專利名稱：具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種具有快速存儲器(Flash Memory)的轉(zhuǎn)接測試裝置，特別是可應用于高頻通信的電路板中，利用本實用新型的轉(zhuǎn)接測試裝置，對該高頻通信電路板做相關的測試。
(2)背景技術目前個人數(shù)字助理器(PDA)以及移動電話已經(jīng)是非常普遍的通訊產(chǎn)品，在這些產(chǎn)品上市銷售之前，通常要經(jīng)過很多復雜且重要的性能測試，因為這些產(chǎn)品都是使用在通信的相關領域中，故有關這些相關的性能與功能也相對重要。在一般的通訊產(chǎn)品的電路板在制作為成品或半成品時，或者是該電路板不良而需要檢修時，通常需要對該電路板施以檢修測試，這些測試包括對射頻電路的測試，各電路之間的連結(jié)狀態(tài)，以及數(shù)據(jù)的傳輸?shù)鹊取?br> 這些測試固件通常會被儲存在一個快速存儲器(Flash Memory)中，在要對該電路板測試時則將該快速存儲器插置到該電路板上，等到測試完畢再將該快速存儲器拆卸下來，如此的拆卸與插置過程在生產(chǎn)線測試流程中或者是品質(zhì)管制(QA)流程中會耗掉若干的時間，并且在高科技廠房所強調(diào)的流程自動化也有所不足，以及人工直接對該快速存儲器的插拔也會對該快速存儲器造成耗損，若要對數(shù)量相當多電路板做測試則該快速存儲器也會容易因為機械性的原因而造成對該快速存儲器的破壞，這些對于追求減少成本，追求利潤的產(chǎn)業(yè)者而言都是不利的因素。
請參閱圖1，為現(xiàn)有的具有通訊設計的電路板測試的簡單示意圖。如圖1所示，一電路板1上布置有一個射頻(RF)電路10，一個電氣可消除可程序化只讀存儲器(EEPROM)11以及一快速存儲器(Flash Memory)腳座12，其中該只讀存儲器(EEPROM)11是儲存該電路板1上在正常工作情形下各組件以及電路間的相關連結(jié)與功能的固件，而當該電路板1發(fā)生問題需要檢修或者是要對該電路板1做測試時，則將一儲存已經(jīng)預先寫好的測試程序的快速存儲器(Flash Memory)13插置到該腳座12上，以對該電路板1實施測試，待各項功能或測試條件測試完成后，再把該快速存儲器(Flash Memory)13拆下，以進行下一動作的流程。
而通常由于儲存于該快速存儲器13中的固件程序容量較大，以及只讀存儲器11反應速度較慢的原因，故不會將儲存于快速存儲器13的固件儲存在只讀存儲器11中。亦即是儲存于只讀存儲器11中的程序以及儲存于快速存儲器13的程序是不相同的，以上即是現(xiàn)有技術中對一高頻通信電路板中對于若干射頻測量的流程所使用到的快速存儲器的相關技術以及缺點的敘述。
(3)實用新型內(nèi)容本實用新型是為解決上述現(xiàn)有技術的缺點所作的進一步改良的設計。本實用新型的主要目的，是提出一種具有快速存儲器(Flash Memory)的轉(zhuǎn)接測試裝置，是對一高頻通信電路板中的有關射頻(RF)性能的測量用，該測試轉(zhuǎn)接裝置設置有一快速存儲器并儲存相關固件，并且可將該測試轉(zhuǎn)接裝置設計成一轉(zhuǎn)接測試卡的形式，對該高頻通信電路板的射頻性能以及相關電路連結(jié)的性能予以測試，以找出該電路板上相關電路是否有錯誤產(chǎn)生，或者是做若干的參數(shù)設定與修改。
本實用新型的另一目的，是利用本實用新型的實施，提高操作者在測試或生產(chǎn)過程中對于待測電路板的測試效率以及整個測試流程的效率。
為達到上述的目的，本實用新型設計一轉(zhuǎn)接測試裝置及一被測的高頻電路板，其中轉(zhuǎn)接測試裝置包括一電路基板，一快速存儲器(Flash Memory)，一連接部。所述的電路基板是有若干布線的設計；所述的連接部設計于該電路基板，以與被測試的高頻電路板作電性連接；所述的快速存儲器則儲存相關測試的固件，通過該轉(zhuǎn)接測試裝置連接至該高頻電路板以對該高頻電路板做射頻測量。所述的轉(zhuǎn)接測試裝置在實施中可以做成測試卡的形式。
本實用新型的優(yōu)點該轉(zhuǎn)接裝置設置有一快速存儲器并儲存相關測試程序，并且可將該測試轉(zhuǎn)接裝置設計成一轉(zhuǎn)接測試卡的形式，以連接至被測試的高頻通信的電路板中，以找出該電路板上是否有錯誤產(chǎn)生，或者是做若干的參數(shù)設定與修改，提高了操作者在測試或生產(chǎn)過程中對于待測電路板的測試效率以及整個測試流程的效率，充分顯示出本實用新型在目的及功效上均深富實施的進步性，極具產(chǎn)業(yè)的利用價值。
為進一步說明本實用新型的上述目的、結(jié)構(gòu)特點和效果，以下將結(jié)合附圖對本實用新型進行詳細的描述。
(4)
圖1為現(xiàn)有技術中具有通訊設計的電路板測試的簡單示意圖。
圖2為本發(fā)明的第一較佳實施例。
圖3為本發(fā)明的第二較佳實施例。
(5)具體實施方式
本實用新型涉及一種快速存儲器(Flash Memory)轉(zhuǎn)接測試裝置，應用于一高頻通信電路板中的有關射頻(RF)性能的測量，該測試轉(zhuǎn)接裝置設置有一快速存儲器并儲存相關測試程序，并且可將該測試轉(zhuǎn)接裝置設計成一轉(zhuǎn)接測試卡的形式，連接至該被測的高頻通信的電路板中的一插槽或一連接端中，通過測試線的連接或者是利用插槽的嵌合，對該高頻通信電路板的射頻性能以及相關電路連結(jié)的性能予以測試，以找出該電路板上相關電路是否有錯誤產(chǎn)生，或者是做若干的參數(shù)設定與修改。
請參閱圖2，為本發(fā)明的第一較佳實施例。如圖2所示，本發(fā)明的快速存儲器(Flash Memory)轉(zhuǎn)接測試裝置可設計為一轉(zhuǎn)接測試卡2的形式，其中該轉(zhuǎn)接測試卡2包括有一電路基板20，一快速存儲器21、一個連接部22以及一條連接線23。
其中該快速存儲器21儲存有相對于該待測試的高頻電路板3的有關射頻測量的相關程序，包括IEEE所制訂的802.11b的相關規(guī)格與設定模式，而該電路基板20則設計有相關的電路布線(未于圖中顯示)。
該高頻電路板3為應用于高頻通信的電路，該高頻電路板3的布置至少包括有一電氣可消除可程序化只讀存儲器(EEPROM)30，并且至少設計有一連接端31以供一轉(zhuǎn)接測試卡2的測試連接，該連接端31可電性連接該被測高頻電路板3的相關電路，例如射頻電路，或是其它相關的電路，并且亦利用該連接端31經(jīng)由一測試線23電性連接至該轉(zhuǎn)接測試卡2的連接部22。
當要對該高頻電路板3實施相關性能測試時，則可利用該轉(zhuǎn)接測試卡2的測試線23連接到該高頻電路板3的連接端31，其中該連接部22可設計成一若干腳位的輸出。而該高頻電路板3上的一只讀存儲器30儲存該高頻電路板3在一般正常工作狀態(tài)下所儲存的相關資料，測試時即通過一只讀存儲器30所儲存的相關參數(shù)經(jīng)由該測試卡2以及測試線23將數(shù)據(jù)送至到高頻電路板中3并予以測試的。
請參閱圖3，為本發(fā)明的第二較佳實施例。如圖3所示，本發(fā)明的快速存儲器(Flash Memory)轉(zhuǎn)接測試裝置如同圖2所述，可設計為一轉(zhuǎn)接測試卡2的形式，該轉(zhuǎn)接測試卡2包括有一電路基板20，一快速存儲器21、一個連接部(22)。其中該快速存儲器21儲存有相對于該待測試的高頻電路設計的電路板3的有關射頻測量的相關程序(固件)，也包括IEEE所制訂的802.11b的相關規(guī)格與設定模式，在本較佳實施例中要對該高頻電路板3上實施測試時，則通過轉(zhuǎn)接測試卡2上的一連接部(22)設計為一插槽24(socket)的形式直接插置在該高頻電路板3上的一插槽32上，其中插槽24可設計成一若干腳位的輸出并可設計成公腳位的形式，而該高頻電路板3上的插槽32可相對該插槽24的公腳位的形式設計成母腳位的形式。
當要對該高頻電路板3實施相關性能測試時，則可通過該轉(zhuǎn)接測試卡2的插槽24，插置到該高頻電路板3的連接插槽32內(nèi)，其中該插槽24可設計成一若干腳位的輸出，例如插槽24可作成若干數(shù)目的公腳位，則插槽32則作成相對該插槽24上公腳位數(shù)目的若干數(shù)目的母腳位，當然插槽24與插槽32其相對插置關系必須具有相對的信號可對應連接的關系。而該高頻電路板3上的一只讀存儲器(EEPROM)30儲存該高頻電路板3在一般正常工作狀態(tài)下所儲存的相關資料，測試時即藉由只讀存儲器30所儲存的相關參數(shù)經(jīng)由該測試卡2以及測試線23將數(shù)據(jù)送至到高頻電路板中3并予以測試的。
經(jīng)過前面的敘述可知，本實用新型是通過一轉(zhuǎn)接測試卡的設計將若干測試固件預先儲存于快速存儲器(Flash Memory)內(nèi)，當有高頻電路設計的電路板需要檢修或測試時，則可利用本實用新型的轉(zhuǎn)接測試裝置予以連接測試，避免了現(xiàn)有技術的缺點與對快速存儲器的耗損，并可確切實施于生產(chǎn)線或質(zhì)量保證的流程中，對于生產(chǎn)自動化以及降低成本有真正的助益。
當然，本技術領域中的普通技術人員應當認識到，以上的實施例僅是用來說明本實用新型，而并非用作為對本實用新型的限定，只要在本實用新型的實質(zhì)精神范圍內(nèi)，對以上所述實施例的變化、變型都將落在本實用新型權利要求書的范圍內(nèi)。
權利要求1.一種具有快速存儲器(Flash Memory)的轉(zhuǎn)接測試裝置，包括一轉(zhuǎn)接測試裝置及一被測的高頻電路板，轉(zhuǎn)接測試裝置應用于高頻電路板中的射頻(RF)測量，其特征在于所述的轉(zhuǎn)接測試裝置包括一電路基板；一快速存儲器(Flash Memory)一連接部，設計于所述的電路基板，以與所述的被測高頻電路板電性連接；由該轉(zhuǎn)接測試裝置連接至該高頻電路板以對該高頻電路板進行射頻測量。
2.如權利要求1項所述的具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置，其特征在于所述的高頻電路板上包括一電氣可消除可程序化只讀存儲器(EEPROM)的設置。
3.如權利要求1項所述的具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置，其特征在于所述的電路板為具有一射頻電路設計的電路板。
4.如權利要求1項所述的具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置，其特征在于所述的射頻測量是為實施802.11b規(guī)格的測量。
5.如權利要求1項所述的具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置，其特征在于所述的連接部是為插槽(socket)結(jié)構(gòu)。
6.一種具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置，包括一轉(zhuǎn)接測試裝置及一被測的高頻電路板，轉(zhuǎn)接測試裝置應用于高頻電路板中的射頻(RF)測量，其特征在于所述的轉(zhuǎn)接測試裝置是一測試卡，該測試卡至少包括一電路基板、一連接裝置以及該快速存儲器的設置，該快速存儲器內(nèi)儲存有關實施該射頻測量的固件，其中所述的連接裝置設計在該電路基板上并可連接至所述的高頻電路設計的電路板上，該電路基板有相關電路布線的設計。
7.如權利要求6項所述的具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置，其特征在于所述的高頻電路設計的電路板上包括一電氣可消除可程序化只讀存儲器(EEPROM)的設置。
8.如權利要求6項所述的具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置，其特征在于所述的射頻測量為實施802.11b規(guī)格的測量者。
9.如權利要求6項所述的具有快速存儲器的轉(zhuǎn)接測試裝置，其特征在于所述的連接裝置為插槽(socket)結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實用新型涉及一種具有快速存儲器(FlashMemory)的轉(zhuǎn)接測試裝置，可對一高頻通信電路板實施有關射頻(RF)性能的測量，該測試轉(zhuǎn)接裝置設置有一快速存儲器并儲存相關測試程序，并且可將該測試轉(zhuǎn)接裝置設計成一轉(zhuǎn)接測試卡的形式，以連接至被測試的高頻通信的電路板中。利用本實用新型對該具有高頻通信的電路板的射頻性能以及相關電路連結(jié)的性能予以測試，以找出該電路板上是否有錯誤產(chǎn)生，或者是做若干的參數(shù)設定與修改，提高了操作者在測試或生產(chǎn)過程中對于待測電路板的測試效率以及整個測試流程的效率。
文檔編號G06F11/22GK2554721SQ0223123
公開日2003年6月4日 申請日期2002年4月28日 優(yōu)先權日2002年4月28日
發(fā)明者鄭添乾 申請人:神達電腦股份有限公司