專利名稱：降低計算機(jī)基本輸入輸出系統(tǒng)損壞機(jī)率的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種降低計算機(jī)基本輸入輸出系統(tǒng)(BIOS)損壞機(jī)率的方法，尤指一種通過改變BIOS程序讀取數(shù)據(jù)的方式，避免讀取BIOS型號數(shù)據(jù)時，因操作不當(dāng)或其它不可預(yù)測的原因而使得計算機(jī)誤將不正確的數(shù)據(jù)寫入BIOS裝置中，進(jìn)而降低BIOS損壞機(jī)率。
背景技術(shù)：
在數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的架構(gòu)中，所謂的基本輸入輸出系統(tǒng)(basic input-outputsystem，BIOS)是數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)開機(jī)后所執(zhí)行的第一道程序，為整個系統(tǒng)把守第一關(guān)，倘若無法運(yùn)行完BIOS程序，通常代表某些硬件可能有問題。
每當(dāng)我們將數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)開機(jī)后，中央處理器(CPU)便會自動執(zhí)行一連串的指令，這些指令分成(一)系統(tǒng)配置分析(System Configuration Analysis)分析CPU型號、BIOS裝置型號、內(nèi)存大小、軟硬盤機(jī)的數(shù)量與型式、是否安裝浮點運(yùn)算器等，作為后續(xù)動作的重要參考數(shù)據(jù)。(二)開機(jī)自我測試(POST，Power-on SelfTest)測試內(nèi)存、芯片組、CMOS儲存數(shù)據(jù)、鍵盤和磁盤驅(qū)動器等硬件。(三)加載操作系統(tǒng)由一小段稱為「Bootstrap Loader」的程序，找出操作系統(tǒng)(如MS DOS、Windows 2000/98)在硬盤位置并加載。
互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)是一由電池供應(yīng)電源的非揮發(fā)性芯片，用以儲存包括日期、時間等數(shù)據(jù)，當(dāng)主機(jī)板上電池斷路，CMOS無法獲得電源供應(yīng)時，其儲存的數(shù)據(jù)將會消失；而主機(jī)板上通常設(shè)有一開關(guān)(JUMPER)供使用者必要時將電池斷路以使設(shè)定值回復(fù)至初始值(Default Value)。
BIOS程序?qū)IOS裝置下達(dá)的指令包括讀及寫。無論是讀或?qū)懙闹噶罹恢翑?shù)個命令，讀的指令不會對BIOS裝置造成破壞；然而錯誤的寫指令卻可能對BIOS裝置造成破壞。
BIOS裝置的型號為兩個十六位字節(jié)(byte)值，在讀取BIOS型號(ID)時，可能因使用者操作不當(dāng)(例如誤觸RESET鍵)或一些噪聲(NOISE)，因錯誤的信號介入而將錯誤的指令寫入BIOS裝置。例如讀取BIOS型號的指令為A1+B1+C1，在POST的過程中，有一寫入指令A(yù)2+B2+C2外加一數(shù)據(jù)值D，在執(zhí)行寫入指令至C2時，使用者誤觸RESET鍵，使得跳過D而再重新執(zhí)行讀取BIOS型號的指令(A1+B1+C1)，由于程序會將第4個命令視為數(shù)據(jù)值，此時A1命令會被誤認(rèn)為是數(shù)據(jù)值D而寫入BIOS裝置內(nèi)，造成錯誤而損毀。使用者就必需將主機(jī)板或計算機(jī)送修，對業(yè)者而言過高的維修率(RMA)也會造成成本上的負(fù)擔(dān)。
另外一種情況是在執(zhí)行讀取BIOS型號的過程中，例如執(zhí)行至A1+B1(完整的指令為A1+B1+C1)，遇到噪聲(noise)，該噪聲被誤認(rèn)為寫入指令A(yù)2+B2+C2而將C1視為數(shù)據(jù)值而寫入BIOS裝置內(nèi)造成錯誤而損毀。
為解決上述問題，發(fā)明人努力研究解決方案，終構(gòu)思出本發(fā)明的降低BIOS損壞機(jī)率的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種檢測并讀取BIOS裝置的型號數(shù)據(jù)的方法，可避免讀取BIOS型號數(shù)據(jù)時，因操作不當(dāng)或其它不可預(yù)測的原因而使得計算機(jī)誤將不正確的數(shù)據(jù)寫入BIOS裝置中，進(jìn)而降低BIOS損壞機(jī)率。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種檢測并讀取BIOS裝置的型號數(shù)據(jù)的方法，計算機(jī)開機(jī)后，執(zhí)行BIOS程序，該BIOS程序會首先檢測CMOS上是否有BIOS裝置的ID值，如果為第一次執(zhí)行BIOS程序或CMOS上的數(shù)據(jù)經(jīng)放電而清除時，BIOS程序會檢測不到BIOS裝置的ID值，此時BIOS程序下達(dá)指令讀取位于BIOS裝置上的ID值，并將位于BIOS裝置上的ID值寫入CMOS內(nèi)，下次開機(jī)后，計算機(jī)便可直接由CMOS上讀取BIOS裝置的ID值；若BIOS程序可在CMOS上讀到BIOS裝置的ID值，則繼續(xù)后續(xù)的測試工作。
上述的BIOS裝置可為下列其中之一MASK ROM、EPROM、EEPROM及FLASH ROM。
由于本發(fā)明的讀取BIOS裝置ID值的方法，是先從CMOS上查找該值，如果失敗才從BIOS上讀取，并且將BIOS上讀取到的ID值同時寫到CMOS上，便于下次讀取，從而大大減少了讀取BIOS的次數(shù)，有效地減少了因操作不當(dāng)或其它不可預(yù)測的原因而使得計算機(jī)誤將不正確的數(shù)據(jù)寫入BIOS裝置中，進(jìn)而降低了BIOS損壞機(jī)率。
下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。


圖1是本發(fā)明降低BIOS損壞機(jī)率的方法的方塊圖。
具體實施例方式
如圖1所示，是本較佳實施例的流程圖。本實施例中，BIOS裝置為FLASH ROM。當(dāng)在步驟10，計算機(jī)開機(jī)后，轉(zhuǎn)到步驟11，執(zhí)行位于FLASHROM上的BIOS程序，接下來的步驟12，該BIOS程序會首先檢測CMOS上是否有FLASH ROM的ID值，當(dāng)檢測不到FLASH ROM的ID值時，轉(zhuǎn)到步驟13，BIOS程序下達(dá)指令讀取位于FLASH ROM上的ID值，并將位于FLASHROM上的ID值寫入CMOS內(nèi)，下次開機(jī)后，計算機(jī)便可直接由CMOS上讀取FLASH ROM的ID值；若在步驟12，BIOS程序可在CMOS上讀到FLASH ROM的ID值，則在步驟14讀取FLASH ROM的ID值，然后在步驟15，繼續(xù)后續(xù)的測試工作。
由于本發(fā)明的讀取FLASH ROM的ID值的方法，是先從CMOS上查找該值，如果失敗才從FLASH ROM上讀取，并且將讀取到的ID值同時寫到CMOS上，便于下次讀取，從而大大減少了讀取BIOS的次數(shù)，有效地減少了因操作不當(dāng)或其它不可預(yù)測的原因而使得計算機(jī)誤將不正確的數(shù)據(jù)寫入BIOS裝置中，進(jìn)而降低了BIOS損壞機(jī)率。
權(quán)利要求
1.一種降低BIOS損壞機(jī)率的方法，其特征在于，包括下列步驟執(zhí)行BIOS程序；檢測CMOS上是否有BIOS裝置的型號值；如果有該BIOS裝置的型號值，則讀取該CMOS上的該BIOS裝置的型號值，并繼續(xù)尚未完成的BIOS檢查工作；如果無該BIOS裝置的型號值，則讀取位于BIOS裝置上的BIOS裝置的型號值并通過該BIOS程序?qū)⑽挥贐IOS裝置的型號值寫入CMOS，然后繼續(xù)尚未完成的BIOS檢查工作；以使得下次開機(jī)后，BIOS程序可由CMOS讀取BIOS裝置的型號值，降低BIOS損壞機(jī)率。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該BIOS裝置為一Flash ROM。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種降低BIOS損壞機(jī)率的方法，包括下列步驟執(zhí)行BIOS程序；檢測CMOS上是否有BIOS裝置的型號值；如果有該BIOS裝置的型號值，則讀取該CMOS上的該BIOS裝置的型號值，并繼續(xù)尚未完成的BIOS檢查工作；如果無該BIOS裝置的型號值，則讀取位于BIOS裝置上的BIOS裝置的型號值并通過該BIOS程序?qū)⑽挥贐IOS裝置的型號值寫入CMOS，然后繼續(xù)尚未完成的BIOS檢查工作；以使得下次開機(jī)后，BIOS程序可由CMOS讀取BIOS裝置的型號值，降低BIOS損壞機(jī)率。
文檔編號G06F11/34GK1523502SQ0310489
公開日2004年8月25日 申請日期2003年2月21日 優(yōu)先權(quán)日2003年2月21日
發(fā)明者賴勇元 申請人:技嘉科技股份有限公司