專利名稱：監(jiān)控印刷電路板檢驗(yàn)站操作員的方法和系統(tǒng)的制作方法
監(jiān)控印刷電路板檢驗(yàn)站操作員的方法和系統(tǒng)
相關(guān)申請(qǐng)本申請(qǐng)要求序列號(hào)為61/3M749，提交日為2010年6月15日的美國(guó)臨時(shí)專利的優(yōu)先權(quán)，其通過(guò)引用包含于此。
背景技術(shù)：
印刷電路板(PCB)通過(guò)自動(dòng)光學(xué)圖像(AOI)系統(tǒng)檢查并稍后在檢驗(yàn)站(通過(guò)攝像機(jī))進(jìn)行視覺(jué)檢驗(yàn)。為了檢驗(yàn)缺陷，操作員從一個(gè)可疑缺陷的圖像到另一個(gè)可疑缺陷的圖像移動(dòng)攝像機(jī)——通常通過(guò)在檢驗(yàn)站按“下一個(gè)缺陷”按鈕。在每個(gè)檢驗(yàn)輪班(shift)中，操作員檢驗(yàn)約數(shù)以萬(wàn)計(jì)的缺陷。因此，顯示可疑缺陷圖像的檢驗(yàn)過(guò)程對(duì)于操作員可能是很長(zhǎng)的并且涉及到大量可疑缺陷的圖像的顯示。由于檢驗(yàn)是一種單調(diào)的工作，在一定時(shí)間段(例如幾個(gè)小時(shí))之后操作員的警惕性下降，那么很可能他將遺漏AOI檢測(cè)到的真正的缺陷——因而他將不把可疑缺陷的圖像歸類為包括缺陷——盡管這些圖像表示真正的缺陷。遺漏真正的缺陷可導(dǎo)致PCB車間運(yùn)送有缺陷的PCB到他們的客戶，盡管AOI站已經(jīng)檢測(cè)到這些缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
提供一種監(jiān)控檢驗(yàn)站的操作員的方法。該方法可包括由檢驗(yàn)站在檢驗(yàn)過(guò)程期間顯示缺陷的圖像和可疑缺陷的圖像，所述可疑缺陷被期望由操作員在檢驗(yàn)過(guò)程期間歸類；檢查操作員是否成功將所述缺陷歸類；以及對(duì)操作員將所述缺陷歸類為缺陷的成功或失敗進(jìn)行響應(yīng)。該方法可包括顯示至少一個(gè)缺陷的多個(gè)圖像以及顯示可疑缺陷的多個(gè)圖像。該方法可包括確定顯示缺陷的圖像的頻率；以及以該頻率顯示缺陷的圖像。該方法可包括基于該操作員的特性確定該頻率。
該方法可包括基于該操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定該頻率。該方法可包括在檢驗(yàn)過(guò)程期間改變?cè)擃l率，其中該改變響應(yīng)于以下至少一項(xiàng)(a) 自檢驗(yàn)過(guò)程開(kāi)始以來(lái)流逝的時(shí)間，和(b)該操作員響應(yīng)至少一個(gè)先前顯示的缺陷的圖像的方式。該方法可包括選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于在所述可疑缺陷的多個(gè)圖像中出現(xiàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。該方法可包括選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于該操作員成功檢驗(yàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。所述響應(yīng)可包括改變將缺陷的圖像顯示給該操作員的方式。所述缺陷的圖像可以是另一個(gè)操作員先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。所述缺陷的圖像可以是屬于與所述可疑缺陷的圖像相關(guān)聯(lián)的印刷電路板(PCB)不同的PCB的缺陷的圖像。該方法可包括處理所述缺陷的圖像以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。該方法可包括更改所述缺陷的圖像的顏色和亮度中的至少一個(gè)以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。所述缺陷的圖像是合成的缺陷圖像。該方法可包括基于先前獲得的缺陷的圖像生成該合成的缺陷圖像。所述響應(yīng)可包括產(chǎn)生警報(bào)。所述響應(yīng)可包括停止檢驗(yàn)過(guò)程并且請(qǐng)求另一個(gè)操作員完成該檢驗(yàn)過(guò)程。該方法可包括基于操作員將缺陷歸類的失敗或成功，改變?cè)摍z驗(yàn)過(guò)程的特性。該方法可包括如果操作員未成功將缺陷歸類，則重放在檢驗(yàn)過(guò)程期間已經(jīng)向該操作員顯示過(guò)的可疑缺陷的至少一個(gè)圖像。該方法可包括基于操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。該方法可包括基于自檢驗(yàn)過(guò)程開(kāi)始流逝的時(shí)間確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。所述缺陷的圖像可以是先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。該方法可包括響應(yīng)于操作員未將所述缺陷歸類為缺陷，將檢驗(yàn)過(guò)程暫停預(yù)定時(shí)間段。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供一種用于監(jiān)控檢驗(yàn)站的操作員的系統(tǒng)，該系統(tǒng)可包括 顯示器，用于由檢驗(yàn)站在檢驗(yàn)過(guò)程期間顯示缺陷的圖像和可疑缺陷的圖像，所述可疑缺陷被期望由操作員在檢驗(yàn)過(guò)程期間歸類；處理器，用于檢查操作員是否成功將所述缺陷歸類， 并且用于控制對(duì)操作員將所述缺陷歸類為缺陷的成功或失敗的響應(yīng)。 處理器和顯示器中的至少一個(gè)可被包括在檢驗(yàn)站中。顯示器可被設(shè)置為顯示至少一個(gè)缺陷的多個(gè)圖像以及顯示可疑缺陷的多個(gè)圖像。處理器可被設(shè)置為確定顯示缺陷的圖像的頻率；以及以該頻率顯示缺陷的圖像。處理器可被設(shè)置為基于該操作員的特性確定該頻率。處理器可被設(shè)置為基于該操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定該頻率。處理器可被設(shè)置為在檢驗(yàn)過(guò)程期間改變?cè)擃l率，其中該改變響應(yīng)于以下至少一項(xiàng)(a)自檢驗(yàn)過(guò)程開(kāi)始以來(lái)流逝的時(shí)間，和(b)該操作員響應(yīng)至少一個(gè)先前顯示的缺陷的圖像的方式。處理器可被設(shè)置為選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于在所述可疑缺陷的多個(gè)圖像中出現(xiàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。處理器可被設(shè)置為選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于該操作員成功檢驗(yàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。處理器可被設(shè)置為改變將缺陷的圖像顯示給該操作員的方式。所述缺陷的圖像可以是另一個(gè)操作員先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。所述缺陷的圖像可以是屬于與所述可疑缺陷的圖像相關(guān)聯(lián)的印刷電路板(PCB) 不同的PCB的缺陷的圖像。處理器可被設(shè)置為處理所述缺陷的圖像以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。處理器可設(shè)置為更改所述缺陷的圖像的顏色和亮度中的至少一個(gè)以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。所述缺陷的圖像是合成的缺陷圖像。處理器可被設(shè)置為基于先前獲得的缺陷的圖像生成該合成的缺陷圖像。。處理器可被設(shè)置為響應(yīng)于操作員未將所述缺陷歸類為缺陷而觸發(fā)警報(bào)。處理器可被設(shè)置為響應(yīng)于操作員未將所述缺陷歸類為缺陷，停止檢驗(yàn)過(guò)程并且清求另一個(gè)操作員完成該檢驗(yàn)過(guò)程。處理器可被設(shè)置為基于操作員將缺陷歸類的失敗或成功，改變?cè)摍z驗(yàn)過(guò)程的特性。處理器可被設(shè)置為如果操作員未成功將缺陷歸類，則觸發(fā)重放在檢驗(yàn)過(guò)程期間已經(jīng)向該操作員顯示過(guò)的可疑缺陷的至少一個(gè)圖像。處理器可被設(shè)置為基于操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。處理器可被設(shè)置為基于自檢驗(yàn)過(guò)程開(kāi)始流逝的時(shí)間確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。 所述缺陷的圖像可以是先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。處理器可被設(shè)置為響應(yīng)于操作員未將所述缺陷歸類為缺陷，將檢驗(yàn)過(guò)程暫停預(yù)定時(shí)間段。


被示作本發(fā)明的主旨在說(shuō)明書的權(quán)利要求部分被特別指出并明確要求。然而，本發(fā)明關(guān)于結(jié)構(gòu)和操作的方法連同其目標(biāo)、特征以及優(yōu)勢(shì)可結(jié)合附圖參考下面的詳細(xì)描述而被最好地理解，在附圖中圖1示出按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的方法的流程圖；以及圖2示出按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的系統(tǒng)。應(yīng)當(dāng)理解，為了說(shuō)明的簡(jiǎn)化和清楚，圖中所示的部件不一定是按比例繪制的。例如，為了清楚，一些元件的尺寸相對(duì)其它元件可以是夸大的。更進(jìn)一步，在適當(dāng)考慮的情況下，附圖標(biāo)記可以在圖中重復(fù)以指示相應(yīng)的或類似的元件。
具體實(shí)施例方式在下面的詳細(xì)描述中，列出眾多明確的細(xì)節(jié)以提供本發(fā)明的透徹理解。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，本發(fā)明可在沒(méi)有這些明確的細(xì)節(jié)的情況下實(shí)行。在其它示例中，周知的方法、程序和部件未詳細(xì)描述以便不遮蓋本發(fā)明。按照本發(fā)明的不同實(shí)施例，通過(guò)在檢驗(yàn)過(guò)程期間顯示缺陷(已經(jīng)知道這是缺陷) 的圖像以及顯示可疑缺陷的圖像，來(lái)測(cè)試檢驗(yàn)站的操作員的警惕性。在已經(jīng)被檢驗(yàn)為缺陷的意義上，這些缺陷可以是已知的。該警惕性評(píng)估還包括測(cè)試操作員對(duì)這些缺陷圖像的響應(yīng)(或未響應(yīng))?；诓僮鲉T對(duì)這些缺陷圖像的響應(yīng)可以采取一個(gè)或多個(gè)動(dòng)作。這些動(dòng)作可以包括產(chǎn)生警報(bào)，改變提供缺陷圖像的方式，改變測(cè)試警惕性的方式， 重放已經(jīng)顯示給操作員的可疑缺陷的圖像，等等。該圖像可以是先前顯示給該操作員的缺陷的真實(shí)圖像、先前被該操作員檢測(cè)為缺陷的缺陷的真實(shí)圖像、曾由另一個(gè)操作員檢測(cè)到的包括真正的缺陷的缺陷的真實(shí)圖像、合成的圖像，等等。合成的缺陷圖像可以通過(guò)處理先前獲得的缺陷的圖像、通過(guò)將缺陷圖像信息插入到PCB的工作構(gòu)造或結(jié)構(gòu)的圖像中等來(lái)生成。該提出的方法和系統(tǒng)能夠通過(guò)減少由于檢驗(yàn)站的操作員未察覺(jué)而遺漏的缺陷的數(shù)量來(lái)增加PCB車間的生產(chǎn)良率(production yield)，以及能夠在運(yùn)送到他們的客戶之前檢測(cè)到有缺陷的板。該提出的方法和系統(tǒng)能增加檢驗(yàn)站的操作員的警惕性以及提供關(guān)于這些操作員表現(xiàn)的信息。圖1說(shuō)明按照本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的方法100。方法100開(kāi)始于確定或接收警惕性監(jiān)控計(jì)劃的階段110。該警惕性監(jiān)控計(jì)劃定義如何測(cè)試檢驗(yàn)站的操作員的警惕性。該警惕性監(jiān)控計(jì)劃可以定義何時(shí)將缺陷圖像顯示給操作員，哪些缺陷圖像將被顯示給操作員，如何響應(yīng)操作員檢測(cè)缺陷圖像失敗以及如何響應(yīng)操作員檢測(cè)缺陷圖像成功——把缺陷圖像中的缺陷歸類為缺陷。該警惕性監(jiān)控計(jì)劃可以針對(duì)無(wú)經(jīng)驗(yàn)的操作員定義較高頻率的缺陷圖像插入，可以在檢驗(yàn)輪班期間改變?nèi)毕輬D像插入的頻率(例如——在接近檢驗(yàn)輪班結(jié)束時(shí)采用較高的頻率)，等等。該頻率可被定義為每一個(gè)時(shí)間單元顯示的缺陷圖像的數(shù)量或者被定義為所顯示的可疑缺陷的圖像與在檢驗(yàn)過(guò)程中插入的(注入的)缺陷的圖像之間的比率。該警惕性監(jiān)控計(jì)劃可以定義在階段130期間顯示給操作員的缺陷圖像的類型。缺陷圖像的類型可以依據(jù)它們與特定PCB的關(guān)聯(lián)度進(jìn)行選擇(更可能發(fā)生的缺陷，在先前的檢驗(yàn)輪班期間發(fā)現(xiàn)的缺陷)，可以基于操作員進(jìn)行選擇(例如——某個(gè)操作員更可能遺漏的缺陷)，或者可以基于它們的嚴(yán)重性進(jìn)行選擇(可能致命的缺陷相對(duì)于具有較小影響的缺陷)。該選擇可以考慮這些參數(shù)的結(jié)合。該警惕性監(jiān)控計(jì)劃(或者整個(gè)方法100)可以應(yīng)用于每個(gè)輪班和所有操作員。它可以在某些輪班(例如夜班)期間應(yīng)用并且不應(yīng)用于其它輪班。它可以應(yīng)用于隨機(jī)選擇的輪班。它可以應(yīng)用以監(jiān)控特定的操作員(例如無(wú)經(jīng)驗(yàn)的操作員)而不應(yīng)用于其它操作員。 它可以應(yīng)用于隨機(jī)選擇的操作員。它可以在某些作業(yè)(例如——更重要的作業(yè))期間應(yīng)用而不應(yīng)用于其它作業(yè)。它可以應(yīng)用于隨機(jī)選擇的作業(yè)。階段110之后的階段120提供給操作員一系列真實(shí)的可疑缺陷——向操作員顯示應(yīng)當(dāng)被檢驗(yàn)的可疑缺陷的圖像。階段120之后的階段130向使用者顯示缺陷圖像——具有缺陷的圖像。該缺陷圖像可以包括包含缺陷的PCB區(qū)域、只包含該缺陷的圖像，等等。要指出的是，一張圖像可以包括多于單個(gè)缺陷。一張缺陷的圖像可包括缺陷和可疑缺陷的組合。階段130可包括顯示一系列缺陷圖像。階段130可以在階段120之前，從而檢驗(yàn)輪班通過(guò)顯示一個(gè)或多個(gè)缺陷圖像而開(kāi)始。缺陷圖像可以是取自與正在檢驗(yàn)的PCB屬于同一批或批次PCB的另一個(gè)PCB的圖像。缺陷圖像可以從與當(dāng)前檢驗(yàn)的批次具有相同顏色的一組真實(shí)的圖像中獲得。缺陷的圖像可以被處理以便提供與被檢驗(yàn)的PCB的可疑缺陷的圖像相同的顏色和/或亮度。
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階段130之后的階段140檢查操作員是否把缺陷圖像歸類為包括缺陷的圖像—— 操作員是宣布該缺陷圖像是“有缺陷的”(成功)還是未宣布該缺陷圖像是有缺陷的(失敗)。階段140也可包括操作員是否將缺陷歸類為與該缺陷的類型相匹配的缺陷類型。因此，成功可以僅僅包括將該缺陷的圖像歸類為包括缺陷，但是也可以包括成功提供額外的正確信息，諸如缺陷的類型。為了簡(jiǎn)化說(shuō)明，下文將涉及前一種成功——僅僅將該缺陷的圖像歸類為包括缺陷，然而，方法100能夠通過(guò)必要的修正而應(yīng)用于后一種歸類。如果操作員檢測(cè)出該缺陷，則階段140之后是階段150，基于警惕性監(jiān)控計(jì)劃對(duì)操作員檢測(cè)缺陷圖像的成功進(jìn)行響應(yīng)。如果操作員未能檢測(cè)出該缺陷，則階段140之后是階段160，基于警惕性監(jiān)控計(jì)劃對(duì)操作員檢測(cè)缺陷圖像的失敗進(jìn)行響應(yīng)。階段160可包括向該操作員(或另一個(gè)操作員——例如該操作員的主管)重放真實(shí)的圖像(可疑缺陷的圖像)，這些真實(shí)的圖像已經(jīng)向該操作員顯示過(guò)，但由于該操作員檢測(cè)缺陷圖像的失敗，可能該操作員未正確地檢查這些真實(shí)的圖像。重放的長(zhǎng)度可基于關(guān)于操作員警惕性水平的評(píng)估而得到。例如，該長(zhǎng)度可隨失敗數(shù)量的增加而增加。重放的長(zhǎng)度也可響應(yīng)于該操作員的技能(更高技能——更短重放)。另外地或者可替換地，該重放的長(zhǎng)度(在一個(gè)重放中包括的圖像數(shù)量)可響應(yīng)于從該檢驗(yàn)輪班開(kāi)始流逝的時(shí)間(對(duì)于接近檢驗(yàn)輪班的結(jié)束、在午餐后等情況，可引入更長(zhǎng)的重放時(shí)間段)。階段160可包括
a.產(chǎn)生警報(bào)(蜂鳴器，彈出消息，燈桿亮紅燈，發(fā)送消息到主管，等等)。
b.在日志文件中保存該失敗。
c.增加缺陷圖像插入的頻率(例如——如果失敗速度高于預(yù)定閾值)。
d.停止檢驗(yàn)過(guò)程并允許主管繼續(xù)該過(guò)程。
e.停止檢驗(yàn)過(guò)程并在操作員休息或精力恢復(fù)后繼續(xù)。
f.改變警惕性監(jiān)控計(jì)劃。
g.基于警惕性監(jiān)控計(jì)劃修改缺陷圖像插入的頻率。
h.改變包括在該缺陷圖像中的缺陷的類型。階段150和160之后可以是階段120和130中的任一個(gè)。階段150和160中的任一個(gè)可包括確定是否更改警惕性監(jiān)控計(jì)劃或者是否基于現(xiàn)有的警惕性監(jiān)控計(jì)劃更改缺陷圖像被顯示或被選擇的方式(頻率，缺陷類型)。例如，階段150可包括減少缺陷圖像注入的頻率，而階段160可包括增加缺陷圖像注入的頻率。但對(duì)于另一個(gè)示例，階段150可包括減小由檢測(cè)缺陷圖像失敗觸發(fā)的音頻失敗警報(bào)的音量或視覺(jué)失敗警報(bào)的尺寸。階段150和160中的任一個(gè)可包括處理存儲(chǔ)操作員失敗和成功的日志文件，以及作為響應(yīng)更改警惕性監(jiān)控計(jì)劃。因此，警惕性監(jiān)控計(jì)劃的改變可以由成功和失敗之間的關(guān)系來(lái)觸發(fā)。便利地，警惕性監(jiān)控計(jì)劃可以適合于特定操作員。缺陷圖像注入的頻率可基于在以前的檢驗(yàn)輪班期間監(jiān)控到的該操作員的警惕性水平，但這不是必須的。
階段150和160的任一個(gè)可包括生成警惕性報(bào)告。該警惕性報(bào)告提供關(guān)于操作員在該檢驗(yàn)輪班期間或在該輪班的部分期間的警惕性水平的指示。圖2說(shuō)明按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的系統(tǒng)200。系統(tǒng)200可包括缺陷檢測(cè)系統(tǒng)210、檢驗(yàn)站220、圖像數(shù)據(jù)庫(kù)230和處理器M0。系統(tǒng)200可執(zhí)行方法100。處理器MO以及(另外地或者可替換地)圖像數(shù)據(jù)庫(kù) 230可屬于缺陷檢測(cè)系統(tǒng)210和檢驗(yàn)站220之一。檢驗(yàn)站220具有在其上顯示圖像的顯示器222和被設(shè)置為接收來(lái)自操作員的對(duì)所顯示的圖像的響應(yīng)的輸入單元224。這些響應(yīng)可包括將可疑缺陷歸類為缺陷或非缺陷，也可包括缺陷類型的分類(缺陷、異質(zhì)顆粒、缺失材料，等等)。缺陷檢測(cè)系統(tǒng)210提供可疑缺陷的信息(例如，位置)到檢驗(yàn)站220。可疑缺陷的信息(以及甚至這些可疑缺陷的“真實(shí)圖像”)可被提供給處理器對(duì)0， 處理器240可以插入(注入)從圖像數(shù)據(jù)庫(kù)230檢索到的缺陷圖像以使檢驗(yàn)站220向操作員顯示真實(shí)圖像和缺陷圖像。處理器240可以接收警惕性監(jiān)控計(jì)劃并執(zhí)行它。處理器240可以更改警惕性監(jiān)控計(jì)劃，但這不是必須的。它可以接收來(lái)自檢驗(yàn)站 220的關(guān)于操作員對(duì)每張圖像(或僅對(duì)于缺陷圖像)的響應(yīng)的指示，并且確定該操作員失敗還是成功。處理器240可接收來(lái)自操作員的指令，該指令可調(diào)整警惕性監(jiān)控計(jì)劃、定義警惕性監(jiān)控計(jì)劃、以及甚至激活警惕性監(jiān)控計(jì)劃或者將其禁用。雖然這里舉例以及描述了本發(fā)明的某些特征，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員現(xiàn)在能夠想到許多修改、替換、改變、以及等價(jià)物。因此，應(yīng)當(dāng)理解，所附的權(quán)利要求旨在覆蓋落入本發(fā)明的真實(shí)精神內(nèi)的所有這些修改和變化。
權(quán)利要求
1.一種監(jiān)控檢驗(yàn)站的操作員的方法，該方法包括由檢驗(yàn)站在檢驗(yàn)過(guò)程期間顯示缺陷的圖像和可疑缺陷的圖像，所述可疑缺陷被期望由操作員在檢驗(yàn)過(guò)程期間歸類；檢查操作員是否成功將所述缺陷歸類；以及對(duì)操作員將所述缺陷歸類為缺陷的成功或失敗進(jìn)行響應(yīng)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，包括顯示至少一個(gè)缺陷的多個(gè)圖像以及顯示可疑缺陷的多個(gè)圖像。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，包括確定顯示缺陷的圖像的頻率；以及以該頻率顯示缺陷的圖像。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，包括基于該操作員的特性確定該頻率。
5.如權(quán)利要求2所述的方法，包括基于該操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定該頻率。
6.如權(quán)利要求2所述的方法，包括在檢驗(yàn)過(guò)程期間改變?cè)擃l率，其中該改變響應(yīng)于以下至少一項(xiàng)(a)自檢驗(yàn)過(guò)程開(kāi)始以來(lái)流逝的時(shí)間，和(b)該操作員響應(yīng)至少一個(gè)先前顯示的缺陷的圖像的方式。
7.如權(quán)利要求2所述的方法，包括選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于在所述可疑缺陷的多個(gè)圖像中出現(xiàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。
8.如權(quán)利要求2所述的方法，包括選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于該操作員成功檢驗(yàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。
9.如權(quán)利要求2所述的方法，其中所述響應(yīng)包括改變將缺陷的圖像顯示給該操作員的方式。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的圖像是另一個(gè)操作員先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的圖像是屬于與所述可疑缺陷的圖像相關(guān)聯(lián)的印刷電路板(PCB)不同的PCB的缺陷的圖像。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，包括處理所述缺陷的圖像以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，包括更改所述缺陷的圖像的顏色和亮度中的至少一個(gè)以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的圖像是合成的缺陷圖像。
15.如權(quán)利要求14所述的方法，包括基于先前獲得的缺陷的圖像生成該合成的缺陷圖像。
16.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述響應(yīng)包括產(chǎn)生警報(bào)。
17.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述響應(yīng)包括停止檢驗(yàn)過(guò)程并且請(qǐng)求另一個(gè)操作員完成該檢驗(yàn)過(guò)程。
18.如權(quán)利要求1所述的方法，包括基于操作員將缺陷歸類的失敗或成功，改變?cè)摍z驗(yàn)過(guò)程的特性。
19.如權(quán)利要求1所述的方法，包括如果操作員未成功將缺陷歸類，則重放在檢驗(yàn)過(guò)程期間已經(jīng)向該操作員顯示過(guò)的可疑缺陷的至少一個(gè)圖像。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，包括基于操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。
21.如權(quán)利要求19所述的方法，包括基于自檢驗(yàn)過(guò)程開(kāi)始流逝的時(shí)間確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。
22.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的圖像是先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。
23.如權(quán)利要求1所述的方法，包括響應(yīng)于操作員將所述缺陷歸類為缺陷的失敗，將檢驗(yàn)過(guò)程暫停預(yù)定時(shí)間段。
24.一種用于監(jiān)控檢驗(yàn)站的操作員的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括顯示器，用于由檢驗(yàn)站在檢驗(yàn)過(guò)程期間顯示缺陷的圖像和可疑缺陷的圖像，所述可疑缺陷被期望由操作員在檢驗(yàn)過(guò)程期間歸類；處理器，用于檢查操作員是否成功將所述缺陷歸類，并且用于控制對(duì)操作員將所述缺陷歸類為缺陷的成功或失敗的響應(yīng)。
25.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中該顯示器被設(shè)置為顯示至少一個(gè)缺陷的多個(gè)圖像以及顯示可疑缺陷的多個(gè)圖像。
26.如權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為確定顯示缺陷的圖像的頻率； 以及以該頻率顯示缺陷的圖像。
27.如權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為基于該操作員的特性確定該頻率。
28.如權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為基于該操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定該頻率。
29.如權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為在檢驗(yàn)過(guò)程期間改變?cè)擃l率， 其中該改變響應(yīng)于以下至少一項(xiàng)(a)自檢驗(yàn)過(guò)程開(kāi)始以來(lái)流逝的時(shí)間，和(b)該操作員響應(yīng)至少一個(gè)先前顯示的缺陷的圖像的方式。
30.如權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于在所述可疑缺陷的多個(gè)圖像中出現(xiàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。
31.如權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為選擇該至少一個(gè)缺陷的缺陷類型，該選擇是基于該操作員成功檢驗(yàn)該缺陷類型的可疑缺陷的可能性。
32.如權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為改變將缺陷的圖像顯示給該操作員的方式。
33.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中所述缺陷的圖像是另一個(gè)操作員先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。
34.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中所述缺陷的圖像是屬于與所述可疑缺陷的圖像相關(guān)聯(lián)的印刷電路板(PCB)不同的PCB的缺陷的圖像。
35.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為處理所述缺陷的圖像以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。
36.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為更改所述缺陷的圖像的顏色和亮度中的至少一個(gè)以與可疑缺陷的至少一個(gè)圖像類似。
37.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中所述缺陷的圖像是合成的缺陷圖像。
38.如權(quán)利要求37所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為基于先前獲得的缺陷的圖像生成該合成的缺陷圖像。
39.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為響應(yīng)于操作員將所述缺陷歸類為缺陷的失敗而觸發(fā)警報(bào)。
40.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為響應(yīng)于操作員未將所述缺陷歸類為缺陷，停止檢驗(yàn)過(guò)程并且請(qǐng)求另一個(gè)操作員完成該檢驗(yàn)過(guò)程。
41.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為基于操作員將缺陷歸類的失敗或成功，改變?cè)摍z驗(yàn)過(guò)程的特性。
42.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為如果操作員未成功將缺陷歸類，則觸發(fā)重放在檢驗(yàn)過(guò)程期間已經(jīng)向該操作員顯示過(guò)的可疑缺陷的至少一個(gè)圖像。
43.如權(quán)利要求42所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為基于操作員的經(jīng)驗(yàn)水平確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。
44.如權(quán)利要求42所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為基于自檢驗(yàn)過(guò)程開(kāi)始流逝的時(shí)間確定要重放的可疑缺陷的圖像的數(shù)量。
45.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中所述缺陷的圖像是先前檢測(cè)到的缺陷的圖像。
46.如權(quán)利要求M所述的系統(tǒng)，其中該處理器被設(shè)置為響應(yīng)于操作員將所述缺陷歸類為缺陷的失敗，將檢驗(yàn)過(guò)程暫停預(yù)定時(shí)間段。
全文摘要
一種用于監(jiān)控檢驗(yàn)站的操作員的系統(tǒng)和方法，該方法包括由檢驗(yàn)站在檢驗(yàn)過(guò)程期間顯示缺陷的圖像和可疑缺陷的圖像，所述可疑缺陷被期望由操作員在檢驗(yàn)過(guò)程期間歸類；檢查操作員是否成功將該缺陷歸類；以及對(duì)操作員將該缺陷歸類為缺陷的成功或失敗進(jìn)行響應(yīng)。
文檔編號(hào)G05B19/418GK102426440SQ20111021139
公開(kāi)日2012年4月25日 申請(qǐng)日期2011年6月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月15日
發(fā)明者R·弗里斯沃瑟, S·佩雷斯 申請(qǐng)人:卡姆特有限公司