專利名稱：顯示器件的制造方法及其制造裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示器件、有機(jī)EL(場(chǎng)致發(fā)光)顯示器件、CRT(陰極射線管)等顯示器件中寫入其E-EDID信息用的制造方法。
已有技術(shù)正在推進(jìn)有關(guān)視像技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化，存在進(jìn)行圖形環(huán)境的標(biāo)準(zhǔn)制訂和支持的視像電子標(biāo)準(zhǔn)制訂協(xié)會(huì)(Video Electronics Standards AssociationVESA)。
該VESA在2000年2月1日重新闡明涉及計(jì)算機(jī)顯示的4種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。
第1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范是“強(qiáng)化擴(kuò)展標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)(E-EDID)(Enhanced EstendedIdentification data)”。該E-EDID規(guī)定將顯示功能和ID傳給主計(jì)算機(jī)用的數(shù)據(jù)格式，由128字節(jié)構(gòu)成數(shù)據(jù)。
第2標(biāo)準(zhǔn)是“強(qiáng)化顯示數(shù)據(jù)信道(E-DDC)(Enhanced Display DataChannel)”，該E-DDC是規(guī)定顯示設(shè)備與主計(jì)算機(jī)之間的通信信道的規(guī)范，雙向收發(fā)數(shù)據(jù)。而且，使用該信道進(jìn)行配置的設(shè)定和控制，擴(kuò)充已有的DDC，以便處理大量數(shù)據(jù)。
第3標(biāo)準(zhǔn)是“VESA通用化定時(shí)準(zhǔn)則(GTF)(VESA Generalized TimingFormula)”，該GTF涉及產(chǎn)生顯示定時(shí)的方案，并對(duì)其進(jìn)行規(guī)定，將顯示的刷新速率加以固定，不需要預(yù)先設(shè)定。
第4標(biāo)準(zhǔn)是“視像信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)(VSIS)(Video Signal Standard)”，該VSIS將模擬視像信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)化，適應(yīng)顯示設(shè)備和圖形卡的發(fā)展。
近來不斷出現(xiàn)在液晶顯示器件寫入以上說明的E-EDID信息進(jìn)行銷售的廠商。其原因在于利用寫入該E-EDID信息，能判別該顯示器件的履歷。
于是，液晶顯示的驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置ROM IC，以便在液晶顯示器件存儲(chǔ)該E-EDID信息。
作為這種存儲(chǔ)的方法，對(duì)液晶顯示器件制作完成且圖像檢查圖像合格的產(chǎn)品寫入該E-EDID信息。
然而，為了寫入該E-EDID信息，要增加工序，另行連接寫入裝置，而且另行輸入該液晶顯示器件的種類，存在作業(yè)工序增多的問題。
因此，本發(fā)明鑒于上述問題，提供一種顯示器件制造方法，對(duì)顯示器件寫入制造覆歷數(shù)據(jù)時(shí)，不增加工序就能進(jìn)行寫入。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明第1方面的液晶器件制造方法，用于對(duì)液晶顯示器件、有機(jī)EL顯示器件、CRT等顯示器件設(shè)置的記錄媒體寫入包含制造編號(hào)、制造年周和顯示器件規(guī)格數(shù)據(jù)的制造覆歷數(shù)據(jù)，其特征在于具有選擇圖像檢查裝置所存儲(chǔ)適合所述顯示器件的圖像測(cè)試數(shù)據(jù)以便對(duì)所述顯示器件進(jìn)行圖像檢查的測(cè)試數(shù)據(jù)選擇工序、讀入所述顯示器件的制造編號(hào)的制造編號(hào)讀入工序、從所述圖像檢查裝置調(diào)用所述選擇的圖像測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的顯示器件所涉及制造覆歷數(shù)據(jù)中的所述規(guī)格數(shù)據(jù)并且將該調(diào)用的規(guī)格數(shù)據(jù)以及所述讀入的制造編號(hào)和所述圖像檢查裝置中計(jì)時(shí)器計(jì)量的當(dāng)前制造年周作為制造覆歷數(shù)據(jù)寫入所述記錄媒體的覆歷數(shù)據(jù)寫入工序，以及根據(jù)所述選擇的圖像測(cè)試數(shù)據(jù)由所述圖像檢查裝置進(jìn)行所述顯示器件的圖像檢查的圖像檢查工序。
本發(fā)明的第2方面為第1方面所述的顯示器件制造方法，其特征在于，在與所述選擇的圖像測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的顯示器件種類是寫入制造覆歷數(shù)據(jù)的種類時(shí)，進(jìn)行所述讀入工序，不是寫入制造覆歷數(shù)據(jù)的種類時(shí)，進(jìn)行所述圖像檢查工序。
本發(fā)明第3方面為第1方面顯示器件制造方法，所述記錄媒體已寫入制造覆歷數(shù)據(jù)時(shí)，進(jìn)行讀出所述記錄媒體所記錄制造覆歷數(shù)據(jù)的制造覆歷數(shù)據(jù)讀出工序、判別所述讀出的制造覆歷數(shù)據(jù)是正常還是異常的判別工序，以及所述制造覆歷數(shù)據(jù)正常時(shí)在所述讀出的制造覆歷數(shù)據(jù)上蓋寫所述圖像檢查裝置測(cè)量的當(dāng)前制造年周的所述圖像檢查工序；所述制造覆歷數(shù)據(jù)異常時(shí)，進(jìn)行所述制造履歷數(shù)據(jù)寫入工序。
本發(fā)明的第4方面是一種顯示器件的制造裝置，特征在于具有存儲(chǔ)顯示器件各品種所對(duì)應(yīng)多個(gè)圖像測(cè)試數(shù)據(jù)和所述多個(gè)圖像測(cè)試數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的所述尺寸數(shù)據(jù)的第1存儲(chǔ)部、存儲(chǔ)所述制造編號(hào)的第2存儲(chǔ)部、測(cè)量年周數(shù)據(jù)的計(jì)時(shí)器、連接所述顯示器件的接口部、將所述第1存儲(chǔ)部和第2存儲(chǔ)部存儲(chǔ)的各數(shù)據(jù)和所述年周數(shù)據(jù)發(fā)送到所述接口的控制部。
本發(fā)明中，可將制造覆歷數(shù)據(jù)的寫入和圖像檢查作為采用公共圖像檢查裝置的一系列步驟進(jìn)行處理，因而能使生產(chǎn)效率飛躍提高。
本發(fā)明中，制造覆歷數(shù)據(jù)包含顯示器件的制造偏號(hào)數(shù)據(jù)、制造年周數(shù)據(jù)和識(shí)別該顯示器件品種聽規(guī)格數(shù)據(jù)。制造編號(hào)數(shù)據(jù)是本發(fā)明制造工序前利用條形碼標(biāo)記等形式賦予顯示器件的序列號(hào)。但不限于此，也可采用將序列號(hào)預(yù)先存儲(chǔ)到顯示器件中只讀存儲(chǔ)器集成電路(ROM-IC)的方法。
制造年周數(shù)據(jù)由公歷制造年份數(shù)據(jù)和制造周數(shù)據(jù)(1～53周，閏年為54周)構(gòu)成，在本發(fā)明制造覆歷數(shù)據(jù)寫入工序的時(shí)刻，將檢查裝置中計(jì)時(shí)器計(jì)量的年周數(shù)據(jù)寫入顯示器件的存儲(chǔ)媒體。
規(guī)格數(shù)據(jù)由顯示器件屏幕縱橫尺寸的數(shù)據(jù)、各種推薦定時(shí)(水平顯示周期、水平消隱、垂直顯示周期、垂直消隱等)的數(shù)據(jù)等，以及從各種規(guī)格數(shù)據(jù)中可識(shí)別該顯示器件品種(顯示器件制造商管理的顯示器件型號(hào))的數(shù)據(jù)的組合構(gòu)成。該規(guī)格數(shù)據(jù)的組合可根據(jù)用戶的要求改變，但最好依據(jù)E-EDID規(guī)范等的標(biāo)準(zhǔn)化的機(jī)型碼。該E-EDID規(guī)范如上文所述，通常能得到。
圖像測(cè)試數(shù)據(jù)由驅(qū)動(dòng)顯示器件的各種定時(shí)信號(hào)、圖像數(shù)據(jù)等構(gòu)成，在檢查裝置中內(nèi)建的硬盤等驅(qū)動(dòng)器等第1存儲(chǔ)部存儲(chǔ)屏幕尺寸、動(dòng)作定時(shí)、驅(qū)動(dòng)電壓等不同品種分別對(duì)尖的多種測(cè)試數(shù)據(jù)。檢查裝置的操作者在顯示器件貼著的標(biāo)記等上確認(rèn)檢查對(duì)象的顯示器件品種(型號(hào))，從檢查裝置的監(jiān)視器顯示的測(cè)試數(shù)據(jù)文件名(作為與型號(hào)格式相同的文件名加以顯示)中選擇與檢查對(duì)像型號(hào)一致的文件名。
進(jìn)行編程，使選擇該測(cè)試數(shù)據(jù)文件名時(shí)，從相同檢查裝置內(nèi)建硬驅(qū)等第1存儲(chǔ)部存儲(chǔ)的規(guī)格數(shù)據(jù)中，自動(dòng)選擇與該選擇的測(cè)試數(shù)據(jù)文件名一致的文件名(即與檢查對(duì)象顯示器件的型號(hào)一致的文件名)的規(guī)格數(shù)據(jù)。制造覆歷寫入工序中，該選擇的規(guī)格數(shù)據(jù)與檢查裝置內(nèi)建RAM(隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)等存儲(chǔ)器構(gòu)成的第2存儲(chǔ)部中已取入的制造編號(hào)數(shù)據(jù)和計(jì)時(shí)器計(jì)量的年周數(shù)據(jù)一起，發(fā)送到接口部，并取入顯示器件的存儲(chǔ)媒體。測(cè)試數(shù)據(jù)和規(guī)格數(shù)據(jù)也可分別存放在檢查裝置內(nèi)建的分立硬盤裝置中。
而且，圖像檢查工序中，利用選擇的測(cè)試數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)顯示器件，用目視或攝像機(jī)等觀察其點(diǎn)亮狀態(tài)，檢查顯示有無缺陷。測(cè)試數(shù)據(jù)包含的圖像數(shù)據(jù)可根據(jù)檢查中用的圖像模式(全面點(diǎn)亮、黑白方格顯示等)的類型和顯示順序取為任意圖像數(shù)據(jù)。構(gòu)成檢查裝置系統(tǒng)的各硬件本身(控制裝置、存儲(chǔ)裝置、接口部)可采用各本行業(yè)者公知的結(jié)構(gòu)，在不脫離本發(fā)明要旨的范圍內(nèi)可取各種結(jié)構(gòu)。


圖1是示出本發(fā)明一實(shí)施例的圖像檢查裝置和液晶顯示器件的框圖。
圖2是圖像檢查和寫入工序的第1流程圖。
圖3是上述工序的第2流程圖。
圖4是示出E-EDID信息表的圖。
圖5是圖4表格的續(xù)圖。
附圖中10為圖像檢查裝置，12為液晶顯示器件，14為驅(qū)動(dòng)電路電路板，16為連接器，18為ROM，20為條形碼，22為計(jì)時(shí)器，24為操作箱，26為第1硬驅(qū)，28為第2硬驅(qū)，30為條形碼讀出端。
發(fā)明的實(shí)施形態(tài)下面，根據(jù)圖1至圖5，用本發(fā)明一實(shí)施例的圖像檢查裝置10說明液晶顯示器件12的圖像檢查和寫入制造覆歷數(shù)據(jù)的工序。本實(shí)施例中，依據(jù)E-EDID規(guī)范構(gòu)成制造履歷數(shù)據(jù)。
(1)液晶顯示器件12的結(jié)構(gòu)圖1是示出圖像檢查裝置10和液晶顯示器件12的框圖。
本實(shí)施例中，由公知的TFT(薄膜晶體管)液晶模件構(gòu)成檢查對(duì)象的顯示器件12。即，如圖1所示設(shè)置在含TFT陣列的兩塊玻璃基片間封入液晶的液晶顯示單元13背面的驅(qū)動(dòng)電路電路板14裝有圖中未示出的控制器IC，對(duì)由驅(qū)動(dòng)TFT陣列的掃描線驅(qū)動(dòng)電路和信號(hào)地址驅(qū)動(dòng)電路構(gòu)成的外圍驅(qū)動(dòng)電路分配外部輸入的圖像數(shù)據(jù)和其他時(shí)鐘信號(hào)，還裝有存儲(chǔ)E-EDID信息用的ROM18。而且，設(shè)置連接器16，具有多個(gè)端子用于輸出來自控制器IC外部的控制信號(hào)，并將E-EDID信息輸入到ROM 18。液晶顯示器件的背面還貼有表示液晶顯示器件12的制造編號(hào)的條形碼標(biāo)記20。
(2)圖像檢查裝置10的結(jié)構(gòu)圖像檢查裝置10輸出含圖像數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)，用于對(duì)液晶顯示器件進(jìn)行圖像檢查，并且具有圖像檢查前寫入E-EDID信息、讀出并確認(rèn)該信息的功能，其中與E-EDID信息的處理相連續(xù)地進(jìn)行圖像檢查。圖像檢查裝置10以計(jì)算機(jī)為主體構(gòu)成，具體而言，具有控制裝置的CPU25以及計(jì)量當(dāng)前年月日。時(shí)刻和周的計(jì)時(shí)器22。
在由硬盤構(gòu)成的第1硬驅(qū)26存儲(chǔ)與各種液晶顯示器件對(duì)應(yīng)、進(jìn)行圖像檢查用的測(cè)試數(shù)據(jù)，與該測(cè)試數(shù)據(jù)一一對(duì)應(yīng)的E-EDID信息則記錄于第2硬驅(qū)28。該E-EDID信息以規(guī)定格式(例如Acer(登記商標(biāo)))的文件形式加以記錄。
圖像檢查裝置還設(shè)置圖中未示出的接口部，用于對(duì)液晶顯示器件12從連接器16連接的連接電纜輸出存儲(chǔ)部所存儲(chǔ)用于檢查的各種數(shù)據(jù)和E-EDID信息。該接口部可用作為計(jì)算機(jī)硬件公知的結(jié)構(gòu)。
于是，選擇測(cè)試數(shù)據(jù)，就調(diào)用該選擇測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的E-EDID信息。各測(cè)試數(shù)據(jù)設(shè)置E-EDID標(biāo)記，用于判別是需要E-EDID信息的典型還是不需該信息的類型。該E-DID標(biāo)記表示“是”時(shí)，從第2硬驅(qū)28調(diào)用E-EDID信息。
這是由于因用戶而存在要求和不要求顯示器件存儲(chǔ)E-EDID的情況，為了應(yīng)付這兩種情況，在輸入測(cè)試數(shù)據(jù)的時(shí)刻確定確定需要還是不需要寫入E-EDID。因此，該標(biāo)記表示“否”的顯示器件不進(jìn)行E-EDID信息寫入，直接實(shí)施檢查工序，如后文所述，從而能縮短工序，提高生產(chǎn)效率。
還連接檢查員操作用的操作箱24，又連接條形碼讀出器30。操作箱24設(shè)置采用液晶顯示器的觸摸板，從用與顯示器件型號(hào)(例如，△××××(△表示字母，×表示0至9的整數(shù)))相同的格式表示的測(cè)試數(shù)據(jù)名中選擇與成為檢查對(duì)象的顯示器件的型號(hào)一致的名稱的文件。
(3)E-EDID信息的內(nèi)容下面，根據(jù)圖4和圖5說明E-EDID規(guī)范中規(guī)定的制造履歷數(shù)據(jù)。
E-EDID信息的地址由00至127的128字節(jié)數(shù)據(jù)構(gòu)成，各地址記錄該液晶顯示器件12涉及的制造履歷數(shù)據(jù)。
例如，地址16記錄制造周，地址17記錄制造年，地址21和地址22記錄最大水平顯示尺寸和最大垂直顯示尺寸。地址127記錄對(duì)地址00至126存在的全部數(shù)據(jù)求和所得的檢驗(yàn)和。
該檢驗(yàn)和用于判斷所述E-EDID信息正?；虍惓?，作為E-EDID規(guī)范，已標(biāo)準(zhǔn)化。對(duì)地址00至126存在的全部數(shù)據(jù)求和所得的檢驗(yàn)和數(shù)據(jù)中低端2位為00，則正常，00以外的數(shù)字則表示異常。
(4)圖像檢查和寫入E-EDID信息的工序下面，根據(jù)圖2和圖3的流程圖說明液晶顯示器件12中圖像檢查和寫入E-EDID信息的工序。
該工序位于液晶顯示器件12的末道工序，是液晶顯示器件在全部組裝完的狀態(tài)下進(jìn)行的工序。首先，液晶顯示器件12的連接器16連接檢查裝置10的連接電纜。
首先在圖像檢查前，進(jìn)行E-EDID的信息確認(rèn)。
步驟1中，對(duì)成為對(duì)象的液晶顯示器件12判斷是否可改變E-EDID信息。即，液晶顯示器件口未寫入E-EDID信息時(shí)，重新寫入E-EDID信息，已寫入E-EDID信息時(shí)，判定是否可用蓋寫方式寫入E-EDID信息。作為已寫入E-EDID信息的狀態(tài)，相當(dāng)于液晶顯示器件12進(jìn)行一次圖像檢查工序，不合格，作調(diào)整后，再進(jìn)行圖像檢查的情況。
然后，在可改變E-EDID信息時(shí)，進(jìn)至步驟2；不可改變時(shí)，進(jìn)至步驟3。
步驟2中，由于可改變E-EDID信息，進(jìn)至步驟4，選擇用于根據(jù)液晶顯示器件12的類型進(jìn)行圖像檢查的測(cè)試數(shù)據(jù)。
步驟3中，禁止改變E-EDID信息，因而用實(shí)用菜單對(duì)該液晶顯示器件12設(shè)定為查讀模式(READCHEK模式)。該查讀模式用于判斷已寫入的E-EDID信息是正常還是異常，并且在后續(xù)步驟中執(zhí)行。
步驟4中，對(duì)圖像檢查裝置10所調(diào)用圖像檢查涉及的測(cè)試數(shù)據(jù)判斷E-EDID標(biāo)記示“是”或示“否”。即，E-EDID標(biāo)記示“否”時(shí)，進(jìn)行檢查工序，還寫入E-EDID信息。反之，E-EDID標(biāo)記示“是”時(shí)，進(jìn)入步驟5。
步驟5中，判斷與測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的E-EDID信息是否在第2硬件28中。該E-EDID信息與測(cè)試數(shù)據(jù)同樣，用格式顯示器件型號(hào)(例如，△××××(△為字母，×為0至9的整數(shù)))的文件名加以保存，測(cè)試數(shù)據(jù)和E-EDID信息用相互不同的標(biāo)識(shí)符(.edi等)加以識(shí)別。對(duì)檢查裝置進(jìn)行編程，使其檢索與測(cè)試數(shù)據(jù)文件名一致的文件名的E-EDID信息。然后，第2硬件28未存儲(chǔ)E-EDID信息，則在操作箱24進(jìn)行出錯(cuò)顯示，結(jié)束處理。存在E-EDID信息時(shí)，進(jìn)至步驟6。
步驟6中，從圖像檢查裝置10的第1硬驅(qū)26讀入測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行圖像檢查的準(zhǔn)備。而且，利用條形碼讀出器30讀入制造編號(hào)。
步驟7中，利用條形碼讀出器30讀取液晶顯示器件10背面存在的條形碼20，將制造編號(hào)輸入圖像檢查裝置10，存放到該圖像檢查裝置10中內(nèi)建的RAM，等存儲(chǔ)器件構(gòu)成的第2存儲(chǔ)部(圖中未示出)。
步驟8中，判斷讀入的制造編號(hào)中低端5位是否數(shù)字，不是數(shù)了，則返回步驟6，再次指示讀取制造編號(hào)。進(jìn)行該判斷，用于液晶顯示器件10的背面貼有多個(gè)輸入制造編號(hào)以外的信息的條形碼，從而錯(cuò)誤輸入其他信息時(shí)指示再次讀入。制造編號(hào)的低端5位是數(shù)字時(shí)，進(jìn)至步驟9。
步驟9中，判斷是否過去一天內(nèi)讀的制造編號(hào)。是該制造編號(hào)時(shí)，進(jìn)至步驟10。與該制造編號(hào)不同時(shí)，進(jìn)至步驟12。
步驟10中，與過去一天內(nèi)訊的制造編號(hào)相同，因而使操作相24的燈閃爍，提醒檢查員注意，在步驟11中檢查員知道該情況時(shí)，按壓操作箱24的光標(biāo)鍵，進(jìn)至步驟12，不按壓光標(biāo)鍵時(shí)，返回步驟6，再次進(jìn)行讀入制造編號(hào)的工序。
步驟12中，輸入操作箱24的測(cè)試啟動(dòng)鍵，用于啟動(dòng)圖像檢查。
步驟13中，判斷是否查讀模式。是查讀模式，則進(jìn)至步驟14，因?yàn)樾枰袛嘁壕э@示器件12中ROM18寫入的E-EDID信息是否正常。如果不是查讀模式，進(jìn)至步驟16。
步驟14中，讀入液晶顯示器件12寫入的E-EDID信息，步驟15中判斷該讀入的E-EDID信息的檢驗(yàn)和是否為0(即是否正常)如果正常，進(jìn)行步驟19。不正常，則因?yàn)樵僖淮螌懭隕-EDID信息，進(jìn)至步驟16。
步驟16中，從檢查裝置的接口部送出E-EDID信息，將該信息寫入液晶顯示器件12的ROM18中。該寫入的E-EDID信息是與測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的E-EDID信息，制造編號(hào)寫入條形碼讀出器30讀入的制造編號(hào)，制造年周則實(shí)時(shí)寫入圖像檢查裝置10中計(jì)時(shí)器22計(jì)量的當(dāng)前的年周。
步驟17中，圖像檢查裝置10再次讀取寫入的E-EDID信息，并且在步驟18檢查該讀入的E-EDID信息是正常還是異常。為此，判斷讀出的檢驗(yàn)和是否等于寫入的檢驗(yàn)和，或者檢驗(yàn)和是否為0。檢驗(yàn)和相等為0時(shí)，判斷為正常寫入E-EDID信息，并且進(jìn)至步驟19，除此以外，則進(jìn)行出錯(cuò)顯示，結(jié)束檢查。
步驟19中，操作箱24上顯示當(dāng)前讀取的E-EDID信息中的制造年周后，在步驟20進(jìn)行常規(guī)圖像檢查。即，從檢查裝置的接口部對(duì)液晶顯示器件12發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)選擇步驟2中選擇的測(cè)試數(shù)據(jù)，使液晶顯示器件點(diǎn)亮，用目視或攝像機(jī)證實(shí)有無顯示缺陷。
于是，用同一裝置連續(xù)進(jìn)行E-EDID信息寫入和圖像檢查，因而能簡(jiǎn)化作業(yè)工序。
又設(shè)計(jì)成不能證實(shí)寫入E-EDID信息并且正常寫入時(shí)，不能進(jìn)入下一步驟，因而能利用程序控制賦予防止忘記寫入E-EDID信息的功能和檢驗(yàn)功能。
此外，用條形碼讀出器30輸入制造編號(hào)后，寫入E-EDID信息，并且還具有確認(rèn)功能，因而不會(huì)輸入錯(cuò)誤的制造編號(hào)等。
再者，即使為禁止蓋寫E-EDID信息的液晶顯示器件12，也能在查讀模式中判斷寫入的E-EDID信息是正常還是異常。
上述實(shí)施例中，對(duì)液晶顯示器件進(jìn)行了說明，但即使代之以有機(jī)EL顯示器件或布勞恩管的CRT顯示器件，同樣也能與圖像檢查工序相同地寫入E-EDID信息。
構(gòu)成圖像檢查裝置的各種硬件可用作為計(jì)算機(jī)系統(tǒng)公知的硬件，并且在不脫離本發(fā)明要旨的范圍內(nèi)可做種種變換。例如可用單一硬驅(qū)裝置構(gòu)成第1存儲(chǔ)部和第2存儲(chǔ)部。還可適當(dāng)組合并使用功能不同于硬驅(qū)裝置和RAM等的存儲(chǔ)器件。
根據(jù)上文，利用本發(fā)明，則顯示器件能與圖像檢查相連續(xù)地寫入E-EDID信息，可簡(jiǎn)化作業(yè)工序，同時(shí)就在該寫入工序中控制錯(cuò)漏。
權(quán)利要求
1.一種顯示器件制造方法，用于對(duì)顯示器件記錄的媒體寫入制造履歷數(shù)據(jù)，其中包含該顯示器件制造編號(hào)數(shù)據(jù)、制造年周數(shù)據(jù)和識(shí)別該顯示器件品種的規(guī)格數(shù)據(jù)，其特征在于具有將所述顯示器件連接圖像檢查的工具，該圖像檢查裝置具有存儲(chǔ)顯示器件各品種所對(duì)應(yīng)多個(gè)圖像測(cè)試數(shù)據(jù)和所述多個(gè)圖像測(cè)試數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的所述規(guī)格數(shù)據(jù)的第1存儲(chǔ)部、存儲(chǔ)所述制造編號(hào)的第2存儲(chǔ)部、測(cè)量年周數(shù)據(jù)的計(jì)時(shí)器、連接所述顯示器件的接口部、將所述第1存儲(chǔ)部和第2存儲(chǔ)部存儲(chǔ)的各數(shù)據(jù)和所述年周數(shù)據(jù)發(fā)送到所述接口的控制部；從所述第1存儲(chǔ)部存儲(chǔ)的所述多個(gè)圖像測(cè)試數(shù)據(jù)中選擇適合所述顯示器件的圖像測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)選擇工序；將賦鄧所述顯示器件的制造編號(hào)數(shù)據(jù)輸入所述圖像檢查裝置并存儲(chǔ)到所述第2存儲(chǔ)部的制造編號(hào)數(shù)據(jù)讀入工序；通過所述接口部將所述第1存儲(chǔ)部存儲(chǔ)的所述規(guī)格數(shù)據(jù)中在所述測(cè)試數(shù)據(jù)選擇工序所選圖像測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的所述規(guī)格數(shù)據(jù)、在所述制造編號(hào)讀入工序存入所述第2存儲(chǔ)部的所述制造編號(hào)和所述計(jì)時(shí)器計(jì)量的年周數(shù)據(jù)寫入所述記錄媒體的制造履歷數(shù)據(jù)寫入工序；后續(xù)所述制造履歷數(shù)據(jù)寫入工序并且通過所述接口部將所述測(cè)試數(shù)據(jù)選擇工序中選擇的所述圖像測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到所述顯示器件進(jìn)行所述顯示器件點(diǎn)亮檢查的圖像檢查工序。
2.如權(quán)利要求1所述的顯示器件制造方法，其特征在于，所述圖像測(cè)試數(shù)據(jù)包含是否需要所述制造履歷數(shù)據(jù)的判別數(shù)據(jù)，在所述測(cè)試數(shù)據(jù)選擇工序中所選圖像測(cè)試數(shù)據(jù)中的是否需要判別數(shù)據(jù)是表示不需要制造履歷數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)時(shí)，省略所述制造編號(hào)數(shù)據(jù)讀入工序和制造履歷數(shù)據(jù)寫入工序。
3.如權(quán)利要求1所述的顯示器件制造方法，其特征在于，還具有在所述測(cè)試數(shù)據(jù)選擇工序前檢測(cè)所述記錄媒體上有無所述制造履歷數(shù)據(jù)的檢測(cè)工序、讀出所述檢測(cè)工序中檢測(cè)到的制造履歷數(shù)據(jù)并將其存入所述第2存儲(chǔ)部的制造履歷數(shù)據(jù)讀出工序，以及合計(jì)所述第2存儲(chǔ)部所存制造履歷數(shù)據(jù)包含的各規(guī)格數(shù)據(jù)并根據(jù)所得總計(jì)值判斷該制造履歷數(shù)據(jù)是否正常的判斷工序；判斷為所述制造履歷數(shù)據(jù)異常時(shí)，繼續(xù)進(jìn)行所述寫入工序，判斷為所述制造履歷數(shù)據(jù)正常時(shí)，在該顯示器件的存儲(chǔ)媒體蓋寫所述計(jì)時(shí)器計(jì)量的當(dāng)前制造年周。
4.一種顯示器件的制造裝置，其特征在于具有存儲(chǔ)顯示器件各品種所對(duì)應(yīng)多個(gè)圖像測(cè)試數(shù)據(jù)和所述多個(gè)圖像測(cè)試數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的所述尺寸數(shù)據(jù)的第1存儲(chǔ)部、存儲(chǔ)所述制造編號(hào)的第2存儲(chǔ)部、測(cè)量年周數(shù)據(jù)的計(jì)時(shí)器、連接所述顯示器件的接口部、將所述第1存儲(chǔ)部和第2存儲(chǔ)部存儲(chǔ)的各數(shù)據(jù)和所述年周數(shù)據(jù)發(fā)送到所述接口的控制部。
全文摘要
提供一種對(duì)液晶顯示器件(12)中設(shè)置ROM(18)寫入EDID信息的方法，使寫入作業(yè)工序與圖像檢查相連續(xù)，并且用同一裝置進(jìn)行該工序。該方法包含選擇對(duì)液晶顯示器件(12)進(jìn)行圖像檢測(cè)用的圖像測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)選擇工序、讀入制造編號(hào)的制造編號(hào)讀入工序、從圖像檢查裝置調(diào)用與圖像測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)E－EDID信息中規(guī)定的制造數(shù)據(jù)并且將該調(diào)用的規(guī)定制造數(shù)據(jù)以及讀入的制造編號(hào)和計(jì)時(shí)器計(jì)量的當(dāng)前制造年周作為E－EDID信息寫入ROM(18)的E－EDID信息寫入工序，以及根據(jù)選擇的圖像測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行圖像檢查的圖像檢查工序。
文檔編號(hào)G06F9/02GK1428706SQ02159800
公開日2003年7月9日 申請(qǐng)日期2002年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2001年12月26日
發(fā)明者牧野富夫 申請(qǐng)人:株式會(huì)社東芝