一種平面度檢測裝置的制造方法
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及檢測裝置領(lǐng)域，特別是涉及一種平面度檢測裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]隨著手機(jī)等電子產(chǎn)品的品種越來越豐富，產(chǎn)品的外觀越來越多樣化，其外殼等部件也越來越精密。因此電子產(chǎn)品的各配件對平面度等參數(shù)要求越來越高，而在實(shí)際生產(chǎn)中如何高效率地檢測產(chǎn)品的平面度等參數(shù)也是一個急需解決的問題。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，對平面度的檢驗(yàn)主要是平臺加塞規(guī)的方式，這種方式對產(chǎn)品的平面檢測比較有效，但是這方式的檢測只局限于是在同一面上。另外，手工測量導(dǎo)致測量速度較慢，并且不同人員操作容易導(dǎo)致不良漏出。
[0004]鑒于此，克服該現(xiàn)有技術(shù)所存在的缺陷是本技術(shù)領(lǐng)域亟待解決的問題。
【【實(shí)用新型內(nèi)容】】
[0005]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種高效率的平面度檢測裝置。
[0006]本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0007]—種平面度檢測裝置，用于檢測零件的平面度，零件包括一上待測面，平面度檢測裝置的特征在于:
[0008]上滑軌，上滑軌的底部設(shè)置有上凹槽，上凹槽底面包括一上檢測平面；
[0009]下滑軌，下滑軌的頂部設(shè)置有下凹槽，下滑軌的頂部與上滑軌的底部相扣，以使得下滑軌的下凹槽與上滑軌的上凹槽組成中空區(qū)域；
[0010]上待測面與上檢測平面相配合，以使得當(dāng)上待測面的平面度符合要求時，允許上待測面從上檢測平面表面滑過，零件通過該中空區(qū)域。
[0011 ]優(yōu)選地，上滑軌與下滑軌通過螺栓固定。
[0012]優(yōu)選地，零件為寬度方向一致的部件，中空區(qū)域?yàn)閷挾纫恢碌慕Y(jié)構(gòu)。
[0013]優(yōu)選地，零件還包括一下待測面，下待測面與上待測面互相平行，下滑軌的下凹槽包括一下檢測平面，以使得零件通過中空區(qū)域時，下待測面從下檢測平面滑過。
[0014]優(yōu)選地，平面度檢測裝置還包括一支架，該支架位于上滑軌與下滑軌的底部，使得上滑軌與下滑軌保持傾斜。
[0015]優(yōu)選地，零件為手機(jī)外殼。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果在于:本實(shí)用新型中平面度檢測裝置包括上滑軌與下滑軌，上滑軌的上凹槽與下滑軌的下凹槽組成中空區(qū)域。當(dāng)零件的上待測面的平面度符合要求，此時零件的上帶檢測面從上凹槽的上檢測平面表面滑過，零件可以從中空區(qū)域通過;反之則不可以。本平面度檢測裝置實(shí)現(xiàn)了高效地檢測零件的平面度。
【【附圖說明】】
[0017]圖1為本實(shí)用新型的平面度檢測裝置的一個實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)圖；
[0018]圖2為圖1所示零件200的立體結(jié)構(gòu)圖；
[0019]圖3為圖1所示上滑軌110的立體結(jié)構(gòu)圖；
[0020]圖4為圖1所示下滑軌120的立體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖5為圖1中的下滑軌120與上滑軌110組合結(jié)構(gòu)示意圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0022]為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0023]實(shí)施例1:
[0024]本實(shí)用新型實(shí)施例1提供了一種平面度檢測裝置。請參閱圖1，圖1為本實(shí)用新型的平面度檢測裝置的一個實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)圖，如圖1所示，平面度檢測裝置包括上滑軌110和下滑軌120，用于檢測零件200的平面度。
[0025]圖2為圖1所示零件200的立體結(jié)構(gòu)圖，如圖2所示，這里的零件200具體為手機(jī)外殼。該手機(jī)外殼200包括一上待測面210，具體地，這個上待測面210為手機(jī)外殼200使用中與其他部件相扣的面，因此該表面一般需要較高的平面度要求。
[0026]圖3為圖1所示上滑軌110的立體結(jié)構(gòu)圖，如圖3所示，為了實(shí)現(xiàn)測量平面度，上滑軌11 ο的底部設(shè)置有上凹槽111，上凹槽111底面包括一上檢測平面111a。圖4為圖1所示下滑軌120的立體結(jié)構(gòu)示意圖，如圖4所示，下滑軌120的頂部設(shè)置有下凹槽121。圖5為圖1中的下滑軌120與上滑軌110組合結(jié)構(gòu)示意圖，結(jié)合圖1與圖5可以看出，下滑軌120的頂部與上滑軌110的底部相扣，此時下滑軌120的下凹槽121與上滑軌110的上凹槽111組成中空區(qū)域140。
[0027]如圖1所示，當(dāng)零件200放置于下滑軌120上，上待測面210與上檢測平面11 la相配合，例如二者設(shè)定一定的間隙值。當(dāng)上待測面210的平面度符合要求時，上待測面210的比較平整，可以允許上待測面210從上檢測平面11 la表面滑過，零件200此時可以通過中空區(qū)域140。相反，當(dāng)上待測面210的平面度不符合要求時，由于上待測面210的不平整，上待測面210不能從上檢測平面111a表面滑過，零件200此時不能通過中空區(qū)域140。因此，本實(shí)用新型實(shí)施例中的平面度檢測裝置不用直接去測量待測面的平面度，而就可以高效率地檢測出零件200的平面度是否符合要求。
[0028]在本實(shí)施例中，零件200為寬度方向一致的部件，相對應(yīng)地，中空區(qū)域140為寬度一致的結(jié)構(gòu)。這種結(jié)構(gòu)的零件200比較容易在中空區(qū)域140內(nèi)滑動，中空區(qū)域140也可以同時檢測零件200的寬度一致性，是一種優(yōu)選地結(jié)構(gòu)。
[0029]本實(shí)施例中的零件200還包括一下待測面，這里的下待測面具體地為手機(jī)外殼的背面。下待測面與上待測面210互相平行，同時下滑軌120的下凹槽121包括一下檢測平面121a，當(dāng)零件200通過中空區(qū)域時，下待測面從下檢測平面121a滑過。同理，本實(shí)施例中的平面度檢測裝置可以同時檢測下待測面210的平面度，也間接檢測了零件200的高度。
[0030]另外，如圖2所示，手機(jī)外殼200的表面具有若干突起220，為了保證突起220在檢測過程中不阻礙手機(jī)外殼200在上滑軌110與下滑軌120之間滑行，如圖3所示，上滑軌110的上檢測平面111a上設(shè)置有若干滑動槽111b，以使得手機(jī)外殼200滑動時突起220可以通過滑動槽11 lb移動。
[0031]為了固定上滑軌110與下滑軌120，上滑軌110包括6個螺紋孔113，而下滑軌120則包括6個螺紋孔122，螺紋孔113與螺紋孔122—一匹配，相互配合，上滑軌110與下滑軌120這樣可以通過螺栓固定，這樣便于二者的加工與組裝。容易理解的是，在本實(shí)用新型的其他實(shí)施方式中，上滑軌110與下滑軌120的螺紋孔的數(shù)量與位置可以根據(jù)需要設(shè)置，并不僅限于本實(shí)施例中舉例。
[0032]如圖1所示，平面度檢測裝置還包括一支架130，該支架130位于上滑軌110與下滑軌120的底部，使得上滑軌110與下滑軌120保持傾斜，能夠使得手機(jī)外殼200從下滑軌120上依靠重力往下滑落。
[0033]當(dāng)然容易理解的是，本實(shí)施例中的手機(jī)外殼200只是一種示例，其他的零件都可以應(yīng)用本實(shí)施例中的平面度檢測裝置來檢測平面度。
[0034]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種平面度檢測裝置，用于檢測零件的平面度，所述零件包括一上待測面，所述平面度檢測裝置的特征在于: 上滑軌，所述上滑軌的底部設(shè)置有上凹槽，所述上凹槽底面包括一上檢測平面； 下滑軌，所述下滑軌的頂部設(shè)置有下凹槽，所述下滑軌的頂部與所述上滑軌的底部相扣，以使得所述下滑軌的下凹槽與所述上滑軌的上凹槽組成中空區(qū)域； 所述上待測面與所述上檢測平面相配合，以使得當(dāng)所述上待測面的平面度符合要求時，允許所述上待測面從所述上檢測平面表面滑過，所述零件通過所述該中空區(qū)域。2.如權(quán)利要求1所述的平面度檢測裝置，其特征在于:所述上滑軌與下滑軌通過螺栓固定。3.如權(quán)利要求1所述的平面度檢測裝置，其特征在于:所述零件為寬度方向一致的部件，所述中空區(qū)域?yàn)閷挾纫恢碌慕Y(jié)構(gòu)。4.如權(quán)利要求1所述的平面度檢測裝置，其特征在于:所述零件還包括一下待測面，所述下待測面與上待測面互相平行，所述下滑軌的下凹槽包括一下檢測平面，以使得所述零件通過所述中空區(qū)域時，所述下待測面從所述下檢測平面滑過。5.如權(quán)利要求1所述的平面度檢測裝置，其特征在于:所述平面度檢測裝置還包括一支架，該支架位于所述上滑軌與下滑軌的底部，使得所述上滑軌與下滑軌保持傾斜。6.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的平面度檢測裝置，其特征在于:所述零件為手機(jī)外殼。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及平面度檢測技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種平面度檢測裝置，用于檢測零件的平面度，該零件包括一上待測面，平面度檢測裝置的特征在于：上滑軌，上滑軌的底部設(shè)置有上凹槽，上凹槽底面包括一上檢測平面；下滑軌，下滑軌的頂部設(shè)置有下凹槽，下滑軌的頂部與上滑軌的底部相扣，以使得下滑軌的下凹槽與上滑軌的上凹槽組成中空區(qū)域；上待測面與上檢測平面相配合，以使得當(dāng)上待測面的平面度符合要求時，允許上待測面從上檢測平面表面滑過，零件通過該中空區(qū)域。本實(shí)用新型提供了一種高效率的平面度檢測裝置。
【IPC分類】G01B5/28
【公開號】CN205102764
【申請?zhí)枴緾N201520920453
【發(fā)明人】常鐵生
【申請人】東莞常安精密工業(yè)有限公司
【公開日】2016年3月23日
【申請日】2015年11月17日