專利名稱：一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及大規(guī)模集成電路芯片測試中的故障信息自動處理技術(shù)，特別是涉及一種在存儲器的測試過程中，能夠自動產(chǎn)生包含故障信息(位圖格式)的處理方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的大規(guī)模集成電路芯片測試中的錯誤信息自動處理技術(shù)，存在下述問題1、測試完畢后獲得的故障信息不全面。2、在故障位圖(FBM，F(xiàn)ail Bit Map)中，無法知道故障比特位的故障種類。3、在FBM中，能夠顯示的故障比特位數(shù)目太少。4、無法產(chǎn)生與設(shè)備無關(guān)的位圖(DIB，Device Independent Bitmap)格式的FBM文件。5、FBM中故障信息并非按照其物理地址來排列。
所有上述問題的存在，均影響了對測試結(jié)果的分析，從而為短時間內(nèi)進(jìn)行存儲器的錯誤分析(F/A，F(xiàn)ail Analysis)定位帶來了困難。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖(BMP Bit Map)信息的方法，它能夠?qū)⒚總€比特位的故障信息自動保存并轉(zhuǎn)換成FBM，該FBM中包含了大量的用于F/A的故障信息。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，包括如下步驟首先，由故障信息采集模塊將測試過程中產(chǎn)生的所有故障信息按照存儲器的邏輯地址儲存下來，并將該故障信息傳遞給FBM轉(zhuǎn)換模塊；其次，F(xiàn)BM轉(zhuǎn)換模塊將所述故障信息按照存儲器的物理地址轉(zhuǎn)換為DIB格式的BMP圖形信息，并將該BMP圖形信息傳遞給FBM顯示模塊；然后，由FBM顯示模塊按照BMP圖形格式顯示文件的信息；由模式控制模塊控制FBM轉(zhuǎn)換模塊是否進(jìn)行多線程轉(zhuǎn)換處理及生成FBM文件中顯示故障的種類。
采用本發(fā)明的方法，在測試儀在線(Online即和生產(chǎn)管理系統(tǒng)連線，并實時進(jìn)行數(shù)據(jù)交換)和非在線(Offline)均可以正常工作。存儲器芯片進(jìn)行測試的過程中，能夠?qū)⑺羞壿嫷刂返拿總€比特位的故障信息全部采集下來。利用所采集的比特位的故障信息能自動產(chǎn)生包含各種故障信息的DIB BMP文件。在該文件中DIB的顏色模式與設(shè)備無關(guān)，因此可以用來永久性地保存故障信息；BMP中所使用的像素的顏色獨立于系統(tǒng)調(diào)色板，擁有自己的顏色表。
按照本發(fā)明的方法產(chǎn)生的FBM中包含的信息量大，可以更快捷地對存儲器測試過程中產(chǎn)生的故障信息原因進(jìn)行定位，預(yù)計可以比現(xiàn)有技術(shù)中使用的方法縮短一半的時間。


附圖是本發(fā)明一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法總體結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式
如圖所示，本發(fā)明的一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，包括一個FBM轉(zhuǎn)換模塊1，該FBM轉(zhuǎn)換模塊1一端連接故障信息采集模塊2，另一端連接一個FBM顯示模塊3，并由一個模式控制模塊4控制。
所述故障信息采集模塊2能夠?qū)y試過程中產(chǎn)生的所有故障信息按照存儲器的邏輯地址儲存下來，并將該錯誤信息傳遞給FBM轉(zhuǎn)換模塊1。
所述FBM轉(zhuǎn)換模塊1可以將故障信息按照存儲器的物理地址轉(zhuǎn)換為DTB格式的BMP圖形信息，并將該圖形信息傳遞給FBM顯示模塊3。
由FBM顯示模塊3按照BMP圖形格式顯示文件的信息，且在所顯示的圖形信息中A、所有比特位的故障信息情況均可以得到顯示，包括每個比特位0故障、1故障、0/1均故障及無故障的信息。
B、不同的顏色代表不同的故障信息；0/1均故障的顏色是0故障和1故障兩種顏色的合成。
C、可以在FBM顯示模塊3中有選擇地顯示僅在某種故障(比如0故障)上的比特位。
D、將每個存儲器芯片的FBM按照坐標(biāo)排列起來，可以得到整枚晶圓的FBM，在該FBM圖形中，在鼠標(biāo)點擊的位置上能夠顯示出物理位置的信息。
所述模式控制模塊4用于控制FBM轉(zhuǎn)換模塊1是否進(jìn)行多線程轉(zhuǎn)換處理及生成FBM文件中故障的種類。
在對2M SRAM(靜態(tài)隨機存儲器)的工程樣片進(jìn)行評價的過程中可以采用本發(fā)明的方法。
對SRAM樣片進(jìn)行測試評價時，業(yè)界已經(jīng)積累了一定的經(jīng)驗，能夠通過各種各樣的測試向量，如片擦除、片寫入、對角線等測試向量，對SRAM芯片中不同的故障機制進(jìn)行調(diào)查。雖然同一芯片在不同向量上故障機制不同(也可能存在多種故障機制)，但是多表現(xiàn)為最基本的0故障和1故障兩種模式。采用本發(fā)明所述的方法，它可以從根本上對錯誤機制進(jìn)行判斷，從而找到制造中存在的缺陷。
權(quán)利要求
1.一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，其特征在于它包括如下步驟首先，由故障信息采集模塊(2)將測試過程中產(chǎn)生的所有故障信息按照存儲器的邏輯地址儲存下來，并將該故障信息傳遞給FBM轉(zhuǎn)換模塊(1)；其次，F(xiàn)BM轉(zhuǎn)換模塊(1)將所述故障信息按照存儲器的物理地址轉(zhuǎn)換為DIB格式的BMP圖形信息，并將該BMP圖形信息傳遞給FBM顯示模塊(3)；然后，由FBM顯示模塊(3)按照BMP圖形格式顯示文件的信息；由模式控制模塊(4)控制FBM轉(zhuǎn)換模塊(1)是否進(jìn)行多線程轉(zhuǎn)換處理及生成FBM文件中顯示故障的種類。
2.如權(quán)利要求1所述的一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，其特征在于所述按照BMP圖形格式顯示文件的信息中，所有比特位的故障信息情況均可以得到顯示；不同的顏色代表不同的故障信息。
3.如權(quán)利要求1所述的一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，其特征在于所述按照BMP圖形格式顯示文件的信息中，可以在FBM顯示模塊(3)中有選擇地顯示僅在某種故障上的比特位。
4.如權(quán)利要求1所述的一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，其特征在于所述按照BMP圖形格式顯示文件的信息中，將每個存儲器芯片的FBM按照坐標(biāo)排列起來，可以得到整枚晶圓的FBM；在該FBM圖形中，在鼠標(biāo)點擊的位置上能夠顯示出物理位置的信息。
5.如權(quán)利要求2所述的一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，其特征在于所述比特位的故障信息包括每個比特位0故障、1故障、0/1均故障及無故障的信息。
6.如權(quán)利要求2或5所述的一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，其特征在于0/1均故障的顏色是0故障和1故障兩種顏色的合成。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種在存儲器測試過程中自動產(chǎn)生位圖信息的方法，由故障信息采集模塊(2)將測試過程中產(chǎn)生的所有故障信息按照存儲器的邏輯地址儲存下來，并將該錯誤信息傳遞給FBM轉(zhuǎn)換模塊(1)；所述FBM轉(zhuǎn)換模塊(1)將故障信息按照存儲器的物理地址轉(zhuǎn)換為DIB格式的BMP圖形信息，并將該BMP圖形信息傳遞給FBM顯示模塊(3)；所述FBM顯示模塊(3)按照BMP圖形格式顯示文件的信息；所述模式控制模塊(4)用于控制FBM轉(zhuǎn)換模塊是否進(jìn)行多線程轉(zhuǎn)換處理及生成FBM文件中顯示故障的種類。本發(fā)明能夠?qū)⒚總€比特位的故障信息自動保存并轉(zhuǎn)換成FBM，該FBM中包含了大量的用于F/A的故障信息。
文檔編號G06F11/22GK1779863SQ20041008465
公開日2006年5月31日 申請日期2004年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月26日
發(fā)明者桑浚之, 辛吉升, 曾志敏 申請人:上海華虹Nec電子有限公司