專利名稱：為調(diào)試電路提供安全性的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及調(diào)試電路，以及更具體地說，涉及用于為調(diào)試電路提供安全性的方法和裝置。
背景技術(shù)：
隨著集成電路用在越來越多的安全性敏感應(yīng)用中，集成電路的安全性正變得日益重要。這些應(yīng)用的一些例子是智能卡、便攜式電話、互聯(lián)網(wǎng)通信設(shè)備等等。特別地，通常期望提供防止欺詐或未授權(quán)訪問集成電路的一個或多個部分的安全性。許多集成電路包括可以用來將信息輸入集成電路和/或從集成電路輸出信息的端子。這些輸入/輸出端子可以提供用于未授權(quán)訪問集成電路的一個或多個部分的路徑。另外，集成電路的一些輸入/輸出端子可以用于調(diào)試、仿真和/或測試目的，也會提供用于未授權(quán)訪問集成電路的一個或多個部分的路徑。
用于集成電路調(diào)試、仿真和/或測試目的的一個通用標準是公知的JTAG(Joint Test Action Group)(聯(lián)合測試專家組)IEEE(電氣和電子工程師協(xié)會)1194.1測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)。除標準的JTAG接口外，存在用于集成電路的大量其他調(diào)試、模擬和/或測試接口。


通過例子示例說明本發(fā)明，并不受附圖限制，其中，類似的標記表示類似的元件，其中圖1以框圖的形式示例說明根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的集成電路10；圖2以局部框圖形式和局部示意圖形式，示例說明根據(jù)本發(fā)明的一個實施例圖1的調(diào)試端口20的一部分；以及圖3以狀態(tài)圖的形式，示例說明根據(jù)本發(fā)明的一個實施例對圖2的調(diào)試電路42漸進地使能和禁止安全性的方法。
技術(shù)人員意識到為簡化和清楚起見而示例說明圖中的元件，不一定按比例繪制。例如，圖中的一些元件的尺寸可以相對于其他元件放大以幫助提高本發(fā)明的實施例的理解。
具體實施例方式
當指將信號、狀態(tài)位或類似的裝置變?yōu)檫壿嬚婊蜻壿嫾贍顟B(tài)時，分別使用術(shù)語“斷言”和“否定”。如果邏輯真狀態(tài)是邏輯電平1，邏輯假狀態(tài)為邏輯電平0。以及如果邏輯真狀態(tài)為邏輯電平0，那么邏輯假狀態(tài)為邏輯電平1。同時，在此可互換使用術(shù)語“邏輯電平”和“邏輯狀態(tài)”。在此使用的術(shù)語“調(diào)試”是指非常寬泛的含義，以及將包括仿真和測試功能。
圖1以框圖形式，示例說明根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的集成電路(IC)10。在一個實施例中，IC10包括調(diào)試端口20和保護功能電路12。在一個實施例中，保護功能電路12包括處理器14、其他電路16，和通過通信信號26而雙向彼此耦合和耦合到調(diào)試端口20的輸入/輸出(I/O)電路18。在一個實施例中，處理器14可以是執(zhí)行任何類型的指令的處理器，例如中央處理單元、數(shù)字信號處理器、定時器處理單元等等。在一個實施例中，其他電路16可以是執(zhí)行IC10的一個或多個所需功能、但不一定要求執(zhí)行指令以執(zhí)行所需功能的電路。保護功能電路12的另外的實施例可以僅包括處理器14、僅包括其他電路16，或處理器14和其他電路16。在一個實施例中，I/O電路18耦合到一個或多個IC端子24，以便與IC10外部的電路(未示出)通信。在本發(fā)明的另外的實施例中，I/O電路18可以包括任何類型的外部總線結(jié)構(gòu)，包括數(shù)據(jù)/地址/控制總線結(jié)構(gòu)。IC10的其他實施例甚至可以不具有I/O電路18和IC端子24，例如在不具有外部總線的單芯片模式中操作的IC10。在本發(fā)明的一個實施例中，調(diào)試端口20雙向耦合到允許調(diào)試端口20與IC10外部的設(shè)備(未示出)通信的一個或多個IC端子22。
圖2以框圖形式，示例說明根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的圖1調(diào)試端口20的一部分。在一個實施例中，調(diào)試端口20包括控制電路46，該電路耦合到非易失元件38以便提供用于非易失元件38的控制和/或編程。在本發(fā)明的一個實施例中，使用一次性編程電路，諸如一次性編程存儲器，形成一個或多個非易失元件38。在本發(fā)明的另外的實施例中，可以使用任何類型的保險絲，形成一個或多個非易失元件38。注意，可以使用僅一種非易失元件形成非易失元件38，或可以使用多個不同類型的非易失元件形成該元件。在圖2所示的實施例中，非易失元件38包括使能安全調(diào)試元件30、旁路安全調(diào)試元件32、重新使能安全調(diào)試元件34以及禁止調(diào)試元件36。本發(fā)明的另外的實施例可以使用多個非易失元件38。使用控制電路46來改變非易失元件38的邏輯狀態(tài)。在本發(fā)明的一個實施例中，控制電路46包括可以用來提供預(yù)定時間的計數(shù)器47。
調(diào)試使能電路40從非易失元件38和驗證電路44接收信號，以及基于那些接收的信號，調(diào)試使能電路40選擇性地斷言使能調(diào)試信號58。由調(diào)試使能電路40將使能調(diào)試信號58提供給調(diào)試邏輯46。調(diào)試邏輯43包括受使能調(diào)試信號58影響的調(diào)試電路42。在本發(fā)明的另外的實施例中，調(diào)試電路42可以包括所有或僅部分調(diào)試邏輯43。在一些實施例中，調(diào)試邏輯43可以包括不由使能調(diào)試信號58使能或禁止、用于調(diào)試目的的其他電路。由調(diào)試電路42使用使能調(diào)試信號58來使能由調(diào)試電路42執(zhí)行的一個或多個調(diào)試功能。調(diào)試電路42可以用來調(diào)試IC10上保護功能電路12的一個或多個部分(見圖1)。
注意驗證電路44可以使用硬件和軟件的任意組合，執(zhí)行任何類型的驗證。另外，本發(fā)明的一些實施例甚至可以根本不使用驗證電路44。對可以與本發(fā)明一起使用的驗證的一個例子，見2002年3月18日提交的、指定給其受讓人的“INTEGRATED CIRCUIT SECURITY ANDMETHOD THEREFOR”，US專利序列號10/100,462，在此引入以供參考。
在所示實施例中，使用OR門50、AND門52，以及AND門54，實現(xiàn)調(diào)試使能電路40。本發(fā)明的另外的實施例可以使用任何所需電路，實現(xiàn)調(diào)試使能電路40。圖2中所示的具體門僅是用于調(diào)試使能電路40的一個可能實施例。在圖2所示的調(diào)試使能電路的實施例中，AND門54從旁路安全調(diào)試元件32接收第一輸入，以及從重新使能安全調(diào)試元件34接收第二輸入。OR門50從驗證電路44接收第一輸入，從使能安全調(diào)試元件30接收第二輸入，以及從AND門54的輸出接收第三輸入。AND門52從OR門50的輸出接收第一輸入，以及從禁止調(diào)試元件36接收第二輸入。對使用門50、52和54的調(diào)試使能電路40的具體實施例，使能安全調(diào)試元件30初始為邏輯電平1，旁路安全調(diào)試元件32初始為邏輯電平0，重新使能安全調(diào)試元件34初始為邏輯電平1，以及禁止調(diào)試元件36初始為邏輯電平1。
在利用驗證電路44的本發(fā)明的實施例中，驗證電路44可以雙向耦合到控制電路46。在本發(fā)明的一些實施例中，驗證電路44可以耦合到通信信號26和/或IC端子22。在本發(fā)明的一些實施例中，調(diào)試邏輯43可以耦合到通信信號26和/或IC端子22。
圖3以狀態(tài)圖的形式，示例說明根據(jù)本發(fā)明的一個實施例對圖2的調(diào)試電路42漸進使能和禁止安全性的方法。為該狀態(tài)圖的目的，假定非易失元件38由保險絲實現(xiàn)，盡管本發(fā)明的其他實施例可以使用任何所需電路來實現(xiàn)非易失元件38。圖3中所示的狀態(tài)圖以狀態(tài)A開始。在本發(fā)明的一個實施例中，狀態(tài)A是制造IC10后的初始狀態(tài)。在所示的狀態(tài)A中，使能調(diào)試電路42以及可獲得對保護功能電路12(見圖1)的完全調(diào)試訪問。在一些實施例中，可以要求驗證退出狀態(tài)A，以及在其他實施例中，驗證可以不要求退出狀態(tài)A。通過熔斷從邏輯電平1永久轉(zhuǎn)變成邏輯電平0的使能安全調(diào)試保險絲30，可以從狀態(tài)A進入狀態(tài)B。
在初始安全狀態(tài)，狀態(tài)B中，保護調(diào)試電路42，并且不可獲得對保護功能電路12(見圖1)的調(diào)試訪問。然后使用驗證來從狀態(tài)A轉(zhuǎn)變成狀態(tài)C。同樣地，可以使用任何類型的驗證。注意用來從狀態(tài)B轉(zhuǎn)變成狀態(tài)C的驗證可以與可選地用來退出狀態(tài)A的驗證相同或不同。
在本發(fā)明的一個實施例中，狀態(tài)C是安全調(diào)試使能狀態(tài)。在所示的狀態(tài)C中，使能調(diào)試電路42，以及可獲得保護功能電路12(見圖1)的完全調(diào)試訪問。注意在本發(fā)明的另外的實施例中，在狀態(tài)C中使能的調(diào)試邏輯43的一個或多個部分可以與在狀態(tài)A中使能的調(diào)試邏輯43的一個或多個部分相同或不同。
從狀態(tài)C返回到狀態(tài)B是可選的。如果存在從狀態(tài)C返回到狀態(tài)B，可以通過任何機制，諸如例如硬件重置、軟件重置、調(diào)試指令或自動地導(dǎo)致狀態(tài)改變的超時，引起返回。如果使用超時來返回到狀態(tài)B，那么在重新使能調(diào)試電路42后，禁止調(diào)試電路42預(yù)定(固定或用戶可編程)時間。計數(shù)器47(見圖2)可以用來向控制電路46提供預(yù)定時間。作為一個可能的例子，計數(shù)器47可以加載預(yù)定(固定或用戶可編程)值，然后向下計數(shù)到零以便提供預(yù)定時間。在另外的實施例中，可以使用任何所需的方法來提供預(yù)定時間。
通過熔斷旁路安全調(diào)試保險絲32，其從邏輯電平零永久地轉(zhuǎn)變到邏輯電平1，可以從狀態(tài)C進入狀態(tài)D，從而將適當?shù)妮斎胩峁┙o圖2所示的調(diào)試使能電路40的實施例。在本發(fā)明的一個實施例中，狀態(tài)D是旁路安全狀態(tài)。在所示的狀態(tài)D中，使能調(diào)試電路42，并可獲得到保護功能電路12(見圖1)的完全調(diào)試訪問。同樣地，本發(fā)明的另外的實施例可以使用狀態(tài)D來使能調(diào)試邏輯43的一個或多個部分，而不是所有調(diào)試邏輯43。調(diào)試電路42僅表示能在特定時間被禁止和/或重新使能的調(diào)試邏輯43的一個或多個部分。在一些實施例中，可以要求驗證來退出狀態(tài)D，以及在其他實施例中，可以不要求驗證來退出狀態(tài)D。注意如果使用驗證來退出狀態(tài)D，用來退出狀態(tài)D的驗證可以與用來退出狀態(tài)A的驗證和/或用來從狀態(tài)B轉(zhuǎn)變到狀態(tài)C的驗證相同或不同。注意在本發(fā)明的另外的實施例中，在狀態(tài)D中使能的調(diào)試邏輯43的一個或多個部分可以與在狀態(tài)A和/或狀態(tài)C中使能的調(diào)試邏輯43的一個或多個部分相同或不同。
通過熔斷重新使能安全調(diào)試保險絲34，從邏輯電平1永久地轉(zhuǎn)變成邏輯電平0，可以從狀態(tài)D進入狀態(tài)E，從而提供如圖2所示的調(diào)試使能電路40的實施例的適當輸入。在本發(fā)明的一個實施例中，狀態(tài)E是重新使能安全狀態(tài)。在所示的狀態(tài)E中，保護調(diào)試電路42，以及不可獲得對保護功能電路12(見圖1)的調(diào)試訪問。然后使用驗證來從狀態(tài)E轉(zhuǎn)變到狀態(tài)F。同樣地，可以使用任何類型的驗證。注意，用來從狀態(tài)E轉(zhuǎn)變成狀態(tài)F的驗證可以與可選地用來退出狀態(tài)A的驗證和/或用來從狀態(tài)B轉(zhuǎn)變成狀態(tài)C的驗證相同或不同。
在本發(fā)明的一個實施例中，狀態(tài)F是安全調(diào)試使能狀態(tài)。在所示的狀態(tài)F中，使能調(diào)試電路42并可獲得保護功能電路12(見圖1)的完全調(diào)試訪問。注意在本發(fā)明的另外的實施例中，在狀態(tài)F中使能的邏輯43的一個或多個部分可以與在狀態(tài)A中和/或狀態(tài)C中和/或狀態(tài)D中使能的調(diào)試邏輯43的一個或多個部分相同或不同。
從狀態(tài)F至狀態(tài)E的返回是可選的。如果存在從狀態(tài)F至狀態(tài)E的返回，可以通過任何所需機制引起返回，諸如例如硬件重置、軟件重置、調(diào)試指令或自動地引起狀態(tài)改變的超時。如果使用超時來返回到狀態(tài)E，那么在重新使能調(diào)試電路42后，禁止調(diào)試電路42預(yù)定(固定或用戶可編程)時間?？梢允褂糜嫈?shù)器47(見圖2)來向控制電路46提供預(yù)定時間。作為一個可能的例子，計數(shù)器47可以加載預(yù)定(固定或用戶可編程)值，然后倒計數(shù)到零以便提供預(yù)定時間。在另外的實施例中，可以使用任何所需方法來提供預(yù)定時間。
在本發(fā)明的一個實施例中，狀態(tài)G是禁止狀態(tài)。通過熔斷禁止調(diào)試保險絲36，從邏輯電平1永久地轉(zhuǎn)變到邏輯電平零，可以從狀態(tài)A、狀態(tài)E或狀態(tài)F的任何一個進入狀態(tài)G，從而提供圖2所示的調(diào)試使能電路40的實施例的適當輸入。在所示的狀態(tài)G中，禁止調(diào)試電路42，并不可獲得對保護功能電路12(見圖1)的調(diào)試訪問。在本發(fā)明的一個實施例中，期望狀態(tài)G是不能退出的最后一個狀態(tài)。
上述狀態(tài)E、F和G是可選的，以及可以在本發(fā)明的各個實施例中實現(xiàn)它們的一個或多個。因此，對本發(fā)明的一些實施例，可以不實現(xiàn)重新使能安全調(diào)試元件34和/或禁止使能元件36。同時，在本發(fā)明的另外的實施例中，可以不實現(xiàn)旁路安全調(diào)試元件32和重新使能安全調(diào)試元件34，相反，可以使用禁止調(diào)試元件36來直接從狀態(tài)C轉(zhuǎn)變到狀態(tài)G。
可以使用控制電路46和調(diào)試使能電路40中的任何電路類型，實現(xiàn)圖3所述的狀態(tài)圖。因此，盡管已經(jīng)用狀態(tài)圖的形式描述了圖3的功能性，將計時邏輯用作組合邏輯，或用作其任意組合，可以將圖3的功能性實現(xiàn)為狀態(tài)機。如前所述，可以使用任何類型的非易失電路，實現(xiàn)非易失元件38保險絲僅是一個例子。
其中，使用圖3所述的特定實施例的一個可能優(yōu)點是組合任何所需驗證方法，可以可選地使用非易失元件38。這允許以初始狀態(tài)(狀態(tài)A)制造IC10，允許在IC10的產(chǎn)品開發(fā)階段期間的完全調(diào)試訪問。然后，在將IC10銷售給初始裝置制造商前(例如便攜式電話、汽車等等的制造商)，改變使能安全調(diào)試元件30的邏輯狀態(tài)以便禁止通過調(diào)試電路42，對電路12的調(diào)試訪問的一個或多個部分(狀態(tài)B)。然而，對于“初始裝置制造商(OEM)和/或IC制造商”(其中，統(tǒng)稱為制造商)，通常期望允許通過調(diào)試電路42訪問保護功能電路12，以便在使用IC10的產(chǎn)品已經(jīng)出售后，制造商能調(diào)試IC10或使用IC10的它們的產(chǎn)品或系統(tǒng)。然而，制造商通常期望要求驗證過程(從狀態(tài)B轉(zhuǎn)變到狀態(tài)C)，以便僅制造商通過調(diào)試電路42訪問保護功能電路12。然后，制造商在狀態(tài)C和/或狀態(tài)D中自由地執(zhí)行調(diào)試操作。
狀態(tài)C的一個用法是要求在能進入狀態(tài)D前驗證。狀態(tài)C的另一用法是允許調(diào)試，然后如果所使用的調(diào)試或其他軟件工具能處理執(zhí)行所需驗證過程，返回到狀態(tài)B。如果期望要求驗證，系統(tǒng)能留在狀態(tài)B中直到將執(zhí)行調(diào)試操作為止。那時，可以執(zhí)行驗證以便轉(zhuǎn)變到狀態(tài)C來執(zhí)行調(diào)試功能。相反地，制造商可以稍后確定不期望要求用于執(zhí)行調(diào)試操作的驗證，從而可以使電路處于狀態(tài)D中，其中，不再要求執(zhí)行調(diào)試操作的驗證。狀態(tài)D的一個用法是允許制造商使用現(xiàn)有的調(diào)試和不具有驗證過程的知識的其他軟件工具。從狀態(tài)C，制造商能轉(zhuǎn)變到不具有驗證過程的知識的軟件工具能自由地操作的狀態(tài)D。在本發(fā)明的一個實施例中，轉(zhuǎn)變旁路安全調(diào)試元件32的邏輯狀態(tài)，以便從狀態(tài)C到狀態(tài)D。
從狀態(tài)D，只要制造商已經(jīng)完成它們的產(chǎn)品開發(fā)并準備將它們的產(chǎn)品提供給客戶，那么，制造商能改變重新使能安全調(diào)試元件34的邏輯狀態(tài)，以便禁止通過調(diào)試電路42對電路12的所有調(diào)試訪問(狀態(tài)E)。注意對本發(fā)明的一些實施例，制造商可以期望從狀態(tài)C直接轉(zhuǎn)變到永久禁止狀態(tài)(例如狀態(tài)G)。永久禁止狀態(tài)(狀態(tài)G)的一個目的可以是防止通過調(diào)試電路42對保護功能電路12的任何進一步訪問。然而，為在制造商的電子設(shè)備上執(zhí)行另外的服務(wù)、修理或故障分析，可以要求非永久禁止狀態(tài)(例如狀態(tài)E)。如果使用非永久禁止狀態(tài)(狀態(tài)E)，通過完成預(yù)定驗證過程(驗證提供從狀態(tài)E至狀態(tài)F的狀態(tài)轉(zhuǎn)變)，也可以實現(xiàn)通過調(diào)試電路42的保護功能電路12的訪問。注意，可以用在狀態(tài)A、C、D和F中以真正調(diào)試或分析IC10的一些調(diào)試和/或仿真軟件可以不要求具有驗證過程的知識，包括任何密碼或密鑰。驗證過程可以與調(diào)試和/或仿真軟件分開。驗證過程可以包括與調(diào)試電路42分開的硬件和/或軟件，用來從“調(diào)試訪問不可用狀態(tài)”轉(zhuǎn)變到“調(diào)試訪問可用狀態(tài)”(見圖3，從狀態(tài)B轉(zhuǎn)變到狀態(tài)C和從狀態(tài)E轉(zhuǎn)變到狀態(tài)F)。
注意在一些實施例中，斷言后續(xù)非易失元件38可以具有超越(overriding)先前斷言的非易失元件38的效果。例如，斷言旁路安全調(diào)試元件32可以具有超越使能安全調(diào)試元件30的效果。類似地，斷言重新使能安全調(diào)試元件34可以具有超越旁路安全調(diào)試元件32的效果。
在上述說明書中，已經(jīng)參考特定實施例描述了本發(fā)明。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員意識到在不背離如在下述權(quán)利要求中所述的本發(fā)明的范圍的情況下，可以做出各種改進和改變。例如，調(diào)試電路42(見圖2)可以包括實現(xiàn)一個或多個標準調(diào)試、仿真或測試接口和協(xié)議，諸如例如JTAG接口和協(xié)議的電路。在一個實施例中，IC端子22可以包括JTAG TDO(測試數(shù)據(jù)出)和TDI(測試數(shù)據(jù)入)信號。
因此，說明書和附圖以示例性的方式看待而不是限制意義，以及所有這些改進意圖包括在本發(fā)明的范圍內(nèi)。
上面已經(jīng)參考具體實施例描述了好處、其他優(yōu)點和問題的解決方案。然而，好處、優(yōu)點和問題的解決方案，以及會引起任何好處、優(yōu)點的任何元件，或產(chǎn)生或變得更顯著的解決方案不構(gòu)成任何或所有權(quán)利要求的關(guān)鍵、所需或必要特征或元件。如在此所使用的，術(shù)語“包括”、“由...組成”或其任意其他變形意圖覆蓋非排它包括，以便包括元件的列表的過程、方法、物品或裝置不僅包括那些元件而且包括未清楚地列出或這些過程、方法、物品或裝置固有的其他元件。
附加文本1.一種用于為調(diào)試電路提供安全性的方法，包括提供調(diào)試電路，其中，使能調(diào)試電路；編程第一非易失元件，以便禁止調(diào)試電路；以及在編程第一非易失元件后，編程第二非易失元件以便執(zhí)行重新使能調(diào)試電路和永久禁止調(diào)試電路的一個。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在編程第一非易失元件后以及在編程第二非易失元件前，調(diào)試電路能響應(yīng)驗證而被選擇性地使能。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，編程第二非易失元件以便重新使能調(diào)試電路。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，進一步包括在編程第二非易失元件后，編程第三非易失元件來禁止調(diào)試，其中，在編程第三非易失元件后，調(diào)試電路能響應(yīng)驗證而被選擇性地使能。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中，第一非易失元件包括第一保險絲，第二非易失元件包括第二保險絲，以及第三非易失元件包括第三保險絲，以及其中
編程第一非易失元件包括熔斷第一保險絲；編程第二非易失元件包括熔斷第二保險絲；以及編程第二非易失元件包括熔斷第三保險絲。
6.如權(quán)利要求4所述的方法，進一步包括在編程第三非易失元件后，編程第四非易失元件以便永久地禁止調(diào)試電路。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，編程第二非易失元件來永久地禁止調(diào)試電路。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，第一非易失元件包括第一保險絲以及第二非易失元件包括第二保險絲，以及其中，編程第一非易失元件包括熔斷第一保險絲，以及其中，編程第二非易失元件包括熔斷第二保險絲。
9.一種用于為調(diào)試電路提供安全性的方法，包括提供安全調(diào)試狀態(tài)的調(diào)試電路，其中，調(diào)試電路能響應(yīng)驗證而被選擇性地使能；響應(yīng)驗證，使能調(diào)試電路；以及在響應(yīng)驗證而使能調(diào)試電路后，編程第一非易失元件。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，在編程第一非易失元件后，調(diào)試電路處于使能調(diào)試電路的旁路安全狀態(tài)。
11.如權(quán)利要求9所述的方法，進一步包括在編程第一非易失元件后，編程第二非易失元件，其中，在編程第二非易失元件后，調(diào)試電路處于調(diào)試電路能響應(yīng)驗證而被選擇性地使能的重新使能安全調(diào)試狀態(tài)。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，第一非易失元件包括第一保險絲以及第二非易失元件包括第二保險絲，以及其中，編程第一非易失元件包括熔斷第一保險絲，以及其中，編程第二非易失元件包括熔斷第二保險絲。
13.如權(quán)利要求11所述的方法，進一步包括在編程第二非易失元件后，編程第三非易失元件以便永久地禁止調(diào)試電路。
14.一種用于為調(diào)試電路提供安全性的方法，包括響應(yīng)驗證，使能調(diào)試電路；以及在使能調(diào)試電路后，禁止調(diào)試電路預(yù)定時間。
15.如權(quán)利要求14所述的方法，其中，由計數(shù)器提供預(yù)定時間。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其中，響應(yīng)計數(shù)器期滿，執(zhí)行禁止調(diào)試電路。
17.如權(quán)利要求14所述的方法，其中，預(yù)定時間是用戶可編程的。
18.如權(quán)利要求14所述的方法，在響應(yīng)驗證而使能調(diào)試電路前，進一步包括提供處于使能狀態(tài)的調(diào)試電路；以及編程第一非易失元件來禁止調(diào)試電路。
19.一種集成電路，包括調(diào)試電路；第一非易失元件；第二非易失元件；以及調(diào)試使能電路，基于第一和第二非易失元件，向調(diào)試電路提供調(diào)試使能指示信號，其中第一非易失元件指示調(diào)試電路是否處于其中調(diào)試電路能響應(yīng)驗證被選擇性地使能的安全調(diào)試狀態(tài)；以及第二非易失元件指示是否超越第一非易失元件。
20.如權(quán)利要求19所述的集成電路，其中，第二非易失元件通過指示調(diào)試電路是否處于其中調(diào)試電路被重新使能的旁路安全狀態(tài)中，指示是否超越第一非易失元件。
21.如權(quán)利要求20所述的集成電路，進一步包括第三非易失元件，指示是否超越第二非易失元件。
22.如權(quán)利要求21所述的集成電路，其中，第三非易失元件通過指示調(diào)試電路是否處于其中調(diào)試電路能響應(yīng)驗證被選擇性地使能的重新使能安全調(diào)試狀態(tài)，指示是否超越第二非易失元件。
23.如權(quán)利要求22所述的集成電路，進一步包括第三非易失元件，指示是否永久禁止調(diào)試電路。
24.如權(quán)利要求21所述的集成電路，其中，第三非易失元件通過指示是否調(diào)試電路被永久地禁止，指示是否超越第二非易失元件。
25.如權(quán)利要求19所述的集成電路，其中，第二非易失元件通過指示是否調(diào)試電路被永久地禁止，指示是否超越第一非易失元件。
26.如權(quán)利要求19所述的集成電路，其中，第一非易失元件包括第一保險絲，以及第二非易失元件包括第二保險絲。
權(quán)利要求
1.一種用于為調(diào)試電路提供安全性的方法，包括提供調(diào)試電路，其中，使能調(diào)試電路；編程第一非易失元件，以便禁止調(diào)試電路；以及在編程第一非易失元件后，編程第二非易失元件以便執(zhí)行重新使能調(diào)試電路和永久禁止調(diào)試電路的一個。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在編程第一非易失元件后以及在編程第二非易失元件前，調(diào)試電路能響應(yīng)驗證而被選擇性地使能。
3.一種用于為調(diào)試電路提供安全性的方法，包括提供在安全調(diào)試狀態(tài)中的調(diào)試電路，其中，調(diào)試電路能響應(yīng)驗證而被選擇性地使能；響應(yīng)驗證，使能調(diào)試電路；以及在響應(yīng)驗證而使能調(diào)試電路后，編程第一非易失元件。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，進一步包括在編程第一非易失元件后，編程第二非易失元件，其中，在編程第二非易失元件后，調(diào)試電路處于其中調(diào)試電路能響應(yīng)驗證而被選擇性地使能的重新使能安全調(diào)試狀態(tài)。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，進一步包括在編程第二非易失元件后，編程第三非易失元件以便永久地禁止調(diào)試電路。
6.一種用于為調(diào)試電路提供安全性的方法，包括響應(yīng)驗證，使能調(diào)試電路；以及在使能調(diào)試電路后，禁止調(diào)試電路預(yù)定時間。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，在響應(yīng)驗證而使能調(diào)試電路前，進一步包括提供處于使能狀態(tài)的調(diào)試電路；以及編程第一非易失元件以禁止調(diào)試電路。
8.一種集成電路，包括調(diào)試電路；第一非易失元件；第二非易失元件；以及調(diào)試使能電路，基于第一和第二非易失元件，向調(diào)試電路提供調(diào)試使能指示信號，其中第一非易失元件指示調(diào)試電路是否處于其中調(diào)試電路能響應(yīng)驗證而被選擇性地使能的安全調(diào)試狀態(tài)；以及第二非易失元件指示是否超越第一非易失元件。
9.如權(quán)利要求8所述的集成電路，其中，第二非易失元件通過指示調(diào)試電路是否處于其中調(diào)試電路被重新使能的旁路安全狀態(tài)中，指示是否超越第一非易失元件。
10.如權(quán)利要求8所述的集成電路，其中，第二非易失元件通過指示是否調(diào)試電路被永久地禁止，指示是否超越第一非易失元件。
全文摘要
本發(fā)明涉及調(diào)試電路(20)，以及更具體地說，涉及用于為調(diào)試電路(20)提供安全性的方法和裝置。在一個實施例中，多個非易失元件(38)用于提供選擇性地禁止和重新使能至少一部分調(diào)試電路(20)。也可以使用驗證。本發(fā)明可以使用調(diào)試接口，包括標準調(diào)試接口，諸如由IEEE定義的JTAG調(diào)試接口。
文檔編號G06F9/455GK1820453SQ200480019583
公開日2006年8月16日 申請日期2004年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月11日
發(fā)明者威廉姆·C.·莫耶, 托瑪斯·E.·特卡希克 申請人:飛思卡爾半導(dǎo)體公司