專利名稱：：可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及磁碟陣列技術(shù)，尤指一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，其主要利用陣列配置數(shù)據(jù)中的同一陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，與陣列磁碟數(shù)目及磁碟的順序與功能等數(shù)據(jù)交互比對，可籍以快速檢驗陣列配置數(shù)據(jù)的正確性。本發(fā)明的磁碟陣列配置檢驗方法可運用于各式磁碟陣列系統(tǒng)，尤其是如圖1所示的多重磁碟陣列系統(tǒng)中。該多重磁碟陣列系統(tǒng)的主要結(jié)構(gòu)包含至少一個電腦12、一介面卡14、復(fù)數(shù)個獨立磁碟機(jī)191與193、及復(fù)數(shù)個各類型磁碟陣列，如第一磁碟陣列16、第二磁碟陣列17及第三磁碟陣列18。其中第一磁碟陣列16可為一RAID0陣列，包含有一第一磁碟機(jī)161及一第二磁碟機(jī)163；第二磁碟陣列17為一RAID0+1陣列，包含有一第分帶磁碟機(jī)(stripedisk)171、一第二分帶磁碟機(jī)173、一第一鏡像磁碟機(jī)(mirrordisk)175及一第二鏡像磁碟機(jī)177；第三磁碟陣列18為一RAID1陣列，包含有一來源磁碟機(jī)(sourcedisk)181、一鏡像磁碟機(jī)183及一備份磁碟機(jī)(sparedisk)185。該電腦12利用介面卡14以連接該復(fù)數(shù)個磁碟陣列及復(fù)數(shù)個獨立磁碟機(jī)。當(dāng)主電腦12欲存取數(shù)據(jù)時，可先辨識該數(shù)據(jù)的地址屬于那一個磁碟陣列或獨立磁碟機(jī)，再通過該介面卡14對該磁碟陣列或磁碟機(jī)進(jìn)行存取。對于如此龐大的結(jié)構(gòu)，其配置數(shù)據(jù)的正確性就變得非常重要，只要一點小小的錯誤，就有可能導(dǎo)致系統(tǒng)產(chǎn)生嚴(yán)重的偏差。因此，如何針對上述可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置，設(shè)計出一種良好的檢驗方法，不僅可有效并正確檢驗其陣列配置數(shù)據(jù)，且可大幅縮短驗證所需的時間，長久以來一直是使用者殷切盼望及本發(fā)明人欲行解決的困難點所在，而本發(fā)明人基于多年從事于資訊產(chǎn)業(yè)的相關(guān)研究、開發(fā)、及銷售的實務(wù)經(jīng)驗，乃思及改良的意念，經(jīng)多方設(shè)計、探討、實作及改良后，終于研究出一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，以解決上述的問題。本發(fā)明的次要目的，在于提供一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，可利用陣列配置數(shù)據(jù)中的陣列磁碟數(shù)目與同一陣列各磁碟機(jī)的序號校驗和所記載的數(shù)目比對，籍以檢驗配置數(shù)據(jù)中陣列所屬磁碟機(jī)的數(shù)目是否正確。本發(fā)明的又一目的，在于提供一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，可利用陣列配置數(shù)據(jù)中的磁碟順序與功能記錄與同一陣列各磁碟機(jī)的序號校驗和之中的各磁碟機(jī)的排列位置做比對，藉以檢驗配置數(shù)據(jù)中各磁碟機(jī)的順序與功能是否正確。為了達(dá)成上述的目的，本發(fā)明提供一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，該磁碟陣列系統(tǒng)中，各陣列所屬的磁碟機(jī)儲存有一陣列配置，該陣列配置至少包含有一陣列磁碟數(shù)目、一磁碟順序與功能及同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，該方法包含有下列步驟讀取陣列配置數(shù)據(jù)；取得陣列磁碟數(shù)目；讀取同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和；及比對陣列磁碟數(shù)目與該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和所載的磁碟機(jī)數(shù)目。本發(fā)明還提出一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，該磁碟陣列系統(tǒng)中，各陣列所屬的磁碟機(jī)儲存有一陣列配置，該陣列配置至少包含有一陣列磁碟數(shù)目、一磁碟順序與功能及同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，其中該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和是將各磁碟陣列中所屬磁碟機(jī)的序號校驗和依其順序與功能排列，其配置的檢驗方法包含下列步驟讀取陣列配置數(shù)據(jù)；取得磁碟順序與功能；讀取同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和；及比對該磁碟順序與功能與該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和所載該磁碟機(jī)序號校驗和的位置。本發(fā)明的一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，其主要利用陣列配置數(shù)據(jù)中的同一陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，與陣列磁碟數(shù)目及磁碟順序與功能等數(shù)據(jù)交互比對，可籍以快速檢驗陣列配置數(shù)據(jù)的正確性。具體實施例方式首先，請參閱圖2、圖3及圖4，分別為本發(fā)明一較佳實施例可運用的磁碟陣列系統(tǒng)的配置結(jié)構(gòu)說明圖。本發(fā)明的檢驗方法主要是利用陣列配置數(shù)據(jù)中，記錄磁碟陣列的數(shù)據(jù)與記錄各磁碟機(jī)的數(shù)據(jù)交互比對，籍以檢驗陣列配置數(shù)據(jù)的正確性。故各磁碟陣列的配置數(shù)據(jù)至少應(yīng)包含有一陣列磁碟數(shù)目、一磁碟順序與功能及同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和(serialchecksum)等數(shù)據(jù)。其中該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，是將各磁碟機(jī)的序號校驗和依其于陣列中的順序及功能排列而得。以如圖所示的陣列配置結(jié)構(gòu)為例，其主要包含有一陣列標(biāo)幟(signature)、一版本識別、一陣列資訊及磁碟資訊、同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和及一陣列配置校驗和。其中，圖2概略說明陣列配置中各項數(shù)據(jù)的位置與型態(tài)。如陣列標(biāo)幟是以一個WORD(16bits)的數(shù)據(jù)型態(tài)位于陣列配置中偏移量(offset)0的位置。版本識別則以1BYTE的數(shù)據(jù)型態(tài)位于偏移量2的位置。陣列資訊及磁碟資訊則共有15bytes，位于偏移量3的位置，分別記錄該磁碟陣列及該陣列磁碟機(jī)的相關(guān)數(shù)據(jù)與狀態(tài)。同一磁碟陣列各磁碟機(jī)的序號校驗和則分別以DWORD(doubleword；32bits)的數(shù)據(jù)型態(tài)，將該陣列所屬各磁碟機(jī)的序號校驗和依其功能與順序儲存于偏移量18、22、26、30、34、38、42及46的位置。其中，該序號校驗和可將各磁碟機(jī)的型號(modelnumber)、序列號(serialnumber)及固件版本(firmwarerevisionnumber)等加以運算而得。陣列配置校驗和則是以一個BYTE的數(shù)據(jù)型態(tài)儲存于偏移量50的位置，利用整個陣列配置數(shù)據(jù)做運算而得，可用以檢驗陣列配置數(shù)據(jù)是否發(fā)生錯誤。圖3及圖4，分別對該陣列配置中各磁碟陣列的陣列資訊及各陣列磁碟機(jī)的磁碟資訊做較詳細(xì)的說明。陣列資訊中，第0至第2位元(bit)標(biāo)示一陣列中所包含的磁碟機(jī)數(shù)目，可直接以數(shù)值記錄，亦可依各種陣列類型的不同而采不同的計數(shù)方法。在本例中，RAID0陣列記錄其所有磁碟機(jī)的數(shù)量；RAID1陣列則記錄其備份磁碟的數(shù)量，即可由此推算該陣列的磁碟機(jī)總數(shù)；RAID0+1陣列記錄其分帶磁碟的數(shù)量，其倍數(shù)即為陣列磁碟的總數(shù)；Span陣列亦可直接記錄其磁碟機(jī)的總數(shù)。其第3位元為陣列完整旗幟(arraybrokenflag)。第4至第7位元用以標(biāo)示磁碟陣列的類型，如RAID0、RAID1到RAID7陣列分別用0到7的數(shù)值表示，Span及RAID0+1等其他特殊陣列則用其他數(shù)值如8、9等加以標(biāo)示。第8至第10位元標(biāo)示各陣列于磁碟系統(tǒng)中的序號。第11至第14位元記錄數(shù)據(jù)分帶的大小，利用不同的數(shù)值代表4k、8k、16k、32k或是64k等不同的單位。第15至第46位元則記錄各磁碟機(jī)中磁碟陣列可使用的容量。第47至第63位元為保留位元，可做為擴(kuò)充之用。磁碟資訊中，第0位元為啟動欄，標(biāo)示該磁碟陣列是否具有啟動功能(bootable)。第1位元為優(yōu)化欄位，第2至第33位元則用以記錄各磁碟機(jī)本身的序號校驗和。第34至第38位元用以標(biāo)示各磁碟機(jī)于磁碟陣列中的順序及其功能。于RAID0及Span陣列中，標(biāo)示該磁碟機(jī)于陣列中的順序。RAID1陣列則以第34至第35位元標(biāo)示該磁碟機(jī)為來源、鏡像或備份磁碟機(jī)，另以第36位元標(biāo)示其是否需進(jìn)行同步(synchronize)動作。RAID0+1陣列則利用第34至第36位元記錄該磁碟機(jī)于分帶子陣列(stripe-array)中的順序，第37位元標(biāo)示該磁碟機(jī)位于來源分帶子陣列(stripe-array)或鏡像分帶子陣列(stripe-array)中，第38位元則標(biāo)示該磁碟機(jī)是否需進(jìn)行同步(synchronize)動作。另有第39至第55位元為保留位元，可做為擴(kuò)充之用。最后，請參閱圖5，是本發(fā)明一較佳實施例的步驟流程圖。如圖所示，運用本發(fā)明以檢驗上述的陣列配置時，首先需讀取該陣列配置數(shù)據(jù)中的陣列資訊501；并由該陣列資訊中取得陣列的類型為RAID0、RAID1、RAID0+1或其他類型的陣列503。讀取陣列磁碟數(shù)目的數(shù)據(jù)，再根據(jù)陣列類型計算該磁碟陣列所屬的磁碟機(jī)數(shù)目505。計算陣列配置數(shù)據(jù)中同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和部分所列的序號校驗和數(shù)目，并比對與由步驟505所得的磁碟機(jī)數(shù)目是否一樣507；若否，則該陣列配置數(shù)據(jù)必定發(fā)生錯誤523，需重新修正；若是，則初步檢驗正確，可進(jìn)行步驟509，讀取陣列配置的磁碟資訊。接著，由磁碟資訊中的磁碟順序與功能數(shù)據(jù)，配合陣列類型而解讀各磁碟機(jī)于該陣列中的順序與功能511。由于陣列配置數(shù)據(jù)中，同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，是將該磁碟陣列所屬各磁碟機(jī)的序號校驗和依其順序與功能排列，故可比對步驟511所得各磁碟機(jī)的功能與順序是否一致513；若否，則表示該陣列的配置數(shù)據(jù)發(fā)生錯誤523；若是，則該陣列配置數(shù)據(jù)應(yīng)正確無誤而系統(tǒng)可正常運作515。通過以上所述的陣列配置檢驗方法及流程，即可于一磁碟陣列系統(tǒng)中快速而有效檢驗其陣列配置的數(shù)據(jù)是否正確，不僅可確保磁碟陣列系統(tǒng)的正常運作，且可大幅減少陣列配置數(shù)據(jù)繁復(fù)驗證所需的時間。綜上所述，本發(fā)明的一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，其主要利用陣列配置數(shù)據(jù)中的同一陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，與陣列磁碟數(shù)目及磁碟順序與功能等數(shù)據(jù)交互比對，可籍以快速檢驗陣列配置數(shù)據(jù)的正確性。故本發(fā)明實為一富有新穎性、進(jìn)步性，及可供產(chǎn)業(yè)利用功效者，應(yīng)符合專利申請要件無疑，爰依法提請發(fā)明專利申請，懇請貴審查委員早日賜予本發(fā)明專利，實感德便。雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此項技藝者，在不脫離本發(fā)明之精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可做些許更動與潤飾，因此本發(fā)明之保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求書范圍所界定者為準(zhǔn)。權(quán)利要求1.一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，其特征是該磁碟陣列系統(tǒng)中，各陣列所屬的磁碟機(jī)儲存有一陣列配置，該陣列配置至少包含有一陣列磁碟數(shù)目、一磁碟順序與功能及同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，該方法包含有下列步驟讀取陣列配置數(shù)據(jù)；取得陣列磁碟數(shù)目；讀取同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和；及比對陣列磁碟數(shù)目與該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和所載的磁碟機(jī)數(shù)目。2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，是將各磁碟陣列中所屬磁碟機(jī)的序號校驗和依其順序與功能排列。3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征是還包含有下列步驟取得陣列配置中的磁碟順序與功能數(shù)據(jù)；及比對該磁碟慎序與功能數(shù)據(jù)與該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和的順序。4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是各磁碟機(jī)的序號校驗和是利用各磁碟機(jī)的型號、序列號及固件版本運算而得。5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征是該陣列配置還包含有一陣列類型，而其陣列磁碟數(shù)目的記錄方法與陣列類型相關(guān)聯(lián)。6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征是該取得陣列磁碟數(shù)目的方法包含有下列步驟讀取陣列類型；讀取該陣列類型相關(guān)的陣列磁碟數(shù)目記錄；及計算該陣列所包含的磁碟機(jī)的數(shù)目。7.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征是該陣列配置還包含有一陣列類型，而其磁碟順序與功能的記錄方法與陣列類型相關(guān)聯(lián)。8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征是該取得陣列配置中的磁碟順序與功能數(shù)據(jù)的方法包含有下列步驟讀取陣列類型；讀取該陣列類型相關(guān)的磁碟順序與功能記錄；及演算取得各磁碟的順序及功能。9.一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，其特征是該磁碟陣列系統(tǒng)中，各陣列所屬的磁碟機(jī)儲存有一陣列配置，該陣列配置至少包含有一陣列磁碟數(shù)目、一磁碟順序與功能及同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和，其中該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和是將各磁碟陣列中所屬磁碟機(jī)的序號校驗和依其順序與功能排列，其配置的檢驗方法包含下列步驟讀取陣列配置數(shù)據(jù)；取得磁碟順序與功能；讀取同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和；及比對該磁碟順序與功能與該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和所載該磁碟機(jī)序號校驗和的位置。10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征是還包含有下列步驟取得陣列磁碟數(shù)目；及比對該陣列磁碟數(shù)目與該同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和所載的磁碟機(jī)數(shù)目。11.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征是各磁碟機(jī)的序號校驗和是利用各磁碟機(jī)的型號、序列號及固件版本運算而得。12.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征是陣列配置還包含有一陣列類型，而其磁碟順序與功能的記錄方法與陣列類型相關(guān)聯(lián)。13.如權(quán)利要求12所述的方法，其特征是該取得磁碟順序與功能的方法包含有下列步驟讀取陣列類型；讀取該陣列類型相關(guān)的磁碟順序與功能記錄；及演算取得各磁碟于該磁碟陣列中的傾序與功能。14.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征是該陣列配置還包含有一陣列類型，而其陣列磁碟數(shù)目的記錄方法與陣列類型相關(guān)聯(lián)。15.如權(quán)利要求14所述的方法，其特征是該取得陣列配置中該陣列所包含的磁碟機(jī)數(shù)目的方法包含有下列步驟讀取陣列類型；讀取該陣列類型相關(guān)的陣列磁碟數(shù)目記錄；及計算該陣列所包含的磁碟機(jī)的數(shù)目。全文摘要本發(fā)明系有關(guān)于一種磁碟陣列配置的檢驗方法，尤指一種可適用多重磁碟陣列系統(tǒng)的陣列配置檢驗方法，其主要實施步驟系包含有讀取磁碟的陣列配置數(shù)據(jù)；依陣列類型取得陣列磁碟數(shù)目；讀取同一磁碟陣列各磁碟機(jī)的序號校驗和；比對所得的陣列磁碟機(jī)數(shù)目與同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和所記錄的磁碟機(jī)數(shù)目是否一樣；取得陣列配置中的磁碟)IW序與功能；比對磁碟順序與功能的記錄與同一磁碟陣列中各磁碟機(jī)的序號校驗和所記錄的磁碟機(jī))順序是否一致，如此，利用陣列配置中的數(shù)據(jù)交互比對，即可快速檢驗該陣列配置的數(shù)據(jù)是否正確無誤者。文檔編號G06F11/08GK1425983SQ0215912公開日2003年6月25日申請日期2002年12月25日優(yōu)先權(quán)日2002年12月25日發(fā)明者王君毅,胡國玉申請人:威盛電子股份有限公司