一種繼電器參數(shù)測試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實用新型涉及儀器儀表技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種繼電器參數(shù)測試儀。
【背景技術(shù)】
[0002] 對繼電器產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行檢測時,需要測量繼電器的吸合時間、釋放時間、最小吸合 電壓、釋放電壓等參數(shù)進(jìn)行測試。目前,一些繼電器生產(chǎn)廠家仍然依賴手動調(diào)節(jié)電源電壓, 用人眼去判斷觸點的通斷狀態(tài)以及銜鐵位置來評估這些參數(shù)。但手動測試受人為因素的影 響太多,其出錯率高,不易控制,嚴(yán)重地制約了生產(chǎn)效率的提高,不利于產(chǎn)品的大批量生產(chǎn)。 另外一些廠家較依賴于國外進(jìn)口設(shè)備,但國外進(jìn)口設(shè)備對繼電器檢測遇到問題很難得到不 同類型繼電器測試的技術(shù)支持和維護(hù)。而國內(nèi)開發(fā)的測試系統(tǒng),一般都造價昂貴,測試過程 繁瑣。 【實用新型內(nèi)容】
[0003] 本實用新型的目的在于提供一種繼電器參數(shù)測試儀,以實現(xiàn)對繼電器性能參數(shù)的 快速、綜合測量的目的。
[0004] 為實現(xiàn)上述目的,本實用新型提供了一種繼電器參數(shù)測試儀,包括:
[0005] 控制器,與一繼電器驅(qū)動電路相連,用于通過所述繼電器驅(qū)動電路為繼電器提供 驅(qū)動信號,以及對測試得到的電壓信號進(jìn)行處理;
[0006] 檢測器,用于采集所述繼電器中的電壓信號,并發(fā)送該電壓信號至控制器進(jìn)行處 理;
[0007] 顯示器,用于顯示控制器進(jìn)行處理后的測試結(jié)果;
[0008] 其中,所述控制器包括一計時器,當(dāng)所述控制器輸出高電平信號時,所述繼電器驅(qū) 動電路提供額定電壓至所述繼電器,繼電器吸合,并觸發(fā)所述計時器啟動,所述檢測電路采 集此時的繼電器中的電壓信號,得到繼電器的吸合電壓;當(dāng)所述控制器輸出低電平信號時, 繼電器釋放,觸發(fā)所述計時器啟動,所述檢測電路采集此時的繼電器中的電壓信號,得到繼 電器的釋放電壓。
[0009] 較佳地,還包括D/A轉(zhuǎn)換電路,所述D/A轉(zhuǎn)換電路與所述控制器相連,所述控制器 提供自動升高或自動降低的電壓控制信號至所述D/A轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換為模擬信號,模擬信號 再經(jīng)一運算放大器放大后提供給所述繼電器以驅(qū)動繼電器工作。
[0010] 較佳地,所述檢測器包括吸合電阻測試電路及信號采集電路,所述吸合電阻測試 電路包括一恒流源、參考電阻及若干運算放大器,所述恒流源為所述若干運算放大器提供 基準(zhǔn)電源并由運算放大器放大后輸出,所述吸合電阻測試電路的輸出端與所述繼電器相 連,所述信號采集電路用于采集繼電器中的電壓信號,并將電壓信號發(fā)送至所述控制器,所 述控制器根據(jù)所述電壓信號、參考電阻及運算放大器的放大倍數(shù)計算得到繼電器的吸合電 阻。
[0011] 較佳地,所述顯示器包括IXD芯片及其外圍電路,所述IXD芯片的輸入管腳與所述 控制器相連,當(dāng)所述控制器輸出測試結(jié)果的信號至所述LCD芯片時,所述LCD芯片對測試結(jié) 果進(jìn)行顯示。
[0012] 較佳地,繼電器參數(shù)測試儀還包括復(fù)位電路,所述復(fù)位電路與控制器相連,包括相 互串聯(lián)的電容和電阻,所述電容與一復(fù)位按鍵并聯(lián),所述電容與電阻間的連接點用于輸出 復(fù)位信號至控制器。
[0013] 較佳地,繼電器參數(shù)測試儀還包括晶振電路,所述晶振電路與控制器相連,所述晶 振電路用于為所述控制器提供標(biāo)準(zhǔn)時鐘信號。
[0014] 本實用新型提供的繼電器參數(shù)測試儀包括控制器、檢測器及顯示器,控制器為可 實現(xiàn)計時功能的單片機(jī)構(gòu)成,該單片機(jī)與一繼電器驅(qū)動電路相連。其中,單片機(jī)通過計時器 計時。當(dāng)單片機(jī)輸出高電平信號時,繼電器驅(qū)動電路提供額定電壓至繼電器,繼電器吸合, 并觸發(fā)計時器啟動,檢測電路采集此時的繼電器中的電壓信號,得到繼電器的吸合電壓;當(dāng) 單片機(jī)輸出低電平信號時,繼電器釋放,觸發(fā)計時器啟動,檢測電路采集此時的繼電器中的 電壓信號,得到繼電器的釋放電壓。而檢測器包括吸合電阻測試電路,通過設(shè)置參考電阻, 根據(jù)測得的電壓值變化即可由單片機(jī)計算得到繼電器的吸合電阻值。該繼電器參數(shù)測試儀 可測試?yán)^電器的主要性能參數(shù)如吸合電壓、釋放電壓、吸合時間、釋放時間及吸合電阻等, 并可進(jìn)行多次測量取平均值。該測試儀可實現(xiàn)繼電器參數(shù)的快速、綜合測量,且操作方便、 處理精度較高。
【附圖說明】
[0015] 圖1為本實用新型提供的繼電器參數(shù)測試儀組成結(jié)構(gòu)示意圖;
[0016] 圖2為本實用新型優(yōu)選實施例的繼電器驅(qū)動電路結(jié)構(gòu)圖;
[0017] 圖3為本實用新型優(yōu)選實施例的D/A轉(zhuǎn)換電路結(jié)構(gòu)圖;
[0018] 圖4為本實用新型優(yōu)選實施例的檢測器組成結(jié)構(gòu)圖;
[0019] 圖5為本實用新型優(yōu)選實施例的顯示器組成結(jié)構(gòu)圖;
[0020] 圖6為本實用新型優(yōu)選實施例的復(fù)位電路及晶振電路;
[0021 ]圖7為本實用新型優(yōu)選實施例的A/D轉(zhuǎn)換電路結(jié)構(gòu)力;
[0022] 圖8為本實用新型提供的繼電器參數(shù)測試儀單片機(jī)的系統(tǒng)軟件流程圖;
[0023] 圖9為本實用新型提供的單片機(jī)的電壓測量子程序流程圖。
【具體實施方式】
[0024] 為更好地說明本實用新型,茲以一優(yōu)選實施例,并配合附圖對本實用新型作詳細(xì) 說明,具體如下:
[0025] 如圖1所示,為本實施例提供的繼電器參數(shù)測試儀組成結(jié)構(gòu)示意圖,其包括控制 器101、檢測器102、顯示器103。其中,控制器101通過繼電器驅(qū)動電路104與待測試的繼 電器105相連??刂破?01通過繼電器驅(qū)動電路104為繼電器105提供驅(qū)動信號,以及對 測試得到的電壓信號進(jìn)行處理。檢測器103采集繼電器105中的電壓信號,并發(fā)送該電壓 信號至控制器101進(jìn)行處理。顯示器103顯示控制器101進(jìn)行處理后的測試結(jié)果。
[0026] 控制器101中包括一計時器106,當(dāng)控制器101輸出高電平信號時,繼電器驅(qū)動電 路104提供額定電壓至繼電器105,繼電器105吸合,并觸發(fā)計時器106啟動以獲取吸合 時間,檢測器103采集此時的繼電器中的電壓信號,得到繼電器105的吸合電壓;當(dāng)控制器 101輸出低電平信號時,繼電器105釋放,觸發(fā)計時器106啟動以獲取釋放時間,檢測器103 采集此時的繼電器105中的電壓信號,得到繼電器105的釋放電壓。
[0027] 本實施例中,控制器101為AT89S52型號的單片機(jī)U1,單片機(jī)的P1.0 口提供繼電 器驅(qū)動電路104的驅(qū)動信號。其中,繼電器驅(qū)動電路104如圖2所示,當(dāng)單片機(jī)的P1. 0 口 提供為高電平的電壓信號時,通過該繼電器驅(qū)動電路的運算放大器U3A進(jìn)行比較,比較運 算放大器輸出高電平,繼電器驅(qū)動電路104的晶體管導(dǎo)通,為繼電器K1提供12V的額定電 壓,同時觸發(fā)控制器101內(nèi)的定時器106啟動,測出繼電器的吸合時間。當(dāng)單片機(jī)的P1. 0 口提供低電平的電壓信號時,繼電器觸點釋放,同時觸發(fā)控制器101內(nèi)的定時器106啟動, 測出繼電器的釋放時間。
[0028] 如圖3所示,該繼電器參數(shù)測試儀還包括D/A轉(zhuǎn)換電路,D/A轉(zhuǎn)換電路為芯片 DAC0832,DAC0832的數(shù)據(jù)輸入管腳DI0~DI7與AT89S52單片機(jī)的p0 口相連,通過p0 口 輸出自動升高及自動降低的電壓控制信號至DAC