專利名稱：利用多頻相位分析的檢查方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及檢查技術(shù)，更具體地說，涉及利用多頻相位分析渦流技術(shù)進行次表面缺陷檢查的方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
已提出許多不同的非破壞性檢查技術(shù)，例如超聲測試(UT)、渦流檢查技術(shù)、以及表面聲波技術(shù)。示范性的渦流檢查技術(shù)包括脈沖渦流技術(shù)和多頻渦流技術(shù)。渦流技術(shù)用以檢測材料表面的異常以及檢測材料表面深部的異常。渦流檢查技術(shù)也用于檢查涂涂層材料。
需要利用非破壞性技術(shù)例如渦流技術(shù)來檢查鍛件。如本專業(yè)的技術(shù)人員所知，超聲測試(UT)利用脈沖回波方法檢測鍛造材料中的缺陷。但即使使用特殊的探頭和脈沖發(fā)生儀器，UT技術(shù)一般不能檢測在被檢查部件材料表面附近大約或小于1.5mm的區(qū)域中的缺陷。這個區(qū)域通常稱為”UT盲區(qū)”。
為了克服UT檢查的缺點并增加制造過程的靈活性，將0.050英寸(或大約1.27mm)的材料加到最終的部件結(jié)構(gòu)上。但添加所述材料一般會因材料浪費和生產(chǎn)時間而增加制造成本。
另一方面，渦流檢查技術(shù)能夠檢查表面和近表面缺陷，因為電磁能量集中在表面上很淺的區(qū)域中。但是，對于表面下的小缺陷，這些技術(shù)由于”電磁集膚效應”而通常呈現(xiàn)較差的信噪比(SNR)，這種效應限制渦流穿透到被測試材料內(nèi)。脈沖渦流技術(shù)涉及在寬頻譜上的渦流響應。但是，脈沖渦流技術(shù)通常需要復雜的信號處理新設備，以及高速數(shù)據(jù)獲取和處理系統(tǒng)。
多頻渦流技術(shù)將電磁能量集中在很少的頻率上并利用鎖定放大器產(chǎn)生很好的信噪比。所以，需要一種在被檢查部件的較深位置中能提高信噪比并可改進近表面檢測的次表面渦流多頻檢查技術(shù)。
說明內(nèi)容本發(fā)明的實施例解決了這個和其它需要。在一個實施例中，提供一種檢查部件的方法。所述方法包括將多個多頻激勵信號加到探頭上以便產(chǎn)生用于被檢查部件的多個多頻響應信號。所述方法還包括對多頻響應信號進行相位分析，以便檢查部件的次表面。
在第二實施例中，提供利用渦流進行次表面缺陷檢查的方法。所述方法包括將多個多頻信號加到渦流探頭上，并由所述多頻信號產(chǎn)生多個多頻響應信號。所述各多頻響應信號被包括在多頻響應數(shù)據(jù)集中。所述方法還包括識別包括至少兩個頻率響應信號的參考數(shù)據(jù)集。參考數(shù)據(jù)集是多頻響應數(shù)據(jù)集的子集，并且所述至少兩個頻率響應信號包括截然不同的頻率范圍。于是，所述方法還包括混合所述至少兩個頻率響應信號，以便確定許多處理參數(shù)并將所述各處理參數(shù)加到多頻響應信號數(shù)據(jù)集上，以便產(chǎn)生靜噪濾波數(shù)據(jù)集。所述方法還包括對靜噪濾波數(shù)據(jù)集進行相位分析。
在第三實施例中，提供一種檢查系統(tǒng)。所述系統(tǒng)包括渦流探頭、渦流測量儀器和處理器。將渦流探頭配置成在部件中感生渦流，用于對部件進行檢查。渦流測量儀器連接到渦流探頭上，將渦流測量儀器配置成將多個多頻激勵信號加到渦流探頭上，以產(chǎn)生多個多頻響應信號。將處理器配置成通過進行相位分析來分析來自渦流測量儀器的多頻響應信號，以檢查部件的次表面。


參閱附圖閱讀以下詳細說明后，就可更好地理解本發(fā)明的這些和其它特征、方面和優(yōu)點，在所有附圖中相同的字符代表相同的部件，附圖中圖1是按照本發(fā)明的用于進行次表面缺陷檢查的示范性檢查系統(tǒng)的圖解說明；圖2是通過探頭利用渦流穿過示范性檢查部件的涂層表面的的檢查過程的圖解說明；圖3是將多頻激勵信號加到探頭上以便對示范性檢查部件進行檢查的圖解說明；圖4是照本發(fā)明的用于利用多頻相位分析進行渦流次表面缺陷檢查的包括示范性邏輯的示范性流程圖的圖解說明；圖5是包括代表次表面缺陷的多個孔洞的示范性檢查部件的圖解說明；圖6描繪在圖5所示的示范性檢查部件上施加單頻渦流所產(chǎn)生的圖像；圖7描繪對圖5所示的示范性檢查部件應用多頻相位分析所產(chǎn)生的圖像；圖8是利用多頻相位分析對示范性檢查部件上次表面裂縫的檢測過程的圖解說明。
元件表10檢查系統(tǒng)；12渦流探頭；14渦流測量儀器；15電纜；16處理器18檢查部件；20掃描器；22金屬涂層；24襯底材料；26缺陷；30檢查部件；32上板；34基板；36平底孔；38圖像；39圖像；40圖像；41圖像；42圖像；43圖像；44圖像；45圖像；46圖像；47示范性檢查部件；48圖像；49圖像具體實施方式
圖1是按照本發(fā)明的用于進行次表面缺陷檢查的示范性檢查系統(tǒng)的圖解說明。如圖1所示，檢查系統(tǒng)10包括渦流探頭12、渦流測量儀器14和處理器16。渦流探頭12配置成在檢查部件18中感生渦流，以便對部件18進行檢查。探頭12可以具有任何傳統(tǒng)配置，并通過電纜15適當?shù)剡B接到渦流測量儀器14上，以傳統(tǒng)方式進行渦流檢查。按照此實施例，渦流測量儀器配置成將多頻激勵信號加到渦流探頭12上，以產(chǎn)生多個多頻響應信號。
在某些實施例中，可以使對檢查部件18的渦流檢查自動化，方法是將檢查部件18和渦流探頭12安裝在多坐標計算機數(shù)控掃描儀20上。掃描儀20通?？梢耘渲贸墒固筋^12沿三個軸X、Y、Z作三正交平移軸向移動，并根據(jù)特定檢查部件18的需要圍繞三平移軸之一(或多個)作旋轉(zhuǎn)運動。因此，探頭可以相對于檢查部件18精確定位，并按照掃描儀20中傳統(tǒng)編程的軟件以全部所需自由度向前移動。掃描儀20也可以由外部處理單元例如處理器16進行控制。
處理器16配置成分析來自渦流測量儀器14的多頻響應信號。按照此技術(shù)的具體實施例，以下將作更詳細的說明，處理器配置成進行多頻相位分析，以檢測檢查部件18中的次表面缺陷。具體地說，將處理器配置成識別包括至少兩個頻率響應信號的參考數(shù)據(jù)集，參考數(shù)據(jù)集由多頻響應數(shù)據(jù)集形成。在特定實施例中，所述兩個頻率響應信號包括截然不同的頻率范圍。處理器16還配置成混合這兩個頻率響應信號以便確定多個處理參數(shù)，將處理參數(shù)應用到整個多頻響應信號數(shù)據(jù)集，以便產(chǎn)生靜噪濾波數(shù)據(jù)集，并對靜噪濾波數(shù)據(jù)集進行相位分析。
圖2是示范性涂層部件的渦流檢查過程的圖解說明。參閱圖2，探頭1 2位于檢查部件18之上。檢查部件18包括在襯底材料24上形成的金屬涂層22(或其它導電涂層)。襯底材料例如可以包括鎳基合金或其它導電金屬。標號26代表位于金屬涂層22下面的缺陷。缺陷26可以代表檢查部件18中因疲勞或腐蝕而引起的裂縫、空隙或脫焊，這些缺陷導致金屬涂層22中或檢查部件18的基底材料中可以檢測到的改變。如本專業(yè)的技術(shù)人員所理解的，渦流技術(shù)是基于電磁感應原理。當探頭移動到被測試材料附近時，在渦流探頭線圈中形成的交變磁場就在被檢查材料中感應出渦流。檢查部件中存在有不連續(xù)處或裂縫，就會引起渦流流量的變化。這種改變的渦流產(chǎn)生次級磁場，所述次級磁場由渦流探頭線圈或渦流探頭中其它類型的傳感器接收，所述線圈或傳感器將此改變的次級磁場測量值改變?yōu)殡娸敵?，此電輸出隨后可以被記錄在帶形記錄紙上。如果電信號超過預定電壓閾值，就可指示有缺陷或缺陷。渦流測量儀器操作員可從記錄在帶形記錄紙上或系統(tǒng)輸出裝置上的信號推斷缺陷的大小。
圖3是將多頻激勵信號加到探頭上以便對示范性檢查部件進行檢查的圖解說明。雖然圖3使用了兩個渦流頻率，但本發(fā)明同樣適用于其它多頻組合。參閱圖3，f1和f2代表兩個渦流頻率，用于對檢查部件18進行雙頻渦流檢查。檢查部件18還包括缺陷或裂縫26。按照本技術(shù)的實施例，在檢查部件上施加多頻渦流，導致對不同頻率產(chǎn)生不同幅度和相位的渦流響應。多頻渦流提供的附加信息和相位信息一起用來減少不需要的信號，提高所需的信噪比，并提供附加的鑒別力，以減少錯誤的判定，其方式在以下詳述。
圖4是按照本技術(shù)的用于利用多頻相位分析進行渦流次表面缺陷檢查的包括示范性邏輯的示范性流程圖。在步驟50，將多頻激勵信號加到渦流探頭上，在檢查部件中感生渦流。在步驟52，產(chǎn)生多頻響應信號?？梢愿鶕?jù)待消除的不希望有的噪聲特征的數(shù)目來選擇產(chǎn)生多頻響應信號所需的頻率數(shù)目。在本發(fā)明的特定實施例中，所選的頻率數(shù)目大于待消除的不希望有的噪聲特征數(shù)目，這是假定被測試樣品中的缺陷或待抑制的非相關(guān)指示在不同頻率的渦流信號中不會引起相同的相位和幅度改變，或者，在相位角旋轉(zhuǎn)后在不同頻率的X-Y圖中的渦流探頭響應不是共線的。在一個實施例中，所產(chǎn)生的多頻響應信號被包括在多頻響應數(shù)據(jù)集中。在本文中所用的”多頻響應數(shù)據(jù)集”是指以下數(shù)據(jù)集它包括在將多頻激勵信號加到渦流探頭上之后，由于檢查部件中感生的渦流而產(chǎn)生的整個響應信號集。
在步驟54，從多頻數(shù)據(jù)集中識別參考數(shù)據(jù)集。按照此實施例，參考數(shù)據(jù)集是指相對來說沒有缺陷但受不希望有的噪聲特征支配的數(shù)據(jù)集。而且，按照此實施例，此參考數(shù)據(jù)集包括至少兩個頻率響應信號，且這兩個頻率響應信號包括截然不同的頻率范圍。兩個頻率響應信號可以表示如下f1:x→1(t)=Xd(t)∠θd(t)+Xn(t)∠θn(t)---(1)]]>f2:x→2(t)=kd(t)Xd(t)∠(θd(t)+Δθd(t))+kn(t)Xn(t)∠(θn(t)+Δθn(t))---(2)]]>式中f1和f2代表用于雙頻渦流檢查的兩個示范性渦流頻率，x1(t)和x2(t)在位置(或時間)t時對應于頻率f1和f2的渦流響應信號，Xd(t)代表響應信號中缺陷的幅度，Xn(t)代表響應信號中不希望有的噪聲特征幅度，kd(t)代表反映響應信號中幅度變化的系數(shù)，kn(t)代表反映響應信號中噪聲變化的系數(shù)，∠θd(t)代表響應信號中缺陷的相位角，∠θn(t)代表響應信號中不希望有的噪聲特征的相位角，Δθd(t)代表響應信號中缺陷的相位變化，Δθn(t)代表響應信號中不希望有的噪聲特征的相位變化。在一個實施例中，將兩個頻率f1和f2選擇為使(Δθd(t)-Δθn(t))在大約135°到約225°的范圍內(nèi)。在特定實施例中，將兩個頻率f1和f2選擇為使(Δθd(t)-Δθn(t))＝180°。此外，對應于多頻激勵信號的頻率范圍f1和f2的選擇也可以基于在檢查部件18中所需的表層穿透。
在步驟56，將方程(1)和(2)中所示的兩個頻率信號混合，以便確定一組處理參數(shù)。在一個實施例中，處理參數(shù)對應于系數(shù)kd(t)和kn(t)。如本專業(yè)的技術(shù)人員所理解的，每個頻率響應信號x1(t)和x2(t)包括實數(shù)部分和虛數(shù)部分。在一個實施例中，混合這兩個頻率響應信號包括最初旋轉(zhuǎn)所述頻率響應信號之一的相位，并對所述頻率響應信號之一的實數(shù)部分和虛數(shù)部分進行按比例縮放。如以下方程(3)所示，將響應矢量x2(t)旋轉(zhuǎn)Δθn(t)，得到x2’(t)。
f2:x→2'(t)=kd(t)Xd(t)∠(θd(t)+Δθd(t))-Δθn(t))+kn(t)Xn(t)∠θn(t)---(3)]]>
當Δθd(t)＝Δθn(t)＝θ(t)且kd(t)＝kn(t)＝k(t)時，x2(t)成為具有相位旋轉(zhuǎn)的k(t)x1(t)，這種情況代表”共線性”，亦即在相位角旋轉(zhuǎn)后在不同頻率的X-Y圖中渦流響應是共線的。在一些實施例中，也可以對至少一個頻率響應信號執(zhí)行時移操作。
通過從旋轉(zhuǎn)和定標的第二頻率響應信號中減去第一頻率響應信號，得到如方程(4)所示的混合頻率響應信號。如下所示，在兩側(cè)按照系數(shù)1/kn(t)將旋轉(zhuǎn)的第二頻率響應信號 定標，并從中減去頻率響應信號x1(t)，得到混合信號 混合f1和f2x→12(t)=x→2,(t)/kn(t)-x→1(t)]]>=kd(t)kn(t)Xd(t)∠(θd(t)+Δθd(t))-Δθn(t))-xd(t)∠θd(t)---(4)]]>可以看出，利用旋轉(zhuǎn)和定標操作，方程(4)中的噪聲系數(shù)在多頻混合操作后被消除。旋轉(zhuǎn)和定標操作的結(jié)果是，基于處理參數(shù)產(chǎn)生靜噪濾波信號。一般來說，這個過程在混合操作后減小了兩個頻率響應信號中代表不希望有的噪聲特征的殘差。
在步驟58，將在步驟56中獲得的處理參數(shù)應用于由方程(4)所產(chǎn)生的整個多頻響應信號數(shù)據(jù)集，以產(chǎn)生靜噪濾波數(shù)據(jù)集。如本專業(yè)的技術(shù)人員所理解的，結(jié)果靜噪濾波數(shù)據(jù)集包括實數(shù)部分和虛數(shù)部分，具有改進的信噪比。
在步驟60，從靜噪濾波數(shù)據(jù)集產(chǎn)生幅度信息和相位信息。而且在此步驟中，對靜噪濾波數(shù)據(jù)集進行相位分析，其中對水平部分加偏置，以抑制噪聲靈敏度。從相位分析中得到的數(shù)據(jù)含有與缺陷相關(guān)的信息，并提供附加的鑒別力，以減少錯誤的判定。如本專業(yè)的技術(shù)人員所理解的，當相位變化不同(Δθd(t)≠Δθn(t))且幅度變化不同(kd(t)≠kn(t))時，混合信號x12(t)代表缺陷信號，但不希望有的噪聲特征已消除。按照一個實施例，相位θ(t)及其隨頻率的旋轉(zhuǎn)Δθ(t)是在缺陷上掃描時探頭位置的函數(shù)。結(jié)果，在多頻混合后，方程(1)和(2)中噪聲項之間的殘差已顯著減小，但在不同位置或時間(t)不一定是零，所以混合信號保留所需的缺陷信號并提供改進的信噪比。
利用按照本發(fā)明開發(fā)的多頻相位分析技術(shù)進行次表面或盲區(qū)缺陷檢查的技術(shù)提高了信噪比并改進了待檢查部件中較深位置上的近表面檢測。此外，上述技術(shù)可以用于各種應用，包括(但不限于)檢測焊接處的缺陷，這種缺陷可以出現(xiàn)在在焊接處的整個厚度上，或者，進行涂層金屬部件的檢查，例如具有耐磨損涂層的密封齒形插口，此時部件的檢查需在不去除導電涂層的情況下進行。上述技術(shù)還可用于測量鋼坯盲區(qū)中的缺陷，此時盲區(qū)在0-0.0060英寸(或大約0-0.1524mm)范圍內(nèi)。
如本專業(yè)的技術(shù)人員所理解的，上述圖示和說明的實施例和應用通常包括已編程計算機或硬件電子線路中的適用的可執(zhí)行代碼，或由上述可執(zhí)行代碼實施。這種編程包括對實施邏輯功能的可執(zhí)行指令進行列表。這種列表可以用任何計算機可讀介質(zhì)來實施，供能夠檢索、處理和執(zhí)行這些指令的基于計算機的系統(tǒng)使用，或和這種系統(tǒng)結(jié)合使用。
在本技術(shù)的上下文中，計算機可讀介質(zhì)是能夠包含、存儲、通信、傳播、發(fā)送或傳送這些指令的任何裝置。計算機可讀介質(zhì)可以是電子的、磁的、電磁的、或紅外的系統(tǒng)、裝置或器件。說明性但非排他性的計算機可讀介質(zhì)列表可以包括一條或多條導線的電連接(電子的)、便攜式計算機軟盤(磁的)、隨機存取存儲器(RAM)(磁的)、只讀存儲器(ROM)(磁的)、可擦除可編程只讀存儲器(EPROM)(磁的)、光纖(光學的)、以及便攜式光盤只讀存儲器(CDROM)(光學的)。應當指出，計算機可讀介質(zhì)可以包括能將指令打印其上的紙張或其他適合的介質(zhì)。例如，指令可通過光學掃描紙張或其它介質(zhì)被電子捕獲，然后必要時以適當方式進行編譯、解釋或其它處理，然后存儲在計算機的存儲器中。
對在本文中公開的利用多頻相位分析技術(shù)進行次表面或盲區(qū)缺陷檢查的技術(shù)，在以下非限制性實例中作進一步的說明。
實例如上所述，將多頻相位分析技術(shù)用于檢測示范性檢查部件上的次表面缺陷。圖5是包含代表次表面缺陷的許多孔洞的示范性檢查部件的圖解說明。檢查部件30制造在鈦6-4材料上并包括厚度為T的上板32和0.2”的基板34。將直徑為1/64”，1.5/64”，2/64”，3/64”，4/64”的三行重復的平底孔36引入到上板32的底部，它們之間的間隔為半英寸。平底孔的高度為0.040”。上板厚度T為0.050”到0.10”，平底孔36位于上板32的上表面下0.010”到0.060”處。
圖6示出在圖5所示的示范性檢查部件上施加單頻渦流所產(chǎn)生的圖像。單頻渦流檢查最初是利用超聲檢查基準進行的。觀察到10MHz的傳統(tǒng)超聲對于0.060”或更深的所有大小的平底孔都具有很好的檢測能力(示于圖像39)。而對于0.010”深的平底孔，與在1MHz的渦流檢查相比(示于圖像40)，用超聲來檢查缺陷則表明不適當(示于圖像38)。利用絕對探頭的渦流檢查僅可以檢測出深度為0.050”處的0.023”的平底孔，甚至利用5mm的探頭直徑(示于圖像41)。如本專業(yè)的技術(shù)人員所理解的，次表面缺陷的檢測可以基于許多因素，例如加到檢查部件上的特定頻率范圍、探頭大小以及探頭靈敏度。較低的頻率和較大的探頭通常能夠在待檢查部件中有更深的穿透。較高的頻率產(chǎn)生較好的渦流靈敏度，而較低的頻率產(chǎn)生較低的渦流響應。而且，探頭的大小對靈敏度和分辨率也有影響。
圖7示出在圖5所示的示范性檢查部件上應用多頻相位分析所產(chǎn)生的圖像。利用直徑為5mm的探頭對待檢查部件進行多頻渦流評估。使用500kHz和200kHz的頻率對檢查部件做了實驗?；跈z查部件的導電性質(zhì)，在500kHz和200kHz時的相應表層深度大約分別為0.036”和0.058”，它們覆蓋了盲區(qū)深度0∽0.050”的范圍。對于深度在0.050”的缺陷，可以計算出這兩個頻率響應之間的相位差約為189度，它證實了上述準則，即Δθd(t)-Δθn(t)在從135°到225°的范圍內(nèi)。所述準則使方程(4)中的混合信號最大化。對于50密耳區(qū)域中的其它噪聲特征，在較接近表面的位置中相位差較小，檢測的能力開始相對地受到抑制。還可以觀察到，與以單頻(200kHz(示于圖像42)或500kHz(示于圖像43))運行的圖像相比，多頻實數(shù)成分圖像44和虛數(shù)成分圖像45中的信噪比都有改進。在圖7所示的MFPA相位圖像46中信噪比有改進，因為在用多頻混合對實數(shù)和虛數(shù)成分降噪后獲得了進一步的相位鑒別力，這與用單頻渦流200kHz和500kHz所產(chǎn)生的相位圖像42和43形成對照，如圖7所示。還觀察到，在50密耳的深度，500kHz渦流對那些平底孔具有較差的靈敏度。還觀察到，在50密耳的深度，用200kHz的頻率時較深的穿透可以比在500kHz時得出更好的檢測結(jié)果。從圖7可以觀察到，按照本發(fā)明開發(fā)的多頻相位分析技術(shù)降低了由于材料改變引起的整體噪聲和其它噪聲。在圖7中還觀察到，利用多頻相位分析技術(shù)，可以檢測到50密耳深度下面的最小0.016”的平底孔。
圖8是利用多頻相位分析對示范性檢查部件中次表面裂縫的檢測過程的圖解說明。標號47表示示范性檢查部件。標號48表示在檢查部件47上施加單頻渦流所產(chǎn)生的圖像。標號49表示在檢查部件47上應用多頻相位分析所產(chǎn)生的圖像?？梢钥闯觯c單頻渦流圖像48相比，MFPA圖像49中的信噪比有改進。
雖然本文中僅對本發(fā)明的某些特征作了圖示和說明，但是本專業(yè)的技術(shù)人員可以想出許多修改和變化。因此，應理解所附權(quán)利要求書用來覆蓋屬于本發(fā)明真實精神范圍內(nèi)的所有這些修改和變化。
權(quán)利要求
1.一種用于檢查部件(18)的方法，所述方法包括將多個多頻激勵信號加到探頭(12)上，以便產(chǎn)生用于被檢查部件(18)的多個多頻響應信號；以及對所述多個多頻響應信號進行多頻相位分析以便檢查所述部件(18)的次表面。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中包括這樣選擇用于多頻信號的多個頻率，使得Δθd(t)-Δθn(t)在從大約135°到大約225°的范圍內(nèi)，式中Δθd(t)是缺陷響應的相位變化，而Δθn(t)是噪聲特征的相位變化。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中進行所述多頻相位分析的步驟包括識別參考數(shù)據(jù)集，其中所述參考數(shù)據(jù)集包括至少兩個頻率響應信號，并且其中所述至少兩個頻率響應信號包括截然不同的頻率范圍；混合所述至少兩個頻率響應信號，以便確定多個處理參數(shù)；以及將所述處理參數(shù)加到多頻響應信號數(shù)據(jù)集，以產(chǎn)生靜噪濾波數(shù)據(jù)集。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中所述頻率響應信號中的每一個包括實數(shù)部分和虛數(shù)部分，并且其中混合所述至少兩個頻率響應信號的步驟包括旋轉(zhuǎn)至少一個頻率響應信號的相位。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中還包括定標至少一個頻率響應信號的所述實數(shù)部分和虛數(shù)部分并且對所述頻率響應信號中的至少一個進行時移操作。
6.如權(quán)利要求4所述的方法，其中還包括將對應于所述處理參數(shù)的殘差減至最小，其中所述殘差代表在所述至少兩個頻率響應信號中的不需要的噪聲特征。
7.如權(quán)利要求4所述的方法，其中混合所述至少兩個頻率響應信號的步驟包括從旋轉(zhuǎn)和定標的第二頻率響應信號中減去第一頻率響應信號。
8.如權(quán)利要求3所述的方法，其中還包括對靜噪濾波數(shù)據(jù)集進行相位分析，其中所述相位分析包括獲得與所述靜噪濾波數(shù)據(jù)集相關(guān)聯(lián)的相位信息和幅度信息。
9.一種利用渦流進行次表面缺陷檢查的方法，所述方法包括將多個多頻信號加到渦流探頭(12)上；從所述多個多頻信號產(chǎn)生多個多頻響應信號，其中所述多個多頻響應信號被包括在多頻響應數(shù)據(jù)集中；識別包括至少兩個頻率響應信號的無缺陷參考數(shù)據(jù)集，其中所述無缺陷參考數(shù)據(jù)集是所述多頻響應數(shù)據(jù)集的子集，并且其中所述至少兩個頻率信號包括截然不同的頻率范圍；混合所述至少兩個頻率響應信號，以便確定多個處理參數(shù)；將所述多個處理參數(shù)加到所述多頻響應信號數(shù)據(jù)集，以便產(chǎn)生靜噪濾波數(shù)據(jù)集；以及對所述靜噪濾波數(shù)據(jù)集進行相位分析。
10.一種檢查系統(tǒng)(10)，它包括渦流探頭(12)，它配置成在部件中感生渦流，以便進行對所述部件(18)的檢查；渦流測量儀器(14)，它連接到所述渦流探頭(12)，其中所述渦流測量儀器(14)配置成將多個多頻激勵信號加到所述渦流探頭(12)上，以便產(chǎn)生多個多頻響應信號；以及處理器(16)，它配置成通過進行相位分析來分析來自所述渦流測量儀器(14)的所述多頻響應信號，以便檢查所述部件(18)的次表面，其中所述處理器還配置成識別參考數(shù)據(jù)集，其中所述參考數(shù)據(jù)集包括至少兩個頻率響應信號，并且其中所述至少兩個頻率響應信號包括截然不同的頻率范圍；混合所述至少兩個頻率響應信號，以便確定多個處理參數(shù)；以及將所述多個處理參數(shù)加到多頻響應信號數(shù)據(jù)集上，以便產(chǎn)生靜噪濾波數(shù)據(jù)集。
全文摘要
提供檢查部件的方法。所述方法包括將多個多頻激勵信號加到探頭(12)上，產(chǎn)生用于被檢查部件(18)的多個多頻響應信號。所述方法還包括對多頻響應信號進行多頻相位分析，以便檢查部件(18)的次表面。提供一種檢查系統(tǒng)(10)，它包括配置成在部件(18)中感生渦流的渦流(EC)探頭(12)。系統(tǒng)(10)還包括連接到EC探頭(12)上并配置成將多頻激勵信號加到EC探頭(12)上以產(chǎn)生多頻響應信號的渦流測量儀器(14)。系統(tǒng)(10)還包括處理器(16)，處理器(16)配置成通過進行多頻相位分析來分析來自渦流測量儀器(14)的多頻響應信號，以便檢查部件(18)的次表面。
文檔編號G06F17/00GK1841060SQ20061005956
公開日2006年10月4日 申請日期2006年3月9日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月9日
發(fā)明者C·王, W·S·麥奈伊特, U·蘇哈, S·厄特金 申請人:通用電氣公司