一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器，包括光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體及其內(nèi)部的活動鉸支架、雙探頭激光發(fā)射器；光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體側(cè)壁包括光滑圓錐壁面；光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體頂蓋包括透光頂蓋與其上的誤差甜區(qū)。本實用新型通過雙探頭激光發(fā)射器發(fā)射兩束激光光線，利用兩束激光光線匯交成一點或成像點位于誤差甜區(qū)范圍內(nèi)來判斷所述儀器已經(jīng)安平，從而有效避免視覺誤差帶來的安平不準(zhǔn)確性并大大提高安平的精度。
【專利說明】
一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及一種水準(zhǔn)器，具體地說是涉及一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器。
【背景技術(shù)】
[0002]目前市場上出現(xiàn)的水準(zhǔn)器一般都是由水準(zhǔn)泡或電子傾斜傳感器組成的部件，利用水準(zhǔn)泡居中來達到安平的目的，然而由于視覺誤差諸如仰視和俯視等都會造成在實際的操作中并不能達到十分精準(zhǔn)的安平，因此本實用新型專利針對此問題設(shè)計了一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器來改善這一問題。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]為解決現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型提供了一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器，解決目前普通水準(zhǔn)器由于視覺誤差造成安平不準(zhǔn)的問題。
[0004]為了實現(xiàn)上述目標(biāo)，本實用新型采用如下的技術(shù)方案:
[0005]—種光學(xué)對中水準(zhǔn)器，包括光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體，以及設(shè)置在學(xué)對中水準(zhǔn)器本體中的活動鉸支架、雙探頭激光發(fā)射器;所述光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體為一個圓錐型殼體，其剖面為正三角形，包括光滑圓錐壁面、透光頂蓋和設(shè)置在透光頂蓋上的誤差甜區(qū)；所述雙探頭激光發(fā)射器與活動鉸支架鉸連接;所述光滑圓錐壁面能夠?qū)㈦p探頭激光發(fā)射器發(fā)射的激光光線反射至透光頂蓋，并在透光頂蓋上成像。
[0006]進一步改進，所述雙探頭激光發(fā)射器與活動鉸支架鉸連接，鉸接點位于光學(xué)對中水準(zhǔn)器剖面正三角形中線的中點處。所述雙探頭激光發(fā)射器安裝在活動鉸支架上并鉸連接，在重力的作用下可圍繞著鉸接點上下、左右自由旋轉(zhuǎn)并最終保持為水平靜止?fàn)顟B(tài)，且雙探頭激光發(fā)射器與鉸支架的鉸接點位于水準(zhǔn)器剖面正三角形中線的中點處。
[0007]前述的一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器，所述光滑圓錐壁面可作為雙探頭激光發(fā)射器發(fā)射光線的反射壁面，且側(cè)壁面即圓錐面的母線與水平面呈60度夾角。所述透光頂蓋上圈有誤差甜區(qū)，它是兩束光線成像的容許范圍，而誤差甜區(qū)的半徑即為此儀器精度。
[0008]本實用新型所達到的有益效果:本實用新型通過雙探頭激光發(fā)射器發(fā)射兩束激光光線，利用兩束激光光線匯交成一點來判斷所述儀器已經(jīng)安平。本實用新型能夠能有效避免視覺誤差帶來的安平不準(zhǔn)確性，并大大提高安平的精度。
【附圖說明】
[0009]圖1是光學(xué)對中水準(zhǔn)器結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0010]下面結(jié)合附圖對本實用新型作進一步描述。以下實施例僅用于更加清楚地說明本實用新型的技術(shù)方案，而不能以此來限制本實用新型的保護范圍。
[0011]如圖1所示，一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器，包括光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體1，位于所述光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體I內(nèi)部的活動鉸支架5、雙探頭激光發(fā)射器4;所述光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體I側(cè)壁包括光滑圓錐壁面3、透光頂蓋2和設(shè)置在透光頂蓋2上的誤差甜區(qū)6。
[0012]所述光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體I為一個圓錐型殼體，其剖面為正三角形。
[0013]所述雙探頭激光發(fā)射器4安裝在活動鉸支架5上，在重力的作用下可自由上下、左右旋轉(zhuǎn)，且雙探頭激光發(fā)射器與鉸支架的鉸接點位于水準(zhǔn)器剖面正三角形中線的中點處。
[0014]所述光滑圓錐壁面3可作為雙探頭激光發(fā)射器發(fā)射光線的反射壁面，且側(cè)壁面即圓錐面的母線與水平面呈60度夾角。
[0015]所述透光頂蓋2可供反射壁面3反射過來的光線照射在頂蓋上并成像。
[0016]所述透光頂蓋上圈有誤差甜區(qū)6，它是兩束光線7成像的容許范圍，而誤差甜區(qū)的半徑即為此儀器精度。
[0017]本實施例實施過程:
[0018]打開雙探頭激光發(fā)射器4，由于重力的作用激光發(fā)射器4會在活動鉸支架5上一直處于水平狀態(tài)，其兩端發(fā)射的激光光線7會經(jīng)側(cè)壁壁面3反射傳到透光頂蓋2，通過眼睛可觀察兩束光線在頂蓋上的成像位置。若兩成像點匯交或都位于誤差甜區(qū)6內(nèi)，即可認為該儀器已安平。若兩成像點偏離于誤差甜區(qū)之外，可觀察兩成像點整體相對于誤差甜區(qū)圓心的位置，準(zhǔn)確來說可以粗略觀察兩成像點的中點相對于頂蓋圓心的位置，假設(shè)相對向左，即將儀器左支架抬高(或?qū)⒂抑Ъ芙档?，若相對向右則將儀器的右支架抬高(或?qū)⒆笾Ъ芙档?，經(jīng)過這樣的反復(fù)調(diào)節(jié)，即可將兩成像點控制在誤差甜區(qū)之內(nèi)，甚至匯交，即保證了儀器安平完畢。
[0019]以上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進和變形，這些改進和變形也應(yīng)視為本實用新型的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種光學(xué)對中水準(zhǔn)器，其特征是，包括光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體，以及設(shè)置在學(xué)對中水準(zhǔn)器本體中的活動鉸支架、雙探頭激光發(fā)射器;所述光學(xué)對中水準(zhǔn)器本體為一個圓錐型殼體，其剖面為正三角形，包括光滑圓錐壁面、透光頂蓋和設(shè)置在透光頂蓋上的誤差甜區(qū)；所述雙探頭激光發(fā)射器與活動鉸支架鉸連接;所述光滑圓錐壁面能夠?qū)㈦p探頭激光發(fā)射器發(fā)射的激光光線反射至透光頂蓋，并在透光頂蓋上成像。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)對中水準(zhǔn)器，其特征是，所述雙探頭激光發(fā)射器與活動鉸支架鉸連接，鉸接點位于光學(xué)對中水準(zhǔn)器剖面正三角形中線的中點處。
【文檔編號】G01C9/00GK205537612SQ201620285703
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2016年4月7日
【發(fā)明人】余正東
【申請人】河海大學(xué)