專利名稱：儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種系統(tǒng)頻率調整方法及裝置，尤其涉及一種儲存裝置的系統(tǒng) 頻率調整方法及裝置。
背景技術：
對于電腦主機或儲存裝置等3C產品而言，為使中央處理單元、存儲器和許 多周邊設備能分毫不差地一起工作，尤其是資料交換或互相聯(lián)系的時候不會產 生差錯，即需以一個固定的頻率作為共同的計時規(guī)范，供作校正或協(xié)調參考。
在較早的產品中，以外掛一石英振蕩器的方式，確實可產生精準的系統(tǒng)頻 率，但為降低成本，即有本領域技術人員直接將RC振蕩電路成型于硅晶圓片的 各晶片上，雖然同樣可產生系統(tǒng)頻率，但因材質或制造過程的變異，常會使同 一硅晶圓片內的各晶片產生頻率的漂移，而無法使各晶片都能完全符合較高規(guī) 格標準的裝置要求。
為解決上述問題，有本領域技術人員在IC晶片制造時，先加入數(shù)組相匹配 的電阻，再在晶片制造完成后，測試頻率的高低，并以修剪(trimming)焊接點 (pad)的方式，使輸入的頻率達到標準要求；或在晶片的RC振蕩電路內設有 數(shù)個電可擦可編程只讀存儲器(EEPROM)，再在測試過程中，將電阻值填入 EEPROM內，使輸入標準范圍的頻率，以達到校正頻率的目的。
在實際制造過程中，雖然上述兩種方式都可有效地調整晶片的輸出頻率， 但是在晶片上增加額外的焊接點和單獨測試晶片的時間，將會提高晶片的制造 成本；而內建EEPROM于IC晶片內，則不^旦會增加額外的晶片測試時間，且 會占用晶片所使用的區(qū)域，并非十分理想。
現(xiàn)有技術并不能提供一種儲存裝置的系統(tǒng)調整方法及裝置，可在有效控制 儲存裝置的系統(tǒng)頻率在一預定范圍內，以符合高規(guī)格標準的裝置要求的同時， 不但可避免增加額外的晶片測試時間或電子組件，且可有效降低生產成本。
發(fā)明內容
本發(fā)明所解決的技術問題主要在于提供一種儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法 及裝置，通過使一時脈調整單元依據(jù)一儲存于儲存媒體內的系統(tǒng)頻率校正值，
以調整儲存裝置內的RC振蕩電路所產生的系統(tǒng)頻率，能控制儲存裝置的系統(tǒng)頻 率在一預定范圍內，以符合高規(guī)格標準的裝置要求。
本發(fā)明所解決的技術問題還在于提供一種儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法及 裝置，通過在產生系統(tǒng)頻率的晶片完成后，再在儲存裝置內以一時脈調整單元 調整晶片內的RC振蕩電路所產生的系統(tǒng)頻率，以能在IC晶片的制造過程中， 避免增加額外的晶片測試時間或電子組件，以有效降低生產成本。
為解決上述問題，本發(fā)明所述的儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法，包括下列 步驟a.計數(shù)主機與儲存裝置在一固定時間內的時脈數(shù)；b.以主機的系統(tǒng)頻率為 基準，根據(jù)所述時脈數(shù)，計算取得儲存裝置的系統(tǒng)頻率校正值；c.依據(jù)所述系統(tǒng) 頻率校正值，調整儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
本發(fā)明所述的儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法，其中，系統(tǒng)頻率校正值=(儲 存裝置的時脈數(shù)/主機的時脈數(shù))x主機的系統(tǒng)頻率。
本發(fā)明所述的儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整裝置，所述儲存裝置與主機連接， 本發(fā)明所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整裝置包括處理單元，與所述主機和所述 儲存裝置連接，用于計數(shù)所述主機與所述儲存裝置在一固定時間內的時脈數(shù)， 并以主機的系統(tǒng)頻率為基準，根據(jù)所述時脈數(shù)，計算取得所述儲存裝置的系統(tǒng) 頻率校正值；時脈調整單元，與所述處理單元連接，用于根據(jù)所述系統(tǒng)頻率校 正值，調整所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
本發(fā)明所述的儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整裝置，其中，所述時脈調整單元包 括頻率調整器和暫存器，所述暫存器，與所述處理單元連接，用于接收并暫存 來自所述處理單元的系統(tǒng)頻率校正值；所述頻率調整器，與所述暫存器連接， 用于根據(jù)來自所述暫存器的系統(tǒng)頻率校正值，調整所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
本發(fā)明所述的儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整裝置，其中，所述時脈調整單元包 括可調式RC振蕩電路和暫存器，所述暫存器，與所述處理單元連接，用于接收 并暫存來自所述處理單元的系統(tǒng)頻率校正值；所述可調式RC振蕩電路，與所述 暫存器連接，用于調整并輸出所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
本發(fā)明所述的儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整裝置，其中，所述可調式RC振蕩電 路包括相互并聯(lián)的一可變電阻和一可變電容，所述暫存器，與可變電阻和可變所述可變電阻和所述可變電容，用于依據(jù)來自所述暫存器的系統(tǒng)頻率校正值而 分別調整電阻值和電容值，以改變所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
采用本發(fā)明所述的方法及裝置，可有效控制儲存裝置的系統(tǒng)頻率在一預定 范圍內，以符合高規(guī)格標準的裝置要求，而且能在產生系統(tǒng)頻率的晶片完成后，
再以儲存裝置內的時脈調整單元調整晶片內的RC振蕩電路所產生的系統(tǒng)頻率，
不但可避免增加額外的晶片測試時間或電子組件，且可有效降低生產成本。
圖1是本發(fā)明所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法的優(yōu)選實施例的步驟流程
圖2是本發(fā)明所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整裝置的優(yōu)選實施例的電路方塊 示意圖3是本發(fā)明所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法的步驟c的另 一 實施例采 用的電路方塊示意圖。
附圖標記說明儲存裝置-l;微處理器-2; RC振蕩電路-3;儲存媒體-4; 時脈調整單元-5;暫存器-6;頻率調整器-7;儲存裝置-8;暫存器-81;可調式 RC振蕩電路-82;振蕩電路-83;可變電阻-84;可變電容-85;主機-9。
具體實施例方式
以下結合附圖，對本發(fā)明上述的和另外的技術特征和優(yōu)點作更詳細的說明。 如圖l所示，是本發(fā)明所述的儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法的優(yōu)選實施例， 包括下列步驟
a. 由主機提供一命令，以計數(shù)主機與儲存裝置在一固定時間內的時脈數(shù)；
b. 以主機的系統(tǒng)頻率為基準，根據(jù)所述時脈數(shù)，計算取得儲存裝置的系統(tǒng)頻 率校正值，并將所述系統(tǒng)頻率校正值儲存于一儲存媒體內；
c. 依據(jù)所述系統(tǒng)頻率校正值，以一時脈調整單元調整儲存裝置的系統(tǒng)頻率。 在步驟b中，當所述主機取得所述主機和所述儲存裝置的時脈數(shù)后，同時
參考所述主機本身已知的系統(tǒng)頻率，并依下列公式計算得到所述儲存裝置的系 統(tǒng)頻率。
儲存裝置的系統(tǒng)頻率=(儲存裝置的時脈數(shù)/主機的時脈數(shù))x主機的系統(tǒng)頻率
在本發(fā)明實施例中，儲存裝置與主機連接，本發(fā)明實施例所述的儲存裝置
的系統(tǒng)頻率調整裝置包括
處理單元，與所述主機和所述儲存裝置連接，用于計數(shù)所述主機與所述儲 存裝置在一固定時間內的時脈數(shù)，并以主機的系統(tǒng)頻率為基準，根據(jù)所述時脈 數(shù)，計算取得所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率校正值；
時脈調整單元，與所述處理單元連接，用于根據(jù)所述系統(tǒng)頻率校正值，調 整所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
如圖2所示，本發(fā)明所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整裝置的優(yōu)選實施例的電 路方塊示意圖。在此優(yōu)選實施例中，儲存裝置1包括RC振蕩電路3，所述處理 單元為微處理器2，本發(fā)明所述裝置包括時脈調整單元5、微處理器2和儲存 媒體4;
在工作時，主機9先下一指令給儲存裝置1的微處理器2，以命令所述微處 理器2計數(shù)所述RC振蕩電路3在一 固定時間內所產生的時脈數(shù)，同時計數(shù)所述 主才幾9在相同固定時間內所產生的時脈數(shù)。
當所述主機9取得上述主機9和儲存裝置1的時脈數(shù)后，同時參考所述主 機9本身已知的系統(tǒng)頻率，并依下列公式計算得到儲存裝置1的系統(tǒng)頻率。
儲存裝置的系統(tǒng)頻率=(儲存裝置的時脈數(shù)/主機的時脈數(shù))x主機的系統(tǒng)頻
率
實施時，計算所得的儲存裝置1的系統(tǒng)頻率作為儲存裝置1的系統(tǒng)頻率校 正值，且所述系統(tǒng)頻率校正值經由主機9的命令以儲存于所述儲存媒體4內， 所述儲存媒體4可以是一閃速存儲器，所述的儲存媒體4也可是硬碟或其他儲 存元件。
實施時，也可在主機9取得該儲存裝置1的系統(tǒng)頻率值后，參考儲存裝置1 所預定達到的系統(tǒng)頻率值，以計算求得該系統(tǒng)頻率校正值，并儲存在儲存媒體4 內。
所述時脈調整單元5設置于所述儲存裝置1內，所述時脈調整單元5包括 相連的一暫存器6和一頻率調整器7，且所述暫存器6與所述微處理器2連接， 所述頻率調整器7與所述RC振蕩電路3連接。當所述儲存裝置1內的RC振蕩 電路3開始動作時，在所述主機9的控制下，所述系統(tǒng)頻率校正值經由所述微 處理器2而儲存于所述暫存器6中，而所述頻率調整器7則依據(jù)所述暫存器6所儲存的系統(tǒng)頻率校正值以調整所述儲存裝置1的RC振蕩電路3所輸出的系統(tǒng) 頻率，使所述主機9與所述儲存裝置1的系統(tǒng)頻率相匹配。
實施時，所述頻率調整器7是一數(shù)字除頻器，以改變RC振蕩電路3的時脈 頻率。
實施時，所述的頻率調整器7也可為一相位鎖定回路(PPL, Phase Locked Loop),所述相位鎖定回路優(yōu)選是一相位鎖定頻率合成器電路，以準確調整RC 振蕩電路3所輸出的系統(tǒng)時脈。
請參閱圖3所示，是本發(fā)明實施例所述方法的步驟c的另一種實施例采用 的電路方塊示意圖，也是本發(fā)明實施例所述裝置的時脈調整單元的另一種實施 方式，所述時脈調整單元設置于儲存裝置8中；其中，所述儲存裝置8內設有 一暫存器81及一可調式RC振蕩電路82，所述可調式RC振蕩電路82包括一振 蕩電路83和相互并聯(lián)的一可變電阻84和一可變電容85,而所述暫存器81與可 變電阻84及可變電容85連接。由此，所述可變電阻84和所述可變電容85可 依據(jù)上述系統(tǒng)頻率校正值而調整電阻及電容值，以改變振蕩電路83所產生的系 統(tǒng)頻率。
因此，本發(fā)明具有以下的優(yōu)點
1、 本發(fā)明可有效控制儲存裝置的系統(tǒng)頻率在一預定范圍內，以符合高規(guī)格 標準的裝置要求。
2、 本發(fā)明能在產生系統(tǒng)頻率的晶片完成后，再以儲存裝置內的時脈調整單 元調整晶片內的RC振蕩電路所產生的系統(tǒng)頻率，不但可避免增加額外的晶片測 試時間或電子組件，且可有效降低生產成本。
綜上所述，依上文所公開的內容，本發(fā)明確可達到發(fā)明的預期目的，提供 一種可直接以內建于儲存裝置內的結構調整晶片輸出的系統(tǒng)頻率，使達到標準 的范圍內，并降低生產成本的儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法，極具產業(yè)上利用 之價值。
以上說明對本發(fā)明而言只是說明性的，而非限制性的，本領域普通技術人 員理解，在不脫離以下所附權利要求所限定的精神和范圍的情況下，可做出許 多修改，變化，或等效，但都將落入本發(fā)明的保護范圍內。
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權利要求
1、一種儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法，其特征在于，其包括a.計數(shù)主機與儲存裝置在一固定時間內的時脈數(shù)；b.以主機的系統(tǒng)頻率為基準，根據(jù)所述時脈數(shù)，計算取得儲存裝置的系統(tǒng)頻率校正值；c.依據(jù)所述系統(tǒng)頻率校正值，調整儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
2、 如權利要求l所述的方法，其特征在于，所述系統(tǒng)頻率校正值由以下公 式計算系統(tǒng)頻率校正值=(儲存裝置的時脈數(shù)/主機的時脈數(shù))x主機的系統(tǒng)頻 率。
3、 一種儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整裝置，所述儲存裝置與主機連接，其特征 在于，其包括處理單元，與所述主機和所述儲存裝置連接，用于計數(shù)所述主機與所述儲 存裝置在一固定時間內的時脈數(shù)，并以主機的系統(tǒng)頻率為基準，根據(jù)所述時脈 數(shù)，計算取得所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率校正值；時脈調整單元，與所述處理單元連接，用于根據(jù)所述系統(tǒng)頻率校正值，調 整所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
4、 如權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述處理單元為微處理器。
5、 如權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述時脈調整單元包括頻率調 整器和暫存器，其中所述暫存器，與所述處理單元連接，用于接收并暫存來自所述處理單元的 系統(tǒng)頻率才交正值；所述頻率調整器，與所述暫存器連接，用于根據(jù)來自所述暫存器的系統(tǒng)頻 率校正值，調整所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
6、 如權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述頻率調整器是一數(shù)字除頻器。
7、 如權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述頻率調整器是一相位鎖定 回路。
8、 如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述時脈調整單元包括可調式 RC振蕩電路和暫存器，其中所述暫存器，與所述處理單元連接，用于接收并暫存來自所述處理單元的系統(tǒng)頻率校正值；所述可調式RC振蕩電路，與所述暫存器連接，用于調整并輸出所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
9、如權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述可調式RC振蕩電路包括 相互并聯(lián)的一可變電阻和一可變電容；其中所述暫存器，與可變電阻和可變電容連接，用于將所述系統(tǒng)頻率校正值傳 送至所述可變電阻和所述可變電容；所述可變電阻和所述可變電容，用于依據(jù)來自所述暫存器的系統(tǒng)頻率校正 值而分別調整電阻值和電容值，以改變所述儲存裝置的系統(tǒng)頻率。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種儲存裝置的系統(tǒng)頻率調整方法及裝置。本發(fā)明所述方法包括以下步驟a.計數(shù)主機與儲存裝置在一固定時間內的時脈數(shù)；b.以主機的系統(tǒng)頻率為基準，根據(jù)所述時脈數(shù)，計算取得儲存裝置的系統(tǒng)頻率校正值；c.依據(jù)所述系統(tǒng)頻率校正值，調整儲存裝置的系統(tǒng)頻率。本發(fā)明所述裝置包括處理單元和時脈調整單元。采用本發(fā)明所述方法及裝置，可有效控制儲存裝置的系統(tǒng)頻率在一預定范圍內，以符合高規(guī)格標準的裝置要求，而且能在產生系統(tǒng)頻率的晶片完成后，再以儲存裝置內的時脈調整單元調整晶片內的RC振蕩電路所產生的系統(tǒng)頻率，不但可避免增加額外的晶片測試時間或電子組件，且可有效降低生產成本。
文檔編號G06F1/08GK101561691SQ200810089219
公開日2009年10月21日 申請日期2008年4月15日 優(yōu)先權日2008年4月15日
發(fā)明者林哲儀 申請人:聯(lián)陽半導體股份有限公司