專利名稱：參考電路及信號調(diào)整電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種參考電路及信號調(diào)整電路，特別是涉及一種具有多數(shù)個參考電壓的參考電路，用以比較接收的信號，供調(diào)整電路確認(rèn)接收的信號是否有誤，以調(diào)整發(fā)送或接收信號的設(shè)定值，提高傳輸信號的穩(wěn)定度。
背景技術(shù)：
近來，科技產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展，許多科技產(chǎn)品汰舊換新的速度越來越快，造成新產(chǎn)品問世的速率急速提升，而目前大多數(shù)的科技產(chǎn)品為了提供更周全的功能，故所裝設(shè)的微處理芯片數(shù)量愈趨提升，例如電腦系統(tǒng)，芯片制成后設(shè)于電路板時，為了確保芯片可以正常運作，以及避免芯片與芯片之間的傳輸信號受電路板的布線設(shè)計影響，故于出廠賣售之前皆會進(jìn)行測試及調(diào)整，然為了因應(yīng)新產(chǎn)品的急速生產(chǎn)需求，所以測試與調(diào)整芯片皆應(yīng)于短時間內(nèi)達(dá)成。
芯片與芯片之間進(jìn)行傳輸信號時，接收信號的芯片是將所接收的信號與一參考電壓進(jìn)行比較，以得知接收的值，例如大于參考電壓即為1，低于參考電壓即為0，當(dāng)測試人員于測試芯片與芯片傳輸信號的過程，得知芯片與芯片之間傳輸信號有誤時，測試人員將利用輔助儀器量測芯片腳位，得知芯片接收信號的電壓強(qiáng)度，以人工調(diào)整方式，調(diào)整發(fā)送信號的芯片的驅(qū)動電壓或者接收信號的芯片的參考電壓，直到兩芯片的信號可正確的傳輸，此外兩芯片傳輸信號有誤的情形又可能是因為兩芯片于輸出信號與接收信號的時序不相契合的因素，導(dǎo)致傳輸?shù)男盘柍霈F(xiàn)錯誤，因此測試人員亦必須利用人工調(diào)整的方式調(diào)整時序，以達(dá)成信號正確傳輸?shù)哪康摹?br> 有上述可知，由于先前技術(shù)是利用人工調(diào)整，因此無法于短時間內(nèi)調(diào)整測試芯片，且無法對錯誤的情況做出正確的判斷，以做出適當(dāng)?shù)恼{(diào)整，導(dǎo)致時間上的浪費，造成新產(chǎn)品產(chǎn)出延遲，降低競爭力，且容易產(chǎn)生錯誤。
調(diào)整電路，不僅可精確地判斷芯片所接收的信號是否有誤，又可迅速的適當(dāng)調(diào)整芯片傳輸信號的設(shè)定，如此可提高芯片測試的效率，進(jìn)而降低測試時間，以提高新產(chǎn)品的競爭力。
由此可見，上述現(xiàn)有的人工調(diào)整信號方式在與使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為了解決人工調(diào)整信號方式存在的問題，相關(guān)廠商莫不費盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品又沒有適切的結(jié)構(gòu)能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的參考電路及信號調(diào)整電路，便成了當(dāng)前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。
有鑒于上述現(xiàn)有的人工調(diào)整信號方式存在的缺陷，本發(fā)明人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計制造多年豐富的實務(wù)經(jīng)驗及專業(yè)知識，并配合學(xué)理的運用，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的參考電路及信號調(diào)整電路，能夠改進(jìn)一般現(xiàn)有的人工調(diào)整信號方式，使其更具有實用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計，并經(jīng)反復(fù)試作樣品及改進(jìn)后，終于創(chuàng)設(shè)出確具實用價值的本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，克服現(xiàn)有的人工調(diào)整信號方式存在的缺陷，而提供一種參考電路及信號調(diào)整電路，其是利用多數(shù)個參考電壓比較接收的信號，產(chǎn)生比較值，供調(diào)整電路的判斷單元，正確地判斷接收的信號是否有錯誤，以進(jìn)行調(diào)整傳輸信號的設(shè)定值，進(jìn)而提高傳輸信另外，因芯片是以單一參考電壓比較所接收的信號的電壓，以判定所接收的信號，所以僅要芯片所接收的信號大于參考電壓即為1，不論超過多少，如此容易發(fā)生于測試芯片過程，因芯片所接收的信號的電壓僅超過參考電壓一些，而測試人員于比較發(fā)送芯片的值時，認(rèn)定無誤，然而于出廠使用時，芯片容易受到外在因素，例如溫度與電磁波等因素，而使芯片于傳輸信號過程中，降低傳送信號的強(qiáng)度，如此將使得芯片所接收的信號與參考電壓進(jìn)行比較后，而低于參考電壓，代表所接收的值已于發(fā)送芯片原要傳輸?shù)闹涤兴町悾绱藢l(fā)生芯片無法正常運作。
本發(fā)明即在針對上述問題而提出一種參考電路及信號號的穩(wěn)定度。
本發(fā)明的另一目的，在于提供一種參考電路及信號調(diào)整電路，其是藉由參考電路依據(jù)多數(shù)個參考電壓，比較接收的信號，產(chǎn)生比較值，供信號調(diào)整電路的判斷單元可迅速地判斷出錯誤并自動進(jìn)行調(diào)整，降低調(diào)整芯片所需的時間。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的一種信號調(diào)整電路，其是用于調(diào)整一第一芯片或一第二芯片的一設(shè)定值，該第一芯片依據(jù)該設(shè)定值傳輸對應(yīng)一輸出值的一輸出信號，該第二芯片依據(jù)該設(shè)定值接收該輸出信號為一輸入信號，其特征在于該信號調(diào)整電路包含有一參考電路，其具有多數(shù)個參考電壓，該參考電路比較該輸入信號與該參考電壓，產(chǎn)生多數(shù)個比較值；以及一判斷單元，依據(jù)該輸出值判斷該比較值，產(chǎn)生一調(diào)整信號，調(diào)整該設(shè)定值。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實現(xiàn)。
前述的參考電路及信號調(diào)整電路，其中所述的第一芯片的該設(shè)定值可為傳輸該輸出信號的一驅(qū)動電壓(Driving)。
前述的參考電路及信號調(diào)整電路，其中所述的第一芯片的該設(shè)定值可為傳輸該輸出信號的一輸出時序(Timing)。
前述的參考電路及信號調(diào)整電路，其中所述的第二芯片的該設(shè)定值可為接收該輸出信號的一接收時序(Timing)。
前述的參考電路及信號調(diào)整電路，其中所述的判斷單元的該調(diào)整信號更可調(diào)整該參考電路的該參考電壓。
前述的參考電路及信號調(diào)整電路，其中所述的參考電路更包含有多數(shù)個比較器，每一比較器分別依據(jù)每一該參考電壓，比較該輸入信號，產(chǎn)生該比較值。
前述的參考電路及信號調(diào)整電路，其中所述的參考電路更包含有至少一儲存單元，儲存該比較值。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下的技術(shù)方案來實現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的一種參考電路，其判斷一芯片接收的一輸入信號，其特征在于該參考電路包含有多數(shù)個比較器，每一該比較器皆具有一參考電壓，每一該比較器分別比較該輸入信號與該參考電壓，產(chǎn)生多數(shù)個比較值，確認(rèn)該輸入信號是否有誤。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實現(xiàn)。
前述的參考電路及信號調(diào)整電路，其中所述的參考電路更包含有至少一儲存單元，儲存該比較值。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點和有益效果。由以上技術(shù)方案可知，本發(fā)明的主要技術(shù)內(nèi)容如下本發(fā)明參考電路，其包含有多數(shù)個比較器，每一比較器皆具有一參考電壓，每一比較器分別依據(jù)參考電壓，比較一芯片所接收的一輸入信號，產(chǎn)生多數(shù)個比較值，以確認(rèn)輸入信號是否有誤。
本發(fā)明信號調(diào)整電路，其是用于調(diào)整一第一芯片或一第二芯片的一設(shè)定值，信號調(diào)整電路包含有參考電路及判斷單元，第一芯片依據(jù)第一芯片的設(shè)定值傳輸對應(yīng)一輸出值的一輸出信號，第二芯片依據(jù)第二芯片的設(shè)定值接收該輸出信號為輸入信號，參考電路依據(jù)多數(shù)個參考電壓分別比較輸入信號，產(chǎn)生多數(shù)個比較值并傳輸至判斷單元，判斷單元依據(jù)該輸出值判斷比較值，確認(rèn)第二芯片所接收的輸入信號是否有誤，如有誤即產(chǎn)生一調(diào)整信號，調(diào)整第一芯片或第二芯片的設(shè)定值，以確保兩芯片傳輸信號的正確度。
借由上述技術(shù)方案，本發(fā)明參考電路及信號調(diào)整電路至少具有下列優(yōu)點1、本發(fā)明參考電路包含多數(shù)個比較器，其中每一比較器是依據(jù)不同參考電壓分別比較輸入信號，因參考電路藉由多數(shù)個參考電壓比較輸入信號，因此可更精確得知輸入信號的電位值。
2、本發(fā)明因可自動判斷而進(jìn)行調(diào)整，不需人工調(diào)整，故可達(dá)到縮短調(diào)整芯片時程的目的。
綜上所述，本發(fā)明特殊結(jié)構(gòu)的參考電路及信號調(diào)整電路，其具有上述諸多的優(yōu)點及實用價值，并在同類產(chǎn)品中未見有類似的結(jié)構(gòu)設(shè)計公開發(fā)表或使用而確屬創(chuàng)新，其不論在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或功能上皆有較大的改進(jìn)，在技術(shù)上有較大的進(jìn)步，并產(chǎn)生了好用及實用的效果，且較現(xiàn)有的人工調(diào)整信號方式具有增進(jìn)的多項功效，從而更加適于實用，而具有產(chǎn)業(yè)的廣泛利用價值，誠為一新穎、進(jìn)步、實用的新設(shè)計。
上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。


圖1是本發(fā)明實施例的方塊圖。
圖2A是本發(fā)明實施例的參考電壓與輸入信號的比較示意圖。
圖2B是本發(fā)明實施例的參考電壓與另一輸入信號的比較示意圖。
圖2C是本發(fā)明實施例的參考電壓與又一輸入信號的比較示意圖。
圖3是本發(fā)明另一實施例的參考電壓與輸入信號的比較示意圖。
10 第一芯片20 第二芯片30 參考電路32 第一比較器34 第二比較器36 儲存單元40 判斷單元Vref 1 第一參考電壓Vref 2 第二參考電壓Vref 3 第三參考電壓具體實施方式
為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的參考電路及信號調(diào)整電路其具體實施方式
、結(jié)構(gòu)、特征及其功效，詳細(xì)說明如后。
本發(fā)明是利用多數(shù)個參考電壓，以更正確判斷芯片所接收的信號的電位，以供進(jìn)行后序調(diào)整動作。
請參閱圖1，為本發(fā)明實施例的方塊圖；如圖所示，本發(fā)明運用于判斷與調(diào)整一第一芯片10及一第二芯片20之間的信號傳輸，其中第二芯片20包含有本發(fā)明的一參考電路30及一判斷單元40，判斷單元40亦可設(shè)在第二芯片20，判斷單元40可為一程式，參考電路30包含有一第一比較器32及一第二比較器34，第一比較器32具有一第一參考電壓Vref 1，而第二比較器34具有一第二參考電壓Vref 2，第一參考電壓Vref 1的電位高于第二參考電壓Vref 2的電位，第一參考電壓Vref 1為一般標(biāo)準(zhǔn)參考電位，第二參考電壓Vref 2為高標(biāo)準(zhǔn)參考電位，其中參考電路30更可包含有一儲存單元36，藉以儲存比較器32、34所產(chǎn)生的多數(shù)個比較值，供判斷單元40讀取，儲存單元36可為暫存器；第一芯片10于傳輸對應(yīng)一輸出值(0或1)的一輸出信號至第二芯片20時，將依據(jù)第一芯片10的多數(shù)個設(shè)定值傳輸該輸出信號，設(shè)定值為傳送輸出信號的驅(qū)動電壓(driving)與輸出時序(timing)。
第二芯片20是依據(jù)第二芯片20的設(shè)定值，接收第一芯片10傳輸?shù)妮敵鲂盘枮檩斎胄盘?，第二芯?0的設(shè)定值為接收時序，第二芯片20所接收的輸入信號將傳輸至參考電路30，參考電路30的第一比較器32依據(jù)第一參考電壓Vref 1比較輸入信號，產(chǎn)生一第一比較值并傳輸至判斷單元40，而第二比較器34是依據(jù)第二參考電壓Vref 2比較輸入信號，產(chǎn)生一第二比較值且傳輸至判斷單元40，判斷單元40是依據(jù)輸出值判斷第一比較值與第二比較值，確認(rèn)輸入信號是否有誤，如有錯誤即傳輸一調(diào)整信號至第一芯片10，調(diào)整第一芯片10的設(shè)定值，或傳輸調(diào)整信號至第二芯片20，調(diào)整第二芯片20的設(shè)定值或參考電路30的參考電壓。
請一并參閱圖2A，是本發(fā)明實施例的參考電壓與輸入信號的比較示意圖；如圖所示，當(dāng)輸入信號的電位高于第一參考電壓Vref 1及第二參考電壓Vref 2的電位時，即代表第一比較值及第二比較值皆為1，判斷單元40將依據(jù)輸出值判斷接收的第一比較值及第二比較值，若輸出值為1，即表示第一比較值與第二比較值同于輸出值，因此判斷單元40確認(rèn)傳輸?shù)男盘栒_，而不須進(jìn)行調(diào)整；若輸出值為0，則判斷單元40判斷第一比較值及第二比較值皆不同于輸出值，因此判斷單元40發(fā)出調(diào)整信號至第一芯片10，調(diào)整第一芯片的設(shè)定值，以調(diào)低輸出信號的驅(qū)動電壓，降低多數(shù)個電位值，其中一電位值可為第一參考電壓Vref 1及第二參考電壓Vref 2的差值的四分之一，直至判斷單元40所接收的第一比較值與第二比較值，皆同于輸出值，以達(dá)成信號傳輸確實的目的。
請一并參閱圖2B，是本發(fā)明實施例的參考電壓與另一輸入信號的比較示意圖；如圖所示，若輸入信號的電位介于第一參考電壓Vref 1及第二參考電壓Vref 2之間，即表示第一比較值為0，而第二比較值為1，第一比較值及第二比較值會傳輸至判斷單元40，判斷單元40將依據(jù)輸出值判斷第一比較值與第二比較值，若輸出值為1，則第一比較值不同于輸出值，判斷單元40將發(fā)送調(diào)整信號至第一芯片10，藉以調(diào)整第一芯片10的設(shè)定值，以調(diào)高輸出信號的驅(qū)動電壓一個電位值，直至輸入信號的電位高于第一參考電壓Vref 1；若輸出值為0，因第二比較值不同于輸出值，則判斷單元40傳輸調(diào)整信號至第一芯片10，以調(diào)低第一芯片10的驅(qū)動電壓一個電位值，直至輸入信號的電位低于第二參考電壓Vref 2，如此可避免日后第一芯片10因外在因素，影響傳輸信號的穩(wěn)定度。
由上述實施例可知，當(dāng)輸出值為1時，而第二芯片20所接收的輸入信號的電壓介于第一參考電壓Vref 1和第二參考電壓Vref 2之間時，對于第一芯片10內(nèi)部原有同于第一參考電壓Vref 1的參考電壓而言，接收信號即為1，但是可能發(fā)生輸出信號的電壓受其他因素影響而降低，導(dǎo)致第二芯片20所接收的輸入信號電壓降低，而發(fā)生傳輸信號錯誤的情形，故藉由參考電路30產(chǎn)生兩比較值可供檢測人員，得知接收信號的電壓，而進(jìn)一步調(diào)高第一芯片10的驅(qū)動電壓，使接收信號的電壓高于第二參考電壓Vref 2，如此輸出信號受到影響而降低電壓時，可保持高于第一參考電壓Vref 1，即高于第一芯片10原有的參考電壓，如此即可避免傳輸信號發(fā)生錯誤的情形。
請一并參閱圖2C，是本發(fā)明實施例的參考電壓與又一輸入信號的比較示意圖；如圖所示，若輸入信號的電位低于第一參考電壓Vref 1及第二參考電壓Vref 2，即表示第一比較值及第二比較值皆為0，判斷單元40將接收的第一比較值與第二比較值和輸出值做判斷，若輸出值為1，則判斷單元40判斷第一比較值及第二比較值皆是錯誤，因此，判斷單元40傳輸調(diào)整信號至第一芯片10，以調(diào)高輸出信號的驅(qū)動電壓多數(shù)個電位值，并重復(fù)上述的動作，直至輸入信號的電位高于第一參考電壓Vref 1及第二參考電壓Vref 2，以完成調(diào)整動作，確保傳輸?shù)男盘栒_；若輸出值為0，則判斷單元40判斷第一比較值與第二比較值皆與輸出值相同，因此判斷單元40不需發(fā)出調(diào)整信號進(jìn)行調(diào)整。
為了更精確地判斷輸入信號的電位，因此本發(fā)明更可應(yīng)用于包含三個以上比較器的參考電路，請一并參閱圖3，是本發(fā)明另一實施例的參考電壓與輸入信號的比較示意圖；若輸入信號的電位介于第一參考電壓Vref 1及第二參考電壓Vref 2之間，即表示第一比較值為0，而第二比較值與第三比較值為1，第一比較值、第二比較值及第三比較值傳輸至判斷單元40，判斷單元40將依據(jù)輸出值分別判斷第一比較值、第二比較值與第三比較值，若輸出值為1，則第一比較值不同于輸出值，判斷單元40將發(fā)出調(diào)整信號至第一芯片10，調(diào)整第一芯片10的設(shè)定值，以提高驅(qū)動電壓一個電位值，使得輸入信號提高一個電位值以進(jìn)行后序比較及判斷，直至輸入信號的電位高于第一參考電壓Vref 1的電位，以達(dá)成第一芯片10與第二芯片20能夠傳輸確實信號的目的，提高芯片之間傳輸?shù)姆€(wěn)定度。
上述的各項實施例，若經(jīng)過數(shù)次的驅(qū)動電壓調(diào)整，依然無法使多數(shù)個比較值與輸出值完全相同，則判定問題不在于驅(qū)動電壓，可能為第一芯片10的輸出時序或第二芯片20的接收時序，則判斷單元40可更進(jìn)一步傳輸調(diào)整信號至第一芯片10，調(diào)整第一芯片10的輸出時序，或傳輸調(diào)整信號至第二芯片20，藉以調(diào)整第二芯片20的接收時序，或傳輸調(diào)整信號至參考電路30，調(diào)整參考電路30的參考電壓，以達(dá)到信號傳輸確實的目的。
綜上所述，本發(fā)明參考電路包含多數(shù)個比較器，其中每一比較器是依據(jù)不同參考電壓分別比較輸入信號，因參考電路藉由多數(shù)個參考電壓比較輸入信號，因此可更精確得知輸入信號的電位值，以利判斷調(diào)整兩芯片的信號傳輸，其中參考電路更包含有儲存單元，藉以暫時存放多數(shù)個比較值，信號調(diào)整電路的判斷單元依據(jù)輸出值判斷比較值，以得知接收信號是否有誤，以進(jìn)行后續(xù)調(diào)整第一芯片或第二芯片的設(shè)定值或參考電路的參考電壓，本發(fā)明因可自動判斷而進(jìn)行調(diào)整，不需人工調(diào)整，故可達(dá)到縮短調(diào)整芯片時程的目的。
以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種信號調(diào)整電路，其是用于調(diào)整一第一芯片或一第二芯片的一設(shè)定值，該第一芯片依據(jù)該設(shè)定值傳輸對應(yīng)一輸出值的一輸出信號，該第二芯片依據(jù)該設(shè)定值接收該輸出信號為一輸入信號，其特征在于該信號調(diào)整電路包含有一參考電路，其具有多數(shù)個參考電壓，該參考電路比較該輸入信號與該參考電壓，產(chǎn)生多數(shù)個比較值；以及一判斷單元，依據(jù)該輸出值判斷該比較值，產(chǎn)生一調(diào)整信號，調(diào)整該設(shè)定值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號調(diào)整電路，其特征在于其中所述的第一芯片的該設(shè)定值可為傳輸該輸出信號的一驅(qū)動電壓(Driving)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號調(diào)整電路，其特征在于其中所述的第一芯片的該設(shè)定值可為傳輸該輸出信號的一輸出時序(Timing)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號調(diào)整電路，其特征在于其中所述的第二芯片的該設(shè)定值可為接收該輸出信號的一接收時序(Timing)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號調(diào)整電路，其特征在于其中所述的判斷單元的該調(diào)整信號更可調(diào)整該參考電路的該參考電壓。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號調(diào)整電路，其特征在于其中所述的參考電路更包含有多數(shù)個比較器，每一比較器分別依據(jù)每一該參考電壓，比較該輸入信號，產(chǎn)生該比較值。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號調(diào)整電路，其特征在于其中所述的參考電路更包含有至少一儲存單元，儲存該比較值。
8.一種參考電路，其判斷一芯片接收的一輸入信號，其特征在于該參考電路包含有多數(shù)個比較器，每一該比較器皆具有一參考電壓，每一該比較器分別比較該輸入信號與該參考電壓，產(chǎn)生多數(shù)個比較值，確認(rèn)該輸入信號是否有誤。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的參考電路，其特征在于其中所述的參考電路更包含有至少一儲存單元，儲存該比較值。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種參考電路及信號調(diào)整電路，信號調(diào)整電路用于調(diào)整一第一芯片或一第二芯片的一設(shè)定值，其中該第一芯片是依據(jù)該設(shè)定值傳輸對應(yīng)一輸出值的一輸出信號，該第二芯片是依據(jù)該設(shè)定值接收該輸出信號為一輸入信號，信號調(diào)整電路是利用該參考電路依據(jù)多數(shù)個參考電壓，分別比較輸入信號，產(chǎn)生多數(shù)個比較值，該比較值傳輸至該信號調(diào)整電路的一判斷單元，該判斷單元是依據(jù)該輸出值判斷該比較值，產(chǎn)生一調(diào)整信號，以調(diào)整該第一芯片或該第二芯片的該設(shè)定值，藉以提升第一芯片與第二芯片傳輸信號的穩(wěn)定度。
文檔編號G06F11/22GK1702628SQ200510079869
公開日2005年11月30日 申請日期2005年6月29日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月29日
發(fā)明者郭宏益, 陳慧美 申請人:威盛電子股份有限公司