專利名稱：主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)(SATA，Serial AdvancedTechnology Architecture)接口功能測試裝置，特別是一種不使用硬盤來對主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能進(jìn)行測試的裝置。
背景技術(shù)：
主機(jī)板是電腦內(nèi)部最為重要的元件之一，其上安裝有多個(gè)與電腦運(yùn)作密切相關(guān)的電子元件，并形成有一定的電子布線。電腦內(nèi)部的其它元件，如中央處理器、硬盤、內(nèi)存、顯示卡以及聲卡等，均是通過與主機(jī)板連接，借助其上的電子布線形成一整體，從而使電腦得以正常工作。上述元件與主機(jī)板的連接通常是通過主機(jī)板上的插槽來實(shí)現(xiàn)，對于硬盤而言，尚需在主機(jī)板插槽和硬盤接口之間采用一定的電源和數(shù)據(jù)線來連接。目前常用的硬盤接口有IDE(Integrated Drive Electronics，整合電子式驅(qū)動(dòng))、ATA(AdvancedTechnology Attachment，高級技術(shù)附件規(guī)格，即并行ATA)以及SATA(SerialAdvanced Technology Architecture，串行高階硬盤架構(gòu))三種主要標(biāo)準(zhǔn)。而SATA標(biāo)準(zhǔn)相較前兩者具有更高的數(shù)據(jù)傳輸率與更少的界面引腳，更加符合未來的接口標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展趨勢。
主機(jī)板在組配完成之后，需要經(jīng)過全面的功能測試來確定其是否為優(yōu)良品，而主機(jī)板測試主要是針對該主機(jī)板上的各種錯(cuò)誤，例如，開路、短路及非正確接觸的零件等狀況加以檢測，即結(jié)合測試機(jī)臺(tái)所產(chǎn)生的錯(cuò)誤信號數(shù)據(jù)，以及待測主機(jī)板由計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)所產(chǎn)生的布線數(shù)據(jù)，令檢修員迅速由屏幕上找出被測主機(jī)板的不良原因所在，從而節(jié)省檢修不良品的時(shí)間。在進(jìn)行主機(jī)板的SATA接口測試時(shí)，通常是通過連接一SATA硬盤至主機(jī)板的SATA接口來進(jìn)行測試。但由于硬盤的價(jià)格一般較高，在需大量測試的生產(chǎn)線應(yīng)用時(shí)需花費(fèi)較多的額外成本，而且硬盤也容易在受到震動(dòng)時(shí)損壞，影響測試結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置，特別是指一種無需使用硬盤，即可對主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能進(jìn)行測試的裝置。
一種主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)(SATA)接口功能測試裝置，用于測試主機(jī)板的SATA接口功能，所述串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置包括一具有一定存儲(chǔ)容量的閃存芯片，一與所述閃存芯片相連接的將閃存信號轉(zhuǎn)換為IDE信號的偵測芯片，以及一與所述偵測芯片相連接的將IDE信號轉(zhuǎn)換為SATA信號的信號轉(zhuǎn)換芯片，測試時(shí)，主機(jī)板接收到所述SATA接口功能測試裝置發(fā)出的SATA信號并根據(jù)該信號的訊息識別出所述SATA接口功能測試裝置具有一定的存儲(chǔ)容量，即完成該主機(jī)板SATA接口功能的檢測。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點(diǎn)采用一專門的測試裝置來完成對主機(jī)板SATA接口功能的測試，該方法無需使用硬盤，可降低測試成本，也不會(huì)硬盤在使用中受到震動(dòng)而影響測試效果。

下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
圖1是本發(fā)明主機(jī)板串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試的原理流程圖。
圖2是本發(fā)明主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置的原理框圖。
具體實(shí)施方式請參閱圖1。主機(jī)板在經(jīng)過生產(chǎn)線的組裝完成后，還需要進(jìn)行全面的功能測試，其中即包括其硬盤接口功能的測試。對于目前常用的主機(jī)板而言，其硬盤接口主要包括IDE、ATA以及SATA三種。其中，SATA接口功能的測試主要由圖1所示的步驟10和11來完成。在步驟11中，首先檢測主機(jī)板的SATA接口是否接收到由測試裝置發(fā)出的SATA信號。若確認(rèn)一接收到一SATA信號，在步驟13中，檢測主機(jī)板的SATA接口是否通過該SATA信號識別出測試裝置具有一定的存儲(chǔ)容量。若成功，則完成該主機(jī)板SATA接口功能的檢測。
請一并參閱圖1至圖2。本發(fā)明的SATA接口功能測試裝置30包括一閃存(Flash Memory)芯片31、一偵測芯片33、一信號轉(zhuǎn)換芯片35以及一SATA接口連接器37。該閃存芯片31具有一定的存儲(chǔ)容量，用于模擬硬盤自身的存儲(chǔ)功能，其與偵測芯片33相連，并能與之進(jìn)行相互的信號傳輸。該偵測芯片33是一塊可將閃存信號轉(zhuǎn)換為IDE信號的芯片，其主要功能在于偵測閃存芯片31具有的存儲(chǔ)容量，并將該訊息轉(zhuǎn)換為一IDE信號。該信號轉(zhuǎn)換芯片35與該偵測芯片33相連，信號轉(zhuǎn)換芯片35接收到自偵測芯片33傳送的IDE信號后，將其轉(zhuǎn)化為一SATA信號。該SATA接口連接器37位于該SATA接口功能測試裝置30的外部，其可借助一連接線將該SATA測試裝置30連接至主機(jī)板的SATA接口。
測試時(shí)，首先由該主機(jī)板的SATA接口發(fā)出一測試信號至該SATA接口功能測試裝置30，其偵測到該閃存芯片31具有一存儲(chǔ)容量后，返回一閃存信號至偵測芯片33，該偵測芯片33將該閃存信號轉(zhuǎn)換為一IDE信號后傳送至信號轉(zhuǎn)換芯片35，信號轉(zhuǎn)換芯片35在將該IDE信號轉(zhuǎn)換為SATA信號后傳送回主機(jī)板的SATA接口。主機(jī)板接收到該SATA信號并根據(jù)該信號的訊息識別出該SATA接口功能測試裝置30具有一定的存儲(chǔ)容量，即完成該主機(jī)板SATA接口功能的檢測。由于該SATA接口功能測試裝置30所采用的芯片價(jià)格較為低廉，且也不易因受到震動(dòng)而損壞，故很好地解決了直接采用硬盤來測試主機(jī)板SATA接口功能所帶來的問題。
權(quán)利要求
1.一種主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置，用于測試主機(jī)板的SATA接口功能，其特征在于所述主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置包括一具有一定存儲(chǔ)容量的閃存芯片，一與所述閃存芯片相連接的將閃存信號轉(zhuǎn)換為IDE信號的偵測芯片，一與所述偵測芯片相連接的將IDE信號轉(zhuǎn)換為SATA信號的信號轉(zhuǎn)換芯片。
2.如權(quán)利要求1所述的主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置，其特征在于所述主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置還包括一SATA接口連接器。
3.如權(quán)利要求1所述的主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置，其特征在于所述信號轉(zhuǎn)換芯片發(fā)出的SATA信號經(jīng)由所述SATA接口連接器傳送至所述主機(jī)板的SATA接口。
全文摘要
一種主機(jī)板的串行高階硬盤架構(gòu)(SATA)接口功能測試裝置，用于測試主機(jī)板的SATA接口功能，所述串行高階硬盤架構(gòu)接口功能測試裝置包括一具有一定存儲(chǔ)容量的閃存芯片，一與所述閃存芯片相連接的將閃存信號轉(zhuǎn)換為IDE信號的偵測芯片，以及一與所述偵測芯片相連接的將IDE信號轉(zhuǎn)換為SATA信號的信號轉(zhuǎn)換芯片，測試時(shí)，主機(jī)板接收到所述SATA接口功能測試裝置發(fā)出的SATA信號并根據(jù)該信號的訊息識別出所述SATA接口功能測試裝置具有一定的存儲(chǔ)容量，即完成該主機(jī)板SATA接口功能的檢測。
文檔編號G06F11/26GK1740984SQ200410051258
公開日2006年3月1日 申請日期2004年8月25日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月25日
發(fā)明者歐陽銘修, 林鴻年, 陳維沅, 王太誠 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司