專利名稱：硬盤測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及防震裝置，特別涉及一種硬盤制造過(guò)程中，用于硬盤檢測(cè)的測(cè)試系統(tǒng)的硬盤測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
在硬盤的制造過(guò)程中，需要對(duì)硬盤進(jìn)行許多測(cè)試，以保證將合格的硬盤產(chǎn)品交到客戶的手中。這些測(cè)試是多種多樣的，有對(duì)硬盤機(jī)械性能的測(cè)試，也有對(duì)硬盤電氣性能的測(cè)試；這些測(cè)試，需要不同的軟件和測(cè)試系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)。由于硬盤技術(shù)的復(fù)雜性，需要對(duì)硬盤性能測(cè)試的項(xiàng)目?jī)?nèi)容非常之多，可達(dá)幾十項(xiàng)之多，需要對(duì)硬盤的關(guān)鍵部件，例如磁頭和碟片性能進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)重要數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)硬盤的讀寫性能的檢測(cè)，對(duì)各種缺陷和相容性進(jìn)行測(cè)試，甚至重寫和修改一些錯(cuò)誤的信息。在這些操作中，有些測(cè)試對(duì)環(huán)境和測(cè)試條件的要求十分嚴(yán)格，稍有不慎，系統(tǒng)就會(huì)報(bào)告錯(cuò)誤，這樣就影響了生產(chǎn)的效率和產(chǎn)品的穩(wěn)定性。例如，測(cè)試系統(tǒng)的溫濕度環(huán)境，測(cè)試系統(tǒng)的防震防靜電措施，甚至測(cè)試系統(tǒng)操作的簡(jiǎn)便和可靠性等等，都對(duì)硬盤的檢測(cè)結(jié)果和產(chǎn)品生產(chǎn)的優(yōu)良率有直接的影響。尤其是測(cè)試系統(tǒng)的防震設(shè)計(jì)，隨著硬盤測(cè)試功能的不斷拓展，以及硬盤技術(shù)的飛速提高，顯得愈來(lái)愈受到硬盤制造業(yè)的關(guān)注和重視。
因此有一套穩(wěn)定可靠的測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)于硬盤的生產(chǎn)制造來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。
過(guò)去的測(cè)試系統(tǒng)較少考慮防震的要求，甚至完全沒(méi)有測(cè)試系統(tǒng)防震的措施，然而由于測(cè)試系統(tǒng)的排氣系統(tǒng)電機(jī)的影響，以及硬盤本身馬達(dá)震動(dòng)的影響，以及生產(chǎn)環(huán)境經(jīng)常性出現(xiàn)的震動(dòng)影響，甚至操作人員偶然造成的影響，等等，都可能會(huì)給正在做測(cè)試的硬盤帶來(lái)極嚴(yán)重的后果，例如，造成正在讀寫和檢測(cè)的操作發(fā)生錯(cuò)誤，甚至損壞硬盤。較早的測(cè)試系統(tǒng)包括提供給裝有若干轉(zhuǎn)接卡的測(cè)試筒裝入的若干框架的測(cè)試架，測(cè)試筒中插有若干轉(zhuǎn)接卡，轉(zhuǎn)接卡插在USB集線器上，作為硬盤的測(cè)試接口，測(cè)試筒上有滑槽供轉(zhuǎn)接卡插入，一般來(lái)說(shuō)，轉(zhuǎn)接卡上的電路板與插槽之間有縫隙，由于外來(lái)震動(dòng)源的影響，轉(zhuǎn)接卡會(huì)帶著硬盤一起發(fā)生震動(dòng)。
由于一套測(cè)試系統(tǒng)同時(shí)會(huì)有上百甚至幾百個(gè)測(cè)試單元同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，而每個(gè)測(cè)試單元具有完全類似和相同的結(jié)構(gòu)，所以在同時(shí)進(jìn)行批量測(cè)試的時(shí)候，這些硬盤就會(huì)發(fā)生共振現(xiàn)象，出現(xiàn)比單個(gè)測(cè)試單元嚴(yán)重得多的情況。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的硬盤測(cè)試裝置，不僅包括測(cè)試架和測(cè)試筒，還包括防震膠墊和測(cè)試筒支架。
所述硬盤測(cè)試裝置中的防震膠墊包括(a)一種防震用的塑膠材料；(b)這種材料被做成中心有通孔的圓形膠墊的形式，便于鎖緊螺釘從中穿過(guò)，并將測(cè)試用的轉(zhuǎn)接卡固定在測(cè)試架上；(c)在轉(zhuǎn)接卡與測(cè)試筒的接觸部分通過(guò)含有防震膠墊的螺釘固定，而在這以前，轉(zhuǎn)接卡是通過(guò)在測(cè)試筒上開的滑槽插入測(cè)試筒里面的；(d)測(cè)試筒通過(guò)含有防震膠墊的螺釘固定在測(cè)試架上。
圖1是本實(shí)用新型采用的防震膠墊的示意圖。本實(shí)用新型的防震膠墊用特殊的彈性橡膠制成，它的彈力性質(zhì)，例如，彈性模量、耐久力和最大承載能力等參數(shù)，均通過(guò)實(shí)驗(yàn)的優(yōu)化和確定，正好可以有效地吸收和減弱硬盤測(cè)試系統(tǒng)的振動(dòng)能量，達(dá)到保護(hù)測(cè)試中硬盤的效果。一個(gè)典型的頻率參數(shù)是50的倍數(shù)，就是說(shuō)，這種材料可以有效的吸收和減弱50Hz及其倍數(shù)數(shù)頻率的震動(dòng)，這正好是一般測(cè)試系統(tǒng)的震動(dòng)頻率。
防震膠墊的形狀也是優(yōu)化的設(shè)計(jì)，優(yōu)化的設(shè)計(jì)可以保證防震的最佳效果。圓柱外形的膠墊被設(shè)計(jì)成，沿中軸開有中央開孔13(虛線部分)、沿腰部開槽14的，可同時(shí)在兩面達(dá)到防震效果的“鞋眼”結(jié)構(gòu)，需要減震的物體可以很容易地通過(guò)它上面腰部的開槽，將防震膠墊緊緊地套在物體上面，而且要減震物體連接部分的厚度正好等于防震膠墊的開槽寬度，這樣可以達(dá)到最好的防震效果。防震膠墊還可以做成不同的大小，以滿足不同的安裝需要。
所述測(cè)試筒支架為直角彎曲狀，所述測(cè)試筒支架的一段通過(guò)其上嵌有的防震膠墊和螺栓平行固定于測(cè)試筒側(cè)面上，所述防震膠墊內(nèi)側(cè)端面與轉(zhuǎn)接卡接觸；所述測(cè)試筒支架的另一段通過(guò)其上嵌有的防震膠墊和螺栓平行固定于測(cè)試架上，并且是向測(cè)試筒開口外側(cè)方向延伸，所述防震膠墊內(nèi)側(cè)端面與測(cè)試架接觸。
本實(shí)用新型的效果在于，防震膠墊可以使若干測(cè)試硬盤本身震動(dòng)的影響，抽風(fēng)系統(tǒng)帶來(lái)的測(cè)試架的震動(dòng)，以及其它的通過(guò)測(cè)試架和測(cè)試筒傳遞到轉(zhuǎn)接卡上的震動(dòng)被有效地吸收和衰減。盡管所有的測(cè)試中的硬盤馬達(dá)的震動(dòng)，以及抽風(fēng)電機(jī)引起的測(cè)試架的震動(dòng)，都可以沿著同一個(gè)方向傳遞，但由于本實(shí)用新型采用了轉(zhuǎn)接卡單一的防震設(shè)計(jì)，可以消除各個(gè)方向的震動(dòng)的影響。而且不管這種測(cè)試的硬盤的數(shù)量有多大，本實(shí)用新型的防震設(shè)計(jì)都可以充分地降低處在測(cè)試中的硬盤受到的外界震動(dòng)的影響。


圖1為本實(shí)用新型采用的防震膠墊的示意圖；圖2為裝有防震膠墊的硬盤測(cè)試用的轉(zhuǎn)接卡和測(cè)試筒支架示意圖；圖3是一個(gè)測(cè)試筒單元的示意圖。
附圖主要部分符號(hào)說(shuō)明11、防震膠墊 12、固定螺釘13、中央開孔 14、腰部開槽21、轉(zhuǎn)接卡 22、防震膠墊23、24固定螺釘 25、26、防震膠墊27、集線器插口 28、集線器電路板29、測(cè)試架 31、防震螺釘32、測(cè)試架 33、轉(zhuǎn)接卡34、測(cè)試筒
具體實(shí)施方式
以下，將參照附圖對(duì)本實(shí)用新型防震膠墊的一實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明。
圖1是本實(shí)用新型采用的防震膠墊的示意圖。本實(shí)用新型的防震膠墊用特殊的彈性橡膠制成，它的彈力性質(zhì)，例如，彈性模量、耐久力和最大承載能力等參數(shù)，均通過(guò)實(shí)驗(yàn)的優(yōu)化和確定，正好可以有效地吸收和減弱硬盤測(cè)試系統(tǒng)的振動(dòng)能量，達(dá)到保護(hù)測(cè)試中硬盤的效果。一個(gè)典型的頻率參數(shù)是50的倍數(shù)，就是說(shuō)，這種材料可以有效的吸收和減弱50Hz及其倍數(shù)數(shù)頻率的震動(dòng)，這正好是一般測(cè)試系統(tǒng)的震動(dòng)頻率。
防震膠墊的形狀也是優(yōu)化的設(shè)計(jì)，優(yōu)化的設(shè)計(jì)可以保證防震的最佳效果。圓柱外形的膠墊被設(shè)計(jì)成，沿中軸開孔13(虛線部分)、沿腰部開槽14的，可同時(shí)在兩面達(dá)到防震效果的“鞋眼”結(jié)構(gòu)，需要減震的物體可以很容易地通過(guò)它上面腰部的開槽，將防震膠墊緊緊地套在物體上面，而且要減震物體連接部分(即測(cè)試筒支架)的厚度正好等于防震膠墊的開槽寬度，這樣可以達(dá)到最好的防震效果。防震膠墊還可以做成不同的大小，以滿足不同的安裝需要。
圖2是裝有防震膠墊的硬盤測(cè)試用的轉(zhuǎn)接卡和測(cè)試筒支架示意圖。這種轉(zhuǎn)接卡21在測(cè)試筒里面是水平放置的，轉(zhuǎn)接卡不是通過(guò)滑槽插入測(cè)試筒的，而是通過(guò)裝配得有防震膠墊25，26的固定螺釘23，24固定在測(cè)試筒的支架上的。轉(zhuǎn)接卡的USB插頭插在USB集線器電路板28的USB集線器插口27上，測(cè)試筒的支架也通過(guò)防震螺釘22固定在測(cè)試架29上，由于USB集線器插口和硬盤插口都是比較緊固的結(jié)構(gòu)，這樣，一個(gè)典型的測(cè)試單元的各個(gè)部分均已形成了良好的防震結(jié)構(gòu)。同樣的方法，將所有測(cè)試筒中的測(cè)試轉(zhuǎn)接卡通過(guò)含有防震膠墊的固定螺釘，固定在測(cè)試筒和測(cè)試架上，通過(guò)防震膠墊可以有效地吸收和減弱來(lái)自各個(gè)方向的各種震動(dòng)的影響。
圖3是一個(gè)測(cè)試筒單元的示意圖。如圖所示，若干測(cè)試硬盤本身震動(dòng)的影響，抽風(fēng)系統(tǒng)帶來(lái)的測(cè)試架的震動(dòng)，以及其它的通過(guò)測(cè)試架32和測(cè)試筒34傳遞到轉(zhuǎn)接卡33上的震動(dòng)，由于本實(shí)用新型的防震膠墊的存在，都可以被有效地吸收和衰減。盡管所有的測(cè)試中的硬盤馬達(dá)的震動(dòng)，以及抽風(fēng)電機(jī)引起的測(cè)試架的震動(dòng)，都可以沿著同一個(gè)方向傳遞，但由于本實(shí)用新型采用了轉(zhuǎn)接卡單一的防震設(shè)計(jì)，可以消除各個(gè)方向的震動(dòng)的影響。而且不管這種測(cè)試的硬盤的數(shù)量有多大，本實(shí)用新型的防震設(shè)計(jì)都可以充分地降低處在測(cè)試中的硬盤受到的外界震動(dòng)的影響。
權(quán)利要求1.一種硬盤測(cè)試裝置，包括測(cè)試架和測(cè)試筒，所述測(cè)試筒開有用于插入轉(zhuǎn)接卡的開口，并設(shè)有與開口垂直的兩側(cè)面，其特征在于，還包括防震膠墊和測(cè)試筒支架；所述防震膠墊為圓柱體，其軸向開置中央開孔(13)，該防震膠墊的外表面上垂直于軸向開置有一環(huán)形腰部開槽(14)，所述開槽的寬度為把轉(zhuǎn)接卡固定在測(cè)試筒上的測(cè)試筒支架的厚度；所述測(cè)試筒支架為直角彎曲狀，所述測(cè)試筒支架的一段通過(guò)其上嵌有的防震膠墊和螺栓平行固定于測(cè)試筒側(cè)面上，所述防震膠墊內(nèi)側(cè)端面與轉(zhuǎn)接卡接觸；所述測(cè)試筒支架的另一段通過(guò)其上嵌有的防震膠墊和螺栓平行固定于測(cè)試架上，并且是向測(cè)試筒開口外側(cè)方向延伸，所述防震膠墊內(nèi)側(cè)端面與測(cè)試架接觸。
專利摘要一種硬盤測(cè)試裝置，包括測(cè)試架和測(cè)試筒，還包括防震膠墊和測(cè)試筒支架；所述防震膠墊為圓柱體，其軸向開置中央開孔，該防震膠墊的外表面上垂直于軸向開置有一環(huán)形腰部開槽，所述開槽的寬度為把轉(zhuǎn)接卡固定在測(cè)試筒上的測(cè)試筒支架厚度；所述測(cè)試筒支架為直角彎曲狀，所述測(cè)試筒支架的一段通過(guò)其上嵌有的防震膠墊和螺栓平行固定于測(cè)試筒側(cè)面上，所述防震膠墊內(nèi)側(cè)端面與轉(zhuǎn)接卡接觸；所述測(cè)試筒支架的另一段通過(guò)其上嵌有的防震膠墊和螺栓平行固定于測(cè)試架上，并且是向測(cè)試筒開口外側(cè)方向延伸，所述防震膠墊內(nèi)側(cè)端面與測(cè)試架接觸。本實(shí)用新型的防震設(shè)計(jì)都可以充分地降低處在測(cè)試中的硬盤受到的外界震動(dòng)的影響。
文檔編號(hào)G06F1/00GK2763942SQ200420112328
公開日2006年3月8日 申請(qǐng)日期2004年10月29日 優(yōu)先權(quán)日2004年10月29日
發(fā)明者曾紀(jì)光, 陳修賢 申請(qǐng)人:貴州南方匯通世華微硬盤有限公司