芯片圖像檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種芯片圖像檢測系統(tǒng)，包括：芯片圖像獲取裝置，用于獲取芯片圖像，并予以輸出；圖像處理裝置，用于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進(jìn)行識別，以確定芯片圖像所對應(yīng)的芯片是否合格。本實(shí)用新型很好地避免了人工長時(shí)間低頭檢測芯片、導(dǎo)致頭腦發(fā)暈、眼睛疲勞、容易造成質(zhì)量事故的情況。
【專利說明】
芯片圖像檢測系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種芯片圖像檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)有的芯片生產(chǎn)過程中，一般都是通過人工的方式來對芯片的外觀進(jìn)行檢測，以排除有瑕疵的產(chǎn)品。不過這種方式效率不高，而且對于人的依賴性很大，需要有經(jīng)驗(yàn)的人來進(jìn)行操作。因此，本領(lǐng)域技術(shù)人員嘗試?yán)脠D像技術(shù)來對芯片外觀進(jìn)行檢測，不過如何快速獲取芯片圖像來為圖像檢測提供樣本，就成了本領(lǐng)域技術(shù)人員的一個(gè)難題。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種芯片圖像檢測系統(tǒng)，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中利用人工來對芯片外觀進(jìn)行檢測導(dǎo)致效率不高的問題。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本實(shí)用新型提供以下技術(shù)方案:
[0005]—種芯片圖像檢測系統(tǒng)，包括:芯片圖像獲取裝置，用于獲取芯片圖像，并予以輸出；圖像處理裝置，用于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進(jìn)行識別，以確定芯片圖像所對應(yīng)的芯片是否合格，其中，所述芯片圖像獲取裝置包括:導(dǎo)軌，用于提供移動路徑;芯片框架，包括多個(gè)供放置芯片的安裝位，用于將放置在安裝位上的芯片沿導(dǎo)軌提供的移動路徑移動以將放置在安裝位上的芯片運(yùn)送至預(yù)設(shè)位置;運(yùn)動像機(jī)，設(shè)置于芯片框架上方，用于在芯片框架靜止于預(yù)設(shè)位置時(shí)沿預(yù)設(shè)軌跡對安裝位上的芯片進(jìn)行拍照，并將所獲取的芯片圖像予以輸出。
[0006]優(yōu)選地，在導(dǎo)軌上設(shè)有多個(gè)供觸發(fā)用于控制芯片框架在導(dǎo)軌上的移動速度的控制指令的傳感器，所述傳感器連接于圖像處理裝置，實(shí)現(xiàn)芯片框架在導(dǎo)軌上先做加速運(yùn)動再做減速運(yùn)動直至芯片框架停止在預(yù)設(shè)位置。
[0007]優(yōu)選地，所述傳感器包括:進(jìn)入傳感器，設(shè)置在芯片框架進(jìn)入移動路徑時(shí)所在的導(dǎo)軌一端，用于檢測是否有芯片框架進(jìn)入導(dǎo)軌;減速傳感器，設(shè)置到達(dá)預(yù)設(shè)位置前的移動路徑上，用于觸發(fā)芯片框架做檢索運(yùn)動;到位傳感器，設(shè)置在預(yù)設(shè)位置所在處的導(dǎo)軌/移動路徑上，用于檢測芯片框架上的芯片是否送至預(yù)設(shè)位置。
[0008]優(yōu)選地，在預(yù)設(shè)位置處設(shè)有一阻擋器。
[0009]優(yōu)選地，所述芯片框架上包括兩列成平行設(shè)置安裝位，每列安裝位上具有5個(gè)間距相等的安裝位。
[0010]優(yōu)選地，所述圖像處理裝置為計(jì)算機(jī)。
[0011]如上所述，本實(shí)用新型至少具有以下有益效果:
[0012]第一，開啟了利用視覺檢測來實(shí)現(xiàn)CPU封裝前的外觀檢測的先河；
[0013]第二，在現(xiàn)有生產(chǎn)中，芯片產(chǎn)線人工檢測一個(gè)芯片正常需要4秒時(shí)間，2x5個(gè)芯片需要40秒時(shí)間，而本實(shí)用新型只需要10秒就能檢測完2x5個(gè)芯片，效率提高了 10倍；
[0014]第三，很好地避免了人工長時(shí)間低頭檢測芯片、導(dǎo)致頭腦發(fā)暈、眼睛疲勞、容易造成質(zhì)量事故的情況；
[0015]第四，克服了現(xiàn)有技術(shù)中由于工位員工調(diào)換頻繁，從而導(dǎo)致品質(zhì)不能保證的問題。
【附圖說明】
[0016]圖1顯示為本實(shí)用新型一種芯片圖像檢測系統(tǒng)的原理圖。
[0017]圖2顯示為芯片圖像獲取裝置的原理圖。
[0018]附圖標(biāo)號說明
[0019]100圖像獲取裝置
[0020]HO 導(dǎo)軌
[0021]120芯片框架
[0022]121安裝位
[0023]130運(yùn)動像機(jī)
[0024]140進(jìn)入傳感器
[0025]150減速傳感器
[0026]160到位傳感器
[0027]170阻擋器
[0028]200圖像處理裝置
【具體實(shí)施方式】
[0029]以下由特定的具體實(shí)施例說明本實(shí)用新型的實(shí)施方式，熟悉此技術(shù)的人士可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本實(shí)用新型的其他優(yōu)點(diǎn)及功效。
[0030]須知，本說明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容，以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀，并非用以限定本實(shí)用新型可實(shí)施的限定條件，故不具技術(shù)上的實(shí)質(zhì)意義，任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整，在不影響本實(shí)用新型所能產(chǎn)生的功效及所能達(dá)成的目的下，均應(yīng)仍落在本實(shí)用新型所揭示的技術(shù)內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時(shí)，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本實(shí)用新型可實(shí)施的范圍，其相對關(guān)系的改變或調(diào)整，在無實(shí)質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下，當(dāng)亦視為本實(shí)用新型可實(shí)施的范疇。
[0031]實(shí)施例1
[0032]如圖1，給出了一種芯片圖像檢測系統(tǒng)的原理圖，如圖所示，芯片視覺檢測系包括芯片圖像獲取裝置100，用于獲取芯片圖像，并予以輸出；圖像處理裝置200，用于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進(jìn)行識別，以確定芯片圖像所對應(yīng)的芯片是否合格。
[0033]通過上述方案可以實(shí)現(xiàn)芯片檢測的自動化，而不需要人工進(jìn)行檢測，提高了效率。
[0034]實(shí)施例2
[0035]請結(jié)合圖2，給出了所述芯片圖像獲取裝置的原理圖，如圖所示，所述芯片圖像獲取裝置包括:導(dǎo)軌110，用于提供移動路徑；芯片框架121，包括多個(gè)供放置芯片的安裝位121，用于將放置在安裝位121上的芯片沿導(dǎo)軌110提供的移動路徑移動以將放置在安裝位121上的芯片運(yùn)送至預(yù)設(shè)位置;運(yùn)動像機(jī)130，設(shè)置于芯片框架121上方，用于在芯片框架121靜止于預(yù)設(shè)位置時(shí)沿預(yù)設(shè)軌跡對安裝位121上的芯片進(jìn)行拍照，并將所獲取的芯片圖像予以輸出。
[0036]實(shí)施例3
[0037]在具體實(shí)施中，在導(dǎo)軌110上設(shè)有多個(gè)供觸發(fā)用于控制芯片框架121在導(dǎo)軌110上的移動速度的控制指令的傳感器，所述傳感器連接于圖像處理裝置200，實(shí)現(xiàn)芯片框架121在導(dǎo)軌110上先做加速運(yùn)動再做減速運(yùn)動直至芯片框架121停止在預(yù)設(shè)位置。
[0038]具體地，所述傳感器包括:進(jìn)入傳感器140，設(shè)置在芯片框架121進(jìn)入移動路徑時(shí)所在的導(dǎo)軌110—端，用于檢測是否有芯片框架121進(jìn)入導(dǎo)軌110;減速傳感器150，設(shè)置到達(dá)預(yù)設(shè)位置前的移動路徑上，用于觸發(fā)芯片框架121做檢索運(yùn)動;到位傳感器160，設(shè)置在預(yù)設(shè)位置所在處的導(dǎo)軌110/移動路徑上，用于檢測芯片框架121上的芯片是否送至預(yù)設(shè)位置。
[0039]在具體實(shí)施中，在預(yù)設(shè)位置處設(shè)有一阻擋器170。
[0040]在具體實(shí)施中，所述芯片框架121上包括兩列成平行設(shè)置安裝位121，每列安裝位121上具有5個(gè)間距相等的安裝位121。
[0041 ]在具體實(shí)施中，所述圖像處理裝置200為計(jì)算機(jī)。
[0042]綜上所述，本實(shí)用新型至少具有以下有點(diǎn):
[0043]第一，開啟了利用視覺檢測來實(shí)現(xiàn)CPU封裝前的外觀檢測的先河；
[0044]第二，在現(xiàn)有生產(chǎn)中，芯片產(chǎn)線人工檢測一個(gè)芯片正常需要4秒時(shí)間，2x5個(gè)芯片需要40秒時(shí)間，而本實(shí)用新型只需要10秒就能檢測完2x5個(gè)芯片，效率提高了 10倍；
[0045]第三，很好地避免了人工長時(shí)間低頭檢測芯片、導(dǎo)致頭腦發(fā)暈、眼睛疲勞、容易造成質(zhì)量事故的情況；
[0046]第四，克服了現(xiàn)有技術(shù)中工位員工調(diào)換頻繁，從而導(dǎo)致品質(zhì)不能保證的問題，所以，本實(shí)用新型有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。
[0047]上述實(shí)施例僅例示性說明本實(shí)用新型的原理及其功效，而非用于限制本實(shí)用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實(shí)用新型的精神及范疇下，對上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本實(shí)用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本實(shí)用新型的權(quán)利要求所涵蓋。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種芯片圖像檢測系統(tǒng)，包括: 用于獲取芯片圖像并予以輸出的芯片圖像獲取裝置，包括導(dǎo)軌，用于提供移動路徑； 其特征在于，還包括: 芯片框架，包括多個(gè)供放置芯片的安裝位，用于將放置在安裝位上的芯片沿導(dǎo)軌提供的移動路徑移動以將放置在安裝位上的芯片運(yùn)送至預(yù)設(shè)位置； 運(yùn)動像機(jī)，設(shè)置于芯片框架上方，用于在芯片框架靜止于預(yù)設(shè)位置時(shí)沿預(yù)設(shè)軌跡對安裝位上的芯片進(jìn)行拍照，并將所獲取的芯片圖像予以輸出； 圖像處理裝置，用于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進(jìn)行識別，以確定芯片圖像所對應(yīng)的芯片是否合格。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片圖像檢測系統(tǒng)，其特征在于:在導(dǎo)軌上設(shè)有多個(gè)供觸發(fā)用于控制芯片框架在導(dǎo)軌上的移動速度的控制指令的傳感器，所述傳感器連接于圖像處理裝置，實(shí)現(xiàn)芯片框架在導(dǎo)軌上先做加速運(yùn)動再做減速運(yùn)動直至芯片框架停止在預(yù)設(shè)位置。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片圖像檢測系統(tǒng)，其特征在于:所述傳感器包括: 進(jìn)入傳感器，設(shè)置在芯片框架進(jìn)入移動路徑時(shí)所在的導(dǎo)軌一端，用于檢測是否有芯片框架進(jìn)入導(dǎo)軌； 減速傳感器，設(shè)置到達(dá)預(yù)設(shè)位置前的移動路徑上，用于觸發(fā)芯片框架做檢索運(yùn)動； 到位傳感器，設(shè)置在預(yù)設(shè)位置所在處的導(dǎo)軌/移動路徑上，用于檢測芯片框架上的芯片是否送至預(yù)設(shè)位置。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片圖像檢測系統(tǒng)，其特征在于:在預(yù)設(shè)位置處設(shè)有一阻擋器。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片圖像檢測系統(tǒng)，其特征在于:所述芯片框架上包括兩列成平行設(shè)置安裝位，每列安裝位上具有5個(gè)間距相等的安裝位。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片圖像檢測系統(tǒng)，其特征在于:所述圖像處理裝置為計(jì)算機(jī)。
【文檔編號】G01N21/89GK205449821SQ201521035014
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2015年12月14日
【發(fā)明人】李志遠(yuǎn), 耭世慧, 李熙春
【申請人】重慶遠(yuǎn)創(chuàng)光電科技有限公司