專利名稱：計算機主機板輸出入端口的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于計算機主機板的測試，特別是指一種能夠測試計算機主機板上各種輸出入端口的測試裝置。
背景技術(shù)：
雖然中央處理器(CPU)執(zhí)行了大多數(shù)的運算工作，但卻是主機板(motherboard)將所有必要的零組件整合在一起而讓中央處理器搖身一變成為現(xiàn)代的個人計算機。計算機主機板一般包括了多個輸出入端(input/output port，以下簡稱I/O端)來連接各種外圍裝置，而這些I/O端口會安排在個人計算機上。在計算機主機板的設(shè)計期間或制造的最后階段須盡可能的測試每個I/O端，其中某些有限度的功能測試可由基本輸出-輸入系統(tǒng)(Basic Input-Output System，以下簡稱BIOS)中的例程(routine)來進行，而BIOS系一種低階軟件其控制著主機板上的裝置，在電源開啟或系統(tǒng)重置時，中央處理器會先執(zhí)行BIOS碼，而BIOS碼是儲存在計算機主機板上的非揮發(fā)性內(nèi)存，一般BIOS碼會先執(zhí)行所謂的″開機自我測試″(power-up self test，POST)來對基本的硬件進行一連串的診斷測試以確保其運作正常，BIOS還會對基本的硬件運作以及視訊的功能進行必要的初始化，然后尋找操作系統(tǒng)，例如Microsoft Windows、Linux，再開始執(zhí)行。
傳統(tǒng)上是在以窗口為基礎(chǔ)的操作系統(tǒng)環(huán)境下執(zhí)行廣泛的診斷測試程序來檢驗計算機的各個部份，遺憾的是，上述方式在測試計算機主機板的I/O端口上卻有許多缺點。雖然BIOS碼可以在系統(tǒng)層次提供某種程度的輸出入測試，但其診斷能力卻十分有限，僅僅提供了問題發(fā)生的訊息而很少能夠指出問題為何或問題何在；另外，受測的計算機主機板必須從儲存媒體加載操作系統(tǒng)以便執(zhí)行診斷程序，如此將耗費掉大量的時間。綜合觀之，傳統(tǒng)測試計算機主機板I/O端口的方式不是過于簡單而無法提供必要的信息，就是太過復(fù)雜而浪費時間，除此之外，亦沒有一種整合性的測試套件來測試當今個人計算機常用的I/O端口。
有鑒于此，亟需一種通用的測試套件以有效地測試計算機主機板上常用的I/O端。這種通用的測試套件必須非常簡單并且能根據(jù)受測I/O端的特性來快速地測試各種I/O端，再者，這種通用的測試套件還必須能將發(fā)生問題的I/O端其不正常的每支引腳正確地顯現(xiàn)出來。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對于一種計算機主機板輸出入端口的測試裝置；根據(jù)本發(fā)明，該裝置包括一電路板、第一連接器、第二連接器、第一測試電路以及第二測試電路。第一連接器設(shè)置在該電路板上，其至少包含多個并行接口數(shù)據(jù)引腳、多個并行接口狀態(tài)引腳以及多個并行接口控制引腳，本發(fā)明的測試裝置以第一連接器與計算機主機板上的并行端口其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)；第一測試電路耦接于該第一連接器，其至少包含一邏輯裝置耦接于該些并行接口數(shù)據(jù)引腳以及該些并行接口控制引腳當作輸入，該邏輯裝置將其輸入進行邏輯運算且輸出一組邏輯訊號給該些并行接口狀態(tài)引腳其中的一部份。第二連接器設(shè)置在該電路板上，其至少包含一對通用串行總線(Universal SerialBus，USB)接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳，用來與計算機主機板上的USB端口其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)；第二測試電路耦接于該第二連接器，用以設(shè)定該對USB接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳成為不同于受測計算機主機板其USB端口默認值的狀態(tài)。
本發(fā)明還揭示一種測試計算機主機板輸出入端口的通用測試套件，該通用測試套件用來連接到受測計算機主機板的多個輸出入端，這些輸出入端其中至少包含一并行端以及一USB端。受測的計算機主機板主要還有一非揮發(fā)性內(nèi)存以及一中央處理器，非揮發(fā)性內(nèi)存用來儲存測試碼以取代原本的BIOS碼，而中央處理器則以該非揮發(fā)性內(nèi)存中的測試碼進行開機，并且執(zhí)行該測試碼對受測計算機主機板上的該些輸出入端進行測試。另一方面，通用測試套件還至少包含一電路板、第一連接器、第二連接器、第一測試電路以及第二測試電路。第一連接器至少包含多個并行接口數(shù)據(jù)引腳、多個并行接口狀態(tài)引腳以及多個并行接口控制引腳，本發(fā)明的通用測試套件以第一連接器與計算機主機板上的并行端口其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)；第一測試電路耦接于該第一連接器，其至少包含一邏輯裝置耦接于該些并行接口數(shù)據(jù)引腳以及該些并行接口控制引腳當作輸入，該邏輯裝置將其輸入進行邏輯運算且輸出一組邏輯訊號給該些并行接口狀態(tài)引腳其中的一部份。第二連接器至少包含一對USB接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳，用來與計算機主機板上的USB端口其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)；第二測試電路耦接于該第二連接器，其中，第一電阻耦接于該對USB接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳其中的一引腳以及第一電壓源之間，第二電阻耦接于該對USB接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳其中的另一引腳以及第二電壓源之間，而第三電阻則耦接于該對USB接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳之間，基本上，第一、第二和第三電阻是以串聯(lián)方式連接，藉此設(shè)定該對USB接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳成為不同于受測計算機主機板其USB端口默認值的狀態(tài)。
為進一步說明本發(fā)明的上述目的、結(jié)構(gòu)特點和效果，以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明進行詳細的描述。


圖1是根據(jù)本發(fā)明的測試裝置連接至示范用的計算機主機板的方塊示意圖；圖2A是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板上的鍵盤連接端口的電路示意圖；圖2B是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板上的PS/2鼠標連接端口的電路示意圖；圖2C是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板上的USB端口的電路示意圖；圖2D是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板上的并行端口的電路示意圖；圖2E、2F是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板上的串行端口的電路示意圖；圖2G是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板上的游戲端口的電路示意圖；圖2H是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板上的音訊端口的電路示意圖；圖2I是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板上的網(wǎng)絡(luò)端口的電路示意圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明用來測試計算機主機板的主要步驟流程圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明游戲端口用的測試例程其主要步驟流程圖；圖5A~5D是根據(jù)本發(fā)明并行端口用的測試例程其主要步驟流程圖；
圖6A~6C是根據(jù)本發(fā)明串行端口用的測試例程其主要步驟流程圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明USB端口用的測試例程其主要步驟流程圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明網(wǎng)絡(luò)端口用的測試例程其主要步驟流程圖；圖9是根據(jù)本發(fā)明音訊端口用的測試例程其主要步驟流程圖；圖10是根據(jù)本發(fā)明鍵盤連接端口用的測試例程其主要步驟流程圖；以及圖11是根據(jù)本發(fā)明PS/2鼠標連接端口用的測試例程其主要步驟流程圖。
具體實施例方式
為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，并配合附圖，作詳細說明如下圖1所示是示范用的計算機主機板100連接至本發(fā)明的測試裝置200，計算機主機板100具有包含了北橋(North Bridge)110以及南橋(South Bridge)118的芯片組，其中″橋″這個字所指的是將多個總線(bus)連結(jié)在一起的裝置，北橋110做為中央處理器102、內(nèi)存次系統(tǒng)106、繪圖控制器114以及南橋118的接駁轉(zhuǎn)運點，將中央處理器102的前端總線(front side bus，F(xiàn)SB)104接至內(nèi)存總線108、AGP圖形總線112以及南、北橋間專屬的互聯(lián)通道116；而南橋118簡單的說整合了各種輸出入控制器、提供接口以連接外圍裝置及總線，并且透過互聯(lián)信道116將數(shù)據(jù)在南橋118、北橋110間傳遞，計算機主機板100上則具有數(shù)個連接外圍裝置的I/O端口130～148。舉例而言南橋118整合了鍵盤和PS/2鼠標控制器、通用串行總線(Universal Serial Bus，USB)控制器、IEEE1394控制器來分別支持鍵盤連接端口130、PS/2鼠標連接端口132、IEEE 1394端136以及兩個USB端134；主機板100上內(nèi)建的超級I/O芯片122經(jīng)由LPC總線120連至南橋118，其支持了并行端138、游戲端144以及兩個串行端140、142；南橋118還可能提供一個特別的接口給音訊控制器126以支持音訊端口146，音訊端口146包括立體聲輸出(LINE_OUT_L、LINE_OUT_R)、立體聲輸入(LINE_IN_L、LINE_IN_R)以及麥克風輸入(MIC_IN)；由網(wǎng)絡(luò)控制器128所驅(qū)動的網(wǎng)絡(luò)端口148一般是經(jīng)由PCI總線連至南橋118；此外，非揮發(fā)性內(nèi)存124一般是直接、或經(jīng)由LPC總線120連至南橋118，非揮發(fā)性內(nèi)存124通常儲存著稱為低階軟件的BIOS碼。雖然圖1以計算機主機板100當作范例，然其并非將本發(fā)明限制于任何特定的計算機主機板。
繼續(xù)參考圖1，本發(fā)明的測試裝置200其主要部份的電路板170整合了數(shù)個測試模塊180～198來測試相關(guān)的I/O端口，這些模塊包括鍵盤連接端口用的測試模塊180、PS/2鼠標連接端口用的測試模塊182、USB端口用的測試模塊184、IEEE 1394端口用的測試模塊186、并行端口用的測試模塊188、串行端口用的測試模塊190和192、游戲端口用的測試模塊194、音訊端口用的測試模塊196以及網(wǎng)絡(luò)端口用的測試模塊198。在進行測試之前先將測試裝置200上的各測試模塊180～198以適當?shù)睦|線150～168連接到受測計算機主機板100上的對應(yīng)I/O端；另一種實施例則是將測試裝置200直接連在受測計算機主機板100的I/0端口上。在進行相關(guān)的測試時，先將非揮發(fā)性內(nèi)存124中原本BIOS碼以本發(fā)明的測試碼取代，藉由測試碼對計算機主機板100進行初始化并測試其I/O端。本發(fā)明的測試裝置200以及測試碼統(tǒng)稱為通用的測試套件，而為說明方便起見，計算機主機板100此后稱為受測裝置(device under test，簡稱DUT)。
圖2A～2I詳細說明了測試裝置200所整合的各測試模塊。如圖2A所示，鍵盤連接端口用的測試模塊180本身即由一鍵盤連接器202所構(gòu)成，鍵盤連接器202設(shè)置在電路板170上，用來與DUT 100上的鍵盤連接端口130其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。根據(jù)一般鍵盤連接器的引腳分配規(guī)則(pinassignment)，在連接器202第1腳的KB_CLK訊號會被回授到連接器202第2腳的KB_DATA訊號，亦即鍵盤接口數(shù)據(jù)訊號引腳(第2腳)與鍵盤接口時鐘訊號引腳(第1腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)(loop-back connection)204；此外，連接器202的第4、5腳分別是接地(ground)及電源引腳，如圖示，發(fā)光二極管(Light Emitting Diode)DD1以及電阻R1串聯(lián)在鍵盤連接器202的第4腳和第5腳之間，而發(fā)光二極管DD2以及電阻R2則串聯(lián)在鍵盤連接器202的第5腳和系統(tǒng)接地GND之間，藉此可以由發(fā)光二極管DD1及DD2來顯示第4腳和第5腳是否正常。
現(xiàn)在參考圖2B，PS/2鼠標連接端口用的測試模塊182本身即由一PS/2鼠標連接器212所構(gòu)成，PS/2鼠標連接器212系設(shè)置在電路板170上，用來與DUT 100上的PS/2鼠標連接端口132其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。根據(jù)一般PS/2鼠標連接器的引腳分配規(guī)則，在連接器212第5腳的PS/2_CLK訊號會被回授到連接器212第1腳的PS/2_DATA訊號，亦即PS/2接口數(shù)據(jù)訊號引腳(第1腳)與PS/2接口時鐘訊號引腳(第5腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)214；此外，連接器212的第3、6腳分別是接地及電源引腳，如圖示，發(fā)光二極管DD3以及電阻R3串聯(lián)在PS/2鼠標連接器212的第6腳和第3腳之間，而發(fā)光二極管DD4以及電阻R4則串聯(lián)在PS/2鼠標連接器212的第6腳和系統(tǒng)接地GND之間，藉此可以由發(fā)光二極管DD3及DD4來顯示第3腳和第6腳是否正常。
參考圖2C，兩個USB端口用的測試模塊184其包括了第一USB連接器222及其關(guān)聯(lián)的測試電路224、第二USB連接器222′及其關(guān)聯(lián)的測試電路224′。第一、第二USB連接器222和222′系設(shè)置在電路板170上，用來與DUT 100上的兩個USB端134其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。根據(jù)標準USB連接器的引腳分配規(guī)則，USB連接器222的第2、3腳提供一對USB接口差動數(shù)據(jù)訊號D+和D-，而USB連接器222的第1腳則是用來接受供應(yīng)電源的電源引腳、第4腳則用來接地的接地引腳。在測試電路224中，電阻R7耦接于USB連接器222的第1腳以及D+引腳(第3腳)之間，電阻R9耦接于USB連接器222的第4腳以及D-引腳(第2腳)之間，而且電阻R8耦接于USB連接器222的第2、3腳之間，如圖示，電阻R7、R8和R9是以串聯(lián)方式連接，以此方式，測試電路224可將訊號引腳D+和D-設(shè)定為不同于受測計算機主機板其USB端口默認值的狀態(tài)。為了能夠顯示第1腳和第4腳是否正常，發(fā)光二極管DD6以及電阻R6串聯(lián)在USB連接器222的第1腳和第4腳之間，而發(fā)光二極管DD5以及電阻R5則串聯(lián)在USB連接器222的第1腳和系統(tǒng)接地GND之間。如圖2C所示，第二USB連接器222′及其關(guān)聯(lián)的測試電路224′亦以同樣的方式配置。由于IEEE 1394端具有類似于USB的高速差動訊號，因此依據(jù)本發(fā)明的原則，IEEE 1394端口用的測試模塊186應(yīng)該與測試模塊184相似。
現(xiàn)在參考圖2D，并行端口用的測試模塊188其包括了25腳的D型連接器232及其關(guān)聯(lián)的測試電路234。連接器232設(shè)置在電路板170上，用來與DUT100上的并行端136其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)，包括了8支并行接口數(shù)據(jù)引腳、5支并行接口狀態(tài)引腳以及4支并行接口控制引腳。根據(jù)一般并行端口的引腳分配規(guī)則，連接器232的第2～9腳用來傳遞8位的D0～D7數(shù)據(jù)訊號，連接器232的第1、14、16、17腳分別用來傳遞STB、AFD、INIT以及SLIN控制訊號，而連接器232的第10～13和15腳則分別用來傳遞ACK、BUSY、P/E、SLCT以及ERR狀態(tài)訊號。測試電路234包括與非門(NANDgate)236a～236c，在實施例中，與非門236a～236c構(gòu)成了一個邏輯裝置。如圖示，與非門236a的四個輸入端分別耦接于并行接口數(shù)據(jù)引腳D0～D3(連接器232的第2～5腳)，其輸出端則耦接于(PAPER END)P/E狀態(tài)引腳(連接器232的第12腳)，與非門236a針對其輸入進行NAND邏輯運算，并將運算后的結(jié)果由輸出端提供給連接器232的第12腳；與非門236b的四個輸入端分別耦接于并行接口數(shù)據(jù)引腳D4～D7(連接器232的第6～9腳)，其輸出端則耦接于SELECT(SLCT)狀態(tài)引腳(連接器232的第13腳)，與非門236b針對其輸入進行NAND邏輯運算，并將運算后的結(jié)果由輸出端提供給連接器232的第1 3腳；同樣地，與非門236c的四個輸入端分別耦接于STB、AFD、INIT以及SLIN控制訊號(連接器232的第1、14、16、17腳)，其輸出端則耦接于ERROR(ERR)狀態(tài)引腳(連接器232的第15腳)，與非門236c針對其輸入進行NAND邏輯運算，并將運算后的結(jié)果由輸出端提供給連接器232的第15腳。與非門236a～236c的所有輸入端均經(jīng)由提升(pull-up)電阻R10～R21耦接至系統(tǒng)的供應(yīng)電源Vcc，并且測試電路234將ACK及BUSY狀態(tài)引腳(連接器232的第10、11腳)接地。
參考圖2E，串行端口用的測試模塊190本身即由一9腳的D型連接器242所構(gòu)成，連接器242系設(shè)置在電路板170上，用來與DUT 100上的串行端140其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)，包括了1支串行數(shù)據(jù)輸出引腳、1支串行數(shù)據(jù)輸入引腳、4支串行接口狀態(tài)引腳以及2支串行接口控制引腳。根據(jù)一般串行端口的引腳分配規(guī)則，在連接器242第4腳的DTR訊號會被回授到連接器242第1腳的DCD訊號以及第6腳的DSR訊號，亦即串行接口控制引腳DTR(第4腳)與串行接口狀態(tài)引腳DCD和DSR(第1、6腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)244；同樣地，在連接器242第7腳的RTS訊號會被回授到連接器242第8腳的CTS訊號以及第9腳的RI訊號，亦即串行接口控制引腳RTS(第7腳)與串行接口狀態(tài)引腳CTS和RI(第8、9腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)246；并且在連接器242第3腳的TXD訊號會被回授到連接器242第2腳的RXD訊號，亦即串行數(shù)據(jù)輸出引腳TXD(第3腳)與串行數(shù)據(jù)輸入引腳RXD(第2腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)248；連接器242的第5腳則是耦接至系統(tǒng)接地GND。如圖2F所示，另一個串行端口用的測試模塊192同樣以上述的方式來配置。
參考圖2G，游戲端口用的測試模塊194其包括了15腳的D型連接器262及其關(guān)聯(lián)的測試電路264。連接器262系設(shè)置在電路板170上，用來與DUT 100上的游戲端144其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。根據(jù)一般游戲端口的引腳分配規(guī)則，連接器262的第2、14腳分別用來輸入第一按鍵訊號，第7、10腳分別用來輸入第二按鍵訊號，第3、11腳分別用來輸入X軸坐標訊號，而第6、13腳分別用來輸入Y軸坐標訊號；此外，連接器262的第1、8、9、15腳是用來接受供應(yīng)電源的電源引腳，連接器262的第4、5、12腳則是用來接地的接地引腳。測試電路264將連接器262上的游戲接口訊號引腳其中的一部份耦接至供應(yīng)電源，并且將游戲接口訊號引腳的其余部份接地，換言之，提升電阻R22耦接在連接器262的第1、3腳之間，提升電阻R23耦接在連接器262的第6、8腳之間，提升電阻R24耦接在連接器262的第9、11腳之間，且提升電阻R25耦接在連接器262的第13、15腳之間；另一方面，連接器262的第2、7、10、14腳則與第4、5腳耦接在一起，藉此將它們接地。連接器262的第12腳同樣需予以耦接至系統(tǒng)接地GND。
參考圖2H，音訊端口用的測試模塊196其包括了音訊連接器272及振蕩器274。連接器272設(shè)置在電路板170上，用來與DUT 100上的音訊端口端口146其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。實施例中的音訊連接器272采用麥克風插座，如圖標，連接器272的第1腳當作音訊接口引腳，而其余的引腳則分別接到Vcc及GND。振蕩器274的輸出耦接至連接器272的音訊接口引腳，振蕩器274用來產(chǎn)生時鐘訊號以提供給連接器272的音訊接口引腳做為測試訊號TEST_CLK輸出。
參考圖2I，網(wǎng)絡(luò)端口用的測試模塊198本身即由一RJ-45連接器282所構(gòu)成，連接器282設(shè)置在電路板170上，用來與DUT 100上的網(wǎng)絡(luò)端口148其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。根據(jù)一般網(wǎng)絡(luò)端口的引腳分配規(guī)則，連接器282的第1、2腳形成一對傳送引腳TX+和TX-，而連接器282的第3、6腳則形成一對接收引腳RX+和RX-。如圖示，該對傳送引腳與該對接收引腳相對應(yīng)地耦接在一起，亦即TX+引腳(連接器282的第1腳)與RX+引腳(連接器282的第3腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)284；TX-引腳(連接器282的第2腳)與RX-引腳(連接器282的第6腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)286。
圖3的流程圖系測試DUT 100的主要步驟。DUT 100和本發(fā)明的測試裝置200在電源開啟后，DUT 100上的中央處理器102由非揮發(fā)性內(nèi)存124中的測試碼進行開機，藉以執(zhí)行該測試碼對DUT 100上的I/O端130～148進行測試(步驟S310)，并且在測試之前，只有DUT 100上的相關(guān)必要裝置如北橋110、內(nèi)存次系統(tǒng)106、繪圖控制器114以及南橋118會予以初始化，為加速測試的過程，中央處理器102還會將所有或部份的測試碼由非揮發(fā)性內(nèi)存124搬到內(nèi)存次系統(tǒng)106。接著呈現(xiàn)一提示選單列出全部可供測試的I/O端，以便讓測試人員以互動方式挑選其中一個進行測試(步驟S320)，本發(fā)明并不需要將操作系統(tǒng)加載。中央處理器102便執(zhí)行測試碼中對應(yīng)于受測I/O端口的測試例程，以根據(jù)受測I/O端的特性來進行測試(步驟S330)，然后判定受測I/O端上每一引腳的狀態(tài)(步驟S340)。倘若受測I/O端口的每一訊號引腳均能正常運作，則顯示一測試通過訊息(步驟S350)；倘若受測I/O端口之中存在至少一訊號引腳無法正常運作，則顯示一測試失敗訊息且指出無法正常運作的訊號引腳(步驟S360)。測試流程在步驟S350或S360之后回到步驟S320等候選擇另外的I/O端來開始下回新的測試。
接下來針對測試碼所包含的每一個測試例程進行討論。倘若選到的受測I/O端是DUT 100的游戲端144，則對應(yīng)于游戲端口的測試例程會予以執(zhí)行，參考圖4，先初始設(shè)定游戲端口144的I/O基地址(base address)，讀取一內(nèi)存區(qū)塊來檢出游戲端144引腳的診察值(步驟S410)，其中該內(nèi)存區(qū)塊內(nèi)具有數(shù)個始于上述I/O基地址的游戲端口緩存器，藉此以該內(nèi)存區(qū)塊中的數(shù)個位來檢查游戲端口140上的數(shù)支接口訊號引腳，而這些位直接反映了受測接口訊號引腳的目前狀態(tài)。再將上述內(nèi)存區(qū)塊中這些位與預(yù)先為各接口訊號引腳自外部設(shè)定的既定值進行比較(步驟S420)，如圖2G所示，游戲端144的第3、6、11、13腳被測試裝置200的測試模塊194提升至供應(yīng)電源，故這幾支接口訊號引腳其外部設(shè)定的既定值為邏輯′1′，另一方面，游戲端144的第2、7、10、14腳被測試模塊194接地，故這幾支接口訊號引腳其外部設(shè)定的既定值為邏輯′0′。然后將內(nèi)存區(qū)塊中該些位所代表的診察值與預(yù)先為該些接口訊號引腳自外部設(shè)定的既定值進行比較(步驟S430)，倘若檢出的診察值與外部設(shè)定的既定值相符，則判定游戲端144上的那些接口訊號引腳均能正常運作(步驟S440)；否則測試例程將指出游戲端口144上的那支引腳有問題(步驟S450)。
倘若選到的受測I/O端系DUT 100的并行端138，則對應(yīng)于并行端口的測試例程會予以執(zhí)行。首先初始設(shè)定并行端口138的I/O基地址，其中并行端口的緩存器位在由I/O基地址開始的內(nèi)存區(qū)塊內(nèi)。參考圖5A，將第一位態(tài)樣(pattern)寫入至該內(nèi)存區(qū)塊中數(shù)個數(shù)據(jù)位的第一部份，而這些數(shù)據(jù)位的第一部份對應(yīng)于并行端所擁有的并行接口數(shù)據(jù)引腳D0～D3，以此方式，第一位態(tài)樣可自并行端的第2～5腳傳送出去(步驟S510)。在一既定的時間后，從上述內(nèi)存區(qū)塊讀取P/E狀態(tài)位，其對應(yīng)于并行端的PAPER END(P/E)狀態(tài)引腳，藉此檢出并行端第12腳的測試結(jié)果(步驟S512)。如圖2D所示，藉由測試裝置200上的測試模塊188，并行端口138的第2～5腳送出的第一位態(tài)樣經(jīng)NAND邏輯運算的結(jié)果會回饋至并行端138的第12腳，因此可以根據(jù)讀到的P/E狀態(tài)位與寫入的第一位態(tài)樣之間的邏輯關(guān)系，檢查并行端口第12腳-PAPER END狀態(tài)引腳(步驟S514)。將一組第二位態(tài)樣輪流以一次一個的方式寫入至上述內(nèi)存區(qū)塊中那些數(shù)據(jù)位的第一部份，藉此自并行端的第2～5腳輪流以一次一個的方式傳送出這組第二位態(tài)樣(步驟S516)。在既定的時間之后，從上述內(nèi)存區(qū)塊讀取P/E狀態(tài)位以檢出在并行端第12腳上的NAND邏輯運算結(jié)果(步驟S518)。重復(fù)步驟S516及S518，每一回根據(jù)步驟S518中讀到的P/E狀態(tài)位與對應(yīng)于步驟S516寫入的第二位態(tài)樣之間的關(guān)系，檢查并行接口數(shù)據(jù)引腳D0～D3的每支腳(步驟S520)。
參考圖5B，接下來再將第一位態(tài)樣寫入至內(nèi)存區(qū)塊中那些數(shù)據(jù)位的第二部份，而第二部份是對應(yīng)于并行端所擁有的并行接口數(shù)據(jù)引腳D4～D7，以此方式，第一位態(tài)樣可自并行端的第6～9腳傳送出去(步驟S522)。在既定的時間之后，從上述內(nèi)存區(qū)塊讀取SLCT狀態(tài)位，其對應(yīng)于并行端的SELECT(SLCT)狀態(tài)引腳，藉此檢出并行端第13腳的測試結(jié)果(步驟S524)。如圖2D所示，藉由測試裝置200上的測試模塊188，并行端口138的第6～9腳送出的第一位態(tài)樣經(jīng)NAND邏輯運算的結(jié)果會回饋至并行端138的第13腳，因此可以根據(jù)讀到的SLCT狀態(tài)位與寫入的第一位態(tài)樣之間的邏輯關(guān)系，檢查并行端口第13腳一SELECT狀態(tài)引腳(步驟S526)。然后將該組第二位態(tài)樣輪流以一次一個的方式寫入至上述內(nèi)存區(qū)塊中那些數(shù)據(jù)位的第二部份，藉此自并行端的第6～9腳輪流以一次一個的方式傳送出這組第二位態(tài)樣(步驟S528)。在既定的時間之后，從上述內(nèi)存區(qū)塊讀取SLCT狀態(tài)位以檢出在并行端第13腳上的NAND邏輯運算結(jié)果(步驟S530)。重復(fù)步驟S528及S530，每一回根據(jù)步驟S530中讀到的SLCT狀態(tài)位與對應(yīng)于步驟S528寫入的第二位態(tài)樣之間的關(guān)系，檢查并行接口數(shù)據(jù)引腳D4～D7的每支腳(步驟S532)。
參考圖5C，接下來將第一位態(tài)樣寫入至內(nèi)存區(qū)塊中的一組接口控制位，而該組接口控制位是對應(yīng)于并行端口所擁有的并行接口控制引腳STROBE(STB)、AUTO FEED(AFD)、INIT以及SLIN，以此方式，第一位態(tài)樣可自并行端的第1、14、16、17腳傳送出去(步驟S534)。在既定的時間之后，從上述內(nèi)存區(qū)塊讀取ERR狀態(tài)位，其對應(yīng)于并行端的ERROR(ERR)狀態(tài)引腳，藉此檢出并行端第1 5腳的測試結(jié)果(步驟S536)。如圖2D所示，藉由測試裝置200上的測試模塊188，并行端口138的第1、14、16、17腳送出的第一位態(tài)樣經(jīng)NAND邏輯運算的結(jié)果會回饋至并行端138的第15腳，因此可以根據(jù)讀到的ERR狀態(tài)位與寫入的第一位態(tài)樣之間的邏輯關(guān)系，檢查并行端口第15腳-ERROR狀態(tài)引腳(步驟S538)。再將該組第二位態(tài)樣輪流以一次一個的方式寫入至上述內(nèi)存區(qū)塊中的該組接口控制位，藉此自并行端的第1、14、16、17腳輪流以一次一個的方式傳送出這組第二位態(tài)樣(步驟S540)。在既定的時間之后，從上述內(nèi)存區(qū)塊讀取ERR狀態(tài)位以檢出在并行端第15腳上的NAND邏輯運算結(jié)果(步驟S542)。重復(fù)步驟S540及S542，每一回根據(jù)步驟S542中讀到的ERR狀態(tài)位與對應(yīng)于步驟S540寫入的第二位態(tài)樣之間的關(guān)系，檢查并行接口控制引腳STROBE、AUTO FEED、INIT以及SLIN的每支腳(步驟S544)。
現(xiàn)在參考圖5D，直接讀取內(nèi)存區(qū)塊中的ACK、BUSY狀態(tài)位，來檢出并行端138狀態(tài)引腳ACK及BUSY的診察值(步驟S546)。然后將讀到的ACK、BUSY狀態(tài)位分別與預(yù)先為并行端第10及11腳自外部設(shè)定的既定值進行比較(步驟S548)，由于并行端138之第10、11腳已經(jīng)被測試裝置200上的測試模塊188接地，所以這兩支引腳其外部設(shè)定的既定值為邏輯′0′，因此可以很方便地判定比較的結(jié)果。倘若讀到的ACK、BUSY狀態(tài)位與外部設(shè)定的既定值相符，則判定并行端138的第10、11腳均能正常運作；否則測試例程將指出并行端口138上的那支引腳有問題(步驟S550)。
倘若選到的受測I/O端是DUT 100其串行端140、142二者之一，則對應(yīng)于串行端口的測試例程會予以執(zhí)行。首先初始設(shè)定受測串行端口的I/O基地址，其中串行端口的緩存器位在由I/O基地址開始的內(nèi)存區(qū)塊內(nèi)。參考圖6A，接著將受測的串行端設(shè)定在一既定的傳輸波特率(baud rate)(步驟S610)。如圖2E及2F所示，串行端140、142分別藉由測試裝置200上的測試模塊190及192形成三個環(huán)回連結(jié)，因此可以利用閉回路測試來檢驗。然后將一筆既定的數(shù)據(jù)寫入至上述內(nèi)存區(qū)塊中的串行接口控制位DTR，而這個控制位對應(yīng)于串行端口的串行接口控制引腳DTR，致使該筆既定數(shù)據(jù)由受測串行端口的第4腳傳送出去(步驟S612)。在一既定的時間后，從這個內(nèi)存區(qū)塊分別讀取串行接口狀態(tài)位DCD、DSR，而這兩個串行接口狀態(tài)位分別對應(yīng)于串行端口的串行接口狀態(tài)引腳DCD及DSR，藉此從受測串行端的第1、6腳接收數(shù)據(jù)(步驟S614)。再分別檢查串行接口狀態(tài)位DCD、DSR是否等于該筆既定的資料，以驗證受測串行端的第1、6腳以及第4腳(步驟S616)。利用同樣的方式將那筆既定的數(shù)據(jù)寫入至上述內(nèi)存區(qū)塊中的串行接口控制位RTS，而這個控制位對應(yīng)于串行端口的串行接口控制引腳RTS，致使該筆既定數(shù)據(jù)由受測串行端口的第7腳傳送出去(步驟S618)。在既定的時間之后，從這個內(nèi)存區(qū)塊分別讀取串行接口狀態(tài)位CTS、RI，而這兩個串行接口狀態(tài)位分別對應(yīng)于串行端口的串行接口狀態(tài)引腳CTS及RI，藉此從受測串行端的第8、9腳接收數(shù)據(jù)(步驟S620)。參考圖6B，分別檢查串行接口狀態(tài)位CTS、RI是否等于該筆既定的資料，以驗證受測串行端的第8、9腳以及第7腳(步驟S622)。接下來將受測串行端口相關(guān)的接收功能予以關(guān)閉(步驟S624)。然后將一位態(tài)樣寫入至上述內(nèi)存區(qū)塊中的一組傳送器數(shù)據(jù)位，藉此由受測串行端第3腳的串行數(shù)據(jù)輸出引腳TXD傳送出去(步驟S626)。在既定的時間之后，再將受測串行端口相關(guān)的接收功能予以啟用(步驟S628)。接著從上述內(nèi)存區(qū)塊讀取一組接收器數(shù)據(jù)位，藉此將輸入數(shù)據(jù)由受測串行端口第2腳的串行數(shù)據(jù)輸入引腳RXD接收進來(步驟S630)。
現(xiàn)在參考圖6C，檢查上述內(nèi)存區(qū)塊中的該組接收器數(shù)據(jù)位是否與傳送的位態(tài)樣相符，以驗證受測串行端的第2腳及第3腳(步驟S632)。若是受測串行端的TXD、RXD引腳在上述設(shè)定的傳輸波特率下能夠正常運作，則進一步執(zhí)行收發(fā)測試以驗證受測串行端在不同傳輸波特率下的傳送、接收能力。如流程圖所示，將受測串行端設(shè)定在新的傳輸波特率(步驟S634)。以前述的方式再將受測串行端口相關(guān)之接收功能予以關(guān)閉(步驟S636)。其后將上述位態(tài)樣寫入至上述內(nèi)存區(qū)塊中的傳送器數(shù)據(jù)字節(jié)，藉此由受測串行端的第3腳傳送出去(步驟S638)。在既定的時間之后，再次將受測串行端口相關(guān)的接收功能予以啟用(步驟S640)。接著從上述內(nèi)存區(qū)塊讀取接收器數(shù)據(jù)字節(jié)，藉此將新的輸入數(shù)據(jù)由受測串行端口的第2腳接收進來(步驟S642)。在這回設(shè)定的傳輸波特率下檢查收到的輸入數(shù)據(jù)是否與傳送的位態(tài)樣相符，以驗證受測串行端(步驟S644)。如果受測串行端還有其它的傳輸波特率可以設(shè)定，則測試流程回到步驟S634來測試新的波特率(步驟S648)，重復(fù)上述步驟直到測試過受測串行端所有可設(shè)定的傳輸波特率。
倘若選到的受測I/O端系DUT 100的USB端134其中之一，則對應(yīng)于USB端口的測試例程會予以執(zhí)行。參考圖7，先確認受測USB端口的I/O基地址，讀取一內(nèi)存區(qū)塊來檢出USB端口的差動數(shù)據(jù)訊號D+和D-(第2、3腳)的診察值(步驟S710)，其中該內(nèi)存區(qū)塊內(nèi)具有數(shù)個始于上述I/O基地址的USB端口緩存器，藉此以該內(nèi)存區(qū)塊中對應(yīng)的位來檢查USB端口的D+和D-引腳，而這些位直接反映了USB差動數(shù)據(jù)訊號引腳的目前狀態(tài)。然后將上述內(nèi)存區(qū)塊中這些位與受測USB端口的默認值做比較(步驟S720)，如圖2C所示，由于USB端口的差動數(shù)據(jù)訊號對被測試裝置200的測試模塊184設(shè)定在與默認值不同的狀態(tài)，因此從受測USB端的第2、3腳檢出的診察值正常應(yīng)不等于默認值。接下來判斷內(nèi)存區(qū)塊中該些位所代表的診察值是否不同于USB端口的默認值(步驟S730)，倘若檢出的診察值與USB端口的默認值不一致，則判定受測USB端的D+和D-引腳能正常運作(步驟S740)；否則測試例程將指出受測USB端上的D+和D-引腳有問題(步驟S750)。由于IEEE 1394端具有類似于USB的高速差動訊號，因此依據(jù)本發(fā)明的原則，DUT 100的IEEE 1394端應(yīng)該也可以用類似的方式測試之。
倘若選到的受測I/O端口是DUT 100的網(wǎng)絡(luò)端口148，則對應(yīng)于網(wǎng)絡(luò)端口的測試例程會予以執(zhí)行。首先針對網(wǎng)絡(luò)端口148掃瞄DUT 100上面的外圍總線(即PCI bus)，藉此搜尋網(wǎng)絡(luò)控制器，若是找到網(wǎng)絡(luò)端口148使用的網(wǎng)絡(luò)控制器，便讀取其制造商編號(vendor ID)以及裝置編號(device ID)，然后根據(jù)網(wǎng)絡(luò)控制器的制造商及裝置編號，判定是否可以支持這個網(wǎng)絡(luò)控制器的型式，若然，參考圖8，接著確認受測網(wǎng)絡(luò)端口的I/O基地址(步驟S810)，并且檢查上述網(wǎng)絡(luò)控制器的MAC地址是否合法，其中由上述I/O基地址開始的內(nèi)存區(qū)塊包括數(shù)個的網(wǎng)絡(luò)端口緩存器。隨后讀取該內(nèi)存區(qū)塊來檢出網(wǎng)絡(luò)端口的傳送引腳TX+、TX-以及接收引腳RX+、RX-的診察值(步驟S820)。如圖2I所示，測試裝置200的測試模塊198一旦連上了網(wǎng)絡(luò)端口148便在其上形成一對環(huán)回連結(jié)，這將導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)端口148其狀態(tài)的改變，而上述內(nèi)存區(qū)塊中含有數(shù)個位直接反映了傳送引腳TX+、TX-以及接收引腳RX+、RX-的目前狀態(tài)，故可以用該內(nèi)存區(qū)塊中的這些位來檢查傳送引腳TX+、TX-以及接收引腳RX+、RX-(步驟S830)。接下來將上述內(nèi)存區(qū)塊中這些位所代表的診察值與受測網(wǎng)絡(luò)端口的默認值做比較(步驟S840)，倘若檢出的診察值不同于網(wǎng)絡(luò)端口所對應(yīng)的默認值，則判定受測網(wǎng)絡(luò)端口的傳送引腳TX+、TX-以及接收引腳RX+、RX-能正常運作(步驟S850)；否則測試例程將指出受測網(wǎng)絡(luò)端口的傳送引腳TX+、TX-以及接收引腳RX+、RX-出現(xiàn)問題(步驟S860)。
倘若選到的受測I/O端口是DUT 100的音訊端口146，則對應(yīng)于音訊端口的測試例程會予以執(zhí)行。因為音訊端口146通常具有麥克風輸入(MIC_IN)、立體聲輸出(LINE_OUT_L及LINE_OUT_R)和立體聲輸入(LINE_IN_L及LINE_IN_R)，所以必須在測試之前將測試模塊196的連接器272接到音訊端口146的麥克風輸入，并且把音訊端口146的立體聲輸出和立體聲輸入透過適當?shù)睦|線連在一起，如圖2H所示，振蕩器274的輸出耦接至連接器272的音訊接口引腳以提供測試訊號TEST_CLK。現(xiàn)在參考圖9，音訊端口146的MIC_IN引腳從測試裝置200的測試模塊196接收測試訊號TEST_CLK(步驟S910)。然后檢查在MIC_IN引腳收到的訊號是否持續(xù)不斷地變化(步驟S920)，若然，則判定音訊端口146的MIC_IN引腳能正常運作(步驟S930)。接著自音訊端口146的LINE_OUT_L引腳傳送出一筆既定的測試數(shù)據(jù)(步驟S940)，隨后從音訊端口146的LINE_IN_L引腳接收一筆輸入數(shù)據(jù)(步驟S950)。將該筆既定測試數(shù)據(jù)與收到的輸入數(shù)據(jù)進行比較，判斷音訊端口146的LINE_OUT_L以及LINE_IN_L引腳是否能夠正常運作(步驟S960)。同樣地，自音訊端口146的LINE_OUT_R引腳傳送出同一筆既定的測試數(shù)據(jù)(步驟S970)，隨后從音訊端口146的LINE_IN_R引腳接收另一筆輸入數(shù)據(jù)(步驟S980)。將該筆既定測試數(shù)據(jù)與收到的輸入數(shù)據(jù)進行比較，倘若在LINE_IN_R引腳上收到的輸入數(shù)據(jù)與送出的既定測試數(shù)據(jù)相符，則判定音訊端口146的LINE_OUT_R以及LINE_IN_R引腳均能正常運作。
倘若選到的受測I/O端口是DUT 100的鍵盤連接端口130，則對應(yīng)于鍵盤連接端口的測試例程會予以執(zhí)行。如圖2A所示，由于鍵盤連接端口130透過測試裝置200的測試模塊180將其KB_DATA引腳(第2腳)與KB_CLK引腳(第1腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)，因此可以執(zhí)行閉回路的測試來驗證鍵盤連接端口130?，F(xiàn)在參考圖10，首先自鍵盤連接端口130的KB_CLK引腳傳送出一筆既定的測試數(shù)據(jù)(步驟S1010)。隨后從鍵盤連接端口130的KB_DATA引腳接收一筆輸入數(shù)據(jù)(步驟S1020)。接下來將送出的既定測試數(shù)據(jù)與收到的輸入數(shù)據(jù)進行比較(步驟S1030)。然后判斷送出和收到的數(shù)據(jù)是否一致(步驟S1040)，倘若收到的輸入數(shù)據(jù)與送出的既定測試數(shù)據(jù)相符，則判定鍵盤連接端口130的KB_CLK引腳及KB_DATA引腳均能正常運作(步驟S1050)；否則測試例程將指出受測鍵盤連接端口130的KB_CLK引腳及KB_DATA引腳出現(xiàn)問題(步驟S1060)。
倘若選到的受測I/O端是DUT 100的PS/2鼠標連接端口132，則對應(yīng)于PS/2鼠標連接端口的測試例程會予以執(zhí)行。如圖2B所示，由于PS/2鼠標連接端口132透過測試裝置200的測試模塊182將其PS/2_DATA引腳(第1腳)與PS/2_CLK引腳(第5腳)耦接在一起而形成環(huán)回連結(jié)，因此可以執(zhí)行閉回路的測試來驗證PS/2鼠標連接端口132?，F(xiàn)在參考圖11，首先自PS/2鼠標連接端口132的PS/2_CLK引腳傳送出一筆既定的測試數(shù)據(jù)(步驟S1110)。隨后從PS/2鼠標連接端口132的PS/2_DATA引腳接收一筆輸入數(shù)據(jù)(步驟S1120)。接下來將送出的既定測試數(shù)據(jù)與收到的輸入數(shù)據(jù)進行比較(步驟S1130)。然后判斷送出和收到的數(shù)據(jù)是否一致(步驟S1140)，倘若收到的輸入數(shù)據(jù)與送出的既定測試數(shù)據(jù)相符，則判定PS/2鼠標連接端口132的PS/2_CLK引腳及PS/2_DATA引腳均能正常運作(步驟S1150)；否則測試例程將指出受測PS/2鼠標連接端口132的PS/2_CLK引腳及PS/2_DATA引腳出現(xiàn)問題(步驟S1160)。
綜合以上所述，本發(fā)明提出了一種能夠有效地測試計算機主機板上常用的I/O端口的測試裝置，這種裝置不僅簡單并且可以根據(jù)受測I/O端的特性來快速地測試各種I/O端，再者，本發(fā)明的測試裝置還能將發(fā)生問題的I/O端其不正常的每支引腳正確地顯現(xiàn)出來。
雖然本發(fā)明已以一具體實施例揭示如上，然其僅為了易于說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，而并非將本發(fā)明狹義地限定于該實施例，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視后附的申請專利范圍所界定者為準。
權(quán)利要求
1.一種計算機主機板輸出入端口的測試裝置，至少包含一電路板；第一連接器，設(shè)置在該電路板上，其至少包含多個并行接口數(shù)據(jù)引腳、多個并行接口狀態(tài)引腳以及多個并行接口控制引腳，用來與一計算機主機板上的一并行端其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)；第一測試電路，耦接于該第一連接器，其至少包含一邏輯裝置耦接于該些并行接口數(shù)據(jù)引腳以及該些并行接口控制引腳當作輸入，該邏輯裝置將其輸入進行邏輯運算且輸出一組邏輯訊號給該些并行接口狀態(tài)引腳其中的一部份；第二連接器，設(shè)置在該電路板上，其至少包含一對通用串行總線接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳，用來與該計算機主機板上的一USB端其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)；以及第二測試電路，耦接于該第二連接器，用來設(shè)定該對USB接口差動數(shù)據(jù)訊號引腳成為不同于該計算機主機板其USB端口默認值的狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述第一測試電路的上述邏輯裝置至少包含第一與非門，耦接于上述第一連接器的上述多個并行接口數(shù)據(jù)引腳其中的一部份當作輸入進行邏輯運算，而輸出第一邏輯訊號給上述第一連接器的上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的上述部份的第一引腳；第二與非門，耦接于上述第一連接器的上述多個并行接口數(shù)據(jù)引腳的其余部份當作輸入進行邏輯運算，而輸出第二邏輯訊號給上述第一連接器的上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的上述部份的第二引腳；以及第三與非門，耦接于上述第一連接器的上述多個并行接口控制引腳當作輸入進行邏輯運算，而輸出第三邏輯訊號給上述第一連接器的上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的上述部份的第三引腳；其中，該第一、該第二及該第三邏輯訊號構(gòu)成了上述邏輯訊號組以提供給上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的上述部份。
3.如權(quán)利要求2所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述第一測試電路將上述第一連接器的上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的第四以及第五引腳耦接至上述第二電壓源，該第四及該第五引腳不包括在上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的上述部份之內(nèi)。
4.如權(quán)利要求3所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的上述部份的上述第一引腳是上述第一連接器的PAPER END狀態(tài)引腳，上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的上述部份的上述第二引腳是上述第一連接器的一SELECT狀態(tài)引腳，上述多個并行接口狀態(tài)引腳中的上述部份的上述第三引腳是上述第一連接器的一ERROR狀態(tài)引腳，上述多個并行接口狀態(tài)引腳的上述第四引腳是上述第一連接器的ACK狀態(tài)引腳，而上述多個并行接口狀態(tài)引腳的上述第五引腳是上述第一連接器的一BUSY狀態(tài)引腳。
5.如權(quán)利要求4所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述第一測試電路將上述第一連接器的上述ACK以及上述BUSY狀態(tài)引腳接地。
6.如權(quán)利要求2所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述多個并行接口控制引腳包括上述第一連接器的一SLIN控制引腳、一INIT控制引腳、一AUTO FEED控制引腳以及一STROBE控制引腳。
7.如權(quán)利要求1所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述第一電壓源是一供應(yīng)電源，而上述第二電壓源是一接地。
8.如權(quán)利要求1所述計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，還至少包含第三連接器，設(shè)置在上述電路板上，其至少包含多個游戲接口訊號引腳，用來與上述計算機主機板上的一游戲端其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)；以及第三測試電路，耦接于該第三連接器，用來將該些游戲接口訊號引腳其中的一部份經(jīng)由多個提升電阻耦接至上述第一電壓源，并且將該些游戲接口訊號引腳的其余部份耦接至上述第二電壓源。
9.如權(quán)利要求8所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述多個游戲接口訊號引腳至少包含上述第三連接器的第一按鍵輸入訊號引腳、第二按鍵輸入訊號引腳、一X軸坐標輸入訊號引腳以及一Y軸坐標輸入訊號引腳。
10.如權(quán)利要求9所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述第一以及上述第二按鍵輸入訊號引腳分別經(jīng)由上述提升電阻耦接至上述第一電壓源，而上述X軸以及上述Y軸坐標輸入訊號引腳則分別耦接至上述第二電壓源。
11.如權(quán)利要求10所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述第一電壓源是一供應(yīng)電源，而上述第二電壓源是一接地。
12.如權(quán)利要求1所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，還至少包含第四連接器，設(shè)置在上述電路板上，其具有第一串行接口控制引腳與第一及一第二串行接口狀態(tài)引腳耦接在一起而形成第一環(huán)回連結(jié)，第二串行接口控制引腳與第三及第四串行接口狀態(tài)引腳耦接在一起而形成第二環(huán)回連結(jié)，一串行數(shù)據(jù)輸出引腳與一串行數(shù)據(jù)輸入引腳耦接在一起而形成第三環(huán)回連結(jié)，用來與上述計算機主機板上的串行端其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。
13.如權(quán)利要求12所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述第一串行接口控制引腳是上述第四連接器的一DTR引腳，而上述第二串行接口控制引腳是上述第四連接器的一RTS引腳。
14.如權(quán)利要求12所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述第一串行接口狀態(tài)引腳是上述第四連接器的一DCD引腳，其中上述第二串行接口狀態(tài)引腳是上述第四連接器的一DSR引腳，其中上述第三串行接口狀態(tài)引腳是上述第四連接器的一CTS引腳，而上述第四串行接口狀態(tài)引腳是上述第四連接器的一RI引腳。
15.如權(quán)利要求12所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述串行數(shù)據(jù)輸出引腳是上述第四連接器的一TXD引腳，而上述串行數(shù)據(jù)輸入引腳是上述第四連接器的一RXD引腳。
16.如權(quán)利要求1所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，還至少包含第五連接器，設(shè)置在上述電路板上，其具有一對傳送引腳與一對接收引腳相對應(yīng)地耦接在一起而形成一對環(huán)回連結(jié)，用來與上述計算機主機板上的網(wǎng)絡(luò)端口其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。
17.如權(quán)利要求1所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，還至少包含第六連接器，設(shè)置在上述電路板上，其至少包含一音訊接口引腳，用來與上述計算機主機板上的一音訊端口其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)；以及一振蕩器，耦接至該音訊接口引腳，用來產(chǎn)生一測試訊號給該音訊接口引腳。
18.如權(quán)利要求17所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，上述音訊接口引腳是上述音訊端口的一麥克風引腳，上述音訊端口還至少包含一對立體聲輸出引腳以及一對立體聲輸入引腳。
19.如權(quán)利要求1所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特在于，還至少包含第七連接器，設(shè)置在上述電路板上，其具有一鍵盤接口數(shù)據(jù)訊號引腳與一鍵盤接口時鐘訊號引腳耦接在一起而形成一環(huán)回連結(jié)，用來與上述計算機主機板上的一鍵盤連接端口其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。
20.如權(quán)利要求1所述的計算機主機板輸出入端口的測試裝置，其特征在于，還至少包含第八連接器，設(shè)置在上述電路板上，其具有一PS/2接口數(shù)據(jù)訊號引腳與一PS/2接口時鐘訊號引腳耦接在一起而形成一環(huán)回連結(jié)，用來與上述計算機主機板上的一PS/2鼠標連接端口其相對應(yīng)的引腳建立電氣上的連結(jié)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種計算機主機板輸出入端口的測試裝置，受測的主機板具有存放測試碼的非揮發(fā)性內(nèi)存，以便取代原本的BIOS碼來初始化該主機板并測試其I/O端；受測主機板由測試碼進行開機后，位于其上的中央處理器便可以執(zhí)行測試碼中的測試例程。為了配合這些測試I/O端口的測試例程，須將本發(fā)明的裝置連接上受測的計算機主機板，再者，本發(fā)明的裝置包括各種的連接器及測試電路，以便與受測主機板上的各I/O端建立電氣上的連結(jié)，再透過測試例程來檢查I/O端口的每一引腳。
文檔編號G06F19/00GK1503132SQ20031011435
公開日2004年6月9日 申請日期2003年11月13日 優(yōu)先權(quán)日2002年11月21日
發(fā)明者陳志國, 黃智煒 申請人:威盛電子股份有限公司