顆粒物檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及顆粒物，尤其涉及流體中顆粒物檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]對(duì)煙道低濃度粉塵和大氣PM2.5的測(cè)量，對(duì)儀器靈敏度要求越來越高。實(shí)驗(yàn)研究表明前散射的靈敏度高于普通后散射，但前散射的激光雜散光和光斑對(duì)檢測(cè)器的零點(diǎn)和準(zhǔn)確度有不利影響。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本實(shí)用新型提供了一種靈敏度高、準(zhǔn)確性好的顆粒物檢測(cè)裝置。
[0004]本實(shí)用新型的實(shí)用新型目的通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn):
[0005]一種顆粒物檢測(cè)裝置，所述顆粒物檢測(cè)裝置包括:
[0006]殼體，所述殼體上具有進(jìn)口和出口；
[0007]光源，所述光源發(fā)出的測(cè)量光射入所述殼體內(nèi)；
[0008]探測(cè)器，所述探測(cè)器用于將接收到的殼體內(nèi)的出射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元；所述測(cè)量光方向旋轉(zhuǎn)到所述出射光方向的角度為銳角；
[0009]第一擋體，所述第一擋體的一側(cè)固定在所述測(cè)量光射入和出射光出射之間的殼體上，另一側(cè)的邊緣臨著所述殼體內(nèi)測(cè)量光和出射光的交匯處；
[0010]分析單元，所述分析單元用于處理所述電信號(hào)，從而獲知?dú)んw內(nèi)氣體中的顆粒物含量。
[0011]根據(jù)上述的顆粒物檢測(cè)裝置，可選地，所述顆粒物檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括:
[0012]第二擋體，所述測(cè)量光傾斜地入射到所述第二擋體上。
[0013]根據(jù)上述的顆粒物檢測(cè)裝置，優(yōu)選地，所述第二擋體為錐體。
[0014]根據(jù)上述的顆粒物檢測(cè)裝置，可選地，所述顆粒物檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括:
[0015]光收集器件，所述光收集器件用于將所述出射光收集到所述探測(cè)器上。
[0016]根據(jù)上述的顆粒物檢測(cè)裝置，優(yōu)選地，所述光收集器件是會(huì)聚透鏡。
[0017]根據(jù)上述的顆粒物檢測(cè)裝置，優(yōu)選地，所述光源是激光器。
[0018]根據(jù)上述的顆粒物檢測(cè)裝置，優(yōu)選地，所銳角是60度。
[0019]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下有益效果:
[0020]采用前散射測(cè)量，比傳統(tǒng)后散射靈敏度高；
[0021]第一擋體能有效遮擋光源產(chǎn)生的雜散光，避免了雜散光進(jìn)入探測(cè)器而影響測(cè)量的零占.
[0022]第二擋體能夠使光源發(fā)出的測(cè)量光的最后的光斑通過反射而消光，不讓最后的發(fā)射光進(jìn)入探測(cè)器而影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。
【附圖說明】
[0023]參照附圖，本實(shí)用新型的公開內(nèi)容將變得更易理解。本領(lǐng)域技術(shù)人員容易理解的是:這些附圖僅僅用于舉例說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而并非意在對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍構(gòu)成限制。圖中:
[0024]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的顆粒物檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025]圖1和以下說明描述了本實(shí)用新型的可選實(shí)施方式以教導(dǎo)本領(lǐng)域技術(shù)人員如何實(shí)施和再現(xiàn)本實(shí)用新型。為了教導(dǎo)本實(shí)用新型技術(shù)方案，已簡(jiǎn)化或省略了一些常規(guī)方面。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解源自這些實(shí)施方式的變型或替換將在本實(shí)用新型的范圍內(nèi)。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解下述特征能夠以各種方式組合以形成本實(shí)用新型的多個(gè)變型。由此，本實(shí)用新型并不局限于下述可選實(shí)施方式，而僅由權(quán)利要求和它們的等同物限定。
[0026]實(shí)施例:
[0027]圖1示意性地給出了本實(shí)用新型實(shí)施例的氣體中顆粒物的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖，如圖1所示，所述顆粒物的檢測(cè)裝置包括:
[0028]殼體4，所述殼體上具有氣體進(jìn)口和氣體出口 ；
[0029]光源1，如發(fā)射650nm光的激光器，所述光源通過安裝座2固定在所述殼體上，所述安裝座內(nèi)設(shè)置有透明窗口 3;所述光源發(fā)出的測(cè)量光射入所述殼體內(nèi)，發(fā)生散射，其中，區(qū)域10為檢測(cè)靈敏區(qū)；
[0030]光收集器件6，如凸透鏡，所述光收集器件安裝在探測(cè)器安裝座7內(nèi)，用于將散射光的出射光收集到所述探測(cè)器上；
[0031]探測(cè)器8，所述探測(cè)器8用于將接收到的殼體內(nèi)的出射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元；所述測(cè)量光方向旋轉(zhuǎn)到所述出射光方向的角度為銳角，如60度；
[0032]第一擋體5，如呈片狀，端部為“V”形，所述第一擋體的一側(cè)固定在所述測(cè)量光射入和出射光出射之間的殼體上，另一側(cè)的邊緣臨著所述殼體內(nèi)測(cè)量光和出射光的交匯處；
[0033]第二擋體9，所述第二擋體采用錐體，所述測(cè)量光傾斜地入射到所述第二擋體上，使得測(cè)量光不會(huì)干擾出射光的檢測(cè)；
[0034]分析單元，所述分析單元用于處理所述電信號(hào)，從而獲知?dú)んw內(nèi)氣體中的顆粒物含量。所述分析單元是本領(lǐng)域的現(xiàn)有技術(shù)，在此不再贅述。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種顆粒物檢測(cè)裝置，其特征在于:所述顆粒物檢測(cè)裝置包括: 殼體，所述殼體上具有進(jìn)口和出口 ； 光源，所述光源發(fā)出的測(cè)量光射入所述殼體內(nèi)； 探測(cè)器，所述探測(cè)器用于將接收到的殼體內(nèi)的出射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元；所述測(cè)量光方向旋轉(zhuǎn)到所述出射光方向的角度為銳角； 第一擋體，所述第一擋體的一側(cè)固定在所述測(cè)量光射入和出射光出射之間的殼體上，另一側(cè)的邊緣臨著所述殼體內(nèi)測(cè)量光和出射光的交匯處； 分析單元，所述分析單元用于處理所述電信號(hào)，從而獲知?dú)んw內(nèi)氣體中的顆粒物含量。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物檢測(cè)裝置，其特征在于:所述顆粒物檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括: 第二擋體，所述測(cè)量光傾斜地入射到所述第二擋體上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顆粒物檢測(cè)裝置，其特征在于:所述第二擋體為錐體。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物檢測(cè)裝置，其特征在于:所述顆粒物檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括: 光收集器件，所述光收集器件用于將所述出射光收集到所述探測(cè)器上。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顆粒物檢測(cè)裝置，其特征在于:所述光收集器件是會(huì)聚透鏡。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物檢測(cè)裝置，其特征在于:所述光源是激光器。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物檢測(cè)裝置，其特征在于:所述銳角是60度。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種顆粒物檢測(cè)裝置，所述顆粒物檢測(cè)裝置包括：殼體，所述殼體上具有進(jìn)口和出口；光源，所述光源發(fā)出的測(cè)量光射入所述殼體內(nèi)；探測(cè)器，所述探測(cè)器用于將接收到的殼體內(nèi)的出射光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳送到分析單元；所述測(cè)量光方向旋轉(zhuǎn)到所述出射光方向的角度為銳角；第一擋體，所述第一擋體的一側(cè)固定在所述測(cè)量光射入和出射光出射之間的殼體上，另一側(cè)的邊緣臨著所述殼體內(nèi)測(cè)量光和出射光的交匯處；分析單元，所述分析單元用于處理所述電信號(hào)，從而獲知?dú)んw內(nèi)氣體中的顆粒物含量。本實(shí)用新型具有靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01N15/06
【公開號(hào)】CN205067286
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520838143
【發(fā)明人】楊效, 于志偉, 王大偉, 盛潤(rùn)坤
【申請(qǐng)人】杭州澤天科技有限公司
【公開日】2016年3月2日
【申請(qǐng)日】2015年10月26日