16的數(shù)量、類型和標(biāo)識，用戶的標(biāo)識，集成電路的批次的標(biāo)識和大小，每一個測試器16的連接方法，以及用于測試的其它細(xì)節(jié)等。用戶還可以監(jiān)視狀態(tài)，控制測試的開始和停止，以及監(jiān)視影響測試的擁塞或其它警報情形。
[0021]回到圖1，每一個測試器16優(yōu)選分配給在相應(yīng)的測試站14中的一個集成電路，并且優(yōu)選連接到相應(yīng)的集成電路以用于在測試期間進行評估。出于此目的，每一個測試器16包括測試器側(cè)接駁板30，其經(jīng)由線纜32與操作裝置12處的操作裝置側(cè)接駁板連接。接駁線纜32優(yōu)選單獨用于將集成電路耦接到相應(yīng)的測試器16的目的，并且優(yōu)選在測試器16和操作裝置12之間不發(fā)生經(jīng)由接駁線纜32的通信，因為所有這樣的通信應(yīng)當(dāng)通過控制器22進行。
[0022]接駁線纜32優(yōu)選是常規(guī)的軟接駁線纜，但是也可以使用專用線纜。操作裝置側(cè)接駁板34優(yōu)選接受來自多個測試器16的多個線纜連接，但是也可以使用路由器(未示出)從而使得操作裝置側(cè)接駁板34僅具有一個連接?？梢允褂肒elvin連接以允許測試器16在集成電路處的準(zhǔn)確測量。另外地，或替代地，可以在測試程序中增加偏移，以補償線纜損耗等。優(yōu)選地，從每一個測試器16到操作裝置12的線纜32的長度應(yīng)當(dāng)相等以簡化偏移計算。
[0023]還可以提供測試頭40，以與操作裝置12接口連接以支撐集成電路。例如，測試頭40可以包括對于集成電路測試所必要的插槽或其它連接，并且操作裝置側(cè)接駁板34可以連接到測試頭40或者形成為測試頭40的一部分。在期望時，測試頭40可以與操作裝置12集成，或者，可以從操作裝置12拆卸。
[0024]利用在此描述并要求權(quán)利保護的系統(tǒng)10，可以實現(xiàn)顯著的成本節(jié)約，可能在百萬美元量級上。例如，代替購買大量的操作裝置12(其每一個連接到一個測試器16)，可以購買單個操作裝置12，其可以應(yīng)對所有的測試器16。由于操作裝置12可能價值數(shù)十萬美元，包括必要的用于測試的工具包，將四個操作裝置12減少到一個潛在地可以節(jié)省至少一百萬美元。這是尤其顯著的，因為在操作裝置12或測試器16處不需要作改變或者需要很少的改變，并且用戶可以從單個位置(即，控制器22處)操作所有的測試器16。
[0025]在前述的說明中，已經(jīng)參考本發(fā)明實施例的具體示例說明了本發(fā)明。然而，將明白，對其可以進行多種修改和改變而不偏離如所附權(quán)利要求提出的本發(fā)明的寬泛的精神和范圍。
[0026]本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到，上述的操作之間的分界僅僅是示例性的。多個操作可以組合到單個操作中，單個操作可以分配在若干附加的操作中，并且操作至少部分時間交迭地執(zhí)行。另外，替代的實施例可以包括特定的操作的多個實例，并且在多種其它實施例中操作的順序可以改變。
[0027]此外，說明書和權(quán)利要求中的術(shù)語“前” “后” “頂” “底” “上” “下”等(如果有的話)用于描述性的目的，并不必然用于描述永久性的相對位置。應(yīng)理解，如此使用的術(shù)語是在適當(dāng)情況下可互換的，從而使得在此描述的本發(fā)明的實施例例如能夠以與在此所示的或以另外的方式描述的不同的取向操作。
[0028]在權(quán)利要求中，詞‘包括’或‘具有'并不排除權(quán)利要求中所列出的元件或步驟之外的其它元件或步驟的存在。另外，如在此所使用的術(shù)語“一”(“a”或“an”)被定義為一個或一個以上。此外，權(quán)利要求中引入性的短語諸如"至少一個”和"一個或更多個"的使用不應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為暗示了通過不定冠詞"a"或"an"(—)而對另一權(quán)利要求要素的引入將含這樣引入的權(quán)利要求要素的任何特定權(quán)利要求限制到僅包含一個這樣的要素的發(fā)明，即使在同一權(quán)利要求包括引入性的短語"一個或更多個"或"至少一個”以及“一”(不定冠詞諸如"a"或"an")時也是如此。對于定冠詞的使用也是如此。除非以另外的方式說明，諸如“第一”和“第二”的術(shù)語被用來任意地區(qū)分這樣的術(shù)語描述的要素。因此，這些術(shù)語并不必然意圖表示這些要素的時間上的或其它優(yōu)先級。在彼此不同的權(quán)利要求中引述了某些措施的事實并不表示這樣的措施的組合不可以用來突出優(yōu)點。
【主權(quán)項】
1.一種用于同時測試多個半導(dǎo)體元件的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括: 多個測試器，每一個包括處理器和存儲器、測試器側(cè)接駁板、以及測試器通信端口，所述處理器和存儲器被配置來存儲以及執(zhí)行用于完成測試所述多個半導(dǎo)體元件中的一個半導(dǎo)體元件的控制信號； 操作裝置，其具有多個測試站、操作裝置側(cè)接駁板、以及操作裝置通信端口，每一個測試站被配置來接收所述多個半導(dǎo)體元件中的一個；以及 控制器，其位于所述多個測試器以及所述操作裝置外部，并且通過所述測試器以及操作裝置通信端口與所述操作裝置和所述多個測試器中的每一個通信， 其中所述操作裝置和所述多個測試器中的每一個之間的通信通過所述控制器進行，并且所述多個測試器中的每一個經(jīng)由所述測試器側(cè)接駁板，通過操作裝置側(cè)接駁板，連接到所述多個半導(dǎo)體元件中的相應(yīng)一個。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述測試器通信端口和所述操作裝置通信端口利用通用接口總線GPIB線纜連接到所述控制器。
3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述控制器被配置來將從所述多個測試器中的每一個接收的控制信號格式化以用于發(fā)送到所述操作裝置。
4.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述控制器被配置來將從所述操作裝置接收的反饋信號格式化以用于發(fā)送到所述多個測試器中的一個或多個。
5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述控制器包括用戶界面，其被配置來允許用戶控制所述多個測試器和所述操作裝置的操作。
6.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，還包括測試頭，其與所述操作裝置接口連接來支撐所述多個半導(dǎo)體元件。
7.一種用于同時測試多個半導(dǎo)體元件的方法，所述方法包括: 將多個測試器以及操作裝置連接到外部控制器，每一個所述測試器包括處理器和存儲器，被配置來存儲和執(zhí)行用于完成所述多個半導(dǎo)體元件中的一個的測試的控制信號，所述操作裝置具有多個測試站，每一個測試站被配置來接收所述多個半導(dǎo)體元件中的一個； 輸入所述多個半導(dǎo)體元件到所述操作裝置，所述半導(dǎo)體元件中的每一個被分配到單個測試器； 經(jīng)由所述控制器從所述多個測試器發(fā)送控制信號到所述操作裝置，以進行相應(yīng)的半導(dǎo)體元件的測試；以及 在相應(yīng)分配的測試器完成測試之后，從所述操作裝置輸出每一個所述多個半導(dǎo)體元件。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中利用通用接口總線GPIB線纜執(zhí)行所述測試器和所述操作裝置到所述控制器的連接。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，還包括:通過所述控制器，將從所述多個測試器中的每一個接收的控制信號格式化以用于發(fā)送到所述操作裝置。
10.如權(quán)利要求7所述的方法，還包括:通過所述控制器，將從所述操作裝置接收的反饋信號格式化以用于發(fā)送到所述多個測試器中的一個或多個。
11.如權(quán)利要求7所述的方法，還包括:通過與所述控制器通信的用戶界面操作所述多個測試器以及所述操作裝置。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括:將測試頭與所述操作裝置接口連接來支撐所述多個半導(dǎo)體元件。
【專利摘要】本發(fā)明涉及智能操作裝置資源分配系統(tǒng)和方法。所述系統(tǒng)包括：多個測試器，測試器側(cè)接駁板、以及測試器通信端口，每一個測試器包括處理器和存儲器，被配置來存儲以及執(zhí)行用于同時測試所述多個半導(dǎo)體元件中的一個的控制信號。操作裝置具有多個測試站、操作裝置側(cè)接駁板、以及操作裝置通信端口，每一個測試站被配置來接收所述多個半導(dǎo)體元件中的一個?？刂破魑挥谒龆鄠€測試器以及所述操作裝置外部，并且通過所述測試器以及操作裝置通信端口與所述多個測試器和所述操作裝置中的每一個通信。每一個所述多個測試器的和所述操作裝置之間的通信通過所述控制器進行。
【IPC分類】G05B19-418, G01R31-26
【公開號】CN104570990
【申請?zhí)枴緾N201310519678
【發(fā)明人】陶立峰
【申請人】飛思卡爾半導(dǎo)體公司
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2013年10月29日
【公告號】US20150120234