專利名稱：一種芯片接口檢測(cè)裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及芯片檢測(cè)技術(shù)，特別涉及一種芯片接口檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù)：
目前使用的芯片接口至少包含地址線、數(shù)據(jù)線和讀寫(xiě)控制線，通常地址線共M根，A[1]...A[m]...A[M]，1≤m≤M，地址信號(hào)共有2M種組合形式；數(shù)據(jù)線共N根，D[1]...D[n]...D[N]，1≤n≤N，數(shù)據(jù)信號(hào)共有2N種組合形式。
圖1是現(xiàn)有技術(shù)芯片接口檢測(cè)裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖，現(xiàn)有技術(shù)的芯片接口檢測(cè)裝置包含置于芯片100外部的外部檢測(cè)器件101和置于芯片內(nèi)部的內(nèi)部檢測(cè)器件102。
其中，外部檢測(cè)器件101包含用于接收檢測(cè)指令并控制檢測(cè)流程的控制單元110，作為外部存儲(chǔ)模塊的外部固有存儲(chǔ)單元112?？刂茊卧?10通過(guò)外部控制線、外部地址線及外部數(shù)據(jù)線與外部固有存儲(chǔ)單元112相連；外部固有存儲(chǔ)單元112至少包含一個(gè)用于存儲(chǔ)驗(yàn)證信號(hào)的存儲(chǔ)子單元Memory_x 132，該存儲(chǔ)子單元的地址信號(hào)為Add_Memory_x。
內(nèi)部檢測(cè)器件102至少包含作為內(nèi)部存儲(chǔ)模塊的芯片內(nèi)部固有存儲(chǔ)單元組122。芯片內(nèi)部固有存儲(chǔ)單元組122由芯片內(nèi)部固有的各種類型存儲(chǔ)單元組成，控制單元110通過(guò)接口控制線、接口地址線及接口數(shù)據(jù)線與芯片內(nèi)部固有存儲(chǔ)單元組122相連。芯片內(nèi)部固有存儲(chǔ)單元組122包含最多p＝2M個(gè)存儲(chǔ)子單元，分別為圖1中的Memory_1...Memory_p...Memory_P，1≤p≤P，Memory_1標(biāo)識(shí)為141，Memory_p標(biāo)識(shí)為142，Memory_P標(biāo)識(shí)為143，用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的每個(gè)存儲(chǔ)子單元對(duì)應(yīng)不同的地址信號(hào)，比如存儲(chǔ)子單元Memory_p 142對(duì)應(yīng)的地址信號(hào)為Add_Memory_p。
現(xiàn)有技術(shù)的芯片接口檢測(cè)方法包括以下步驟步驟11控制單元110向接口控制線上發(fā)寫(xiě)控制信號(hào)，向接口地址線上發(fā)地址信號(hào)Add_Memory_p，向接口數(shù)據(jù)線上發(fā)檢測(cè)信號(hào)test_data_0；并且，控制單元110向外部控制線上發(fā)寫(xiě)控制信號(hào)，向外部地址線上發(fā)地址信號(hào)Add_Memory_x，向外部數(shù)據(jù)線上發(fā)與檢測(cè)信號(hào)相同的驗(yàn)證信號(hào)test_data_0；步驟12檢測(cè)信號(hào)送入存儲(chǔ)子單元Memory_p 142存儲(chǔ)，驗(yàn)證信號(hào)送入存儲(chǔ)子單元Memory_x 132存儲(chǔ)；步驟13控制單元110向接口控制線上發(fā)讀控制信號(hào)，向接口地址線上發(fā)地址信號(hào)Add_Memory_p，通過(guò)接口數(shù)據(jù)線從存儲(chǔ)子單元Memory_p 142讀取檢測(cè)信號(hào)test_data_1；控制單元110向外部控制線上發(fā)讀控制信號(hào)，向外部地址線上發(fā)地址信號(hào)Add_Memory_x，通過(guò)外部數(shù)據(jù)線從存儲(chǔ)子單元Memory_x132讀取驗(yàn)證信號(hào)test_data_2；步驟14控制單元110比較test_data_1和test_data_2，如果兩者相同，則接口控制線、接口地址線和接口數(shù)據(jù)線正確，如果兩者不相同，則接口控制線、接口地址線和接口數(shù)據(jù)線不正確。
從上述處理流程可以看出，現(xiàn)有技術(shù)中的芯片接口檢測(cè)方法存在以下問(wèn)題1)芯片內(nèi)部固有存儲(chǔ)單元組由各種類型的存儲(chǔ)單元組成，不同類型存儲(chǔ)單元的讀寫(xiě)功能有別，如某些存儲(chǔ)單元無(wú)法進(jìn)行讀寫(xiě)操作，某些存儲(chǔ)單元是讀后自動(dòng)清除的，控制單元無(wú)法對(duì)所有存儲(chǔ)單元進(jìn)行有效的讀寫(xiě)操作，從而導(dǎo)致檢測(cè)時(shí)無(wú)法遍歷地址信號(hào)所有組合和數(shù)據(jù)信號(hào)所有組合；2)每次檢測(cè)實(shí)際檢測(cè)到的是一個(gè)地址信號(hào)組合和一個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)組合，而芯片內(nèi)部地址信號(hào)組合與數(shù)據(jù)信號(hào)組合的總數(shù)是2M+N個(gè)，為達(dá)到對(duì)接口地址線和接口數(shù)據(jù)線一定的檢測(cè)覆蓋率，需要進(jìn)行多次檢測(cè)，檢測(cè)成本和難度很高；3)實(shí)際應(yīng)用中，雖然直接檢測(cè)的是接口數(shù)據(jù)線，但由于每次檢測(cè)都會(huì)使用到接口數(shù)據(jù)線、接口地址線及接口控制線，故此，這種檢測(cè)方法實(shí)際檢測(cè)的是一種數(shù)據(jù)信號(hào)組合和一種地址信號(hào)組合，不能針對(duì)接口數(shù)據(jù)線或接口地址線進(jìn)行專門(mén)檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí)難以確定錯(cuò)誤具體是在哪種信號(hào)線上產(chǎn)生的。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種芯片接口檢測(cè)裝置，能夠針對(duì)任意一種接口信號(hào)線進(jìn)行專門(mén)檢測(cè)，降低檢測(cè)成本和難度。
本發(fā)明的目的還在于提供一種芯片接口檢測(cè)方法，能針對(duì)任意一種接口信號(hào)線進(jìn)行專門(mén)檢測(cè)，降低檢測(cè)成本和難度。
根據(jù)上述目的的一個(gè)方面，本發(fā)明提供了一種芯片接口檢測(cè)裝置，包含置于芯片外部的外部檢測(cè)器件和置于芯片內(nèi)部的內(nèi)部檢測(cè)器件，所述外部檢測(cè)器件包含用于發(fā)送并比較檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)的控制單元和用于存儲(chǔ)驗(yàn)證信號(hào)的外部存儲(chǔ)模塊，控制單元與外部存儲(chǔ)模塊之間連接有外部驗(yàn)證信號(hào)線；所述內(nèi)部檢測(cè)器件至少包含用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線與控制單元相連。
其中，所述外部檢測(cè)器件還包含外部變換處理單元，通過(guò)外部驗(yàn)證信號(hào)線連接于控制單元和外部存儲(chǔ)模塊之間，用于對(duì)驗(yàn)證信號(hào)進(jìn)行變換處理；所述內(nèi)部檢測(cè)器件還包含內(nèi)部變換處理單元，通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線連接于控制單元和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行變換處理；其中，內(nèi)部變換處理單元的變換處理方式與外部變換處理單元相同。
其中，所述外部存儲(chǔ)模塊是外部固有存儲(chǔ)單元，外部固有存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有外部控制線和外部地址線。
其中，所述外部存儲(chǔ)模塊是檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元。
其中，所述接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口數(shù)據(jù)線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部數(shù)據(jù)線。
其中，所述接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口地址線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部地址線；且所述檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有外部數(shù)據(jù)線，所述檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有接口數(shù)據(jù)線；所述外部檢測(cè)器件進(jìn)一步包括外部同步處理單元，通過(guò)外部驗(yàn)證信號(hào)線連接于控制單元和檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)驗(yàn)證信號(hào)按檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式進(jìn)行處理；所述內(nèi)部檢測(cè)器件進(jìn)一步包含內(nèi)部同步處理單元，通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線連接于控制單元和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)檢測(cè)信號(hào)按檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式進(jìn)行處理。
其中，所述接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口地址線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部地址線；且所述檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有外部數(shù)據(jù)線，所述檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有接口數(shù)據(jù)線；所述外部檢測(cè)器件進(jìn)一步包括外部同步處理單元，通過(guò)外部驗(yàn)證信號(hào)線連接于外部變換處理單元和檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)驗(yàn)證信號(hào)按檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式進(jìn)行處理；所述內(nèi)部檢測(cè)器件進(jìn)一步包含內(nèi)部同步處理單元，通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線連接于內(nèi)部變換處理單元和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)檢測(cè)信號(hào)按檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式進(jìn)行處理。
其中，所述檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器。
其中，所述檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器。
其中，所述檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器、可讀寄存器、或可讀存儲(chǔ)器；所述檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器、可讀寄存器、或可讀存儲(chǔ)器。
根據(jù)上述目的的另一個(gè)方面，本發(fā)明提供了一種芯片接口檢測(cè)方法，該方法包括下述步驟A、控制單元通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線向檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元發(fā)送檢測(cè)信號(hào)，并通過(guò)外部驗(yàn)證信號(hào)線向外部存儲(chǔ)模塊發(fā)送與檢測(cè)信號(hào)相同的驗(yàn)證信號(hào)；B、控制單元比較從檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元讀出的檢測(cè)信號(hào)和從外部存儲(chǔ)模塊讀出的驗(yàn)證信號(hào)是否相同，如果相同，則確認(rèn)接口待檢測(cè)信號(hào)線正確，否則，確認(rèn)接口待檢測(cè)信號(hào)線不正確。
其中，步驟A中進(jìn)一步包括控制單元將經(jīng)過(guò)相同變換處理后的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)分別發(fā)送至檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元和外部存儲(chǔ)模塊。
其中，步驟A中進(jìn)一步包括控制單元將經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式處理后的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)分別發(fā)送至檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元和外部存儲(chǔ)模塊。
其中，步驟A中進(jìn)一步包括控制單元將經(jīng)過(guò)相同變換處理、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式處理后的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)分別發(fā)送至檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元和外部存儲(chǔ)模塊。
其中，所述的變換處理為按字節(jié)取反、或每隔一個(gè)字節(jié)取反、或奇偶校驗(yàn)、或相鄰字節(jié)進(jìn)行異或、或以上四種方式的任意組合。
其中，所述接口待檢測(cè)信號(hào)線為接口數(shù)據(jù)線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線為外部數(shù)據(jù)線；或者所述接口待檢測(cè)信號(hào)線為接口地址線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線為外部地址線。
可見(jiàn)，本發(fā)明提供的芯片接口檢測(cè)裝置及方法，通過(guò)在芯片內(nèi)部檢測(cè)器件中設(shè)置檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元，在檢測(cè)接口數(shù)據(jù)線時(shí)，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元僅通過(guò)接口數(shù)據(jù)線與控制單元相連，能夠針對(duì)接口數(shù)據(jù)線進(jìn)行專門(mén)檢測(cè)；在檢測(cè)接口地址線時(shí)，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元僅通過(guò)接口數(shù)據(jù)線和接口地址線與控制單元相連，在接口數(shù)據(jù)線正確性得到保證的前提下，能夠針對(duì)接口地址線進(jìn)行專門(mén)檢測(cè)。
另外，本發(fā)明提供的芯片接口檢測(cè)裝置及方法，通過(guò)在芯片內(nèi)部檢測(cè)器件中設(shè)置檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元，具有以下優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)1)檢測(cè)接口數(shù)據(jù)線時(shí)，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元是可讀寫(xiě)的，對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的組合沒(méi)有限制，故檢測(cè)信號(hào)可以遍歷所有2N個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)組合；檢測(cè)接口地址線時(shí)，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)或可讀的，除了檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元自身的地址信號(hào)外，對(duì)地址信號(hào)的組合沒(méi)有限制，故檢測(cè)信號(hào)可以遍歷所有2M-1個(gè)地址信號(hào)組合；2)每次檢測(cè)只檢測(cè)一個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)組合或一個(gè)地址信號(hào)組合，而芯片內(nèi)部數(shù)據(jù)組合的總數(shù)是2N個(gè)，芯片內(nèi)部可用地址組合的總數(shù)是2M-1個(gè)，用較少的檢測(cè)次數(shù)就能達(dá)到對(duì)接口數(shù)據(jù)線或接口地址線一定的覆蓋率，檢測(cè)成本和難度降低；3)在檢測(cè)接口數(shù)據(jù)線時(shí)只涉及接口數(shù)據(jù)線，檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí)能確定該錯(cuò)誤是在接口數(shù)據(jù)線上產(chǎn)生的；在檢測(cè)接口地址線時(shí)，只涉及接口數(shù)據(jù)線和接口地址線，在接口數(shù)據(jù)線正確性得到保證的前提下，檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí)能確定該錯(cuò)誤是在接口地址線上產(chǎn)生的。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)芯片接口檢測(cè)裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例一中芯片接口檢測(cè)裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施例二中芯片接口檢測(cè)裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例三中芯片接口檢測(cè)裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的核心思想是通過(guò)在芯片內(nèi)部檢測(cè)器件中設(shè)置檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元，控制單元將通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線發(fā)送的檢測(cè)信號(hào)經(jīng)過(guò)緩存后直接通過(guò)接口數(shù)據(jù)線讀出，與驗(yàn)證信號(hào)進(jìn)行比較，可實(shí)現(xiàn)針對(duì)某一種接口信號(hào)線的專門(mén)檢測(cè)。
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
實(shí)施例一本實(shí)施例用于接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)，本實(shí)施例中，接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口數(shù)據(jù)線，外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部數(shù)據(jù)線。圖2是本發(fā)明實(shí)施例一中芯片接口檢測(cè)裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖，本實(shí)施例的接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)裝置包含置于芯片100外部的外部檢測(cè)器件101和置于芯片內(nèi)部的內(nèi)部檢測(cè)器件102。
其中，外部檢測(cè)器件101包含控制單元110和作為外部存儲(chǔ)模塊的外部固有存儲(chǔ)單元112，外部固有存儲(chǔ)單元112至少包含一個(gè)用于存儲(chǔ)驗(yàn)證信號(hào)的存儲(chǔ)子單元Memory_x 132，Memory_x 132的地址信號(hào)為Add_Memory_x。內(nèi)部檢測(cè)器件102包含作為內(nèi)部存儲(chǔ)模塊的檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)，僅通過(guò)接口數(shù)據(jù)線與控制單元110相連，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222可以是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器。
為增強(qiáng)接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)的正確性，外部檢測(cè)器件101中可增加外部變換處理單元213，相應(yīng)的，內(nèi)部檢測(cè)器件102中可增加內(nèi)部變換處理單元223。外部變換處理單元213通過(guò)外部數(shù)據(jù)線連接在控制單元110和外部固有存儲(chǔ)單元112之間，采用按字節(jié)取反、每隔一個(gè)字節(jié)取反、奇偶校驗(yàn)、相鄰字節(jié)進(jìn)行異或，或以上四種方式任意組合的形式對(duì)驗(yàn)證信號(hào)進(jìn)行處理；內(nèi)部變換處理單元223通過(guò)接口數(shù)據(jù)線連接在控制單元110和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222之間，采用與外部變換處理單元213相同的處理方式對(duì)檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理。
本實(shí)施例中的接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)方法包括以下步驟步驟21控制單元110向接口數(shù)據(jù)線上發(fā)檢測(cè)信號(hào)test_data_0；且控制單元110向外部控制線上發(fā)寫(xiě)控制信號(hào)，向外部地址線上發(fā)地址信號(hào)Add_Memory_x，向外部數(shù)據(jù)線上發(fā)與檢測(cè)信號(hào)相同的驗(yàn)證信號(hào)test_data_0；步驟22檢測(cè)信號(hào)送入檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222存儲(chǔ)，驗(yàn)證信號(hào)送入存儲(chǔ)子單元Memory_x 132存儲(chǔ)；步驟23控制單元110通過(guò)接口數(shù)據(jù)線從檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222讀取檢測(cè)信號(hào)test_data_1；且控制單元110向外部控制線上發(fā)讀控制信號(hào)，向外部地址線上發(fā)地址信號(hào)Add_Memory_x，通過(guò)外部數(shù)據(jù)線從存儲(chǔ)子單元Memory_x132讀取驗(yàn)證信號(hào)test_data_2；步驟24控制單元110比較test_data_1和test_data_2，如果兩者相同，則確認(rèn)接口數(shù)據(jù)線正確，如果兩者不相同，則確認(rèn)接口數(shù)據(jù)線不正確。
為增強(qiáng)接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)的正確性，步驟21和步驟22之間可增加步驟21′步驟21′外部變換處理單元213采用按字節(jié)取反、每隔一個(gè)字節(jié)取反、奇偶校驗(yàn)、相鄰字節(jié)進(jìn)行異或，或以上四種方式任意組合的形式對(duì)外部數(shù)據(jù)線上的驗(yàn)證信號(hào)進(jìn)行處理；內(nèi)部變換處理單元223采用與外部變換處理單元213相同的處理方式對(duì)接口數(shù)據(jù)線上的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理。這種情況下，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222和存儲(chǔ)子單元Memory_x 132存儲(chǔ)的就是經(jīng)過(guò)變換處理的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)。
實(shí)施例二本實(shí)施例用于接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)，本實(shí)施例中，接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口數(shù)據(jù)線，外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部數(shù)據(jù)線。圖3是本發(fā)明實(shí)施例二中芯片接口檢測(cè)裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖，本實(shí)施例的接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)裝置包含置于芯片100外部的外部檢測(cè)器件101和置于芯片內(nèi)部的內(nèi)部檢測(cè)器件102。
其中，外部檢測(cè)器件101包含控制單元110和作為外部存儲(chǔ)模塊的檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312，檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312用于存儲(chǔ)驗(yàn)證信號(hào)，僅通過(guò)外部數(shù)據(jù)線與控制單元110相連，檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312可以是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器。內(nèi)部檢測(cè)器件102包含作為內(nèi)部存儲(chǔ)模塊的檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222。
為增強(qiáng)接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)的正確性，外部檢測(cè)器件101中可增加外部變換處理單元213，相應(yīng)的，內(nèi)部檢測(cè)器件102中可增加內(nèi)部變換處理單元223。外部變換處理單元213通過(guò)外部數(shù)據(jù)線連接在控制單元110和檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312之間，內(nèi)部變換處理單元223通過(guò)接口數(shù)據(jù)線連接在控制單元110和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222之間。
本實(shí)施例中的接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)方法包含以下步驟步驟31控制單元110向接口數(shù)據(jù)線上發(fā)檢測(cè)信號(hào)test_data_0，且控制單元110向外部數(shù)據(jù)線上發(fā)與檢測(cè)信號(hào)相同的驗(yàn)證信號(hào)test_data_0；步驟32檢測(cè)信號(hào)送入檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222存儲(chǔ)，驗(yàn)證信號(hào)送入檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312存儲(chǔ)；步驟33控制單元110通過(guò)接口數(shù)據(jù)線從檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222讀取檢測(cè)信號(hào)test_data_1；控制單元110通過(guò)外部數(shù)據(jù)線從檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312讀取驗(yàn)證信號(hào)test_data_2；步驟34控制單元110比較test_data_1和test_data_2，如果兩者相同，則確認(rèn)接口數(shù)據(jù)線正確，如果兩者不相同，則確認(rèn)接口數(shù)據(jù)線不正確。
為增強(qiáng)接口數(shù)據(jù)線檢測(cè)的正確性，步驟31和步驟32之間可增加步驟31′步驟31′外部變換處理單元213采用按字節(jié)取反、每隔一個(gè)字節(jié)取反、奇偶校驗(yàn)、相鄰字節(jié)進(jìn)行異或，或以上四種方式任意組合的形式對(duì)外部數(shù)據(jù)線上的驗(yàn)證信號(hào)進(jìn)行處理；內(nèi)部變換處理單元223采用與外部變換處理單元213相同的處理方式對(duì)接口數(shù)據(jù)線上的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理。這種情況下，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222和檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312存儲(chǔ)的就是經(jīng)過(guò)變換處理的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)。
實(shí)施例三本實(shí)施例用于接口地址線檢測(cè)，本實(shí)施例中，接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口地址線，外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部地址線。圖4是本發(fā)明實(shí)施例三中芯片接口檢測(cè)裝置的組成結(jié)構(gòu)示意圖，本實(shí)施例的接口地址線檢測(cè)裝置包含置于芯片100外部的外部檢測(cè)器件101和置于芯片內(nèi)部的內(nèi)部檢測(cè)器件102。
其中，外部檢測(cè)器件101包含控制單元110、檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312及外部同步處理單元414。檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312僅通過(guò)外部數(shù)據(jù)線和外部地址線與控制單元110相連，檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312可以是可讀可寫(xiě)寄存器、可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器、可讀寄存器或可讀存儲(chǔ)器；外部同步處理單元414通過(guò)外部地址線連接在控制單元110和檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312之間，按照檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式處理外部地址線上的驗(yàn)證信號(hào)。
內(nèi)部檢測(cè)器件102包含檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222和內(nèi)部同步處理單元424。檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222僅通過(guò)接口數(shù)據(jù)和接口地址線與控制單元110相連，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222可以是可讀可寫(xiě)寄存器、可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器、可讀寄存器或可讀存儲(chǔ)器；內(nèi)部同步處理單元424通過(guò)接口地址線連接在控制單元110和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222之間，按照檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式處理接口地址線上的檢測(cè)信號(hào)。
為增強(qiáng)地址線檢測(cè)的正確性，外部檢測(cè)器件101中可增加外部變換處理單元213，相應(yīng)的，內(nèi)部檢測(cè)器件102中可增加內(nèi)部變換處理單元223。外部變換處理單元213通過(guò)外部地址線連接在控制單元110和外部同步處理單元414之間，內(nèi)部變換處理單元223通過(guò)接口地址線連接在控制單元110和內(nèi)部同步處理單元424之間。
本實(shí)施例中的接口地址線檢測(cè)方法包含以下步驟步驟41控制單元110向接口地址線上發(fā)檢測(cè)信號(hào)test_add_0，且控制單元110向外部地址線上發(fā)與檢測(cè)信號(hào)相同的驗(yàn)證信號(hào)test_add_0；步驟42內(nèi)部同步處理單元424按照檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式處理接口地址線上的檢測(cè)信號(hào)；外部同步處理單元414按照檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式處理外部地址線上的驗(yàn)證信號(hào)；本步驟中所述對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式的處理是指根據(jù)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式對(duì)信號(hào)比特位進(jìn)行調(diào)整，舉例來(lái)說(shuō)就是，假如芯片采用16位接口地址線，8位接口數(shù)據(jù)線，即地址線檢測(cè)信號(hào)為16位，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式為8位，則內(nèi)部同步處理單元按照檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式將地址線檢測(cè)信號(hào)分成高8位和低8位兩個(gè)段，以便于存儲(chǔ)在檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元中。
步驟43檢測(cè)信號(hào)送入檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222存儲(chǔ)，驗(yàn)證信號(hào)送入檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312存儲(chǔ)；步驟44控制單元110通過(guò)接口數(shù)據(jù)線從檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222讀取檢測(cè)信號(hào)test_add_1；控制單元110通過(guò)外部數(shù)據(jù)線從檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312讀取驗(yàn)證信號(hào)test_add_2；步驟45控制單元110比較test_add_1和test_add_2，如果兩者相同，則確認(rèn)接口地址線正確，如果兩者不相同，則確認(rèn)接口地址線不正確。
為增強(qiáng)數(shù)據(jù)線檢測(cè)的正確性，步驟42和步驟43之間可增加步驟42′步驟42′外部變換處理單元213采用按字節(jié)取反、每隔一個(gè)字節(jié)取反、奇偶校驗(yàn)、相鄰字節(jié)進(jìn)行異或，或以上四種方式任意組合的形式對(duì)外部地址線上的驗(yàn)證信號(hào)進(jìn)行處理；內(nèi)部變換處理單元223采用與外部變換處理單元213相同的處理方式對(duì)接口地址線上的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理。這種情況下，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222和檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312存儲(chǔ)的就是經(jīng)過(guò)變換處理的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)。
本實(shí)施例中，所述檢測(cè)信號(hào)不等于檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元222的地址信號(hào)，所述驗(yàn)證信號(hào)不等于檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元312的地址信號(hào)。
以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種芯片接口檢測(cè)裝置，包含置于芯片外部的外部檢測(cè)器件和置于芯片內(nèi)部的內(nèi)部檢測(cè)器件，所述外部檢測(cè)器件包含用于發(fā)送并比較檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)的控制單元和用于存儲(chǔ)驗(yàn)證信號(hào)的外部存儲(chǔ)模塊，控制單元與外部存儲(chǔ)模塊之間連接有外部驗(yàn)證信號(hào)線；其特征在于，所述內(nèi)部檢測(cè)器件至少包含用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線與控制單元相連。
2.如權(quán)利要求1所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述外部檢測(cè)器件還包含外部變換處理單元，通過(guò)外部驗(yàn)證信號(hào)線連接于控制單元和外部存儲(chǔ)模塊之間，用于對(duì)驗(yàn)證信號(hào)進(jìn)行變換處理；所述內(nèi)部檢測(cè)器件還包含內(nèi)部變換處理單元，通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線連接于控制單元和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行變換處理；其中，內(nèi)部變換處理單元的變換處理方式與外部變換處理單元相同。
3.如權(quán)利要求1所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述外部存儲(chǔ)模塊是外部固有存儲(chǔ)單元，外部固有存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有外部控制線和外部地址線。
4.如權(quán)利要求1所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述外部存儲(chǔ)模塊是檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元。
5.如權(quán)利要求2所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述外部存儲(chǔ)模塊是外部固有存儲(chǔ)單元，外部固有存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有外部控制線和外部地址線。
6.如權(quán)利要求2所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述外部存儲(chǔ)模塊是檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元。
7.如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口數(shù)據(jù)線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部數(shù)據(jù)線。
8.如權(quán)利要求4所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口地址線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部地址線；且所述檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有外部數(shù)據(jù)線，所述檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有接口數(shù)據(jù)線；所述外部檢測(cè)器件進(jìn)一步包括外部同步處理單元，通過(guò)外部驗(yàn)證信號(hào)線連接于控制單元和檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)驗(yàn)證信號(hào)按檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式進(jìn)行處理；所述內(nèi)部檢測(cè)器件進(jìn)一步包含內(nèi)部同步處理單元，通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線連接于控制單元和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)檢測(cè)信號(hào)按檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式進(jìn)行處理。
9.如權(quán)利要求6所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述接口待檢測(cè)信號(hào)線是接口地址線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線是外部地址線；且所述檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有外部數(shù)據(jù)線，所述檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元與控制單元之間還連接有接口數(shù)據(jù)線；所述外部檢測(cè)器件進(jìn)一步包括外部同步處理單元，通過(guò)外部驗(yàn)證信號(hào)線連接于外部變換處理單元和檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)驗(yàn)證信號(hào)按檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式進(jìn)行處理；所述內(nèi)部檢測(cè)器件進(jìn)一步包含內(nèi)部同步處理單元，通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線連接于內(nèi)部變換處理單元和檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元之間，用于對(duì)檢測(cè)信號(hào)按檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式進(jìn)行處理。
10.如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器。
11.如權(quán)利要求4或6所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器。
12.如權(quán)利要求8或9所述的芯片檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)專用外部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器、可讀寄存器、或可讀存儲(chǔ)器；所述檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元是可讀可寫(xiě)寄存器、或可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器、可讀寄存器、或可讀存儲(chǔ)器。
13.一種芯片接口檢測(cè)方法，其特征在于，該方法包括下述步驟A、控制單元通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線向檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元發(fā)送檢測(cè)信號(hào)，并通過(guò)外部驗(yàn)證信號(hào)線向外部存儲(chǔ)模塊發(fā)送與檢測(cè)信號(hào)相同的驗(yàn)證信號(hào)；B、控制單元比較從檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元讀出的檢測(cè)信號(hào)和從外部存儲(chǔ)模塊讀出的驗(yàn)證信號(hào)是否相同，如果相同，則確認(rèn)接口待檢測(cè)信號(hào)線正確，否則，確認(rèn)接口待檢測(cè)信號(hào)線不正確。
14.如權(quán)利要求13所述的芯片檢測(cè)方法，其特征在于，步驟A中進(jìn)一步包括控制單元將經(jīng)過(guò)相同變換處理后的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)分別發(fā)送至檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元和外部存儲(chǔ)模塊。
15.如權(quán)利要求13所述的芯片檢測(cè)方法，其特征在于，步驟A中進(jìn)一步包括控制單元將經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式處理后的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)分別發(fā)送至檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元和外部存儲(chǔ)模塊。
16.如權(quán)利要求13所述的芯片檢測(cè)方法，其特征在于，步驟A中進(jìn)一步包括控制單元將經(jīng)過(guò)相同變換處理、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式處理后的檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)分別發(fā)送至檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元和外部存儲(chǔ)模塊。
17.如權(quán)利要求14或16所述的芯片檢測(cè)方法，其特征在于，所述的變換處理為按字節(jié)取反、或每隔一個(gè)字節(jié)取反、或奇偶校驗(yàn)、或相鄰字節(jié)進(jìn)行異或、或以上四種方式的任意組合。
18.如權(quán)利要求13所述的芯片檢測(cè)方法，其特征在于，所述接口待檢測(cè)信號(hào)線為接口數(shù)據(jù)線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線為外部數(shù)據(jù)線；或者所述接口待檢測(cè)信號(hào)線為接口地址線，所述外部驗(yàn)證信號(hào)線為外部地址線。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種芯片接口檢測(cè)裝置，包含置于芯片外部的外部檢測(cè)器件和置于芯片內(nèi)部的內(nèi)部檢測(cè)器件，所述外部檢測(cè)器件包含用于發(fā)送并比較檢測(cè)信號(hào)和驗(yàn)證信號(hào)的控制單元和用于存儲(chǔ)驗(yàn)證信號(hào)的外部存儲(chǔ)模塊，控制單元與外部存儲(chǔ)模塊之間連接有外部驗(yàn)證信號(hào)線；所述內(nèi)部檢測(cè)器件至少包含用于存儲(chǔ)檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元，檢測(cè)專用內(nèi)部存儲(chǔ)單元通過(guò)接口待檢測(cè)信號(hào)線與控制單元相連。本發(fā)明還公開(kāi)了一種芯片接口檢測(cè)方法。本發(fā)明公開(kāi)的芯片接口檢測(cè)裝置和方法能夠針對(duì)任意一種接口信號(hào)線進(jìn)行專門(mén)檢測(cè)，降低檢測(cè)成本和難度。
文檔編號(hào)G06F11/22GK1885271SQ20051008001
公開(kāi)日2006年12月27日 申請(qǐng)日期2005年6月24日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月24日
發(fā)明者王菁 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司