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磁控控制器調(diào)試用試驗臺的制作方法

文檔序號:6269099閱讀:311來源:國知局
專利名稱:磁控控制器調(diào)試用試驗臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
磁控控制器調(diào)試用試驗臺技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實用新型屬于磁控型動態(tài)無功補償控制裝置技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種接線方便、操作快捷的磁控控制器調(diào)試用試驗臺。
背景技術(shù)
[0002]無功補償裝置作為一項節(jié)能設(shè)備已被越來越多的電力用戶所設(shè)計采用,很好的解決了電力用戶電壓波動、電壓閃變、線損增加、電壓降落等問題,節(jié)約了用戶成本、減少了線路損耗、提高了設(shè)備利用效率。磁控電抗器型動態(tài)無功補償裝置作為一種重要的無功補償設(shè)備由于其優(yōu)越的產(chǎn)品性能得到更為廣泛的應用和推廣,成為目前動態(tài)無功補償裝置的首先。磁控控制器作為此種補償裝置的核心部件發(fā)揮著不可替代的作用,許多廠家可以自行生產(chǎn)及調(diào)試。[0003]然而,作為一套動態(tài)無功補償裝置的核心部件的控制器,許多廠家在進行產(chǎn)品調(diào)試時將調(diào)試用電源、示波器、控制器、接線端子、電流表等臨時搭接在一起,由于調(diào)試時接線復雜,需要模擬實際工況,造成試驗場所接線繁多,很容易造成接線錯誤,嚴重影響了產(chǎn)品的調(diào)試效率,也對調(diào)試結(jié)果的可靠性產(chǎn)生一定的不利影響。實用新型內(nèi)容[0004]針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本實用新型的目的在于設(shè)計提供一種磁控控制器調(diào)試用試驗臺的技術(shù)方案,該試驗臺能夠提高磁控控制器的調(diào)控效率及準確度。[0005]所述的磁控控制器調(diào)試用試驗臺,其特征在于包括水平操作臺和傾斜布置平臺, 所述的水平操作臺上設(shè)有相互連接的示波器、控制器機箱和測試用平板電腦,所述的傾斜布置平臺中設(shè)有與控制器機箱各接口連接的用于調(diào)試控制器機箱的調(diào)試器件。[0006]所述的磁控控制器調(diào)試用試驗臺,其特征在于所述的傾斜布置平臺成45度傾斜設(shè)置。[0007]所述的磁控控制器調(diào)試用試驗臺,其特征在于所述的調(diào)試器件包括熔斷器、轉(zhuǎn)接端子、指示燈、接線端子、數(shù)顯電流表、數(shù)顯電壓表和空開。[0008]所述的磁控控制器調(diào)試用試驗臺,其特征在于所述的熔斷器與測試用平板電腦連接。[0009]上述的磁控控制器試驗臺整體采用階梯型布局,將測試用的空開、轉(zhuǎn)接端子、數(shù)顯表、示波器、平板電腦等期間固定安裝于此試驗臺上,所有固定接線采用走線槽方式布線, 臨時用的接線數(shù)量大大減少。[0010]本實用新型的有益效果為本實用新型所提出的調(diào)試試驗臺全面提高了產(chǎn)品調(diào)試效率,減少了調(diào)試人員的重復接線勞動;大大減低了減少接線失誤率及測試故障率,有效防止了由于測試原因造成產(chǎn)品損壞;試驗臺整體布局整潔,可以滿足多種類型磁控控制器及常規(guī)控制器產(chǎn)品的檢測。


[0011]圖I為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。[0012]圖中1_示波器;2_控制器機箱;3_測試用平板電腦;4_熔斷器;5_轉(zhuǎn)接端子; 6_指示燈;7_接線端子;8_數(shù)顯電流表;9_數(shù)顯電壓表;10_空開;11_水平操作臺;12_傾斜布置平臺。
具體實施方式
[0013]以下結(jié)合說明書附圖來進一步說明本實用新型。[0014]如圖所述,磁控控制器調(diào)試用試驗臺包括水平操作臺11和傾斜布置平臺12,水平操作臺11上設(shè)有相互連接的示波器I、控制器機箱2和測試用平板電腦3 ;傾斜布置平臺12 成45度傾斜設(shè)置,其上設(shè)有熔斷器4、轉(zhuǎn)接端子5、指示燈6、接線端子7、數(shù)顯電流表8、數(shù)顯電壓表9和空開10。傾斜布置平臺12中的熔斷器4、轉(zhuǎn)接端子5、指示燈6、接線端子7、數(shù)顯電流表8、數(shù)顯電壓表9和空開10分別與控制器機箱2中的各接口連接,熔斷器4還與測試用平板電腦3連接。[0015]上述磁控控制器調(diào)試試驗臺中空開10主要實現(xiàn)對整個試驗臺的保護,防止調(diào)試過程中因操作失誤造成器件損壞;數(shù)顯電壓表9和數(shù)顯電流表8主要顯示被測控制器的電壓、電流值,以驗證控制器功能設(shè)計的正確與否;指示燈6為控制器故障測試用的一種信號指示,紅色代表故障測試正常、紅色代表功能測試正常,當繼電器因故障報警而得電,常開變常閉,所以指示燈點亮,從而實現(xiàn)燈光報警的功能;熔斷器4主要實現(xiàn)被測控制器的過流保護;示波器I用于顯示被測控制器的電流波形及觸發(fā)測試;轉(zhuǎn)接端子5和接線端子7實現(xiàn)控制器信號的采集、轉(zhuǎn)接功能。[0016]上述磁控控制器調(diào)試試驗臺可完成的調(diào)試項目主要為控制系統(tǒng)過壓、欠壓、過流測試,位置開關(guān)信號、故障信號、同步脈沖信號測試等內(nèi)容。[0017]調(diào)試時通過調(diào)壓器輸入三相電壓值,再通過采樣回路獲得采樣電流值,將采樣電流值通過控制器機箱2接入控制器完成信號采集,以監(jiān)控電路中的電壓、電流、功率因數(shù)變化情況。如果需要采集電壓信號,則通過調(diào)壓器將電源信號輸入空開10,經(jīng)空開10連接至控制器電壓接口及脈沖同步電壓信號接口,并驗證電壓采集信號的正確與否。[0018]所述的過壓測試功能為以IOKV系統(tǒng)用控制器為例,默認設(shè)置參數(shù)過壓11KV,數(shù)顯電壓表9、數(shù)顯電流表8變比為100,當輸出100V等同于10KV,電流O. 34A等同于34A,因此當輸入IOKV時為正常范圍,調(diào)試時改變默認參數(shù)使其小于10,此時報警為過壓,對應的指示燈6報警,說明過壓功能測試正常。[0019]所述欠壓測試功能為與過壓設(shè)置一樣,在默認參數(shù)中有欠壓設(shè)置值。設(shè)置時高于實際輸入值,提示欠壓,同樣故障燈點亮,說明欠壓正常。過流功能測試設(shè)置方法同過壓、欠壓,默認設(shè)置參數(shù)200A,實際輸入34A,改變默認參數(shù)200A為20A,此時提示過流,并點亮故障報警指示燈,說明過流功能測試正常。[0020]所述的位置信號開關(guān)測試功能為調(diào)試時對相應的空開10按鈕進行分合,操作界面的指示燈與之同步亮滅,說明信號位置開關(guān)信號功能正常。同樣,故障開關(guān)功能只要任意的過壓過流都能對應點亮相應的故障開關(guān),說明故障開關(guān)正常。[0021]所述試驗臺同步脈沖信號功能測試,輸入為三相100V電壓信號,經(jīng)電阻降壓,脈4沖變壓器轉(zhuǎn)換后在一個周期內(nèi)輸出6路脈沖,通過改變脈沖的角度控制晶閘管的導通角。 測試6路脈沖相位角度,均有輸出且相位角度都對,說明同步脈沖信號正常。[0022]本實用新型磁控控制器調(diào)試用試驗臺,完善了控制器測試人員對磁控控制器的調(diào)試的功能,簡化了調(diào)試步驟,提高了調(diào)試效率,同時降低了維護成本。[0023]以上所述及圖中所示的僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式。應當指出,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實用新型原理的前提下,還可以作出若干變型和改進,這些也應視為屬于本實用新型的保護范圍。
權(quán)利要求1.磁控控制器調(diào)試用試驗臺,其特征在于包括水平操作臺(11)和傾斜布置平臺(12),所述的水平操作臺(11)上設(shè)有相互連接的示波器(I)、控制器機箱(2)和測試用平板電腦(3),所述的傾斜布置平臺(12)中設(shè)有與控制器機箱(2)各接ロ連接的用于調(diào)試控制器機箱(2)的調(diào)試器件。
2.如權(quán)利要求I所述的磁控控制器調(diào)試用試驗臺,其特征在于所述的傾斜布置平臺(12)成45度傾斜設(shè)置。
3.如權(quán)利要求I所述的磁控控制器調(diào)試用試驗臺,其特征在于所述的調(diào)試器件包括熔斷器(4)、轉(zhuǎn)接端子(5)、指示燈(6)、接線端子(7)、數(shù)顯電流表(8)、數(shù)顯電壓表(9)和空開(10)。
4.如權(quán)利要求3所述的磁控控制器調(diào)試用試驗臺,其特征在于所述的熔斷器(4)與測試用平板電腦(3)連接。
專利摘要磁控控制器調(diào)試用試驗臺,屬于磁控型動態(tài)無功補償控制裝置技術(shù)領(lǐng)域。其包括水平操作臺和傾斜布置平臺,所述的水平操作臺上設(shè)有相互連接的示波器、控制器機箱和測試用平板電腦,所述的傾斜布置平臺中設(shè)有與控制器機箱各接口連接的用于調(diào)試控制器機箱的調(diào)試器件。本實用新型所提出的調(diào)試試驗臺全面提高了產(chǎn)品調(diào)試效率,減少了調(diào)試人員的重復接線勞動;大大減低了減少接線失誤率及測試故障率,有效防止了由于測試原因造成產(chǎn)品損壞;試驗臺整體布局整潔,可以滿足多種類型磁控控制器及常規(guī)控制器產(chǎn)品的檢測。
文檔編號G05B23/02GK202815575SQ20122034262
公開日2013年3月20日 申請日期2012年7月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月16日
發(fā)明者聞衛(wèi)洪, 孫新年, 榮俊杰 申請人:杭州銀湖電氣設(shè)備有限公司
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