzer)的偏光元件(polarizer)來測定偏光光的偏光方向的不均，并基于測定結(jié)果而進(jìn)行偏光方向的調(diào)整。
[0008]此處，在使用光配向法的情況下，優(yōu)選也測定照射至被照射體的偏光光的光量。
[0009]在測定偏光光的光量的情況下，如果安裝有檢偏元件，則無法準(zhǔn)確地測定偏光光的光量。
[0010]因此，在測定偏光光的偏光方向時，作業(yè)人員將檢偏元件安裝于檢測部，且在測定偏光光的光量時，作業(yè)人員將檢偏元件從檢測部卸除。
[0011]然而，如果作業(yè)人員進(jìn)行檢偏元件的安裝及卸除，則在測定偏光光的偏光方向時，有產(chǎn)生由安裝誤差所導(dǎo)致的測定誤差的擔(dān)憂。
[0012]另外，為了測定偏光方向，提出有使用線狀體延伸的方向(透過軸的角度)不同的多種檢偏元件的技術(shù)。
[0013]然而，如果使用多種檢偏元件，則會導(dǎo)致偏光光測定裝置的大型化或高成本化。
[0014]另外，因為偏光方向的測定精度取決于檢偏元件的種類的數(shù)量，所以有無法進(jìn)行精度高的測定的擔(dān)憂。
[0015]因此，期望開發(fā)可精度佳地測定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的技術(shù)。
[0016][【背景技術(shù)】文獻(xiàn)]
[0017][專利文獻(xiàn)]
[0018][專利文獻(xiàn)1]日本專利特開2014-10388號公報
[0019][專利文獻(xiàn)2]日本專利特開2007-127567號公報【實用新型內(nèi)容】
[0020][實用新型所要解決的課題]
[0021]本實用新型所要解決的課題在于提供一種可精度佳地測定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的偏光光測定裝置、及偏光光照射裝置。
[0022][解決課題的技術(shù)手段]
[0023]本實用新型的偏光光測定裝置具備:第一偏光元件，供偏光光入射；旋轉(zhuǎn)部，使所述第一偏光元件沿旋轉(zhuǎn)方向移動；光電轉(zhuǎn)換部，輸出與所接收到的光的光量對應(yīng)的電信號；及移動部，使所述第一偏光元件在第一位置與第二位置之間移動，所述第一位置是使所述偏光光經(jīng)由所述第一偏光元件入射至所述光電轉(zhuǎn)換部，所述第二位置是使所述偏光光直接入射至所述光電轉(zhuǎn)換部。
[0024]本實用新型的偏光光測定裝置，其中所述移動部在測定所述偏光光的偏光方向時，使所述第一偏光元件移動至所述第一位置，且在測定所述偏光光的光量時，使所述第一偏光元件移動至所述第二位置。
[0025]本實用新型的偏光光測定裝置，其中所述第一偏光元件設(shè)置有多個線狀體，所述多個線狀體含有硅。
[0026]本實用新型的偏光光照射裝置具備:光源，具有沿規(guī)定方向延伸的形態(tài)；多個第二偏光元件，沿所述光源延伸的方向排列設(shè)置，且使從所述光源出射的光為偏光光；及任一種所述的偏光光測定裝置，所述偏光光測定裝置設(shè)置于與所述多個第二偏光元件的所述光源側(cè)相反的一側(cè)。
[0027]本實用新型的的偏光光照射裝置，其中所述第二偏光元件設(shè)置有多個線狀體，所述多個線狀體含有硅。
[0028][實用新型效果]
[0029]根據(jù)本實用新型的實施方式，可提供一種可精度佳地測定偏光光的偏光方向及偏光光的光量的偏光光測定裝置、及偏光光照射裝置。
【附圖說明】
[0030]圖1是用以例示本實施方式的偏光光測定裝置1、及偏光光照射裝置100的示意立體圖。
[0031]圖2是用以例示本實施方式的偏光光測定裝置1的示意剖視圖。
[0032]圖3是用以例示偏光部102的示意俯視圖。
[0033]圖4是用以例不利用偏光光照射裝置100產(chǎn)生偏光光Lp、及利用偏光光測定裝置1測定偏光光Lp的偏光方向的不意立體圖。
[0034][符號的說明]
[0035]1:偏光光測定裝置
[0036]2、102:偏光部
[0037]3:檢測部
[0038]4、22:移動部
[0039]5、104:控制部
[0040]20、10如:偏光元件
[0041]21:保持部
[0042]21a:主體部
[0043]21al:孔
[0044]21b:保持爪
[0045]30:光電轉(zhuǎn)換部
[0046]31:旋轉(zhuǎn)部
[0047]31a:安裝部
[0048]31b、102c3a、102c4a:基部
[0049]40:第一移動部
[0050]41:第二移動部
[0051]100:偏光光照射裝置
[0052]101:照射部
[0053]101a:光源
[0054]101b:反射器
[0055]102b、102c:保持部件
[0056]102bl、102b2:凹部
[0057]102b3:中心線
[0058]102cl:框部
[0059]102c2:支撐部
[0060]102c3:彈性部
[0061]102c3b:盤簧
[0062]102c4:調(diào)整部
[0063]102c4b:突出部
[0064]103:搬送部
[0065]200:被照射體
[0066]B、C:方向
[0067]D:突出長度
[0068]L:光
[0069]Lp、Lpp:偏光光
[0070]R:軸
【具體實施方式】
[0071]實施方式的實用新型是一種偏光光測定裝置，該偏光光測定裝置具備:第一偏光元件，供偏光光入射；旋轉(zhuǎn)部，使所述第一偏光元件沿旋轉(zhuǎn)方向移動；光電轉(zhuǎn)換部，輸出與所接收到的光的光量對應(yīng)的電信號；及移動部，使所述第一偏光元件在第一位置與第二位置之間移動，所述第一位置是使所述偏光光經(jīng)由所述第一偏光元件入射至所述光電轉(zhuǎn)換部，所述第二位置是使所述偏光光直接入射至所述光電轉(zhuǎn)換部。
[0072]根據(jù)該偏光光測定裝置，能夠精度佳地測定偏光光的偏光方向及偏光光的光量。
[0073]所述移動部在測定所述偏光光的偏光方向時，可使所述第一偏光元件移動至所述第一位置。
[0074]所述移動部在測定所述偏光光的光量時，可使所述第一偏光元件移動至所述第二位置。
[0075]如此一來，與作業(yè)人員進(jìn)行第一偏光元件的安裝及卸除的情況相比，可顯著地提高再現(xiàn)性。
[0076]另外，設(shè)置于所述第一偏光元件的多個線狀體可設(shè)為含有硅(silicon)。
[0077]如此一來，可提高消光比(extinct1n rat1)，因此，可精度更佳地測定偏光光的偏光方向。
[0078]實施方式的實用新型是一種偏光光照射裝置，該偏光光照射裝置具備:光源，具有沿規(guī)定方向延伸的形態(tài)；多個第二偏光元件，沿所述光源延伸的方向排列設(shè)置，且使從所述光源出射的光為偏光光；及所述偏光光測定裝置，設(shè)置于與所述多個第二偏光元件的所述光源側(cè)相反的一側(cè)。
[0079]根據(jù)該偏光光照射裝置，可精度佳地測定偏光光的偏光方向及偏光光的光量。
[0080]因此，可提尚生廣性。
[0081]另外，設(shè)置于所述第二偏光元件的多個線狀體可設(shè)為含有硅。
[0082]如此一來，可提高消光比，因此，可精度更佳地測定