技術(shù)特征：

1.一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)方法，所述恒溫臺(tái)包括加熱面板和控制臺(tái)，所述加熱面板與所述控制臺(tái)電連接，所述加熱面板內(nèi)包括多個(gè)均勻排布的加熱體；其特征在于，包括如下步驟：

步驟S1、熱紅外成像采集模塊采集恒溫臺(tái)的熱紅外原始圖像；

步驟S2、將所述原始圖像灰度化，根據(jù)所述加熱件的位置，將所述加熱面板劃分為多個(gè)加熱區(qū)域；取各個(gè)所述加熱區(qū)域的灰度平均值Gray_j作為該區(qū)域像素點(diǎn)灰度值；所述j滿(mǎn)足1≤j≤Sum；所述Sum為發(fā)熱件總個(gè)數(shù)；所述Sum為正整數(shù)；

步驟S3、采集經(jīng)步驟S2處理后圖像的橫向像素灰度上升個(gè)數(shù)H_up、橫向像素灰度下降個(gè)數(shù)H_down、縱向像素灰度上升個(gè)數(shù)Z_up以及縱向像素灰度下降個(gè)數(shù)Z_down；所述H_up、H_down、Z_up、Z_down為自然數(shù)；

步驟S4、獲取灰度平均波動(dòng)幅值F，所述所述為經(jīng)步驟S2處理后圖像的平均灰度值；所述

步驟S5、獲取像素灰度波動(dòng)值E，若E>E_TH，則執(zhí)行步驟S6；若E≤E_TH，則各個(gè)所述加熱件的校正系數(shù)β_i＝1，執(zhí)行步驟S7；其中，所述所述E_TH取值范圍為0.01≤E_TH≤10；所述E_TH為像素灰度波動(dòng)閾值；

步驟S6、獲取各個(gè)所述加熱件的校正系數(shù)β_i，執(zhí)行步驟S7；其中，所述所述β_i≥0；

步驟S7、根據(jù)所述校正系數(shù)β_i，所述控制臺(tái)控制各個(gè)所述加熱件加熱功率。

2.如權(quán)利要求1所述的一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)方法，其特征在于，

所述采集橫向像素灰度上升個(gè)數(shù)H_up的步驟包括：

步驟S311：采集第m行中，后一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n)大于前一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n-1)的單行橫向像素上升個(gè)數(shù)H_{up_m}；

步驟S312：對(duì)各行的所述單行橫向像素上升個(gè)數(shù)H_{up_m}求和，獲取橫向像素灰度上升個(gè)數(shù)H_up；所述

所述采集橫向像素灰度下降個(gè)數(shù)H_down的步驟包括：

步驟S321：采集第m行中，后一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n)小于前一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n-1)的單行橫向像素下降個(gè)數(shù)H_{down_m}；

步驟S322：對(duì)各行的所述單行橫向像素下降個(gè)數(shù)H_{down_m}求和，獲取橫向像素灰度下降個(gè)數(shù)H_down；所述

其中，所述1≤m≤M，2≤n≤N；所述M為圖像總行數(shù)，所述N為圖像總列數(shù)。

3.如權(quán)利要求1所述的一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)方法，其特征在于，

所述采集縱向像素灰度上升個(gè)數(shù)Z_up的步驟包括：

步驟S331：采集第n列中，后一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n)大于前一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m-1,n)的單列縱向像素上升個(gè)數(shù)Z_{up_n}；

步驟S332：對(duì)各列的所述單列縱向像素上升個(gè)數(shù)Z_{up_n}求和，獲取縱向像素灰度上升個(gè)數(shù)Z_up；所述

所述采集縱向像素灰度下降個(gè)數(shù)Z_down的步驟包括：

步驟S341：采集第n列中，后一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n)小于前一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m-1,n)的單列縱向像素下降個(gè)數(shù)Z_{down_n}；

步驟S342：對(duì)各列的所述單行縱向像素下降個(gè)數(shù)Z_{down_n}求和，獲取縱向像素灰度下降個(gè)數(shù)Z_down；所述

其中，所述2≤m≤M，1≤n≤N；所述M為圖像總行數(shù)，所述N為圖像總列數(shù)。

4.如權(quán)利要求1所述的一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)方法，其特征在于，所述加熱件為電阻式加熱件，所述加熱件與所述控制臺(tái)的加熱驅(qū)動(dòng)模塊的輸出端連接，所述加熱驅(qū)動(dòng)模塊為所述加熱件提供脈沖驅(qū)動(dòng)電壓；所述步驟S7包括：

所述控制臺(tái)根據(jù)各個(gè)所述區(qū)域的所述校正系數(shù)β_i，求解各個(gè)所述發(fā)熱件的脈沖驅(qū)動(dòng)電壓的占空比R_i，所述加熱驅(qū)動(dòng)模塊以占空比R_i為各個(gè)所述加熱件提供脈沖驅(qū)動(dòng)電壓。

5.一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括：

加熱面板，用于承載被加熱物體，所述加熱面板內(nèi)包括多個(gè)均勻排布的加熱體；

控制臺(tái)，用于控制所述加熱面板加熱，所述加熱面板與所述控制臺(tái)電連接；所述控制臺(tái)包括加熱驅(qū)動(dòng)模塊；

熱紅外成像采集模塊，用于采集恒溫臺(tái)的熱紅外原始圖像；

圖像分區(qū)模塊，用于將所述原始圖像灰度化，根據(jù)所述加熱件的位置，將所述加熱面板劃分為多個(gè)加熱區(qū)域；取各個(gè)所述加熱區(qū)域的灰度平均值Gray_j作為該區(qū)域像素點(diǎn)灰度值；所述j滿(mǎn)足1≤j≤Sum；所述Sum為發(fā)熱件總個(gè)數(shù)；所述Sum為正整數(shù)；

圖像灰度變化采集模塊，用于采集經(jīng)圖像分區(qū)模塊處理后圖像的橫向像素灰度上升個(gè)數(shù)H_up、橫向像素灰度下降個(gè)數(shù)H_down、縱向像素灰度上升個(gè)數(shù)Z_up以及縱向像素灰度下降個(gè)數(shù)Z_down；所述H_up、H_down、Z_up、Z_down為自然數(shù)；

圖像灰度波動(dòng)求解模塊，用于獲取灰度平均波動(dòng)幅值F，所述所述為經(jīng)圖像分區(qū)模塊處理后圖像的平均灰度值；所述

加熱均勻度判定模塊，用于獲取像素灰度波動(dòng)值E，若E>E_TH，則將所述像素灰度波動(dòng)值E發(fā)送給校正系數(shù)生成模塊；若E≤E_TH，則各個(gè)所述加熱件的校正系數(shù)β_i＝1；其中，所述所述E_TH取值范圍為0.01≤E_TH≤10；所述E_TH為像素灰度波動(dòng)閾值；

校正系數(shù)生成模塊，用于獲取各個(gè)所述加熱件的校正系數(shù)β_i；其中，所述所述β_i≥0；

所述加熱驅(qū)動(dòng)模塊，用于驅(qū)動(dòng)所述加熱件；所述控制臺(tái)根據(jù)所述校正系數(shù)β_i，并通過(guò)所述加熱驅(qū)動(dòng)模塊，控制各個(gè)所述加熱件加熱功率。

6.如權(quán)利要求5所述的一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像灰度變化采集模塊，包括：橫向灰度上升個(gè)數(shù)求解單元、橫向灰度下降個(gè)數(shù)求解單元、縱向灰度上升個(gè)數(shù)求解單元以及縱向灰度下降個(gè)數(shù)求解單元。

7.如權(quán)利要求6所述的一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述橫向灰度上升個(gè)數(shù)求解單元，被配置為：

采集第m行中，后一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n)大于前一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n-1)的單行橫向像素上升個(gè)數(shù)H_{up_m}；

對(duì)各行的所述單行橫向像素上升個(gè)數(shù)H_{up_m}求和，獲取橫向像素灰度上升個(gè)數(shù)H_up；所述

所述橫向灰度下降個(gè)數(shù)求解單元，被配置為：

采集第m行中，后一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n)小于前一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n-1)的單行橫向像素下降個(gè)數(shù)H_{down_m}；

對(duì)各行的所述單行橫向像素下降個(gè)數(shù)H_{down_m}求和，獲取橫向像素灰度下降個(gè)數(shù)H_down；所述

其中，所述1≤m≤M，2≤n≤N；所述M為圖像總行數(shù)，所述N為圖像總列數(shù)。

8.如權(quán)利要求6所述的一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述縱向灰度上升個(gè)數(shù)求解單元，被配置為：

采集第n列中，后一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n)大于前一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m-1,n)的單列縱向像素上升個(gè)數(shù)Z_{up_n}；

對(duì)各列的所述單列縱向像素上升個(gè)數(shù)Z_{up_n}求和，獲取縱向像素灰度上升個(gè)數(shù)Z_up；所述

所述縱向灰度下降個(gè)數(shù)求解單元，被配置為：

采集第n列中，后一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m,n)小于前一個(gè)像素點(diǎn)灰度值Gray_(m-1,n)的單列縱向像素下降個(gè)數(shù)Z_{down_n}；

對(duì)各列的所述單行縱向像素下降個(gè)數(shù)Z_{down_n}求和，獲取縱向像素灰度下降個(gè)數(shù)Z_down；所述

其中，所述2≤m≤M，1≤n≤N；所述M為圖像總行數(shù)，所述N為圖像總列數(shù)。

9.如權(quán)利要求5所述的一種恒溫加熱臺(tái)的溫度均勻性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述加熱件為電阻式加熱件，所述加熱件與所述控制臺(tái)的加熱驅(qū)動(dòng)模塊的輸出端連接，所述加熱驅(qū)動(dòng)模塊為所述加熱件提供脈沖驅(qū)動(dòng)電壓；

所述控制臺(tái)根據(jù)各個(gè)所述區(qū)域的所述校正系數(shù)β_i，求解各個(gè)所述發(fā)熱件的脈沖驅(qū)動(dòng)電壓的占空比R_i，所述加熱驅(qū)動(dòng)模塊以占空比R_i為各個(gè)所述加熱件提供脈沖驅(qū)動(dòng)電壓。