開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置，包括連接設(shè)備和控制設(shè)備,其特征是：所述連接設(shè)備包括金屬探針和電路板，所述控制設(shè)備和金屬探針設(shè)置在電路板上，所述金屬探針通過電路板上的導(dǎo)線與接口接插件連接，所述接口接插件通過多股導(dǎo)線與控制設(shè)備連接,所述控制設(shè)備包括CPU和按鍵，所述電路板的邊緣設(shè)計(jì)了固定孔，所述固定孔內(nèi)設(shè)置有倒T型磁鐵，所述金屬探針為彈性伸縮結(jié)構(gòu)，彈性距離達(dá)7mm，本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可以形成多種監(jiān)控設(shè)備中傳感器的輸出信號(hào)，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)多種監(jiān)控設(shè)備功能的檢測(cè)，不需要連接真正的實(shí)物傳感器，并通過監(jiān)控設(shè)備的報(bào)警裝置驗(yàn)證檢測(cè)的準(zhǔn)確性，保證了檢測(cè)設(shè)備的質(zhì)量。
【專利說明】開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置
[0001]【技術(shù)領(lǐng)域】:
[0002]本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)裝置，特別是涉及一種開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置。
[0003]【背景技術(shù)】:
[0004]開閉所監(jiān)控設(shè)備的主要功能是對(duì)開閉所內(nèi)的環(huán)境參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，比如，門禁監(jiān)測(cè)、溫度監(jiān)測(cè)、濕度監(jiān)測(cè)、紅外監(jiān)測(cè)、煙霧監(jiān)測(cè)、浸水監(jiān)測(cè)、水位監(jiān)測(cè)等。另外實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制功能，例如，風(fēng)機(jī)管理、水泵管理、燈光管理等根據(jù)實(shí)時(shí)環(huán)境參數(shù)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制功能，目前大量開閉所對(duì)此類產(chǎn)品的需求每年都在大幅增加。但是開閉所監(jiān)控設(shè)備在生產(chǎn)環(huán)節(jié)和后期產(chǎn)品維護(hù)環(huán)節(jié)沒有具體的調(diào)試與檢測(cè)工具，造成產(chǎn)品生產(chǎn)和維護(hù)的效率不高。
[0005]開閉所監(jiān)控設(shè)備的對(duì)外接口一般采用8mm間距的⑶端子排，這在生產(chǎn)調(diào)試過程中，必須采用人工螺絲壓線的方法連接外部傳感器與功率設(shè)備，對(duì)于少量的設(shè)備出廠檢測(cè)來說工作量比較小，但是對(duì)是大量產(chǎn)品出廠檢測(cè)工作量就會(huì)大大增加。電力產(chǎn)品對(duì)生產(chǎn)周期與維護(hù)效率方面有嚴(yán)格要求，產(chǎn)品生產(chǎn)部門和維護(hù)部門的工作壓力也會(huì)逐年增加，只有科學(xué)的方法和便捷的測(cè)試工具，才能真正提高工作效率，對(duì)時(shí)時(shí)發(fā)生的情況做出及時(shí)的反應(yīng)，從而進(jìn)一步減輕工作人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。
[0006]實(shí)用新型內(nèi)容:
[0007]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、便于攜帶、可以拆解，能夠產(chǎn)生各種傳感器信號(hào)，并具有多種檢測(cè)功能的開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)
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[0008]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:一種開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置，包括連接設(shè)備和控制設(shè)備，所述連接設(shè)備包括金屬探針和電路板，所述控制設(shè)備和金屬探針設(shè)置在電路板上，所述金屬探針通過電路板上的導(dǎo)線與接口接插件連接，所述接口接插件通過多股導(dǎo)線與控制設(shè)備連接，所述控制設(shè)備包括CPU和按鍵。
[0009]所述電路板的邊緣設(shè)計(jì)了固定孔，所述固定孔內(nèi)設(shè)置有倒T型磁鐵，所述金屬探針為彈性伸縮結(jié)構(gòu)，彈性距離達(dá)7mm。
[0010]所述倒T型磁鐵和金屬探針在電路板的一側(cè)，所述電路板的另一側(cè)設(shè)置有CPU、按鍵和接口接插件，所述按鍵至少為兩個(gè)。
[0011]所述CPU采用72M主頻的STM32F103，所述STM32F103為集成芯片，其內(nèi)部包括1KB SRAM內(nèi)存、64K ROM、Flash程序存儲(chǔ)器、10路12位A/D控制器、2路12位D/A控制器接口、ARM Cortex-M3內(nèi)核控制器。
[0012]本實(shí)用新型的有益效果是:
[0013]1、本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可以形成多種監(jiān)控設(shè)備中傳感器的輸出信號(hào)，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)多種監(jiān)控設(shè)備功能的檢測(cè)，不需要連接真正的實(shí)物傳感器，并通過監(jiān)控設(shè)備的報(bào)警裝置驗(yàn)證檢測(cè)的準(zhǔn)確性，保證了檢測(cè)設(shè)備的質(zhì)量。
[0014]2、本實(shí)用新型能通過操作按鍵產(chǎn)生相應(yīng)的信號(hào)，實(shí)現(xiàn)監(jiān)控設(shè)備功能的分步檢測(cè)，保證了檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
[0015]3、本實(shí)用新型采用帶彈性的金屬探針實(shí)現(xiàn)與檢測(cè)設(shè)備的連接，同時(shí)還在電路板的邊緣設(shè)置帶強(qiáng)磁性的倒T型磁鐵，可以牢固的與檢測(cè)設(shè)備的金屬箱體結(jié)合，并在測(cè)試完成后方便取下。
[0016]4、本實(shí)用新型接口接插件可與計(jì)算機(jī)連接，方便操作者的操作。
[0017]【專利附圖】

【附圖說明】:
[0018]圖1為開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
[0019]圖2為連接設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]【具體實(shí)施方式】:
[0021]實(shí)施例:參見圖1和圖2，圖中，1-倒T型磁鐵，2-金屬探針，3-電路板。
[0022]開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置:包括連接設(shè)備和控制設(shè)備，連接設(shè)備包括金屬探針2和電路板3，控制設(shè)備和金屬探針2設(shè)置在電路板3上，金屬探針2通過電路板3上的導(dǎo)線與接口接插件連接，接口接插件通過多股導(dǎo)線與控制設(shè)備連接，控制設(shè)備包括CPU和按鍵。
[0023]電路板3的邊緣設(shè)計(jì)了固定孔，固定孔內(nèi)設(shè)置有倒T型磁鐵1，金屬探針2為彈性伸縮結(jié)構(gòu)，彈性距離達(dá)7mm。
[0024]倒T型磁鐵I和金屬探針2在電路板3的一側(cè)，電路板3的另一側(cè)設(shè)置有CPU、按鍵和接口接插件，按鍵至少為兩個(gè)。
[0025]CPU采用72M主頻的STM32F103，STM32F103為集成芯片，其內(nèi)部包括1KB SRAM內(nèi)存、64K R0M、Flash程序存儲(chǔ)器、10路12位A/D控制器、2路12位D/A控制器接口、ARMCortex-M3內(nèi)核控制器。
[0026]使用時(shí)，工作人員可以根據(jù)想要檢測(cè)的端口，來配合不同的按鍵來產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的傳感器信號(hào)。當(dāng)按下門禁信號(hào)、溫度信號(hào)、濕度信號(hào)、紅外移動(dòng)信號(hào)、煙感報(bào)警信號(hào)、浸水和水位信號(hào)所對(duì)應(yīng)的按鍵時(shí)，裝置就產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的報(bào)警信號(hào)給開閉所監(jiān)控設(shè)備，如果開閉所監(jiān)控設(shè)備內(nèi)部設(shè)置了聯(lián)動(dòng)機(jī)制，當(dāng)有溫濕度、浸水和水位信號(hào)報(bào)警時(shí)，對(duì)應(yīng)的輸出控制就會(huì)聯(lián)動(dòng)輸出狀態(tài)，并通過本裝置點(diǎn)亮對(duì)應(yīng)的指示燈，從而驗(yàn)證狀態(tài)的正確性。
[0027]以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本實(shí)用新型作任何形式上的限制，凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置，包括連接設(shè)備和控制設(shè)備，其特征是:所述連接設(shè)備包括金屬探針和電路板，所述控制設(shè)備和金屬探針設(shè)置在電路板上，所述金屬探針通過電路板上的導(dǎo)線與接口接插件連接，所述接口接插件通過多股導(dǎo)線與控制設(shè)備連接，所述控制設(shè)備包括CPU和按鍵。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置，其特征是:所述電路板的邊緣設(shè)計(jì)了固定孔，所述固定孔內(nèi)設(shè)置有倒T型磁鐵，所述金屬探針為彈性伸縮結(jié)構(gòu)，彈性距離達(dá)7mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置，其特征是:所述倒T型磁鐵和金屬探針在電路板的一側(cè)，所述電路板的另一側(cè)設(shè)置有CPU、按鍵和接口接插件，所述按鍵至少為兩個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開閉所監(jiān)控設(shè)備檢測(cè)裝置，其特征是:所述CPU采用72M主頻的STM32F103，所述STM32F103為集成芯片，其內(nèi)部包括1KB SRAM內(nèi)存、64K ROM、Flash程序存儲(chǔ)器、10路12位A/D控制器、2路12位D/A控制器接口、ARM Cortex_M3內(nèi)核控制器。
【文檔編號(hào)】G05B23/02GK204129522SQ201420524923
【公開日】2015年1月28日 申請(qǐng)日期:2014年9月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月13日
【發(fā)明者】牛罡, 董海波, 郭立, 曾新順 申請(qǐng)人:國家電網(wǎng)公司, 鄭州華力信息技術(shù)有限公司, 國網(wǎng)河南省電力公司鄭州供電公司