專利名稱:服務(wù)器的通過功能測試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種服務(wù)器的通過功能測試板，其連接一測試端電腦用于測試待測服務(wù)器主板上與服務(wù)器系統(tǒng)相連接的第一網(wǎng)絡(luò)孔和第二網(wǎng)絡(luò)孔之間的通過功能是否異常，其包括：一測試端電腦連接端口，其在測試時(shí)連接所述測試端電腦；一控制器，其連接所述測試端電腦連接端口；一電位值檢測芯片，其通過I2C總線連接所述控制器；一第一測試端口，其一端連接所述第一網(wǎng)絡(luò)孔的若干個(gè)引腳的引腳；一第二測試端口，其一端連接所述電位值檢測芯片，另一端連接所述第二網(wǎng)絡(luò)孔的若干個(gè)引腳的引腳；以及一測試用電源，其連接所述第一測試端口的另一端。借由上述設(shè)置，本實(shí)用新型可檢測出服務(wù)器的通過功能由于哪條路徑引起的異常。
【專利說明】 服務(wù)器的通過功能測試裝置
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本實(shí)用新型是一種服務(wù)器的通過功能測試裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]—般，服務(wù)器大多會內(nèi)建通過(pass through)功能，此功能目的在于:當(dāng)此服務(wù)器處于關(guān)閉的狀態(tài)下，開啟此功能，與服務(wù)器系統(tǒng)相連接的二個(gè)網(wǎng)絡(luò)孔，網(wǎng)絡(luò)孔A與網(wǎng)絡(luò)孔B，會處于短路的狀態(tài)，訊號直接從網(wǎng)絡(luò)孔A進(jìn)入，而不進(jìn)入此服務(wù)器(因服務(wù)器處于關(guān)閉狀態(tài)下)，而直接從網(wǎng)絡(luò)孔B輸出，這在環(huán)狀服務(wù)器系統(tǒng)里，當(dāng)某臺服務(wù)器需要停機(jī)休息時(shí)，可開啟此功能，而不會造成此環(huán)形網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)訊號因某臺服務(wù)器停機(jī)而訊號中斷。網(wǎng)絡(luò)孔A和B之間的連線是固有的，在測試網(wǎng)絡(luò)孔A和B之間的連線是在Pass through功能關(guān)閉和開啟的時(shí)候是否正常，參考圖1以及圖2，目前產(chǎn)線所使用的通過功能(pass throughfunct1n)測試，是利用一條客制化的測試網(wǎng)絡(luò)線，分為通過功能測試線(pass throughfunct1n test cable)，如圖1 所不，Pass through cable 是將 Ethernet RX TX 訊號全部串在一起(ex.由RXO進(jìn)由TX3出)，如圖2所示，其為網(wǎng)絡(luò)孔A與網(wǎng)絡(luò)孔B之間的連接關(guān)系原理圖，當(dāng)在測試pass through功能時(shí)，只需從測試端口傳送一個(gè)訊號經(jīng)由一條客制化的通過功能測試用線，再確認(rèn)此訊號是否有回傳(loop back)回來，即可確認(rèn)此通過路徑皆是正常，但缺點(diǎn)為，當(dāng)八條路徑中，其中一條路徑有問題時(shí)，無法得知是在哪一條路徑。
[0003]有鑒于此，本實(shí)用新型提供一種服務(wù)器的通過功能測試裝置，其可檢測出服務(wù)器的通過功能由于哪條路徑引起的異常。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種服務(wù)器的通過功能測試板，其可檢測出服務(wù)器的通過功能由于哪條路徑引起的異常。
[0005]為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型提供一種服務(wù)器的通過功能測試板，其連接一測試端電腦用于測試待測服務(wù)器主板上與服務(wù)器系統(tǒng)相連接的第一網(wǎng)絡(luò)孔和第二網(wǎng)絡(luò)孔之間的通過功能是否異常，所述第一網(wǎng)絡(luò)孔具有若干個(gè)引腳，所述第二網(wǎng)絡(luò)孔具有若干個(gè)引腳，其包括:
[0006]一測試端電腦連接端口，其在測試時(shí)連接所述測試端電腦；
[0007]一控制器，其連接所述測試端電腦連接端口 ；
[0008]一電位值檢測芯片，其通過I2C總線連接所述控制器；
[0009]—第一測試端口，其一端具有與所述第一網(wǎng)絡(luò)孔的引腳數(shù)量相同的引腳，所述第一測試端口的引腳，在測試時(shí)，分別對應(yīng)連接所述第一網(wǎng)絡(luò)孔的若干個(gè)引腳；
[0010]一第二測試端口，其一端連接所述電位值檢測芯片，另一端具有與所述第二網(wǎng)絡(luò)孔的引腳數(shù)量相同的引腳，所述第二測試端口的八個(gè)引腳，在測試時(shí)，分別對應(yīng)連接所述第二網(wǎng)絡(luò)孔的若干個(gè)引腳；以及
[0011]一測試用電源，其連接所述第一測試端口的另一端。
[0012]優(yōu)選地，所述電位值檢測芯片為I2C I/O擴(kuò)展芯片。
[0013]優(yōu)選地，所述的服務(wù)器的通過功能測試板還增設(shè)有一公頭擴(kuò)充連接器，以及一母頭擴(kuò)充連接器，所述公頭擴(kuò)充連接器以及所述母頭擴(kuò)充連接器分別連接在所述電位值檢測芯片以及所述控制器之間，所述公頭擴(kuò)充連接器用于連接另一個(gè)服務(wù)器的通過功能測試板的母頭擴(kuò)充連接器，所述母頭擴(kuò)充連接器用于連接另一服務(wù)器的通過功能測試板的所述公頭擴(kuò)充連接器。
[0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本實(shí)用新型的服務(wù)器的通過功能測試板通過該第二測試端口為所述待測服務(wù)器主板上的第二網(wǎng)絡(luò)孔提供電源，進(jìn)一步通過該第一測試端口監(jiān)測所述待測服務(wù)器主板上的第一網(wǎng)絡(luò)孔的各個(gè)引腳的電位，從而根據(jù)各個(gè)引腳的電位以及第一網(wǎng)絡(luò)孔和第二網(wǎng)絡(luò)孔內(nèi)部的連線情況即可輕易地在所述待測服務(wù)器主板上的第一網(wǎng)絡(luò)孔以及第二網(wǎng)絡(luò)孔之間的連接異常時(shí)獲知所述連第一網(wǎng)絡(luò)孔以及第二網(wǎng)絡(luò)孔之間哪條連接線出了狀況，具有可檢測出服務(wù)器的通過功能由于哪條路徑引起的異常的有益效果。
【【附圖說明】

】
[0015]圖1為本實(shí)用新型現(xiàn)有的服務(wù)器的通過功能測試線連接原理圖。
[0016]圖2為現(xiàn)有的通過功能測試線與服務(wù)器網(wǎng)絡(luò)孔A與B之間的連接原理圖連接原理圖。
[0017]圖3為本實(shí)用新型一種服務(wù)器的通過功能測試板的原理方塊圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0018]請參閱圖3所示，本實(shí)用新型一種服務(wù)器的通過功能測試板1，其連接一測試端電腦2用于測試待測服務(wù)器主板3上與服務(wù)器系統(tǒng)(未示)相連接的第一網(wǎng)絡(luò)孔A和第二網(wǎng)絡(luò)孔B之間的通過功能是否異常，所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A以及所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B之間有八條線連接，當(dāng)服務(wù)器處于關(guān)閉狀態(tài)下，開啟所述通過功能，所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A與所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B會處于短路狀態(tài)下，也就是所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A以及所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B之間的八條線沒有斷開。
[0019]所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A具有八個(gè)引腳Α1、Α2...Α8，所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B具有八個(gè)引腳B1、Β2…Β8，所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A與所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B之間的連線參考圖2。
[0020]本實(shí)用新型的服務(wù)器的通過功能測試板I包括一測試端電腦連接端口 10、一控制器11、一電位值檢測芯片12、一第一測試端口 13、一第二測試端口 14以及一測試用電源15ο
[0021]所述測試端電腦連接端口 10在測試時(shí)連接所述測試端電腦2。
[0022]所述控制器11連接所述測試端電腦連接端口 10以及通過I2C總線連接所述電位值檢測芯片12。在本實(shí)施例中，所述電位值檢測芯片12為I2C I/O擴(kuò)展芯片。
[0023]所述第一測試端口 13，其一端具有八個(gè)引腳C1、C2…C8，所述第一測試端口 13的八個(gè)引腳Cl、C2…C8，在測試時(shí)，分別對應(yīng)連接所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A的八個(gè)引腳Al、A2…A8。
[0024]所述第二測試端口 14，其一端連接所述電位值檢測芯片12，另一端具有八個(gè)引腳D1、D2…D8，所述第二測試端口 14的八個(gè)引腳D1、D2…D8，在測試時(shí)分別對應(yīng)連接所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B的八個(gè)引腳B1、B2…B8。
[0025]所述測試用電源15，其連接所述第一測試端口 13的另一端，用于為所述第一測試端口 13提供測試用電壓。當(dāng)測試時(shí)，將所述測試端電腦2連接本實(shí)用新型服務(wù)器的通過功能測試板I的測試端電腦連接端口 10，將所述服務(wù)器3的第一網(wǎng)絡(luò)孔A連接所述第一測試端口 13使得所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A的八個(gè)引腳A1、A2…AS分別對應(yīng)連接所述第一測試端口 13的八個(gè)引腳C1、C2-C8，且將所述服務(wù)器3的第二網(wǎng)絡(luò)孔B連接所述第二測試端口 14使得所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B的八個(gè)引腳B1、B2…B8分別對應(yīng)連接所述第二測試端口 14的八個(gè)引腳DU D2…D8，此時(shí)，所述測試用電源15通過所述第一測試端口 13供電，所述電位值檢測芯片12會會實(shí)時(shí)檢測到所述第二測試端口 14的各個(gè)引腳D1、D2…D8的電位值，當(dāng)所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A與所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B之間為通路時(shí)，所述電位值檢測芯片12檢測到所述第二測試端口 14的各個(gè)引腳D1、D2…D8的電位值分別為1，1，1，1，1，1，1，而當(dāng)所述電位值檢測芯片12檢測到所述第二測試端口 14的各個(gè)引腳Dl、D2…D8的電位值分別為1，0，1，1，1，1，1，由此可獲知所述第一網(wǎng)絡(luò)孔A以及所述第二網(wǎng)絡(luò)孔B之間A6與B2連接有異常，當(dāng)使用者通過所述測試端電腦2發(fā)送測試命令時(shí)，所述控制器11會在通過所述測試端電腦連接端口10接收測試命令后傳輸一個(gè)控制命令給所述電位值檢測芯片12控制所述電位值檢測芯片12回傳檢測到的電位值數(shù)據(jù)并將接收到的電位值數(shù)據(jù)通過所述測試端電腦連接端口 10回傳給所述測試端電腦2，所述測試端電腦2在接收到電位值數(shù)據(jù)后顯示測試結(jié)果。
[0026]進(jìn)一步，本實(shí)用新型的服務(wù)器的通過功能測試板I還增設(shè)有一公頭擴(kuò)充連接器16，以及一母頭擴(kuò)充連接器17，所述公頭擴(kuò)充連接器16以及所述母頭擴(kuò)充連接器17分別連接在所述電位值檢測芯片12以及所述控制器11之間，所述公頭擴(kuò)充連接器16用于連接另一個(gè)服務(wù)器的通過功能測試板I的母頭擴(kuò)充連接器17，所述母頭擴(kuò)充連接器17用于連接另一服務(wù)器的通過功能測試板I的所述公頭擴(kuò)充連接器16，使得當(dāng)用戶其中一測試端電腦2發(fā)送測試命令后，與該測試端電腦2連接的一個(gè)服務(wù)器的通過功能測試板I的控制器11會在接收到測試命令后分別傳輸給該服務(wù)器的通過功能測試板I的電位值檢測芯片12以及通過該服務(wù)器的通過功能測試板I的公頭擴(kuò)充連接器16以及母頭擴(kuò)充連接器17傳輸給與其連接的另外兩個(gè)通過功能測試板I的電位值檢測芯片12，借此可同時(shí)測試多個(gè)板子，提高工作效率。
[0027]綜上所述，上述各實(shí)施例及圖示僅為本實(shí)用新型之較佳實(shí)施例而已，但不能以之限定本實(shí)用新型實(shí)施之范圍，即大凡依本實(shí)用新型申請專利范圍所作之均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本實(shí)用新型專利涵蓋之范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種服務(wù)器的通過功能測試板，其連接一測試端電腦用于測試待測服務(wù)器主板上與服務(wù)器系統(tǒng)相連接的第一網(wǎng)絡(luò)孔和第二網(wǎng)絡(luò)孔之間的通過功能是否異常，所述第一網(wǎng)絡(luò)孔具有若干個(gè)引腳，所述第二網(wǎng)絡(luò)孔具有若干個(gè)引腳，其特征在于，包括: 一測試端電腦連接端口，其在測試時(shí)連接所述測試端電腦； 一控制器，其連接所述測試端電腦連接端口 ； 一電位值檢測芯片，其通過I2C總線連接所述控制器； 一第一測試端口，其一端具有與所述第一網(wǎng)絡(luò)孔的引腳數(shù)量相同的引腳，所述第一測試端口的引腳，在測試時(shí)，分別對應(yīng)連接所述第一網(wǎng)絡(luò)孔的若干個(gè)引腳； 一第二測試端口，其一端連接所述電位值檢測芯片，另一端具有與所述第二網(wǎng)絡(luò)孔的引腳數(shù)量相同的引腳，所述第二測試端口的八個(gè)引腳，在測試時(shí)，分別對應(yīng)連接所述第二網(wǎng)絡(luò)孔的若干個(gè)引腳；以及 一測試用電源，其連接所述第一測試端口的另一端。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的服務(wù)器的通過功能測試板，其特征在于，所述電位值檢測芯片為I2C I/O擴(kuò)展芯片。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的服務(wù)器的通過功能測試板，其特征在于，還增設(shè)有一公頭擴(kuò)充連接器，以及一母頭擴(kuò)充連接器，所述公頭擴(kuò)充連接器以及所述母頭擴(kuò)充連接器分別連接在所述電位值檢測芯片以及所述控制器之間，所述公頭擴(kuò)充連接器用于連接另一個(gè)服務(wù)器的通過功能測試板的母頭擴(kuò)充連接器，所述母頭擴(kuò)充連接器用于連接另一服務(wù)器的通過功能測試板的所述公頭擴(kuò)充連接器。
【文檔編號】G06F11-26GK204270289SQ201420112440
【發(fā)明者】黃信達(dá), 王季興, 李展鋒, 江昆仲, 李明和 [申請人]昆達(dá)電腦科技(昆山)有限公司, 神達(dá)電腦股份有限公司