本申請屬于數(shù)據(jù)調試領域，尤其涉及一種溫控參數(shù)的調試方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術：

1、發(fā)熱體可以實現(xiàn)溫度加熱功能。發(fā)熱體例如為針對hnb(heat?not?burning，加熱不燃燒)煙草制品的加熱器具。

2、為實現(xiàn)發(fā)熱體的有效加熱控制，引入pid(proportional-integral-derivative，比例-積分-微分)控制器，利用p、i、d各參數(shù)值分別影響發(fā)熱體的功率輸出值，進而影響發(fā)熱體的實際升溫趨勢，使發(fā)熱體實際溫度快速且平緩穩(wěn)定于目標溫度加熱。

3、目前，針對不同項目下發(fā)熱體的pid參數(shù)的設定，在pid溫控算法不做調整的情況下，器具幾乎沿用通一套參數(shù)，由于pid參數(shù)中每項參數(shù)對升溫趨勢的影響均不同，在對pid參數(shù)進行更新時，需要耗費大量時間實施數(shù)據(jù)調試，效率低下，參數(shù)的溫控有效性難以保證。

技術實現(xiàn)思路

1、本申請實施例提供了一種溫控參數(shù)的調試方法、裝置、設備及存儲介質，以解決pid參數(shù)的調試需要耗費大量時間，數(shù)據(jù)調試效率低下，參數(shù)的溫控有效性難以保證等問題。

2、本申請實施例的第一方面提供了一種溫控參數(shù)的調試方法，包括：

3、對pid參數(shù)中的每一參數(shù)依次執(zhí)行設定次數(shù)的數(shù)值調整，得到多個調試pid參數(shù)；

4、基于每一所述調試pid參數(shù)，分別生成相應的升溫曲線；所述升溫曲線用于指示發(fā)熱體基于所述調試pid參數(shù)進行加熱控制的升溫變化；

5、對所述升溫曲線進行擬合，得到目標曲線；

6、對所述目標曲線進行解析，得到目標pid參數(shù)。

7、本申請實施例的第二方面提供了一種溫控數(shù)據(jù)的調試裝置，包括：

8、調整模塊，用于對pid參數(shù)中的每一參數(shù)依次執(zhí)行設定次數(shù)的數(shù)值調整，得到多個調試pid參數(shù)；

9、生成模塊，用于基于每一所述調試pid參數(shù)，分別生成相應的升溫曲線；所述升溫曲線用于指示發(fā)熱體基于所述調試pid參數(shù)進行加熱控制的升溫變化；

10、擬合模塊，用于對所述升溫曲線進行擬合，得到目標曲線；

11、解析模塊，用于對所述目標曲線進行解析，得到目標pid參數(shù)。

12、本申請實施例的第三方面提供了一種計算機設備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)如第一方面所述方法的步驟。

13、本申請實施例的第四方面提供了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如第一方面所述方法的步驟。

14、本申請的第五方面提供了一種計算機程序產(chǎn)品，包括計算機可讀代碼，或者承載有計算機可讀代碼的非易失性計算機可讀存儲介質，當所述計算機可讀代碼在電子設備中運行時，所述電子設備中的處理器執(zhí)行如上述第一方面所述方法中的步驟。

15、本申請實施例中上述方案，通過對pid參數(shù)中的每一參數(shù)依次執(zhí)行設定次數(shù)的數(shù)值調整，由此得到多個調試pid參數(shù)，分別生成與每一試pid參數(shù)相應的升溫曲線，通過曲線擬合的方式得到控制當前發(fā)熱體加熱的理想升溫曲線，進而在該曲線基礎上，反推得到pid參數(shù)中各參數(shù)的目標值，實現(xiàn)溫控參數(shù)的調試確定，有效提升數(shù)據(jù)調試效率，確保參數(shù)的溫控有效性。

技術特征：

1.一種溫控參數(shù)的調試方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對pid參數(shù)中的每一參數(shù)依次執(zhí)行設定次數(shù)的數(shù)值調整，得到多個調試pid參數(shù)，包括：

3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述從pid參數(shù)中依次確定調整參數(shù)及固定參數(shù)，包括：

4.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述從pid參數(shù)中依次確定調整參數(shù)及固定參數(shù)之前，還包括：

5.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對pid參數(shù)中的每一參數(shù)依次執(zhí)行設定次數(shù)的數(shù)值調整，得到多個調試pid參數(shù)之前，還包括：

6.根據(jù)權利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于每一所述調試pid參數(shù)，分別生成相應的升溫曲線，包括：

7.根據(jù)權利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，還包括：

8.一種溫控數(shù)據(jù)的調試裝置，其特征在于，包括：

9.一種計算機設備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)如權利要求1至7任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權利要求1至7任一項所述方法的步驟。

技術總結
本申請適用于數(shù)據(jù)調試領域，提供一種溫控參數(shù)的調試方法、裝置、設備及存儲介質，其中方法包括：對PID參數(shù)中的每一參數(shù)依次執(zhí)行設定次數(shù)的數(shù)值調整，得到多個調試PID參數(shù)；基于每一調試PID參數(shù)，分別生成相應的升溫曲線；對升溫曲線進行擬合，得到目標曲線；對目標曲線進行解析，得到目標PID參數(shù)。該方案有效提升數(shù)據(jù)調試效率，確保參數(shù)的溫控有效性。

技術研發(fā)人員：孫天宇
受保護的技術使用者：深圳市基克納科技有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/12/30