帶有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[〇〇〇1] 本實(shí)用新型涉及一種動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度分析技術(shù)，具體的說是一種帶有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀。
【背景技術(shù)】
[0002]以往的顯微圖像顆粒粒度粒形分析儀都是在傳統(tǒng)的顯微鏡下，需要人為去移動(dòng)顯微平臺(tái)來捕捉顆粒圖像信息，非常繁瑣，而且人為因素的干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的精度影響較大。顯微物鏡的視場(chǎng)有限，對(duì)于放大后超出視場(chǎng)范圍的大顆粒無法分析，影響了儀器單物鏡倍數(shù)下的測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍。如不具備掃描拼接功能的20倍物鏡，分析的粒徑范圍僅僅為1-100微米，不具備掃描功能的顯微顆粒分析儀測(cè)試10000個(gè)顆粒大概要幾十分鐘，并且顆粒的清晰度需要人為手動(dòng)的去對(duì)焦，精度不夠，不具備實(shí)時(shí)對(duì)焦功能，圖像清晰度差、分析視場(chǎng)范圍有限的問題。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中顯微圖像顆粒粒度粒形分析儀精度低、圖像清晰度差、不具備實(shí)時(shí)對(duì)焦功能等不足，本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種帶有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:
[0005]本實(shí)用新型帶有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，具有三目顯微鏡和載物臺(tái)，還包括X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)以及CCD相機(jī)，其中X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)和Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)分別以橫向和縱向的方式安裝在顯微鏡載物臺(tái)上，Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝在鏡架上；CCD相機(jī)安裝在顯微鏡的第三目位置上，其數(shù)據(jù)線連接至計(jì)算機(jī)。
[0006]所述載物臺(tái)具有三層結(jié)構(gòu)，原有載物臺(tái)在底層，與鏡架轉(zhuǎn)動(dòng)連接，在底層上方加裝了中層和頂層，Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)中的絲杠安裝在中層的下端面上，絲杠端部與一步進(jìn)電機(jī)輸出軸連接，絲母與底層固定連接；X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)中的絲杠安裝在中層的端面上，絲杠端部與另一步進(jìn)電機(jī)輸出軸連接，絲母與上層固定連接，上層上設(shè)有壓片夾；底層與中層、中層與頂層之間設(shè)有導(dǎo)軌。Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝在鏡架上，通過第三步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)；三層結(jié)構(gòu)共同作為一個(gè)整體，沿Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)上下運(yùn)動(dòng)，進(jìn)行焦距調(diào)整。
[0007]本實(shí)用新型具有以下有益效果及優(yōu)點(diǎn):
[0008]1.本實(shí)用新型將X、Y、Z三方向可以控制自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)的顯微鏡應(yīng)用到顆粒的粒度粒形分析系統(tǒng)中，很好的解決了手動(dòng)顯微鏡帶來的不足，提高了測(cè)量精度，改善了圖像清晰度，解決了分析視場(chǎng)范圍有限的問題；控制平臺(tái)Z軸上下移動(dòng)可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦功能，而且軟件可以實(shí)時(shí)判斷圖像的清晰度，從而實(shí)現(xiàn)圖像的實(shí)時(shí)自動(dòng)對(duì)焦，保證圖像時(shí)刻都是最清晰的。
[0009]2.本實(shí)用新型計(jì)算機(jī)控制平臺(tái)X、Y軸移動(dòng)，可以實(shí)現(xiàn)二維平面內(nèi)的全區(qū)域掃描，從而實(shí)現(xiàn)快速的、大量的顆粒圖像進(jìn)行分析，提高了代表性，同時(shí)可以對(duì)X、Y軸自動(dòng)移動(dòng)時(shí)拍攝的圖像進(jìn)行拼接，形成一幅全區(qū)域范圍的全景圖像，然后再對(duì)全景圖像進(jìn)行分析，可以很好的擴(kuò)大單物鏡下的顆粒粒徑分析范圍，如不具備掃描拼接功能的20倍物鏡，分析的粒徑范圍是1-100微米，那么具備掃描拼接功能后，粒徑的分析范圍可以擴(kuò)大到1-50000微米。
[0010]3.本實(shí)用新型方法結(jié)合多線程的快速顆粒識(shí)別軟件技術(shù)，大大的提高了分析速度，如不具備掃描功能的顯微顆粒分析儀測(cè)試10000個(gè)顆粒大概要幾十分鐘，而具備掃描功能后分析10000個(gè)顆粒只需要2-3分鐘。
[0011]4.本實(shí)用新型在對(duì)顆粒測(cè)量時(shí)，從準(zhǔn)確性、重復(fù)性、測(cè)量精度、分辨率以及測(cè)量時(shí)間上都有非常大的提高，是以往顯微圖像顆粒分析儀不能比擬的。
【附圖說明】
[0012]圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]其中，1為顯微鏡，2為Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)，3為Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)，4為X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)，5為(XD相機(jī)，6為計(jì)算機(jī)。
【具體實(shí)施方式】
[0014]下面結(jié)合說明書附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步闡述。
[0015]如圖1所示，本實(shí)用新型帶有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，具有三目顯微鏡，載物臺(tái)以可移動(dòng)方式安裝在鏡架上，還包括X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)4、Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)3、Ζ軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)2以及CCD相機(jī)5，其中X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)4和Υ軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)3分別以橫向和縱向的方式安裝在顯微鏡1的載物臺(tái)上，Ζ軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)2安裝在鏡架上；CCD相機(jī)5安裝在顯微鏡的第三目位置上，其數(shù)據(jù)線連接至計(jì)算機(jī)6。
[0016]所述載物臺(tái)具有三層結(jié)構(gòu)，原有載物臺(tái)在底層，與鏡架轉(zhuǎn)動(dòng)連接，在底層上方加裝了中層和頂層，Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)3中的絲杠安裝在中層的下端面上，絲杠端部與一步進(jìn)電機(jī)輸出軸連接，絲母與底層固定連接；X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)4中的絲杠安裝在中層的端面上，絲杠端部與另一步進(jìn)電機(jī)輸出軸連接，絲母與上層固定連接，上層上設(shè)有壓片夾；底層與中層、中層與頂層之間設(shè)有導(dǎo)軌；Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)2安裝在鏡架上，通過第三步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)；三層結(jié)構(gòu)共同作為一個(gè)整體，沿Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)2上下運(yùn)動(dòng)，進(jìn)行焦距調(diào)整。
[0017]本實(shí)施例中，Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)2沿用原有的斜齒輪齒條，原有顯微鏡的兩個(gè)對(duì)稱手輪，其中一個(gè)更換為步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)2的齒輪傳送機(jī)構(gòu)上下運(yùn)動(dòng)，進(jìn)行焦距調(diào)整。X、Y、Z三個(gè)方向行程的極限位置處安裝有限位開關(guān)。
[0018]底層與中層、中層與頂層之間的導(dǎo)軌采用交叉滾柱導(dǎo)軌，特點(diǎn)是無間隙，高剛性，低摩擦。
[0019]本實(shí)用新型將具有X、Y、Z三方向可以控制自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)的顯微鏡應(yīng)用到顆粒的粒度粒形分析系統(tǒng)中來，配合控制部分很好的解決了手動(dòng)顯微鏡測(cè)量精度低、圖像清晰度差、分析視場(chǎng)范圍有限的問題。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種帶有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，具有三目顯微鏡和載物臺(tái)，其特征在于:還包括X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)以及CCD相機(jī)，其中X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)和Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)分別以橫向和縱向的方式安裝在顯微鏡載物臺(tái)上，Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝在鏡架上；CCD相機(jī)安裝在顯微鏡的第三目位置上，其數(shù)據(jù)線連接至計(jì)算機(jī)。2.按權(quán)利要求1所述的帶有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，其特征在于:所述載物臺(tái)具有三層結(jié)構(gòu)，原有載物臺(tái)在底層，與鏡架轉(zhuǎn)動(dòng)連接，在底層上方加裝了中層和頂層，Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)中的絲杠安裝在中層的下端面上，絲杠端部與一步進(jìn)電機(jī)輸出軸連接，絲母與底層固定連接；X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)中的絲杠安裝在中層的端面上，絲杠端部與另一步進(jìn)電機(jī)輸出軸連接，絲母與上層固定連接，上層上設(shè)有壓片夾；底層與中層、中層與頂層之間設(shè)有導(dǎo)軌。3.按權(quán)利要求1所述的帶有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，其特征在于:Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝在鏡架上，通過第三步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)；三層結(jié)構(gòu)共同作為一個(gè)整體，沿Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)上下運(yùn)動(dòng)，進(jìn)行焦距調(diào)整。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種有掃描、拼接的動(dòng)態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，具有三目顯微鏡和載物臺(tái)，還包括X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)、Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)以及CCD相機(jī)，其中X軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)和Y軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)分別以橫向和縱向的方式安裝在顯微鏡載物臺(tái)上，Z軸移動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝在鏡架上；CCD相機(jī)安裝在顯微鏡的第三目位置上，其數(shù)據(jù)線連接至計(jì)算機(jī)。本實(shí)用新型解決了手動(dòng)顯微鏡帶來的不足，提高了測(cè)量精度，改善了圖像清晰度，解決了分析視場(chǎng)范圍有限的問題，實(shí)現(xiàn)圖像的實(shí)時(shí)自動(dòng)對(duì)焦，保證圖像時(shí)刻都是最清晰的。
【IPC分類】G01N15/00, G01N15/02
【公開號(hào)】CN205027634
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520817767
【發(fā)明人】范繼來, 李闖, 孟慶學(xué), 劉峰源
【申請(qǐng)人】丹東百特儀器有限公司
【公開日】2016年2月10日
【申請(qǐng)日】2015年10月20日