專利名稱：適用于電子標(biāo)簽的測試裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本申請涉及一種適用于電子標(biāo)簽的測試裝置及其測試方法，特別涉及一
種適用于RFID電子標(biāo)簽的測試裝置及其測試方法。
背景技術(shù)：
無線射頻辨識技術(shù)(Radio Frequency Identification,以下簡稱RFID)的電 子標(biāo)簽(TAG)是指芯片(IC)和天線所構(gòu)成的組件通稱，其使用超高頻(UHF) 頻帶(約860 960MHz)的無線信號，且搭配專用的讀取器(reader/writer) 就可以從外部讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)，由于RFID能夠透過無線電信號識別特定目 標(biāo)并讀取或?qū)懭胂嚓P(guān)數(shù)據(jù)，而無須建立識別系統(tǒng)與特定目標(biāo)之間的機(jī)械或光 學(xué)接觸，因此可讓使用者能正確掌握物品的動向，以達(dá)成物流的效率化，因 此RFID有逐漸取代傳統(tǒng)的商品條碼及磁卡的趨勢。
而一般電子標(biāo)簽的制造工藝步驟中必須進(jìn)行封裝測試以判別電子標(biāo)簽 的優(yōu)劣品質(zhì)，目前公知的封裝測試的方法采用近距離探針式或是感測式，探 針式的檢測方式以下針方式測量電子標(biāo)簽的電阻及導(dǎo)通特性，根據(jù)所測得的 數(shù)據(jù)來判斷優(yōu)劣，至于感測式則近距離感測電子標(biāo)簽的接收與回復(fù)信號，以 作為辯別的依據(jù)，但是上述方式無法印證到真實的使用環(huán)境，因此無法得知 電子標(biāo)簽的可讀取距離。且若使用一般的讀取器直接對已封裝的電子標(biāo)簽進(jìn) 行功能性讀取判斷，會同時接收到關(guān)于多個電子標(biāo)簽的電子信號，而有干擾 的情形發(fā)生，無法精確掌握每個封裝后的電子標(biāo)簽的特性，即無法對單個電 子標(biāo)簽進(jìn)行有效測試，將造成生產(chǎn)時間延誤以及增加成本，因此公知的測試 方法無法有效地應(yīng)用于電子標(biāo)簽的生產(chǎn)流程中。
再者，目前制造使用無線射頻辨識技術(shù)的電子標(biāo)簽的主要目的為低價競 爭，因此降低工藝成本為其重點考量因素，所以若上述檢測方法無法有效應(yīng) 用于電子標(biāo)簽的生產(chǎn)流程中，而需在電子標(biāo)簽完整制作流程后再進(jìn)行測試， 將會增加工藝成本及整個工藝時間，以及對工藝各階段的合格率信息掌握不
足的問題。
因此，如何發(fā)展一種可改善上述公知技術(shù)缺點的適用于電子標(biāo)簽的測試 裝置及其測試方法，實為目前迫切需要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本申請的目的之一在于提供一種適用于電子標(biāo)簽的測試裝置及其測試 方法，其于腔體結(jié)構(gòu)上設(shè)置開槽區(qū)域，并通過傳動機(jī)構(gòu)將巻帶式電子標(biāo)簽結(jié) 構(gòu)的單個電子標(biāo)簽移動至開槽區(qū)域，以及由設(shè)置于腔體結(jié)構(gòu)的第二天線傳送 測試信號至所述電子標(biāo)簽，使得電子標(biāo)簽根據(jù)測試信號而輸出反射信號，使 讀取器根據(jù)所述反射信號而判斷電子標(biāo)簽的運行特性，以解決公知電子標(biāo)簽 的測試方式是在電子標(biāo)簽完整制作流程后才進(jìn)行測試，會增加工藝成本及整 個工藝時間，以及對工藝各階段的合格率信息掌握不足等缺點。
為達(dá)上述目的，本申請的一個較廣義的實施例為提供一種電子標(biāo)簽測試 裝置，用于對巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)的每個電子標(biāo)簽進(jìn)行測試，，其中每個電 子標(biāo)簽具有第一天線，電子標(biāo)簽測試裝置包括腔體結(jié)構(gòu)，其具有開槽區(qū)域； 吸波材料，其設(shè)置于腔體結(jié)構(gòu)的內(nèi)表面上；第二天線，其設(shè)置于腔體結(jié)構(gòu)中
且與開槽區(qū)域相對應(yīng)設(shè)置；讀取器，其與第二天線連接；以及傳動機(jī)構(gòu)，其
與巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)連接，用以帶動巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)動，以使單個
電子標(biāo)簽移動至開槽區(qū)域；其中，第二天線根據(jù)讀取器的驅(qū)動而傳送測試信 號至電子標(biāo)簽，而電子標(biāo)簽將根據(jù)測試信號而經(jīng)由第一天線輸出反射信號， 第二天線接收反射信號并傳送至讀取器，以使讀取器根據(jù)反射信號來判斷電 子標(biāo)簽的運行特性。
如上所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述電子標(biāo)簽適用于無線射頻辨識 技術(shù)。
如上所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述腔體結(jié)構(gòu)的垂直高度至少大于 所述第一天線發(fā)射頻率的半波長。
如上所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中電子標(biāo)簽測試裝置包括控制電腦， 其與所述讀取器及所述傳動機(jī)構(gòu)連接，用以接收所述讀取器關(guān)于所述反射信 號的讀取結(jié)果以及控制所述傳動機(jī)構(gòu)運行。
如上所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述傳動機(jī)構(gòu)為滾輪，其受所述控
制電腦驅(qū)動，用以將單個所述電子標(biāo)簽移動至所述開槽區(qū)域。
如上所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述讀取器也與所述控制電腦連
接，用以根據(jù)所述控制電腦的控制而調(diào)整所述測試信號的輸出功率。
如上所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述讀取器通過調(diào)整所述測試信號
的輸出功率，并根據(jù)所述反射信號的讀取結(jié)果來判斷所對應(yīng)的所述電子標(biāo)簽
的可讀取距離。
如上所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述開槽區(qū)域的空間大小根據(jù)所述 電子標(biāo)簽的尺寸而動態(tài)調(diào)整。
如上所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述電子標(biāo)簽測試裝置還包括標(biāo)注 器，用以根據(jù)所述讀取器的讀取結(jié)果于相對應(yīng)的所述電子標(biāo)簽上進(jìn)行標(biāo)注。
為達(dá)上述目的，本申請另提供一種電子標(biāo)簽的測試方法，其適用于巻帶 式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)及電子標(biāo)簽測試裝置，其中電子標(biāo)簽測試裝置具有腔體結(jié)構(gòu) 及讀取器，至少包括下列步驟于腔體結(jié)構(gòu)中定義與所述巻帶式電子標(biāo)簽結(jié) 構(gòu)的單個電子標(biāo)簽相配合的開槽區(qū)域；將巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)中的一個電子
標(biāo)簽移動至開槽區(qū)域；傳送測試信號至電子標(biāo)簽，使電子標(biāo)簽根據(jù)所述測試 信號而輸出反射信號，并根據(jù)反射信號的讀取結(jié)果來判斷電子標(biāo)簽的運行性 能。
如上所述的電子標(biāo)簽的測試方法，其中所述傳送測試信號至所述電子標(biāo) 簽，使所述電子標(biāo)簽根據(jù)所述測試信號而輸出反射信號，并根據(jù)所述反射信 號的讀取結(jié)果來判斷所述電子標(biāo)簽的運行性能的步驟還包括下列步驟依序 調(diào)整所述反射信號的輸出功率，以使所述讀取器根據(jù)所述反射信號的讀取結(jié) 果而得知所述電子標(biāo)簽的可讀取距離。
如上所述的電子標(biāo)簽的測試方法，其中所述傳送測試信號至所述電子標(biāo) 簽，使所述電子標(biāo)簽根據(jù)所述測試信號而輸出反射信號，并根據(jù)所述反射信 號的讀取結(jié)果來判斷所述電子標(biāo)簽的運行性能的步驟后還可包括下列步驟 根據(jù)所述讀取器所判斷的運行性能，對相對應(yīng)的所述電子標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)注。將 下一個所述電子標(biāo)簽移動至所述開槽區(qū)域，并進(jìn)行傳送測試信號至所述電子 標(biāo)簽，使所述電子標(biāo)簽根據(jù)所述測試信號而輸出反射信號，并根據(jù)所述反射 信號的讀取結(jié)果來判斷所述電子標(biāo)簽的運行性能的步驟至根據(jù)所述讀取器 所判斷的運行性能，對相對應(yīng)的所述電子標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)注的步驟的檢測流程。
如上所述的電子標(biāo)簽的測試方法，其中所述電子標(biāo)簽測試裝置通過標(biāo)注 器對所述電子標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)注。
如上所述的電子標(biāo)簽的測試方法，其中所述巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)通過傳 動機(jī)構(gòu)來帶動。
本申請的適用于電子標(biāo)簽的測試裝置及其測試方法可在電子標(biāo)簽制造 工藝過程中做快速有效的合格率辨識，以精準(zhǔn)掌握各階段工藝步驟的特性， 更能對制作完成后的電子標(biāo)簽快速進(jìn)行優(yōu)劣判斷。


圖la:為本申請第一較佳實施例的電子標(biāo)簽測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖lb:為圖la的俯視圖。
圖lc:為對圖lb所示的電子標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)注的示意圖。
圖2:為本申請第二較佳實施例的電子標(biāo)簽測試方法的流程圖。
其中，附圖標(biāo)記說明如下
10:電子標(biāo)簽測試裝置11:腔體結(jié)構(gòu)
111:開槽區(qū)域12:吸波材料
13:讀取器131:第二天線
132:測試信號14:傳動機(jī)構(gòu)
15:控制電腦16:標(biāo)注器
30:巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)31:電子標(biāo)簽
311:第一天線312:反射信號
32:標(biāo)注
S21 S26:電子標(biāo)簽測試方法的流程
具體實施例方式
體現(xiàn)本申請?zhí)卣髋c優(yōu)點的一些典型實施例將在后段的說明中詳細(xì)敘述。 應(yīng)理解的是本申請能夠在不同的形式上具有各種的變化，其皆不脫離本申請 的范圍，且其中的說明及圖示在本質(zhì)上是當(dāng)作說明之用，而非用以限制本申 請。
請參閱圖la，其為本申請第一較佳實施例的電子標(biāo)簽測試裝置的結(jié)構(gòu)示
意圖。如圖la所示，本實施例的電子標(biāo)簽測試裝置10適用于無線射頻辨識
技術(shù)(RFID)，主要用來對巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)30所具有的每個電子標(biāo)簽 31單獨進(jìn)行測試，電子標(biāo)簽測試裝置IO可由腔體結(jié)構(gòu)11、吸波材料12、讀 取器13、第二天線131、傳動機(jī)構(gòu)14、控制電腦15以及標(biāo)注器16所構(gòu)成， 可在短距離幅射下達(dá)到平面波效應(yīng)，并滿足快速量產(chǎn)的巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu) 30，利用電磁波空腔共振原理，采用吸波材料12及腔體結(jié)構(gòu)11所具有的開 槽式結(jié)構(gòu)來達(dá)到平面波反射感應(yīng)，可得知電子標(biāo)簽31的真實可讀取距離。
請再參閱圖la，本申請的腔體結(jié)構(gòu)11為中空結(jié)構(gòu)，主要利用電磁波空 腔共振原理運行，其垂直高度至少大于第一天線311及第二天線131發(fā)射頻 率的半波長，例如15cm以上，但不以此為限，其頂部具有開槽區(qū)域lll， 且所述開槽區(qū)域111的空間大小可根據(jù)電子標(biāo)簽31的尺寸而動態(tài)調(diào)整，以 定義出測試范圍，如圖la 圖lc中箭頭A所指的范圍，使本申請的電子標(biāo)簽 測試裝置10依序?qū)蝹€電子標(biāo)簽31進(jìn)行測試，至于巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)30 的其它電子標(biāo)簽31將被腔體結(jié)構(gòu)11的壁面隔絕，因此可避免測試時發(fā)生信 號干擾的問題，另外于腔體結(jié)構(gòu)11內(nèi)表面設(shè)置吸波材料12，用以吸收多余 的電磁波，以避免信號反射干擾。
于本實施例中，巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)30跨設(shè)于腔體結(jié)構(gòu)11的頂部上， 且每個電子標(biāo)簽31都具有第一天線311，可通過傳動機(jī)構(gòu)14，例如滾輪， 來帶動巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)30轉(zhuǎn)動，用以將單個電子標(biāo)簽31移動至開槽區(qū) 域111中，
至于與讀取器13連接的第二天線131設(shè)置于腔體結(jié)構(gòu)11內(nèi)部，且與開 槽區(qū)域111相對應(yīng)設(shè)置，如此一來即可與設(shè)置于開槽區(qū)域111中的電子標(biāo)簽 31的第一天線311相對應(yīng)設(shè)置，第二天線131主要根據(jù)讀取器13的驅(qū)動而 傳送測試信號132至電子標(biāo)簽31，而電子標(biāo)簽31內(nèi)部所包括的芯片(未圖 示)將根據(jù)所述測試信號132，而經(jīng)由第一天線311相對輸出反射信號312， 第二天線131將接收所述反射信號312并傳送至讀取器13，以使讀取器13 根據(jù)反射信號312的讀取結(jié)果來判斷電子標(biāo)簽31實際運行時的優(yōu)劣狀態(tài)， 于本實施例中，讀取器13還可通過分次調(diào)整測試信號132的輸出功率，以 根據(jù)每次反射回來的反射信號312強(qiáng)弱度來判斷被測試電子標(biāo)簽31的可讀 取距離，舉例而言，將測試信號132分為高中低三種等級，分次輸出并接收
每次調(diào)整后第一天線311所傳送回來的反射信號312，最后讀取器13即可根
據(jù)每次所接收的反射信號312而綜合判斷出被檢測電子標(biāo)簽31的可讀取距 離的優(yōu)劣判別分類。
為了使電子標(biāo)簽31的檢測結(jié)果可作為后端儀器或使用者辨識，本申請 的電子標(biāo)簽測試裝置10可通過受控制電腦15驅(qū)動的標(biāo)注器16，根據(jù)讀取器 13的判斷結(jié)果于電子標(biāo)簽31上進(jìn)行標(biāo)注32 (如圖lc所示)。
至于，本申請的控制電腦15還可與讀取器13以及傳動機(jī)構(gòu)14連接， 控制電腦15可接收讀取器13關(guān)于被檢測電子標(biāo)簽31的讀取結(jié)果， 一旦檢 測完畢即可控制所述傳動機(jī)構(gòu)14運行，以將下一個電子標(biāo)簽31準(zhǔn)確位移至 開槽區(qū)域U1中。
另外，關(guān)于調(diào)整測試信號132輸出功率的方式，除了上述讀取器13具 有自行調(diào)整輸出功率的功能，以紀(jì)錄并根據(jù)每個功率測量階段反射信號的讀 取結(jié)果來判斷被檢測電子標(biāo)簽31實際可讀取距離的優(yōu)劣判別分類，而控制 電腦15則讀取判斷結(jié)果以控制標(biāo)注器16及傳動機(jī)構(gòu)14運行外，于一些實 施例中，讀取器13可受控于控制電腦15，主要由控制電腦15來調(diào)整輸出功 率，且控制電腦15可對整體電子標(biāo)簽31讀取結(jié)果作出紀(jì)錄，并判斷每個功 率測量階段反射信號的讀取結(jié)果，用以判斷被檢測電子標(biāo)簽31可讀取距離 的優(yōu)劣判別分類。
請參閱圖2，其為本申請第二較佳實施例的電子標(biāo)簽測試方法的流程圖。 以下實施例將以圖la所示的電子標(biāo)簽測試裝置10的架構(gòu)為基礎(chǔ)，以進(jìn)一步 闡述本實施例的技術(shù)。如圖2所示，本申請電子標(biāo)簽的測試方法需先通過電 荷耦合元件(CCD)、傳感器(sensor)或是其它機(jī)構(gòu)的感應(yīng)，以根據(jù)電子 標(biāo)簽31的尺寸來調(diào)整腔體結(jié)構(gòu)11的開槽區(qū)域111的尺寸大小，使本申請的 電子標(biāo)簽測試裝置10 —次僅能對單個電子標(biāo)簽31進(jìn)行測試(步驟S21)， 接著，通過傳動機(jī)構(gòu)14來帶動巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)30轉(zhuǎn)動，用以將單個電 子標(biāo)簽31移動至開槽區(qū)域1U中(步驟S22)，然后，讀取器13驅(qū)動第二 天線131傳送測試信號132至電子標(biāo)簽31，而電子標(biāo)簽31將經(jīng)由第一天線 311相對輸出反射信號312 (步驟S23)，接著，讀取器13分次調(diào)整測試信 號132的輸出功率，以根據(jù)每個功率測量階段反射信號的讀取結(jié)果來一判斷被 檢測電子標(biāo)簽31的可讀取距離的優(yōu)劣判別分類(步驟S24)，并根據(jù)讀取器
13的讀取結(jié)果于電子標(biāo)簽31上進(jìn)行標(biāo)注32，以供后端儀器或使用者辨識(步 驟S25)，于步驟S25之后，通過電荷耦合元件(CCD)、傳感器(sensor) 或是其它機(jī)構(gòu)感應(yīng)是否巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)30的所有電子標(biāo)簽31都已經(jīng)測 試完畢(步驟S26)，當(dāng)感應(yīng)結(jié)果為否時，則控制電腦15將驅(qū)動傳動機(jī)構(gòu) 14將下一個電子標(biāo)簽31移動至開槽區(qū)域111中，反之，當(dāng)感應(yīng)結(jié)果為是時， 則結(jié)束電子標(biāo)簽31的檢測程序。
綜上所述，本申請的適用于電子標(biāo)簽的測試裝置及其測試方法，通過于 腔體結(jié)構(gòu)上設(shè)置僅容許單個電子標(biāo)簽通過及反射的開槽區(qū)域，并通過傳動機(jī) 構(gòu)將巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)的單個電子標(biāo)簽移動至開槽區(qū)域，以及由設(shè)置于腔 體結(jié)構(gòu)的第二天線傳送測試信號至所述電子標(biāo)簽，使得電子標(biāo)簽根據(jù)測試信 號而輸出反射信號，以根據(jù)所述反射信號而判斷電子標(biāo)簽的運行特性，以及 可讀取距離的優(yōu)劣判別分類，故本申請的適用于電子標(biāo)簽的測試裝置及其測 試方法可在電子標(biāo)簽制造工藝過程中做快速有效的合格率辨識，以精準(zhǔn)掌握 各階段工藝步驟的特性，更能對制作完成后的電子標(biāo)簽快速進(jìn)行優(yōu)劣判斷。 是以，本申請的適用于電子標(biāo)簽的測試裝置及其測試方法極具產(chǎn)業(yè)價值，依 法提出申請。
本申請得由本領(lǐng)域普通技術(shù)人員任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫離隨 附權(quán)利要求所保護(hù)的范圍。
權(quán)利要求
1.一種電子標(biāo)簽測試裝置，用于對卷帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)的每個電子標(biāo)簽進(jìn)行測試，其中每個電子標(biāo)簽具有第一天線，所述電子標(biāo)簽測試裝置包括腔體結(jié)構(gòu)，其具有開槽區(qū)域；吸波材料，其設(shè)置于所述腔體結(jié)構(gòu)的內(nèi)表面上；第二天線，其設(shè)置于所述腔體結(jié)構(gòu)中且與所述開槽區(qū)域相對應(yīng)設(shè)置；讀取器，其與所述第二天線連接；以及傳動機(jī)構(gòu)，其與所述卷帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)連接，用以帶動所述卷帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)動，以使單個所述電子標(biāo)簽移動至所述開槽區(qū)域；其中，所述第二天線根據(jù)所述讀取器的驅(qū)動而傳送測試信號至所述電子標(biāo)簽，而所述電子標(biāo)簽將根據(jù)所述測試信號而經(jīng)由所述第一天線輸出反射信號，所述第二天線接收所述反射信號并傳送至所述讀取器，以使所述讀取器根據(jù)所述反射信號來判斷所述電子標(biāo)簽的運行特性。
2. 如權(quán)利要求1所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述電子標(biāo)簽適用于無 線射頻辨識技術(shù)。
3. 如權(quán)利要求1所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述腔體結(jié)構(gòu)的垂直高 度至少大于所述第一天線發(fā)射頻率的半波長。
4. 如權(quán)利要求1所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中電子標(biāo)簽測試裝置包括 控制電腦，其與所述讀取器及所述傳動機(jī)構(gòu)連接，用以接收所述讀取器關(guān)于 所述反射信號的讀取結(jié)果以及控制所述傳動機(jī)構(gòu)運行。
5. 如權(quán)利要求4所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述傳動機(jī)構(gòu)為滾輪， 其受所述控制電腦驅(qū)動，用以將單個所述電子標(biāo)簽移動至所述開槽區(qū)域。
6. 如權(quán)利要求4所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述讀取器也與所述控 制電腦連接，用以根據(jù)所述控制電腦的控制而調(diào)整所述測試信號的輸出功 率。
7. 如權(quán)利要求1所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述讀取器通過調(diào)整所 述測試信號的輸出功率，并根據(jù)所述反射信號的讀取結(jié)果來判斷所對應(yīng)的所 述電子標(biāo)簽的可讀取距離。
8. 如權(quán)利要求1所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述開槽區(qū)域的空間大 小根據(jù)所述電子標(biāo)簽的尺寸而動態(tài)調(diào)整。
9. 如權(quán)利要求1所述的電子標(biāo)簽測試裝置，其中所述電子標(biāo)簽測試裝置 還包括標(biāo)注器，用以根據(jù)所述讀取器的讀取結(jié)果于相對應(yīng)的所述電子標(biāo)簽上 進(jìn)行標(biāo)注。
10. —種電子標(biāo)簽的測試方法，其適用于巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)及電子標(biāo) 簽測試裝置，其中所述電子標(biāo)簽測試裝置具有腔體結(jié)構(gòu)及讀取器，至少包括 下列步驟于所述腔體結(jié)構(gòu)中定義與所述巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)的單個所述電子標(biāo)簽相配合的開槽區(qū)域；將所述巻帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)中的一個電子標(biāo)簽移動至所述開槽區(qū)域； 傳送測試信號至所述電子標(biāo)簽，使所述電子標(biāo)簽根據(jù)所述測試信號而輸出反射信號，并根據(jù)所述反射信號的讀取結(jié)果來判斷所述電子標(biāo)簽的運行性能。
11. 如權(quán)利要求IO所述的電子標(biāo)簽的測試方法，其中所述傳送測試信號 至所述電子標(biāo)簽，使所述電子標(biāo)簽根據(jù)所述測試信號而輸出反射信號，并根 據(jù)所述反射信號的讀取結(jié)果來判斷所述電子標(biāo)簽的運行性能的步驟還包括 下列步驟依序調(diào)整所述反射信號的輸出功率，以使所述讀取器根據(jù)所述反射信號 的讀取結(jié)果而得知所述電子標(biāo)簽的可讀取距離。
12. 如權(quán)利要求IO所述的電子標(biāo)簽的測試方法，其中在所述傳送測試信號至所述電子標(biāo)簽，使所述電子標(biāo)簽根據(jù)所述測試信號而輸出反射信號，并 根據(jù)所述反射信號的讀取結(jié)果來判斷所述電子標(biāo)簽的運行性能的步驟后還可包括下列步驟根據(jù)所述讀取器所判斷的運行性能，對相對應(yīng)的所述電子標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)注。將下一個所述電子標(biāo)簽移動至所述開槽區(qū)域，并進(jìn)行傳送測試信號至所 述電子標(biāo)簽，使所述電子標(biāo)簽根據(jù)所述測試信號而輸出反射信號，并根據(jù)所 述反射信號的讀取結(jié)果來判斷所述電子標(biāo)簽的運行性能的步驟至根據(jù)所述 讀取器所判斷的運行性能，對相對應(yīng)的所述電子標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)注的步驟的檢測 流程。
13. 如權(quán)利要求IO所述的電子標(biāo)簽的測試方法，其中所述電子標(biāo)簽測試 裝置通過標(biāo)注器對所述電子標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)注。
14. 如權(quán)利要求10所述的電子標(biāo)簽的測試方法，其中所述巻帶式電子 標(biāo)簽結(jié)構(gòu)通過傳動機(jī)構(gòu)來帶動。
全文摘要
一種電子標(biāo)簽測試裝置，適用于卷帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)，每個電子標(biāo)簽具有第一天線，包括腔體結(jié)構(gòu)，具有開槽區(qū)域；吸波材料，設(shè)置于腔體結(jié)構(gòu)的內(nèi)表面；第二天線，設(shè)置于腔體結(jié)構(gòu)中且與開槽區(qū)域相對應(yīng)設(shè)置；讀取器，與第二天線連接；傳動機(jī)構(gòu)，與卷帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)連接，用以帶動卷帶式電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)動，使單個電子標(biāo)簽移動至開槽區(qū)域；第二天線根據(jù)讀取器驅(qū)動而傳送測試信號至電子標(biāo)簽，電子標(biāo)簽將根據(jù)測試信號而經(jīng)由第一天線輸出反射信號，第二天線接收反射信號并傳送至讀取器，以使讀取器判斷電子標(biāo)簽的運行特性。所述測試裝置及其測試方法可在電子標(biāo)簽制造過程中做快速有效的合格率辨識，更能對制作完成后的電子標(biāo)簽快速進(jìn)行優(yōu)劣判斷。
文檔編號G06K7/00GK101373508SQ20071014239
公開日2009年2月25日 申請日期2007年8月22日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月22日
發(fā)明者劉文淵, 張耿豪, 李建斌, 符一如 申請人:資茂科技股份有限公司