電子元件測(cè)試裝置的制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型提供電子元件測(cè)試裝置，它包括有轉(zhuǎn)盤(pán)，轉(zhuǎn)盤(pán)底部設(shè)有帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)旋轉(zhuǎn)的動(dòng)力機(jī)構(gòu)，轉(zhuǎn)盤(pán)盤(pán)緣處均布有若干檢測(cè)座，轉(zhuǎn)盤(pán)頂部設(shè)有檢測(cè)架，檢測(cè)架上設(shè)有固定座，固定座上設(shè)有上下滑動(dòng)的滑板，滑板頂部與檢測(cè)架上的升降桿相連接，滑板底部安裝有檢測(cè)頭，檢測(cè)頭位于檢測(cè)座上方；轉(zhuǎn)盤(pán)一側(cè)設(shè)有與檢測(cè)座相配合的送料機(jī)構(gòu)，轉(zhuǎn)盤(pán)底部設(shè)有與檢測(cè)頭相配合的下頂緊機(jī)構(gòu)。采用本方案后的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、無(wú)需使用氣缸帶動(dòng)，使機(jī)械手的穩(wěn)定性得以大大提高，減少了沖擊性，使測(cè)試數(shù)據(jù)更精準(zhǔn)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
電子元件測(cè)試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及電子元件技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指片式電子元件測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]電子元件是組成電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)，了解常用的電子元件的種類(lèi)、結(jié)構(gòu)、性能并能正確選用是學(xué)習(xí)、掌握電子技術(shù)的基本。常用的電子元件有電阻、電容、電感、電位器、變壓器、晶振等，電子元件在生產(chǎn)后需要檢測(cè)，現(xiàn)有的檢測(cè)裝置都是采用氣缸傳動(dòng)，檢測(cè)時(shí)沖擊性較大，會(huì)大大影響產(chǎn)品性能，甚至?xí)舸┊a(chǎn)品。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、數(shù)據(jù)更精準(zhǔn)的電子元件測(cè)試裝置。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型所提供的技術(shù)方案為:電子元件測(cè)試裝置，它包括有轉(zhuǎn)盤(pán)，轉(zhuǎn)盤(pán)底部設(shè)有帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)旋轉(zhuǎn)的動(dòng)力機(jī)構(gòu)，轉(zhuǎn)盤(pán)盤(pán)緣處均布有若干檢測(cè)座，轉(zhuǎn)盤(pán)頂部設(shè)有檢測(cè)架，檢測(cè)架上設(shè)有固定座，固定座上設(shè)有上下滑動(dòng)的滑板，滑板頂部與檢測(cè)架上的升降桿相連接，滑板底部安裝有檢測(cè)頭，檢測(cè)頭位于檢測(cè)座上方;轉(zhuǎn)盤(pán)一側(cè)設(shè)有與檢測(cè)座相配合的送料機(jī)構(gòu)，轉(zhuǎn)盤(pán)底部設(shè)有與檢測(cè)頭相配合的下頂緊機(jī)構(gòu)。
[0005]所述的檢測(cè)頭為三個(gè)，呈弧形分布在檢測(cè)架上，每個(gè)檢測(cè)頭下方均設(shè)有一組下頂緊機(jī)構(gòu)。
[0006]本實(shí)用新型在采用上述方案后，電子元件通過(guò)送料機(jī)構(gòu)輸送至檢測(cè)座上，動(dòng)力機(jī)構(gòu)帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)旋轉(zhuǎn)使電子元件輸送至第一檢測(cè)頭下方，第一檢測(cè)頭和第一頂緊機(jī)構(gòu)相配合完成第一次檢測(cè)，然后繼續(xù)旋轉(zhuǎn)進(jìn)行下一次檢測(cè);采用本方案后的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、無(wú)需使用氣缸帶動(dòng)，使機(jī)械手的穩(wěn)定性得以大大提高，減少了沖擊性，使測(cè)試數(shù)據(jù)更精準(zhǔn)。
【附圖說(shuō)明】
[0007]圖1為本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0008]下面結(jié)合所有附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明，本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例為:參見(jiàn)附圖1，本實(shí)施例所述的電子元件測(cè)試裝置包括有轉(zhuǎn)盤(pán)I，轉(zhuǎn)盤(pán)I底部設(shè)有帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)I旋轉(zhuǎn)的動(dòng)力機(jī)構(gòu)2，轉(zhuǎn)盤(pán)I盤(pán)緣處均布有若干檢測(cè)座3，轉(zhuǎn)盤(pán)I頂部設(shè)有檢測(cè)架4，檢測(cè)架4上設(shè)有固定座5，固定座5上設(shè)有上下滑動(dòng)的滑板6，滑板6頂部與檢測(cè)架4上的升降桿7相連接，滑板6底部安裝有檢測(cè)頭8，檢測(cè)頭8位于檢測(cè)座3上方;轉(zhuǎn)盤(pán)I 一側(cè)設(shè)有與檢測(cè)座3相配合的送料機(jī)構(gòu)9，轉(zhuǎn)盤(pán)I底部設(shè)有與檢測(cè)頭8相配合的下頂緊機(jī)構(gòu)10，所述的檢測(cè)頭8為三個(gè)，呈弧形分布在檢測(cè)架4上，每個(gè)檢測(cè)頭8下方均設(shè)有一組下頂緊機(jī)構(gòu)10。本實(shí)施例的電子元件通過(guò)送料機(jī)構(gòu)輸送至檢測(cè)座上，動(dòng)力機(jī)構(gòu)帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)旋轉(zhuǎn)使電子元件輸送至第一檢測(cè)頭下方，第一檢測(cè)頭和第一頂緊機(jī)構(gòu)相配合完成第一次檢測(cè)，然后繼續(xù)旋轉(zhuǎn)進(jìn)行下一次檢測(cè);采用本實(shí)施例后的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、無(wú)需使用氣缸帶動(dòng)，使機(jī)械手的穩(wěn)定性得以大大提高，減少了沖擊性，使測(cè)試數(shù)據(jù)更精準(zhǔn)。
[0009]以上所述之實(shí)施例只為本實(shí)用新型之較佳實(shí)施例，并非以此限制本實(shí)用新型的實(shí)施范圍，故凡依本實(shí)用新型之形狀、原理所作的變化，均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.電子元件測(cè)試裝置，其特征在于:它包括有轉(zhuǎn)盤(pán)(I)，轉(zhuǎn)盤(pán)(I)底部設(shè)有帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)(I)旋轉(zhuǎn)的動(dòng)力機(jī)構(gòu)(2)，轉(zhuǎn)盤(pán)(I)盤(pán)緣處均布有若干檢測(cè)座(3)，轉(zhuǎn)盤(pán)(I)頂部設(shè)有檢測(cè)架(4)，檢測(cè)架(4)上設(shè)有固定座(5)，固定座(5)上設(shè)有上下滑動(dòng)的滑板(6)，滑板(6)頂部與檢測(cè)架(4)上的升降桿(7)相連接，滑板(6)底部安裝有檢測(cè)頭(8)，檢測(cè)頭(8)位于檢測(cè)座(3)上方；轉(zhuǎn)盤(pán)(I) 一側(cè)設(shè)有與檢測(cè)座(3)相配合的送料機(jī)構(gòu)(9)，轉(zhuǎn)盤(pán)(I)底部設(shè)有與檢測(cè)頭(8)相配合的下頂緊機(jī)構(gòu)(10)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試裝置，其特征在于:檢測(cè)頭(8)為三個(gè)，呈弧形分布在檢測(cè)架(4)上，每個(gè)檢測(cè)頭(8)下方均設(shè)有一組下頂緊機(jī)構(gòu)(10)。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK205484609SQ201620219184
【公開(kāi)日】2016年8月17日
【申請(qǐng)日】2016年3月22日
【發(fā)明人】肖旭輝
【申請(qǐng)人】湖南省福晶電子有限公司