一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，屬于國(guó)際專利分類表中“G01R測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量”技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]電阻率是評(píng)價(jià)電介質(zhì)材料的高低溫絕緣性能的一個(gè)重要指標(biāo)，傳統(tǒng)的電阻率測(cè)試裝置多為在測(cè)試箱體兩側(cè)開(kāi)設(shè)導(dǎo)線孔，測(cè)試探針穿入導(dǎo)線孔內(nèi)，對(duì)樣品的電阻率進(jìn)行測(cè)試，導(dǎo)線孔開(kāi)設(shè)較多時(shí)，將會(huì)影響測(cè)試箱體的密封性，另外，在高溫環(huán)境下測(cè)量時(shí)，由于導(dǎo)線的外層保護(hù)層的耐用溫度存在限制導(dǎo)致測(cè)試箱體內(nèi)的高溫環(huán)境測(cè)量的溫度存在制約，溫度不能過(guò)高，溫度過(guò)高將會(huì)使測(cè)試探針連接的導(dǎo)線燒毀，而且由于測(cè)試箱體的氣密性較差，測(cè)試探針的探頭在高溫環(huán)境下極易氧化，不僅大大縮減了測(cè)試探針的使用壽命，而且影響電阻率測(cè)試精度，另外，傳統(tǒng)的電阻率測(cè)試裝置多為人工操作，結(jié)構(gòu)粗略，自動(dòng)化水平低，特別是在測(cè)試壓縮粉體樣品時(shí)，將樣品放入測(cè)試箱體內(nèi)，手工操作測(cè)試探針時(shí)，由于測(cè)試探針的自重力和手工操作的誤差極易將測(cè)試樣品壓碎，而且現(xiàn)有的測(cè)量多為在常溫或高溫狀態(tài)下對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，無(wú)法模擬粉體在不同的環(huán)境下如低溫環(huán)境，濕度環(huán)境、溫度交變、臭氧、紫夕卜、疝氣環(huán)境狀態(tài)下的電阻率測(cè)試，此外傳統(tǒng)的電阻率測(cè)試裝置在測(cè)量完畢之后，需要人工對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，分析，統(tǒng)計(jì)，畫(huà)出數(shù)據(jù)線圖，數(shù)據(jù)處理計(jì)算繁瑣，而且數(shù)據(jù)難以長(zhǎng)期保存。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此，本實(shí)用新型的目的是提供一種高精度測(cè)量，并能通過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行自動(dòng)數(shù)據(jù)采集分析、統(tǒng)計(jì)的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)。
[0004]本實(shí)用新型另外一個(gè)目的是提供一種可以模擬測(cè)試樣品處在不同的環(huán)境變化條件下進(jìn)行測(cè)量的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)。
[0005]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:
[0006]一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，其包括，
[0007]-支撐底座，所述支撐底座上連接有豎直向上延伸的支撐桿，所述支撐桿上滑動(dòng)連接有高度調(diào)節(jié)桿，所述高度調(diào)節(jié)桿一側(cè)連接有向外延伸的上下升降桿；
[0008]-升降固定板，其與所述上下升降桿連接，所述升降固定板的底部固定連接有固定座，所述固定座底部固定連接有豎直向下延伸的連接柱，所述連接柱底部密封連接有測(cè)試平臺(tái)；
[0009]所述測(cè)試平臺(tái)上方對(duì)應(yīng)設(shè)置有測(cè)試治具，所述測(cè)試治具與一高度微調(diào)機(jī)構(gòu)連接，所述高度微調(diào)機(jī)構(gòu)包括滑動(dòng)連接于所述連接柱之間的升降滑塊，所述升降滑塊上端固定連接有微調(diào)桿，所述微調(diào)桿豎直向上延伸依次貫穿所述固定座，升降固定板。
[0010]優(yōu)選地，上述的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)還包括一箱體，所述測(cè)試平臺(tái)和所述測(cè)試治具均設(shè)置于該箱體內(nèi)，所述箱體內(nèi)設(shè)有電加熱元件A，制冷裝置和水箱，水箱內(nèi)設(shè)有電加熱元件B，以及紫外燈和氙氣燈，以及一氣體輸入口和一氣體輸出口，該氣體輸入口用于輸入臭氧或保護(hù)氣氛，所述測(cè)試平臺(tái)一側(cè)分別設(shè)有用于感測(cè)待測(cè)元件的溫度變化和濕度變化的溫度傳感器和濕度傳感器，所述電加熱元件A、電加熱元件B、溫度傳感器和濕度傳感器均與一控制系統(tǒng)電連接。
[0011]優(yōu)選地，上述的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，其中所述測(cè)試治具包括固定連接于所述升降滑塊底部的四探針管，所述四探針管底部連接有四探針連接片，所述四探針連接片上固定連接有四探針。
[0012]優(yōu)選地，上述的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，其中所述測(cè)試治具包括固定連接于所述升降滑塊底部的電極A和固定連接于所述測(cè)試平臺(tái)上的電極B，所述電極A和所述電極B相互對(duì)應(yīng)設(shè)置，所述電極A和所述電極B之間設(shè)有模腔固定板，所述模腔固定板與所述連接柱固定連接，所述模腔固定板上設(shè)有與所述電極A和所述電極B對(duì)應(yīng)的中空模腔，所述電極B向上延伸伸入至所述中空模腔的腔體內(nèi)。
[0013]優(yōu)選地，上述的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，其中所述測(cè)試治具包括固定連接于所述升降滑塊底部的二探針管，所述二探針管底部連接有二探針連接片，所述二探針連接片上固定連接有二探針;所述測(cè)試平臺(tái)上設(shè)有左右相對(duì)的第一電極和第二電極。
[0014]優(yōu)選地，上述的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，其中所述測(cè)試治具包括固定連接于所述升降滑塊底部的中環(huán)件，以及由連接軸桿固定連接于所述升降滑塊底部的內(nèi)環(huán)件。
[0015]優(yōu)選地，上述的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，其中所述微調(diào)桿上連接有壓力傳感器，以及隨所述微調(diào)桿一起微調(diào)運(yùn)動(dòng)的光柵尺，所述壓力傳感器和所述光柵尺與所述控制系統(tǒng)連接。
[0016]優(yōu)選地，上述的一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，其中所述控制系統(tǒng)包括控制電路模塊以及與該控制電路模塊連接的計(jì)算機(jī)、顯示屏、鍵盤(pán)和打印機(jī)。
[0017]較現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型技術(shù)效果主要體現(xiàn)在以下兩個(gè)方面:
[0018](I)本實(shí)用新型可通過(guò)高度調(diào)節(jié)桿調(diào)節(jié)測(cè)試平臺(tái)和測(cè)試治具的豎直高度，將測(cè)試平臺(tái)調(diào)節(jié)至操作者合適的豎直高度，然后將待測(cè)樣品放在測(cè)試平臺(tái)上，通過(guò)微調(diào)桿精細(xì)調(diào)節(jié)測(cè)試治具向下移動(dòng)，壓緊待測(cè)樣品，進(jìn)行測(cè)量，微調(diào)桿調(diào)節(jié)精細(xì)，不易將樣品壓碎，測(cè)量出的數(shù)據(jù)由控制系統(tǒng)進(jìn)行自動(dòng)數(shù)據(jù)采集分析、統(tǒng)計(jì)，另外測(cè)試環(huán)境的連接柱開(kāi)設(shè)的導(dǎo)線孔僅有一個(gè)，整體密封性能好。
[0019](2)本實(shí)用新型可用于模擬單一環(huán)境或交變環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，如單一高溫環(huán)境或單一低溫環(huán)境下，或是單一高濕度環(huán)境或單一低濕度環(huán)境，或是單一紫外環(huán)境或是單一臭氧環(huán)境或是在保護(hù)氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，或是利用氙氣燈擬全陽(yáng)光光譜環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，甚至利用氣體輸入口或是氣體輸出口連接抽真空裝置，模擬全真空環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試；還可以設(shè)定交替變化的溫濕度來(lái)試驗(yàn)，比如在一定時(shí)間內(nèi)的高溫與低溫的交替變化，或者恒定的溫度或者濕度變化環(huán)境來(lái)測(cè)試，或是在臭氧或保護(hù)氣氛或紫外環(huán)境下模擬高溫與低溫的交替變化，或者恒定的溫度或者濕度變化環(huán)境來(lái)進(jìn)行測(cè)試，解決現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)量只能在常溫或高溫狀態(tài)下測(cè)試樣品，無(wú)法模擬樣品在不同的環(huán)境下測(cè)量的問(wèn)題。
【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1:本實(shí)用新型實(shí)施例1結(jié)構(gòu)不意圖；
[0021]圖2:本實(shí)用新型實(shí)施例2結(jié)構(gòu)不意圖；
[0022]圖3:本實(shí)用新型實(shí)施例3結(jié)構(gòu)不意圖；
[0023]圖4:本實(shí)用新型實(shí)施例4結(jié)構(gòu)不意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024]以下結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳述，以使本發(fā)明技術(shù)方案更易于理解和掌握。
[0025]K實(shí)施例13
[0026]如圖1所示，一種電阻率測(cè)試系統(tǒng)，其包括，
[0027]-支撐底座I，支撐底座I上連接有豎直向上延伸的支撐桿2，支撐桿2上滑動(dòng)連接有高度調(diào)節(jié)桿3，高度調(diào)節(jié)桿3—側(cè)連接有向外延伸的上下升降桿4;
[0028]-升降固定板5，其與上下升降桿4連接，升降固定板5的底部固定連接有固定座6，固定座6底部固定連接有豎直向下延伸的連接柱7，連接柱7底部密封連接有測(cè)試平臺(tái)8;
[0029]測(cè)試平臺(tái)8上方對(duì)應(yīng)設(shè)置有測(cè)試治具9，測(cè)試治具9與一高度微調(diào)機(jī)構(gòu)連接，高度微調(diào)機(jī)構(gòu)包括滑動(dòng)連接于連接柱7內(nèi)的升降滑塊10，升降滑塊10上端固定連接有微調(diào)桿11，微調(diào)桿11豎直向上延伸依次貫穿固定座6，升降固定板5，微調(diào)桿11 一側(cè)設(shè)有固定連接于升降固定板5上的微調(diào)桿固定座12，用于固定微調(diào)桿11。
[0030]另外，該系統(tǒng)還包括一箱體13，測(cè)試平臺(tái)8和測(cè)試治具9均設(shè)置于該箱體13內(nèi)，箱體13內(nèi)設(shè)有電加熱元件A14，制冷裝置17和水箱18，水箱18內(nèi)設(shè)有電加熱元件B19，以及紫外燈15和氣氣燈16，以及一氣體輸入口 20和一氣體輸出口