專利名稱：多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)及多鏈邊界掃描測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)及多鏈邊界掃描測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
邊界掃描測(cè)試(BST——Boundary Scan Test)技術(shù)是一種將可測(cè)試性直接設(shè)計(jì)到芯片里的技術(shù)，是針對(duì)解決芯片級(jí)到系統(tǒng)級(jí)測(cè)試，核心邏輯電路互連測(cè)試和數(shù)字電路到模擬電路或模數(shù)電路測(cè)試的一系列測(cè)試技術(shù)。美國(guó)電氣與電子工程師學(xué)會(huì)(IEEE)把在器件設(shè)計(jì)中加入邊界掃描測(cè)試技術(shù)及應(yīng)用該技術(shù)來測(cè)試器件的方法標(biāo)準(zhǔn)化為IEEE1149系列標(biāo)準(zhǔn)。邊界掃描測(cè)試有很多應(yīng)用，如虛擬的邊界掃描器件互聯(lián)測(cè)試，虛擬的器件和器件簇測(cè)試，邊界掃描器件自建內(nèi)測(cè)試等等。在現(xiàn)代復(fù)雜度較高的電路板上，有很多數(shù)字器件帶有邊界掃描功能，這些器件按一定的方式連成一條或多條邊界掃描菊花鏈。如圖1所示，就是一條邊界掃描菊花鏈，在很多單板上可能會(huì)有多條這樣的邊界掃描菊花鏈。
基于計(jì)算機(jī)的邊界掃描測(cè)試是指，通過計(jì)算機(jī)的各種端口外接的測(cè)試設(shè)備，發(fā)送測(cè)試向量給被測(cè)電路板上的邊界掃描的器件，然后接收測(cè)試結(jié)果來判斷被測(cè)電路板是否有故障以及故障在哪里。計(jì)算機(jī)的端口包括ISA，PCI，USB，并口等。
多鏈測(cè)試是指同時(shí)對(duì)兩個(gè)或兩個(gè)以上的邊界掃描菊花鏈進(jìn)行測(cè)試。
目前業(yè)界所有基于計(jì)算機(jī)的邊界掃描測(cè)試，都只能對(duì)圖1所示的單條邊界掃描器件的菊花鏈進(jìn)行測(cè)試。假如要對(duì)兩條邊界掃描菊花鏈進(jìn)行測(cè)試，必須人工對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行改造，而改造后的測(cè)試設(shè)備就只能對(duì)兩條菊花鏈測(cè)試，不能進(jìn)行單條菊花鏈的測(cè)試。同樣，能測(cè)試一條菊花鏈或兩條菊花鏈的測(cè)試設(shè)備也不能對(duì)更多的菊花鏈進(jìn)行。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是提供一種多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)及多鏈邊界掃描測(cè)試方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中不能自動(dòng)方便完成多鏈測(cè)試與單鏈測(cè)試轉(zhuǎn)換的問題。
為解決上述問題，本發(fā)明提供如下的解決方案一種多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，包括與測(cè)試終端相連的測(cè)試信號(hào)輸入端和測(cè)試信號(hào)輸出端，測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈輸入端相連，測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈輸出端及與本測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的另一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端相連，所述測(cè)試終端將測(cè)試信號(hào)加到邊界掃描鏈端，并讀取測(cè)試響應(yīng)，在所述測(cè)試信號(hào)輸入端和輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈的輸入端和輸出端之間，還設(shè)置有選擇開關(guān)，所述選擇開關(guān)用來控制測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈的輸入端之間及測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈輸出端之間以及測(cè)試信號(hào)輸入端與測(cè)試信號(hào)輸出端之間的線路導(dǎo)通。
所述的選擇開關(guān)為跳線開關(guān)，所述跳線開關(guān)帶有四個(gè)跳線插針，分別連接測(cè)試信號(hào)輸入端，待測(cè)邊界掃描鏈輸入端，與測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的下一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端及待測(cè)邊界掃描鏈的輸出端，所述跳線開關(guān)完成第一跳線插針與第二跳線插針之間，第一跳線插針與第三跳線插針之間，第三跳線插針與第四跳線插針之間的導(dǎo)通。
所述的選擇開關(guān)為數(shù)字芯片，該數(shù)字芯片帶有四個(gè)輸入輸出端，分別連接測(cè)試信號(hào)輸入端，待測(cè)邊界掃描鏈輸入端，與測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的下一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端，及待測(cè)邊界掃描鏈的輸出端。
所述的測(cè)試信號(hào)輸入輸出端，連接有一個(gè)緩沖電路，所述緩沖電路實(shí)現(xiàn)測(cè)試信號(hào)的緩沖。
所述的緩沖電路是同相門。
一種多鏈邊界掃描測(cè)試方法，包括以下步驟a、選擇欲測(cè)試的邊界掃描鏈；
b、在測(cè)試終端上加載測(cè)試信號(hào)；c、接收測(cè)試響應(yīng)。
所述的步驟a，是通過將測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈輸入端之間、測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈之間以及測(cè)試信號(hào)輸出端和與其相鄰的測(cè)試信號(hào)輸入端之間的線路導(dǎo)通，同時(shí)將不予測(cè)試邊界掃描鏈的測(cè)試輸入端與測(cè)試輸出端短接而完成的。
采用上述的系統(tǒng)及方法后，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)多條邊界掃描菊花鏈的測(cè)試，同時(shí)兼容對(duì)一條邊界掃描菊花鏈的測(cè)試問題，成功的解決了現(xiàn)有技術(shù)中只能采用單一的方式來測(cè)試單鏈或者多鏈的問題。


圖1是邊界掃描測(cè)試菊花鏈的示意圖；圖2是本發(fā)明所設(shè)計(jì)的多鏈邊界掃描測(cè)試裝置的示意圖；圖3是本發(fā)明使用的一個(gè)跳線開關(guān)的示意圖；圖4-6是本發(fā)明所設(shè)計(jì)的緩沖電路示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合說明書附圖來說明本發(fā)明的具體實(shí)施方式
。
如圖2所示，是本發(fā)明設(shè)計(jì)的一個(gè)一種多鏈邊界掃描測(cè)試裝置，從圖中可以看出，主要包括以下幾個(gè)部分與測(cè)試終端相連的測(cè)試信號(hào)輸入端和測(cè)試信號(hào)輸出端。其中測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈輸入端相連，測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈輸出端及與本測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的另一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端相連，所述測(cè)試終端將測(cè)試信號(hào)加到邊界掃描鏈端，并讀取測(cè)試響應(yīng)。
與傳統(tǒng)的邊界掃描測(cè)試裝置相比較，本發(fā)明在測(cè)試信號(hào)輸入端和輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈的輸入端和輸出端之間，設(shè)置了選擇開關(guān)，該選擇開關(guān)用來控制測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈的輸入端之間及測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈輸出端之間以及測(cè)試信號(hào)輸入端與測(cè)試信號(hào)輸出端之間的線路導(dǎo)通。這是本發(fā)明的一個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)所在。
該選擇開關(guān)可以有多種形式，比如可以實(shí)用目前通信領(lǐng)域比較常見的跳線開關(guān)，這種開關(guān)在市場(chǎng)上隨處可見，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便。該開關(guān)通常帶有四個(gè)跳線插針，我們可以將其命名為第一跳線插針，第二跳線插針，第三跳線插針，第四跳線插針，如圖3所示，該跳線開關(guān)可以實(shí)現(xiàn)第一跳線插針和第二跳線插針之間的導(dǎo)通，第三跳線插針和第四跳線插針之間的導(dǎo)通，以及第一跳線插針和第三跳線插針之間的導(dǎo)通。
在本發(fā)明設(shè)計(jì)的裝置中，分別將第一跳線插針連接測(cè)試信號(hào)輸入端，第二跳線插針連接待測(cè)邊界掃描鏈輸入端，第三跳線插針連接測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的下一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端，第四跳線插針連接待測(cè)邊界掃描鏈的輸出端。這樣，就可以通過跳線插針之間的導(dǎo)通與斷開，來完成待測(cè)邊界掃描鏈的測(cè)試。
除了上述的跳線開關(guān)以外，該選擇開關(guān)還可以有其他多種形式，只要可以實(shí)現(xiàn)該跳線插針之間的上述連接關(guān)系的開關(guān)都可以，比如還可以是數(shù)字芯片，只要保證該數(shù)字芯片至少帶有四個(gè)輸入輸出端，分別連接測(cè)試信號(hào)輸入端，待測(cè)邊界掃描鏈輸入端，與測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的下一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端，及待測(cè)邊界掃描鏈的輸出端就可以。
如圖4-圖6所示，分別是一個(gè)具有四個(gè)輸出的緩沖電路的示意圖，該緩沖電路可以是一個(gè)同相門，它的作用就是實(shí)現(xiàn)緩沖，該緩沖電路連接在測(cè)試信號(hào)的輸入端。
該緩沖器件的作用首先是實(shí)現(xiàn)緩沖功能，緩沖器件的結(jié)構(gòu)示意圖都如圖4-圖6所示，在本發(fā)明的測(cè)試裝置中，將電路中的TCK，TMS，TRST分別接到測(cè)試設(shè)備上的TCK，TMS，和TRST信號(hào)上。該緩沖器件，可以是任何型號(hào)，只要是具有緩沖功能的器件，包括可編程邏輯器件或用模擬電路構(gòu)成的緩沖電路等。如24474ACT244，74ABT16244等。
通過緩沖器件后，每一個(gè)信號(hào)分別輸出四路相同的信號(hào)TCK1～4，TMS1～4，TRST1～4，這樣就能由一路信號(hào)同時(shí)驅(qū)動(dòng)4路TCK、TMS和TRST。 TCK1與被測(cè)電路板邊界掃描鏈1的TCK相連，TMS1與被測(cè)電路板邊界掃描鏈1的TMS相連，TRST1與被測(cè)電路板邊界掃描鏈1的TRST相連，TCK2與被測(cè)電路板邊界掃描鏈2的TCK相連…與此類推。
當(dāng)然，該緩沖電路的輸出信號(hào)設(shè)置，可以依具體的情況而選定，上述緩沖電路是基于四路緩沖信號(hào)的輸出而設(shè)計(jì)的，在實(shí)際應(yīng)用中可以有更多路的信號(hào)輸出端。
在使用本發(fā)明的測(cè)試方法時(shí)，具體可以包括以下步驟a、選擇欲測(cè)試的邊界掃描鏈；這是基于本發(fā)明的測(cè)試裝置而進(jìn)行的，通過將測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈輸入端之間、測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈之間以及測(cè)試信號(hào)輸出端和與其相鄰的測(cè)試信號(hào)輸入端之間的線路導(dǎo)通，同時(shí)將不予測(cè)試邊界掃描鏈的測(cè)試輸入端與測(cè)試輸出端短接而完成的。
以上面的測(cè)試裝置為基礎(chǔ)，如圖2所示，在本實(shí)施例中，可以做如下的工作將圖2電路中的TDI和TDO分別接到測(cè)試設(shè)備上的TDI和TDO信號(hào)上。其中TDI1與被測(cè)電路板邊界掃描鏈1的TDI相連，TDO1與被測(cè)電路板邊界掃描鏈1的TDO相連；TDI2與被測(cè)電路板邊界掃描鏈2的TDI相連，TDO2與被測(cè)電路板邊界掃描鏈2的TDO相連…以此類推。該跳線開關(guān)是一個(gè)4管腳的方形跳線插座，跳線插針編號(hào)如圖中所示。把第一、第二跳線插針短接，第三、第四跳線插針短接，把跳線開關(guān)2-4的第一、第三跳線插針短接，第二、第四跳線插針懸空，這時(shí)測(cè)試設(shè)備就只能對(duì)與被測(cè)電路板邊界掃描鏈1進(jìn)行測(cè)試，不能對(duì)與被測(cè)電路板邊界掃描鏈2、3和4測(cè)試。把跳線開關(guān)1和跳線開關(guān)2的第一、第二跳線插針短接，第三、第四跳線插針短接，把跳線開關(guān)3～4的第一、第三跳線插針短接，第二、第四跳線插針懸空，這時(shí)跳線開關(guān)1和跳線開關(guān)2相接的菊花鏈成為同一條菊花鏈，測(cè)試設(shè)備能同時(shí)對(duì)跳線開關(guān)1和跳線開關(guān)2相接的菊花鏈進(jìn)行測(cè)試。依次類推，需要把跳線開關(guān)1-4的哪個(gè)邊界掃描鏈連起來測(cè)試，就把相應(yīng)的跳線開關(guān)的第一、第二跳線插針短接，第三、第四跳線插針短接，而把其余的跳線開關(guān)的第一、第三跳線插針短接，第二、第四跳線插針懸空。
b、在測(cè)試終端上加載測(cè)試信號(hào)；選定待測(cè)邊界掃描測(cè)試鏈后，在測(cè)試終端上加上相應(yīng)的測(cè)試信號(hào)，通過該測(cè)試裝置及緩沖電路，即可將該測(cè)試信號(hào)加載到相應(yīng)的掃描鏈上，完成測(cè)試信號(hào)的輸入。
c、接收測(cè)試響應(yīng)。
通過測(cè)試裝置接收測(cè)試響應(yīng)，進(jìn)而在測(cè)試終端上將測(cè)試響應(yīng)進(jìn)行相應(yīng)的分析，即可完成本發(fā)明的測(cè)試工作。
以上所述是基于4條邊界掃描鏈而設(shè)計(jì)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法，在實(shí)際應(yīng)用中可以依據(jù)不同的需要測(cè)試的邊界掃描鏈路而設(shè)計(jì)，原理上是一樣的。
通過上述實(shí)施例可以看出，本發(fā)明通過在測(cè)試裝置與待測(cè)邊界掃描鏈間增加選擇開關(guān)，從而可以方便的選擇測(cè)試的邊界掃描鏈的數(shù)量，很好地解決了目前邊界掃描鏈測(cè)試中，無法實(shí)現(xiàn)單鏈與多鏈測(cè)試的兼容問題。
以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，包括與測(cè)試終端相連的測(cè)試信號(hào)輸入端和測(cè)試信號(hào)輸出端，測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈輸入端相連，測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈輸出端及與本測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的另一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端相連，所述測(cè)試終端將測(cè)試信號(hào)加到邊界掃描鏈端，并讀取測(cè)試響應(yīng)，其特征在于在測(cè)試信號(hào)輸入端和輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈的輸入端和輸出端之間，還設(shè)置有選擇開關(guān)，所述選擇開關(guān)用來控制測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈的輸入端之間及測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈輸出端之間以及測(cè)試信號(hào)輸入端與測(cè)試信號(hào)輸出端之間的線路導(dǎo)通。
2.如權(quán)利要求1所述的多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的選擇開關(guān)為跳線開關(guān)，所述跳線開關(guān)帶有四個(gè)跳線插針，分別連接測(cè)試信號(hào)輸入端，待測(cè)邊界掃描鏈輸入端，與測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的下一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端及待測(cè)邊界掃描鏈的輸出端，所述跳線開關(guān)完成第一跳線插針與第二跳線插針之間，第一跳線插針與第三跳線插針之間，第三跳線插針與第四跳線插針之間的導(dǎo)通。
3.如權(quán)利要求1所述的多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的選擇開關(guān)為數(shù)字芯片，該數(shù)字芯片帶有四個(gè)輸入輸出端，分別連接測(cè)試信號(hào)輸入端，待測(cè)邊界掃描鏈輸入端，與測(cè)試信號(hào)輸入端相鄰的下一個(gè)測(cè)試信號(hào)輸入端，及待測(cè)邊界掃描鏈的輸出端。
4.如權(quán)利要求2或3所述的多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的測(cè)試信號(hào)輸入輸出端，連接有一個(gè)緩沖電路，所述緩沖電路實(shí)現(xiàn)測(cè)試信號(hào)的緩沖。
5.如權(quán)利要求4所述的多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的緩沖電路是同相門。
6.一種多鏈邊界掃描測(cè)試方法，其特征在于包括以下步驟a、選擇欲測(cè)試的邊界掃描鏈；b、在測(cè)試終端上加載測(cè)試信號(hào)；c、接收測(cè)試響應(yīng)。
7.如權(quán)利要求6所述的多鏈邊界掃描測(cè)試方法，其特征在于所述的步驟a，是通過將測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈輸入端之間、測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈之間以及測(cè)試信號(hào)輸出端和與其相鄰的測(cè)試信號(hào)輸入端之間的線路導(dǎo)通，同時(shí)將不予測(cè)試邊界掃描鏈的測(cè)試輸入端與測(cè)試輸出端短接而完成的。
全文摘要
本發(fā)明涉及邊界掃描測(cè)試領(lǐng)域，一種多鏈邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，在測(cè)試信號(hào)輸入端和輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈的輸入端和輸出端之間，設(shè)置有選擇開關(guān)，所述選擇開關(guān)用來控制測(cè)試信號(hào)輸入端與待測(cè)邊界掃描鏈的輸入端之間及測(cè)試信號(hào)輸出端與待測(cè)邊界掃描鏈輸出端之間以及測(cè)試信號(hào)輸入端與測(cè)試信號(hào)輸出端之間的線路導(dǎo)通。一種多鏈邊界掃描測(cè)試方法，包括以下步驟a、選擇欲測(cè)試的邊界掃描鏈；b、在測(cè)試終端上加載測(cè)試信號(hào)；c、接收測(cè)試響應(yīng)。采用本發(fā)明的測(cè)試方法，可以靈活地實(shí)現(xiàn)一條和多條的邊界掃描菊花鏈的測(cè)試，同時(shí)可實(shí)現(xiàn)多條和一條邊界掃描菊花鏈的測(cè)試之間的轉(zhuǎn)換。解決了只能采用單一的方式來測(cè)試單鏈或者多鏈的問題。
文檔編號(hào)G06F11/28GK1516015SQ0310031
公開日2004年7月28日 申請(qǐng)日期2003年1月9日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月9日
發(fā)明者蔡軍, 王偉國(guó), 陳進(jìn)文, 軍 蔡 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司