一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前對(duì)數(shù)據(jù)線絕緣測(cè)試都是人工或半人工的進(jìn)行測(cè)試，容易耗費(fèi)成本，造成浪費(fèi)，且在人力上也需要投入很多，而且檢測(cè)的對(duì)象也大部分是針對(duì)電源線，針對(duì)數(shù)據(jù)線的基本沒有。操作難度大，晦濕難懂，不利于工廠工人的sop (Standard Operat1n Procedure，標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)程序)操作。因此，提供一種能夠準(zhǔn)確、快捷的對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的測(cè)試裝置，成為目前亟待解決的問題。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]鑒于上述問題，本申請(qǐng)記載了一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置，所述測(cè)試裝置包括:
[0004]測(cè)試治具，與所述數(shù)據(jù)線相連，用以控制所述測(cè)試裝置向所述數(shù)據(jù)線提供不同的電壓；
[0005]測(cè)試模塊，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測(cè)試和/或高壓測(cè)試和/或極性導(dǎo)通測(cè)試；
[0006]接觸器單元，分別與所述測(cè)試治具以及所述測(cè)試模塊相連，用以控制所述測(cè)試模塊是否向所述數(shù)據(jù)線供電以及是否進(jìn)行測(cè)試；
[0007]CPU主控單元，與所述測(cè)試模塊相連，用以控制對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測(cè)試和/或高壓測(cè)試和/或極性導(dǎo)通測(cè)試并對(duì)絕緣測(cè)試信號(hào)和/或高壓測(cè)試信號(hào)和/或極性導(dǎo)通測(cè)試信號(hào)進(jìn)行反饋處理；
[0008]其中，所述測(cè)試模塊包括:
[0009]絕緣單元，分別與所述接觸器單元以及所述CPU主控單元相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測(cè)試并獲取所述絕緣測(cè)試信號(hào)；
[0010]高壓?jiǎn)卧?，分別與所述接觸器單元以及所述CPU主控單元相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測(cè)試并獲取所述高壓測(cè)試信號(hào)。
[0011 ] 較佳的，所述絕緣單元包括:
[0012]絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)，與所述接觸器單元相連；
[0013]270V供電電壓，與所述絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)相連，用以向所述數(shù)據(jù)線提供270V絕緣測(cè)試電壓；
[0014]絕緣測(cè)試主電路，與所述接觸器單元相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測(cè)試并獲取所述絕緣測(cè)試信號(hào)。
[0015]較佳的，所述接觸器單元包括絕緣測(cè)試接觸器，所述絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)以及所述絕緣測(cè)試主電路均與所述絕緣測(cè)試接觸器相連。
[0016]較佳的，所述高壓?jiǎn)卧?
[0017]高壓調(diào)節(jié)器，與所述接觸器單元相連；
[0018]5000V供電電路，與所述高壓調(diào)節(jié)器相連，用以向所述數(shù)據(jù)線提供不高于5000V的尚壓;
[0019]高壓測(cè)試主電路，與所述接觸器單元相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測(cè)試并獲取所述高壓測(cè)試信號(hào)。
[0020]較佳的，所述接觸器單元包括高壓測(cè)試接觸器，所述高壓調(diào)節(jié)器以及所述高壓測(cè)試主電路均與所述高壓測(cè)試接觸器相連。
[0021]較佳的，所述測(cè)試模塊還包括極性導(dǎo)通單元，與所述接觸器單元相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行極性導(dǎo)通測(cè)試并獲取所述極性導(dǎo)通測(cè)試信號(hào)。
[0022]較佳的，所述測(cè)試裝置還包括電流表，所述電流表分別與所述絕緣測(cè)試主電路、所述高壓測(cè)試主電路以及所述極性導(dǎo)通測(cè)試單元相連，用以動(dòng)態(tài)顯示所述絕緣測(cè)試信號(hào)和/或所述高壓測(cè)試信號(hào)和/或所述極性導(dǎo)通測(cè)試信號(hào)。
[0023]較佳的，所述測(cè)試裝置還包括與所述CPU主控裝置相連的指示燈和/或按鍵開關(guān)和/或計(jì)數(shù)器和/或觸摸屏。
[0024]較佳的，所述觸摸屏和所述CPU主控單元通過RS232接口相連。
[0025]較佳的，所述CPU主控單元和所述數(shù)據(jù)線之間還設(shè)置有相連的電磁閥和氣缸
[0026]上述技術(shù)方案具有如下優(yōu)點(diǎn)或有益效果:本實(shí)用新型提供的測(cè)試裝置，檢測(cè)功能得全面、精準(zhǔn)、省時(shí)，減少工作量，提高工作效率，節(jié)省成本，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)一次性檢測(cè)。提供了觸摸屏進(jìn)行系統(tǒng)操控和顯示，更利于工廠工人的sop操作，更加自動(dòng)化和簡(jiǎn)易。該檢測(cè)裝置可以針對(duì)手機(jī)usb數(shù)據(jù)線的檢測(cè)，同時(shí)也可以搬移到電源線的檢測(cè)裝置。最后，該絕緣測(cè)試系統(tǒng)具有比較穩(wěn)定、效率更高的優(yōu)點(diǎn)，適用于工廠車間生產(chǎn)。
【附圖說明】
[0027]參考所附附圖，以更加充分的描述本實(shí)用新型的實(shí)施例。然而，所附附圖僅用于說明和闡述，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型范圍的限制。
[0028]圖1為本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖一；
[0029]圖2為本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖二 ；
[0030]圖3為本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖三；
[0031]圖4為本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置進(jìn)行絕緣測(cè)試的方法流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0032]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0033]實(shí)施例一
[0034]—種數(shù)據(jù)線的絕緣自動(dòng)測(cè)試裝置，包括:
[0035]如圖1所示，測(cè)試治具，與所述數(shù)據(jù)線相連，用以控制所述測(cè)試裝置向數(shù)據(jù)線提供不同的電壓；
[0036]接觸器單元，與所述測(cè)試治具相連，用以控制所述是否向數(shù)據(jù)線供電；
[0037]絕緣單元，與所述接觸器單元相連，用以對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測(cè)試并獲取絕緣測(cè)試信號(hào);
[0038]高壓?jiǎn)卧?，與所述接觸器單元相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測(cè)試并獲取高壓測(cè)試信號(hào)；
[0039]極性導(dǎo)通單元，與所述接觸器單元相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行極性導(dǎo)通測(cè)試并獲取極性導(dǎo)通測(cè)試信號(hào)；
[0040]CPU主控單元，分別與所述絕緣單元、高壓?jiǎn)卧约八鰳O性導(dǎo)通單元相連，用以控制對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行的測(cè)試種類并對(duì)所述絕緣測(cè)試信號(hào)和/或高壓測(cè)試信號(hào)和/或極性導(dǎo)通測(cè)試信號(hào)進(jìn)行反饋處理。
[0041]具體來說，數(shù)據(jù)線的絕緣測(cè)試包括絕緣電阻、漏電、線間高壓(內(nèi)高壓)、露銅(外高壓)、相對(duì)長(zhǎng)度等電器特性進(jìn)行一次性連續(xù)自動(dòng)檢測(cè)。合格品會(huì)自動(dòng)被頂出，不合格產(chǎn)品被該裝置夾住。具有良品與不良品統(tǒng)計(jì)功能，采用觸摸屏控制。
[0042]在本實(shí)施例中，CPU主控單元作為整個(gè)裝置的核心控制器，用來控制對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試種類。具體來說，所述測(cè)試種類包括絕緣測(cè)試、高壓測(cè)試以及極性導(dǎo)通測(cè)試。當(dāng)選擇了絕緣測(cè)試時(shí)，測(cè)試治具對(duì)所述絕緣單元進(jìn)行調(diào)節(jié)以獲取相應(yīng)電壓，使得所述絕緣單元對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測(cè)試并獲取絕緣測(cè)試信號(hào)；當(dāng)選擇了高壓測(cè)試時(shí)，測(cè)試治具對(duì)所述高壓?jiǎn)卧M(jìn)行調(diào)節(jié)以獲取相應(yīng)電壓，使得所述高壓?jiǎn)卧獙?duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測(cè)試并獲取高壓測(cè)試信號(hào)；當(dāng)選擇了極性導(dǎo)通單元時(shí)，測(cè)試治具對(duì)所述極性導(dǎo)通單元進(jìn)行調(diào)節(jié)以獲取相應(yīng)電壓，使得所述極性導(dǎo)通單元對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行極性導(dǎo)通測(cè)試并獲取極性導(dǎo)通測(cè)試信號(hào)。對(duì)于所述絕緣測(cè)試信號(hào)和/或高壓測(cè)試信號(hào)和/或極性導(dǎo)通測(cè)試信號(hào)，CPU主控單元會(huì)根據(jù)這些信號(hào)進(jìn)行反饋處理。所述接觸器單元包括絕緣測(cè)試接觸器、高壓測(cè)試接觸器以及極性導(dǎo)通測(cè)試接觸器。
[0043]如圖2所示，更進(jìn)一步來講，所述絕緣單元包括:
[0044]絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)，與所述絕緣測(cè)試接觸器相連，所述測(cè)試治具能夠通過所述絕緣測(cè)試接觸器對(duì)所述絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)進(jìn)行調(diào)節(jié)；
[0045]270V供電電路，與所述絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)相連，用以向所述數(shù)據(jù)線提供270V絕緣測(cè)試電壓；
[0046]絕緣測(cè)試主電路，與所述絕緣測(cè)試接觸器相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測(cè)試并獲取絕緣測(cè)試信號(hào)。
[0047]具體來說，當(dāng)測(cè)試種類為絕緣測(cè)試時(shí)，CPU主控單元控制絕緣測(cè)試接觸器導(dǎo)通，并控制所述測(cè)試治具調(diào)節(jié)絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)絕緣電阻大小進(jìn)行調(diào)節(jié)，使得所述270V供電電路向所述數(shù)據(jù)線提供270V絕緣測(cè)試電壓。然后，絕緣測(cè)試主電路對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測(cè)試，以獲取絕緣測(cè)試信號(hào)。
[0048]所述高壓?jiǎn)卧?
[0049]高壓調(diào)節(jié)器，分別與所述高壓測(cè)試接觸器以及所述高壓測(cè)試接觸器相連，所述測(cè)試治具能夠通過所述高壓測(cè)試接觸器調(diào)節(jié)5000V供電電路向所述數(shù)據(jù)線提供的電壓大小；
[0050]5000V供電電路，與所述高壓調(diào)節(jié)器相連，用以向所述數(shù)據(jù)線提供不高于5000V的尚壓；
[0051]高壓測(cè)試主電路，與所述高壓測(cè)試接觸器相連，用以對(duì)所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測(cè)試并獲取高壓測(cè)試信號(hào)。
[0052]具體來說，當(dāng)測(cè)試種類為高壓測(cè)試時(shí)，CPU主控單元控制高壓測(cè)試接觸器導(dǎo)通，并控制所述測(cè)試治具對(duì)所述高壓調(diào)節(jié)器進(jìn)行調(diào)節(jié)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)5000V供電電路所提供的電壓進(jìn)行調(diào)節(jié)，使得所述5000V供電電路向所述數(shù)據(jù)線提供低于5000V的高壓。最后，高壓測(cè)試主電路對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測(cè)試，并獲取高壓測(cè)試信號(hào)。
[0053]此外，所述極性導(dǎo)通測(cè)試單元與所述極性導(dǎo)通測(cè)試接