本發(fā)明屬于商用空調(diào)技術(shù)領(lǐng)域，具體地說，是涉及一種多聯(lián)機(jī)測試裝置和系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

多聯(lián)機(jī)即多聯(lián)式商用空調(diào)，指的是一臺室外機(jī)或多臺室外機(jī)通過配管連接兩臺或兩臺以上的室內(nèi)機(jī)的空調(diào)系統(tǒng)。多聯(lián)機(jī)控制板具有溫度傳感器信號（模擬信號）多、控制信號（開關(guān)量信號）多的特點(diǎn)。

在多聯(lián)機(jī)開發(fā)階段，對多聯(lián)機(jī)控制板的軟件測試是保證多聯(lián)機(jī)運(yùn)行正常的一個(gè)重要步驟，通過軟件測試發(fā)現(xiàn)開發(fā)中的問題，以便于整改并繼續(xù)測試最終達(dá)到設(shè)定要求。在該步驟中，需要模擬出各種溫度傳感器信號和控制信號作為控制板的輸入，然后測試輸出是否在測試要求范圍內(nèi)。

目前多聯(lián)機(jī)的軟件測試過程中，溫度傳感器信號是使用調(diào)節(jié)變阻箱的電阻值來實(shí)現(xiàn)的，也即，根據(jù)傳感器阻值表通過調(diào)節(jié)變阻箱相應(yīng)的電阻值，供電后產(chǎn)生對應(yīng)的電壓信號實(shí)現(xiàn)溫度的模擬，但變阻箱的體積較大，在需要模擬多路傳感器信號時(shí)，多個(gè)變阻箱體積過大導(dǎo)致測試使用不便；且變阻箱調(diào)節(jié)時(shí)，需要按照阻值表進(jìn)行設(shè)置，導(dǎo)致調(diào)節(jié)速度慢，難以應(yīng)對多個(gè)溫度快速調(diào)節(jié)的情況；變阻箱的阻值偏差還會導(dǎo)致調(diào)節(jié)精度不高而影響測試結(jié)果的問題；這些因素造成現(xiàn)有的測試方式存在效率低和可靠性低的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本申請?zhí)峁┝艘环N測試裝置和系統(tǒng)，解決現(xiàn)有多聯(lián)機(jī)控制板測試中存在效率低和可靠性低的技術(shù)問題。

為解決上述技術(shù)問題，本申請采用以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)：

測試裝置，包括基板和從板；所述基板包括有主控芯片、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路和基板接口；所述從板包括從板接口、數(shù)模轉(zhuǎn)換電路、模擬測試信號采樣電路、模擬測試信號輸出接口和數(shù)字測試信號輸出接口；所述從板接口與所述基板接口插接實(shí)現(xiàn)所述基板與所述從板的電連接；所述主控芯片包括有與所述基板接口連接的輸出第一測試信號的第一測試信號輸出端口和輸出第二測試信號的第二測試信號輸出端口；所述數(shù)模轉(zhuǎn)換電路從所述從板接口接收所述第一測試信號，并將所述第一測試信號轉(zhuǎn)換為模擬測試信號后輸出至所述模擬測試信號輸出接口；所述數(shù)字測試信號輸出接口從所述從板接口接收所述第二測試信號；所述模擬測試信號采樣電路用于采集所述模擬測試信號得到采樣模擬測試信號并輸出至所述從板接口；所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，用于從所述基板接口接收所述采樣模擬測試信號，并將所述采樣模擬測試信號轉(zhuǎn)換為采樣數(shù)字測試信號輸出至所述主控芯片；所述主控芯片，用于基于所述采樣數(shù)字測試信號對輸出的所述第一測試信號進(jìn)行補(bǔ)償校準(zhǔn)。

提出一種多聯(lián)機(jī)測試系統(tǒng)，包括多聯(lián)機(jī)主控板和上述的測試裝置；所述多聯(lián)機(jī)主控板包括有模擬信號測試接口和數(shù)字信號測試接口；所述模擬信號測試接口連接所述從板的模擬測試信號輸出接口；所述數(shù)字信號測試接口連接所述從板的數(shù)字測試信號輸出接口。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是：本申請?zhí)岢龅臏y試裝置和多聯(lián)機(jī)測試系統(tǒng)中，基板與上位機(jī)連接并受控于上位機(jī)，從板與基板連接并受控于基板，例如多聯(lián)機(jī)主控板的測試設(shè)備與從板連接，基板產(chǎn)生第一測試信號和第二測試信號輸出給從板，從板則將第一測試信號轉(zhuǎn)換為模擬測試信號后，將模擬測試信號和第二測試信號輸出給測試設(shè)備作為測試設(shè)備的測試信號，這其中，模擬測試信號例如多聯(lián)機(jī)中溫度傳感器的輸出信號，第二測試信號則作為數(shù)字信號，可以是測試用數(shù)字信號或者各種控制信號等；為保證模擬測試信號的精度，采用模擬測試信號采樣電路對模擬測試信號進(jìn)行采樣并輸送回基板，經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換成為采樣數(shù)字測試信號后輸送回主控芯片，由主控芯片將采樣數(shù)字測試信號與輸出的第一測試信號進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果對輸出的第一測試信號進(jìn)行補(bǔ)償校準(zhǔn)，使得輸出的第一測試信號更精準(zhǔn)；可見，本申請?zhí)峁┑臏y試裝置能夠提供模擬測試信號，相比現(xiàn)有技術(shù)中采用多組變阻箱產(chǎn)生模擬測試信號的方式，本申請?zhí)岢龅臏y試裝置省去了大體積變阻箱的應(yīng)用，也無需工作人員手動調(diào)節(jié)變阻箱的阻值，避免了調(diào)節(jié)變阻箱速度慢的問題，提高了測試效率，還能夠產(chǎn)生精準(zhǔn)的模擬測試信號，從而保證測試結(jié)果更加準(zhǔn)確，提高了測試的可靠性，解決了現(xiàn)有多聯(lián)機(jī)控制板測試中存在的效率低和可靠性低的技術(shù)問題。

結(jié)合附圖閱讀本申請實(shí)施方式的詳細(xì)描述后，本申請的其他特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)將變得更加清楚。

附圖說明

圖1為本申請?zhí)岢龅臏y試裝置的裝置架構(gòu)圖；

圖2為本申請?zhí)岢龅臏y試裝置的又一裝置架構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對本申請的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)地說明。

本申請?zhí)岢龅臏y試裝置，如圖1所示，包括基板1和從板2；基板1包括有主控芯片u1和基板接口j1；主控芯片u1包括有輸出第一測試信號的第一測試信號輸出端口p11、p12、……、p1n和輸出第二測試信號的第二測試信號輸出端口p21、p22、……、p2m；其中，n和m均為整數(shù)。從板2包括從板接口j2、數(shù)模轉(zhuǎn)換電路u2、模擬測試信號輸出接口j3和數(shù)字測試信號輸出接口j4。

第一測試信號輸出端口p11、p12、……、p1n和第二測試信號輸出端口p21、p22、……、p2m連接基板接口j1；從板接口j2與基板接口j1插接實(shí)現(xiàn)基板1與從板2的電連接；數(shù)模轉(zhuǎn)換電路u2連接從板接口j2，用于接收第一測試信號，并將第一測試信號轉(zhuǎn)換為模擬測試信號后輸出至模擬測試信號輸出接口j3；模擬測試信號輸出接口j3用于連接測試設(shè)備3，將模擬測試信號輸出給測試設(shè)備3；數(shù)字測試信號輸出接口j4連接從板接口j2，用于接收第二測試信號，并將第二測試信號輸出給測試設(shè)備3。

從板2還包括模擬測試信號采樣電路c1，基板1還包括模數(shù)轉(zhuǎn)換電路u3；模擬測試信號采樣電路c1連接于數(shù)模轉(zhuǎn)換電路u2的輸出端，用于采集模擬測試信號得到采樣模擬測試信號，其輸出端連接從板接口j2；模數(shù)轉(zhuǎn)換電路u3連接基板接口j1，用于從基板接口j1接收采樣模擬測試信號，并將采樣模擬測試信號轉(zhuǎn)換為采樣數(shù)字測試信號后輸出至主控芯片u1；主控芯片u1則將采樣數(shù)字測試信號與第一測試信號進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果對第一測試信號進(jìn)行補(bǔ)償校準(zhǔn)，使得主控芯片輸出的第一測試信號更加精準(zhǔn)，也即使得模擬測試信號更加精準(zhǔn)。

基板1還包括有與上位機(jī)4連接的控制接口j5和用于檢測測試設(shè)備3的串口的uart接口j6；這其中，控制接口j5可以為485接口、rs232接口或usb接口，實(shí)現(xiàn)上位機(jī)4向基板發(fā)明控制指令。

上述可見，本申請?zhí)岢龅臏y試裝置中，基板1與上位機(jī)4連接并受控于上位機(jī)4，從板2與基板1連接并受控于基板1，例如多聯(lián)機(jī)主控板的測試設(shè)備3與從板2連接，基板1產(chǎn)生第一測試信號和第二測試信號輸出給從板2，從板2則將第一測試信號轉(zhuǎn)換為模擬測試信號后，將模擬測試信號和第二測試信號輸出給測試設(shè)備作為測試設(shè)備的測試信號，這其中，模擬測試信號例如多聯(lián)機(jī)中溫度傳感器的輸出信號，第二測試信號則作為數(shù)字信號，可以是測試用數(shù)字信號或者各種控制信號等；為保證模擬測試信號的精度，采用模擬測試信號采樣電路c1對模擬測試信號進(jìn)行采樣并輸送回基板1，經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換電路u3轉(zhuǎn)換成為采樣數(shù)字測試信號后輸送回主控芯片u1，由主控芯片u1將采樣數(shù)字測試信號與輸出的第一測試信號進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果對輸出的第一測試信號進(jìn)行補(bǔ)償校準(zhǔn)，使得輸出的第一測試信號更精準(zhǔn)。

可見，本申請?zhí)峁┑臏y試裝置能夠通過提供模擬測試信號和數(shù)字測試信號，并通過模擬測試信號的采樣和補(bǔ)償校準(zhǔn)提供精準(zhǔn)的模擬測試信號，相比現(xiàn)有技術(shù)中采用多組變阻箱產(chǎn)生模擬測試信號的方式，本申請?zhí)岢龅臏y試裝置省去了大體積變阻箱的應(yīng)用，也無需工作人員手動調(diào)節(jié)變阻箱的阻值，避免了調(diào)節(jié)變阻箱速度慢的問題，提高了測試效率，還保證了測試結(jié)果更加準(zhǔn)確，提高了測試的可靠性，解決了現(xiàn)有多聯(lián)機(jī)控制板測試中存在的效率低和可靠性低的技術(shù)問題。

如上所述，第二測試信號則作為數(shù)字信號，可以是測試用數(shù)字信號或者各種控制信號等，第二測試信號可以直接由主控芯片u1的多個(gè)i/o端口輸出，也可以由主控芯片聯(lián)合外加的數(shù)字量輸出電路共同輸出，這種情況下，主控芯片僅分配少量甚至一個(gè)i/o端口來輸出所有的第二測試信號，由數(shù)字量輸出電路接收并采用串入并出芯片來完成數(shù)字量的多通道輸出，起到節(jié)省主控芯片u1的i/o資源的作用；例如，該數(shù)字量輸出電路可以由信號緩沖門和諸如74hc595的coms芯片組成，信號緩沖門將主控芯片輸出的第二測試信號緩沖輸出，由74hc595并行輸出第二測試信號。

如圖2所示，本申請實(shí)施例中，從板2還包括第一調(diào)整電路c2，基板1還包括第二調(diào)整電路c3；第一調(diào)整電路c2連接于數(shù)模轉(zhuǎn)換電路u2和模擬測試信號輸出接口j3之間，用于將模擬測試信號調(diào)整為測試設(shè)備可用信號后輸出至模擬測試信號輸出接口j3；這種情況下，模擬測試信號采樣電路c1與第一調(diào)整電路c2的輸出端連接，采樣的為調(diào)整后的模擬測試信號；第二調(diào)整電路c3連接于基板接口j1和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路u3之間，用于接收采樣模擬測試信號，并將采樣模擬測試信號調(diào)整為模數(shù)轉(zhuǎn)換電路u3可用信號。

如圖2所示，本申請實(shí)施例中，基板1還包括驅(qū)動電路u4；驅(qū)動電路u4連接第一測試信號輸出端口p11、p12、……、p1n和第二測試信號輸出端口p21、p22、……、p2m，用于對第一測試信號和第二測試信號進(jìn)行驅(qū)動，增強(qiáng)傳輸能力。在基板包括有驅(qū)動電路時(shí)，驅(qū)動電路輸出的第一測試信號和第二測試信號傳輸至基板接口j1。

為提高測試裝置的測試能力，本申請實(shí)施例中，從板2至少為兩塊，彼此通過從板接口j2實(shí)現(xiàn)插接；其中，一塊從板基于從板接口與基本接口插接實(shí)現(xiàn)與基板的電連接；此時(shí)，如圖2所示，從板2還包括第一撥碼開關(guān)j7和邏輯電路c4；第一撥碼開關(guān)j7分別連接從板接口j2和邏輯電路c4，用于通過撥碼設(shè)置從板的地址；不同的從板撥碼不同，地址也就不同。相對應(yīng)的，在基板1上還包括有與基板接口j1連接的模擬開關(guān)芯片u5；模擬開關(guān)芯片u5的輸出基于基板口j1和從板接口j2的插接與第一撥碼開關(guān)j7實(shí)現(xiàn)電連接，用于選擇一塊從板作為基板的輸出對象；邏輯電路c4則與第一撥碼開關(guān)j7連接，用于基于模擬開關(guān)芯片u5的選擇使能被選擇的從板工作。

例如，模擬開關(guān)芯片u5采用八選一模擬開關(guān)cd4051，其輸入的3位地址碼由主控芯片u1提供，一個(gè)輸入接地，8位輸出分別連接撥碼開關(guān)的各個(gè)位，以8塊從板為例，地址依次被撥碼為00000001、00000010、……、10000000，當(dāng)需要對第三塊從板連接的測試設(shè)備進(jìn)行測試時(shí)，cd4051中與00100000地址對應(yīng)的輸出通道被選通，則第三塊從板的邏輯電路的輸入信號為低電平，該低電平使邏輯電路導(dǎo)通，啟動第三塊從板進(jìn)入工作狀態(tài)，而其他從板由于邏輯電路的輸入信號為高電平而無法導(dǎo)通，進(jìn)而無法進(jìn)入工作狀態(tài)。當(dāng)基板包含有驅(qū)動電路u4時(shí)，模擬開關(guān)芯片的地址輸入連接所述驅(qū)動電路u4的輸出，接收主控芯片u1發(fā)出的被驅(qū)動后的地址選通設(shè)置信號。邏輯電路可以采用門電路搭建，也可以采用cpld、gal芯片來實(shí)現(xiàn)，本申請實(shí)施例不予限制。

為保證輸出穩(wěn)定性，防止外部干擾，如圖1和圖2所示，從板2還包括有采樣保持電路c5，連接數(shù)模轉(zhuǎn)換電路u2或第一調(diào)整電路c2的輸出，用于保持模擬測試信號的穩(wěn)定性，在電源等電壓波動和噪聲較大的地方還可以增加濾波器，進(jìn)一步確保輸出的穩(wěn)定性；此時(shí)，模擬測試信號采樣電路c1連接該采樣保持電路c5的輸出端。

如圖2所示，本申請實(shí)施例中，從板2上還包括有第二撥碼開關(guān)j8；第二撥碼開關(guān)j8連接于從板接口j2和模擬測試信號采樣電路c1的輸出之間，用于切斷模擬測試信號采樣電路c1的部分輸出，使得其他模擬信號能夠連接從板接口，并基于從板接口傳輸至基板。例如，采用一個(gè)4位的撥碼開關(guān)連接從板接口和模擬測試信號采樣電路的輸出端口之間，通過撥碼設(shè)置阻斷4路模擬測試信號采樣電路的采樣輸出，而是引入4路從板自身模擬信號傳輸至基板，使得基板能夠通過調(diào)整使得基板與從板處于相同的接地水平，保證測試裝置工作的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

如圖1所示，本申請實(shí)施例中，基板1還包括有包含若干個(gè)輸入輸出信號引腳的預(yù)留接口j9，用于其他測試功能擴(kuò)展。

當(dāng)然，本申請?zhí)岢龅臏y試裝置包含有供電電源電路，可以采取基板提供主電源為自身和從板供電的設(shè)計(jì)方式，基于從板插接擴(kuò)展功能，為了保證從板的供電、降低基板的供電負(fù)擔(dān)、防止線路過長導(dǎo)致電壓不穩(wěn)，還可以采取基板和從板分開獨(dú)立供電的設(shè)計(jì)方式來提高可靠性，本申請實(shí)施例不予贅述。

需要說明的是，圖1、圖2中給出的裝置組成架構(gòu)，電路之間的連接線僅示意連接關(guān)系，并不代表實(shí)際連接線。

基于上述提出的測試裝置，本申請針對多聯(lián)機(jī)空調(diào)系統(tǒng)，提出一種多聯(lián)機(jī)測試系統(tǒng)，該多聯(lián)機(jī)測試系統(tǒng)中包括有多聯(lián)機(jī)空調(diào)和上述提出的測試裝置，多聯(lián)機(jī)空調(diào)中包含有多聯(lián)機(jī)主控板。多聯(lián)機(jī)主板包括有模擬信號測試接口和數(shù)字信號測試接口；模擬信號測試接口連接測試裝置的從板的模擬測試信號輸出接口；數(shù)字信號測試接口連接測試裝置的從板的數(shù)字測試信號輸出接口。多聯(lián)機(jī)主控板作為測試設(shè)備，由上述提出的測試裝置提供模擬測試信號和數(shù)字測試信號，省去了大體積變阻箱的應(yīng)用，也無需工作人員手動調(diào)節(jié)變阻箱的阻值，避免了調(diào)節(jié)變阻箱速度慢的問題，提高了測試效率，還能夠通過模擬測試信號的采樣和補(bǔ)償校準(zhǔn)提供精準(zhǔn)的模擬測試信號，從而保證測試結(jié)果更加準(zhǔn)確，提高了測試的可靠性，解決了現(xiàn)有多聯(lián)機(jī)控制板測試中存在的效率低和可靠性低的技術(shù)問題。

應(yīng)該指出的是，上述說明并非是對本發(fā)明的限制，本發(fā)明也并不僅限于上述舉例，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的實(shí)質(zhì)范圍內(nèi)所做出的變化、改型、添加或替換，也應(yīng)屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。