專利名稱：芯片測試裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種射頻識別技術(shù)，尤指一種應(yīng)用于射頻識別標(biāo)簽芯片的測試 裝置及其測試方法。
技術(shù)背景對于射頻識別(Radio Frequency Identification, RFID)標(biāo)簽制造商而言， 如何驗(yàn)證其本身所設(shè)計(jì)出的RFID標(biāo)簽芯片沒有錯誤存在并且符合一種(或多 種)RFID協(xié)議的定義，是件相當(dāng)重要的課題。于先前技術(shù)中，每次進(jìn)行RFID標(biāo) 簽芯片測試之前，均必須先確認(rèn)該芯片所支持的RFID協(xié)議，才能透過人工方式 編輯相對應(yīng)的測試指令以供該芯片進(jìn)行測試。然而，采用此種RFID標(biāo)簽芯片測試方法進(jìn)行RFID標(biāo)簽芯片的測試，不僅使用者必須花費(fèi)相當(dāng)多的時間與精力進(jìn)行測試指令的編輯，而且只能就數(shù)種較 常見的測試指令進(jìn)行測試，除了無法提供多樣化的測試項(xiàng)目以提升測試指令范 圍的涵蓋率外，亦不能真正達(dá)到自動化隨機(jī)測試RFID標(biāo)簽芯片的功效。因此，本發(fā)明的主要范疇在于提供一種芯片測試裝置及其測試方法，以解 決上述問題。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種應(yīng)用于射頻識別標(biāo)簽芯片的測試裝 置及其測試方法，其可達(dá)到自動化隨機(jī)重復(fù)測試RFID標(biāo)簽芯片的功效，除省去 使用者編輯測試指令所花費(fèi)的時間與精力外，還可以提升RFID標(biāo)簽芯片的測試 指令范圍的涵蓋率。為了解決以上技術(shù)問題，本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案根據(jù)本發(fā)明的一具體實(shí)施例，本發(fā)明提供了一芯片測試裝置。該芯片測試5裝置用以測試一 RFID標(biāo)簽芯片。該芯片測試裝置包含一指令產(chǎn)生模塊、 一傳送/接收模塊及一控制模塊。該 指令產(chǎn)生模塊用以產(chǎn)生一第一測試指令。該傳送/接收模塊耦接至該指令產(chǎn)生模 塊，并用以于該指令產(chǎn)生模塊產(chǎn)生該第一測試指令后，將該第一測試指令傳送 至該RFID標(biāo)簽芯片并自該RFID標(biāo)簽芯片接收一目標(biāo)測試結(jié)果。該控制模塊耦 接至該傳送/接收模塊及該指令產(chǎn)生模塊，并用以判斷該目標(biāo)測試結(jié)果是否符合 一參考測試結(jié)果。若該控制模塊的判斷結(jié)果為否，該控制模塊控制該指令產(chǎn)生 模塊產(chǎn)生一第二測試指令以重新測試該RFID標(biāo)簽芯片。根據(jù)本發(fā)明的另一具體實(shí)施例，本發(fā)明又提供了一芯片測試方法。該芯片 測試方法用以測試一 RFID標(biāo)簽芯片。首先，該方法產(chǎn)生一第一測試指令。然后，該方法將該第一測試指令傳送 至該RFID標(biāo)簽芯片并自該RFID標(biāo)簽芯片接收一目標(biāo)測試結(jié)果。接著，該方法判斷該目標(biāo)測試結(jié)果是否符合一參考測試結(jié)果。若判斷結(jié)果為否，該方法產(chǎn)生 一第二測試指令以重新測試該RFID標(biāo)簽芯片。相較于先前技術(shù)，本發(fā)明采用的芯片測試裝置及其測試方法可達(dá)到自動化 隨機(jī)重復(fù)測試RFID標(biāo)簽芯片的功效。在先前技術(shù)中，RFID標(biāo)簽芯片所支持的 協(xié)議種類必須先被確認(rèn)，才能透過人工方式編輯相對應(yīng)的測試指令以供該RFID 標(biāo)簽芯片測試之用。根據(jù)本發(fā)明的芯片測試裝置除了可省去使用者編輯測試指 令所花費(fèi)的時間與精力外，還能藉由隨機(jī)重復(fù)測試的方式提升RFID標(biāo)簽芯片的 測試指令范圍的涵蓋率。關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以藉由以下的發(fā)明詳述及所附圖式得到進(jìn)一步 的了解。


圖1是繪示根據(jù)本發(fā)明第一具體實(shí)施例的芯片測試裝置的功能方塊圖。 圖2繪示芯片測試裝置的一范例。圖3是繪示根據(jù)本發(fā)明第二具體實(shí)施例的芯片測試方法的流程圖。主要組件符號說明S10 ~ S20:流程步驟1:芯片測試裝置2: RFID標(biāo)簽芯片測試裝置9:目標(biāo)芯片10、 20:指令產(chǎn)生模塊12、 22:傳送/接收模塊14、 24:控制模塊16、 26:仿真模塊102:數(shù)據(jù)庫144:記錄單元146:分析單元7: RFID標(biāo)簽芯片122:轉(zhuǎn)換單元具體實(shí)施方式
根據(jù)本發(fā)明第一具體實(shí)施例為一芯片測試裝置。請參照圖1，圖1是繪示 該芯片測試裝置的功能方塊圖。如圖1所示，芯片測試裝置1包含指令產(chǎn)生模塊10、傳送/接收模塊12及控制模塊14。于本實(shí)施例中，芯片測試裝置1的功 能在于測試一目標(biāo)芯片9。實(shí)際上，目標(biāo)芯片9可以是一RFID標(biāo)簽芯片或其它 心片。指令產(chǎn)生模塊10的功用在于根據(jù)控制模塊14的一控制訊號產(chǎn)生一第一測 試指令。在實(shí)際應(yīng)用中，指令產(chǎn)生模塊10可以隨機(jī)地產(chǎn)生該第一測試指令。因 此，該第一測試指令可以是一隨機(jī)數(shù)或符合某個RFID協(xié)議所定義的指令。傳送/接收模塊12耦接至指令產(chǎn)生模塊10，其功用在于將該第一測試指令 傳送至目標(biāo)芯片9并自目標(biāo)芯片9接收一目標(biāo)測試結(jié)果。在實(shí)際應(yīng)用中，傳送/ 接收模塊12可以是一芯片讀取器，例如RFID標(biāo)簽芯片讀取器。如圖1所示， 傳送/接收模塊12可以藉由一天線與目標(biāo)芯片9間進(jìn)行包含第一測試指令或目 標(biāo)測試結(jié)果訊號的傳輸。除此之外，傳送/接收模塊12亦可透過有線的方式耦 接至目標(biāo)芯片9以進(jìn)行訊號的傳輸。此外，由于目標(biāo)芯片9與芯片測試裝置1所支持的訊號格式可能不同，因此，傳送/接收模塊12可以包含一轉(zhuǎn)換單元122。轉(zhuǎn)換單元122的功用即在于 將該第一測試指令傳送至目標(biāo)芯片9之前，先把該第一測試指令的訊號格式轉(zhuǎn) 換成符合目標(biāo)芯片9的目標(biāo)訊號格式。舉例而言，若目標(biāo)芯片9為RFID標(biāo)簽芯 片，轉(zhuǎn)換單元122即會將該第一測試指令的訊號格式轉(zhuǎn)換成RFID訊號格式。
控制模塊14耦接至傳送/接收模塊12及指令產(chǎn)生模塊10?？刂颇K14的 功用在于判斷該目標(biāo)測試結(jié)果是否符合一參考測試結(jié)果。也就是說，控制模塊 14是用以根據(jù)目標(biāo)測試結(jié)果判定目標(biāo)芯片9是否通過該第一測試指令的測試。 若控制模塊14的判斷結(jié)果為否，表示目標(biāo)芯片9并未通過該第一測試指令的測 試，控制模塊14將會控制指令產(chǎn)生模塊10產(chǎn)生第二測試指令以重新測試目標(biāo) 芯片9。另一方面，若控制模塊14的判斷結(jié)果為是，表示目標(biāo)芯片9已通過該 第一測試指令的測試。此時，控制模塊14亦可控制指令產(chǎn)生模塊10產(chǎn)生第二 測試指令以繼續(xù)進(jìn)行目標(biāo)芯片9的測試。
在實(shí)際應(yīng)用中，該第二測試指令可與該第一測試指令不同并且可以由指令 產(chǎn)生模塊10隨機(jī)地產(chǎn)生。至于上述該參考測試結(jié)果則可藉由下列各種不同的方 式產(chǎn)生。
第一種情形是透過模擬的方式以得到該參考測試結(jié)果。若采用此方式，芯 片測試裝置1可進(jìn)一步包含一仿真模塊16。如圖1所示，仿真模塊16耦接至 指令產(chǎn)生模塊10及控制模塊14。仿真模塊16的功用在于根據(jù)該第一測試指令 仿真一標(biāo)準(zhǔn)芯片的反應(yīng)來產(chǎn)生該參考測試結(jié)果。
第二種情形則是透過查找的方式以得到該參考測試結(jié)果。若采用此方式， 指令產(chǎn)生模塊10可包含一數(shù)據(jù)庫102。數(shù)據(jù)庫102可以儲存有包含該參考測試 結(jié)果的復(fù)數(shù)個測試結(jié)果，指令產(chǎn)生模塊10可以于產(chǎn)生該第一測試指令時，同時至數(shù)據(jù)庫102中由該等測試結(jié)果里選取該參考測試結(jié)果。實(shí)際上，數(shù)據(jù)庫102 所儲存的該等測試結(jié)果可以是先前進(jìn)行測試時所得到的測試結(jié)果或是原本已預(yù) 設(shè)的測試結(jié)果。
至于另一種情形則是透過對照的方式以得到該參考測試結(jié)果。詳細(xì)地說， 此方式是藉由相對于目標(biāo)芯片9的一標(biāo)準(zhǔn)的對照芯片以達(dá)成。該對照芯片于接 收該第一測試指令后，會做出反應(yīng)并產(chǎn)生一對照測試結(jié)果，此一對照測試結(jié)果 即可被視為該參考測試結(jié)果。實(shí)際上，若目標(biāo)芯片9為尚未測試過的RF工D標(biāo)簽 芯片，則目標(biāo)芯片9所產(chǎn)生的目標(biāo)測試結(jié)果將不同于該對照芯片所產(chǎn)生的參考 測試結(jié)果。
如圖1所示，在實(shí)際應(yīng)用中，控制模塊14包含記錄單元144及分析單元 146。無論控制模塊14的判斷結(jié)果為是或否，控制模塊14的記錄單元144均會 把此次測試中目標(biāo)芯片9的一識別碼、該第一測試指令、該目標(biāo)測試結(jié)果及該 參考測試結(jié)果均記錄下來以作為一芯片測試歷程的信息。至于分析單元146則 可根據(jù)記錄單元144所記錄的這些信息針對目標(biāo)芯片9所支持的RFID協(xié)議種類 以及符合該RFID協(xié)議所定義的測試指令進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，以作為日后測試時的參 考。
接下來，將以一個實(shí)際的例子來說明根據(jù)本發(fā)明的芯片測試裝置的實(shí)際運(yùn) 作情形。如圖2所示，假設(shè)該芯片測試裝置為用以測試RFID標(biāo)簽芯片7的RFID 標(biāo)簽芯片測試裝置2。除了可以藉由無線射頻訊號進(jìn)行信息的傳遞外，RFID標(biāo) 簽芯片測試裝置2與RFID標(biāo)簽芯片7之間亦可透過有線的方式耦接。
剛開始進(jìn)行測試時，RFID標(biāo)簽芯片測試裝置2的控制模塊24將會產(chǎn)生一 控制訊號并傳送該控制訊號至指令產(chǎn)生模塊20以控制指令產(chǎn)生模塊20產(chǎn)生一第一測試指令。由于指令產(chǎn)生模塊20可以隨機(jī)地產(chǎn)生該第一測試指令，因此實(shí)
際上，該第一測試指令可能是符合一個(或以上)RFID協(xié)議的合理指令，但亦可 能是違反任何RFID協(xié)議的不合理指令。
在指令產(chǎn)生模塊20產(chǎn)生該第一測試指令后，控制模塊24接收及記錄該第 一測試指令，并且將該第一測試指令傳送至仿真模塊26。仿真模塊26于接到 該第一測試指令后，即會仿真RFID標(biāo)簽芯片7對于該第一測試指令可能產(chǎn)生的 一反應(yīng)，并且產(chǎn)生一個參考測試結(jié)果。
接著，控制模塊24會接收并記錄該參考測試結(jié)果，而且控制模塊24會將 包含該第一測試指令的訊號傳送至傳送/接收模塊22。由于RFID標(biāo)簽芯片測試 裝置2與RFID標(biāo)簽芯片7所采用的訊號格式可能不同，因此，當(dāng)傳送/接收模 塊22接收到包含該第一測試指令的訊號后，會先將其訊號格式轉(zhuǎn)換成與RFID 標(biāo)簽芯片相符的訊號格式，并且透過無線或有線的方式將包含該第一測試指令 的訊號傳送至RFID標(biāo)簽芯片7。在此范例中，假設(shè)傳送/接收模塊22與RFID 標(biāo)簽芯片7是透過有線的方式形成耦接。
當(dāng)RFID標(biāo)簽芯片7接收到包含該第一測試指令的訊號后，RFID標(biāo)簽芯片7 針對該第一測試指令作出反應(yīng)以產(chǎn)生一目標(biāo)測試結(jié)果。接著，RFID標(biāo)簽芯片7 會把包含該目標(biāo)測試結(jié)果的訊號傳送回RFID標(biāo)簽芯片測試裝置2。當(dāng)RFID標(biāo) 簽芯片測試裝置2的傳送/接收模塊22接收到包含該目標(biāo)測試結(jié)果的訊號后， 會先將其訊號格式轉(zhuǎn)換成與RFID標(biāo)簽芯片測試裝置2相符的訊號格式，并且將 該目標(biāo)測試結(jié)果傳送至控制模塊24。此時，控制模塊24即會判斷該目標(biāo)測試 結(jié)果是否符合之前所記錄的該參考測試結(jié)果，并根據(jù)兩者是否符合來判定RFID 標(biāo)簽芯片7是否通過該第一測試指令的測試。若控制模塊24的判斷結(jié)果為是，也就是說，RFID標(biāo)簽芯片7所響應(yīng)的該 目標(biāo)測試結(jié)果與仿真所得的該參考測試結(jié)果相符，控制模塊24即據(jù)此判定RFID 標(biāo)簽芯片7通過該第一測試指令的測試。另一方面，若控制模塊24的判斷結(jié)果 為否，也就是說，RFID標(biāo)簽芯片7所響應(yīng)的該目標(biāo)測試結(jié)果與仿真所得的該參 考測試結(jié)果并不相符，因此，控制模塊24即判定RFID標(biāo)簽芯片7并未通過該 第一測試指令的測試。
無論控制模塊24的判斷結(jié)果為是或否，也就是說，不管RFID標(biāo)簽芯片7 所響應(yīng)的該目標(biāo)測試結(jié)果與仿真所得的該參考測試結(jié)果是否相符，控制模塊24 均可繼續(xù)產(chǎn)生一個新的控制訊號控制指令產(chǎn)生模塊20產(chǎn)生一個第二測試指令 以重新測試RFID標(biāo)簽芯片7。實(shí)際上，該第二測試指令可以不同于該第一測試 指令。
由上述實(shí)例可知，根據(jù)本發(fā)明的芯片測試裝置不僅可藉由持續(xù)不斷地重復(fù) 進(jìn)行測試以達(dá)到自動化隨機(jī)測試RFID標(biāo)簽芯片的功效，同時亦能提供范圍更廣 泛的芯片測試指令項(xiàng)目以提升RFID標(biāo)簽芯片測試的涵蓋率。
根據(jù)本發(fā)明的第二具體實(shí)施例為一芯片測試方法。該芯片測試方法用以測 試一目標(biāo)芯片(例如RFID標(biāo)簽芯片)。請參照圖3，圖3是繪示該芯片測試方法 的流程圖。如圖3所示，該方法首先執(zhí)行步驟SIO，產(chǎn)生一第一測試指令。在 實(shí)際應(yīng)用中，由于第一測試指令與目標(biāo)芯片所支持的訊號格式可能不同，故該 方法可以執(zhí)行步驟Sll，將該第一測試指令的訊號格式轉(zhuǎn)換成符合該目標(biāo)芯片 的目標(biāo)訊號格式。
接著，該方法執(zhí)行步驟S12，將該第一測試指令傳送至該目標(biāo)芯片。該目 標(biāo)芯片在接收到該第一測試指令后，將會響應(yīng)于該第一測試指令并產(chǎn)生一目標(biāo)測試結(jié)果。然后，該方法執(zhí)行步驟S14，自該目標(biāo)芯片接收該目標(biāo)測試結(jié)果。
另一方面，在執(zhí)行完步驟sio以產(chǎn)生該第一測試指令后，該方法可執(zhí)行步 驟S15,根據(jù)該第一測試指令仿真一標(biāo)準(zhǔn)芯片的反應(yīng)以產(chǎn)生該參考測試結(jié)果。 標(biāo)準(zhǔn)芯片為與該目標(biāo)芯片同種類、同規(guī)格的芯片，也就是說，若該目標(biāo)芯片為 一合格的芯片，則目標(biāo)芯片所產(chǎn)生的目標(biāo)測試結(jié)果將會與模擬出來的參考測試 結(jié)果相同，亦即目標(biāo)芯片可以通過測試。
由于該目標(biāo)芯片所響應(yīng)的該目標(biāo)測試結(jié)果與仿真所得的該參考測試結(jié)果均 己經(jīng)產(chǎn)生，此時，該方法即可執(zhí)行步驟S16，判斷該目標(biāo)測試結(jié)果是否符合一 參考測試結(jié)果。該方法執(zhí)行步驟S16的目的在于判定該目標(biāo)芯片是否通過該第 一測試指令的測試。
若步驟S16的判斷結(jié)果為是，表示該目標(biāo)芯片所響應(yīng)的該目標(biāo)測試結(jié)果與 仿真所得的該參考測試結(jié)果相符，故該方法執(zhí)行步驟S20，判定該目標(biāo)芯片通 過該第一測試指令的測試。若步驟S16的判斷結(jié)果為否，則該方法執(zhí)行步驟S18，
判定該目標(biāo)芯片未通過該第一測試指令的測試。不論目標(biāo)芯片是否通過該第一 測試指令的測試，該方法可于步驟S18或S20之后，產(chǎn)生一第二測試指令以重 新測試該目標(biāo)芯片。實(shí)際上，該第二測試指令可以不同于該第一測試指令。
相較于先前技術(shù)，根據(jù)本發(fā)明的芯片測試裝置及其測試方法可達(dá)到自動化 隨機(jī)重復(fù)測試RFID標(biāo)簽芯片的功效。在先前技術(shù)中，RFID標(biāo)簽芯片所支持的 協(xié)議種類必須先被確認(rèn)，才能透過人工方式編輯相對應(yīng) 的測試指令以供該芯片 測試之用。根據(jù)本發(fā)明的芯片測試裝置除了可省去使用者編輯測試指令所花費(fèi) 的時間與精力外，還能藉由隨機(jī)重復(fù)測試的方式提升RFID標(biāo)簽芯片的測試指令 范圍的涵蓋率。藉由以上較佳具體實(shí)施例的詳述，是希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而并非以上述所揭露的較佳具體實(shí)施例來對本發(fā)明的范疇加以限制。相反地，其目的是希望能將各種改變及具相等性的安排涵蓋于本發(fā)明的權(quán)利要求范疇內(nèi)。因此，本發(fā)明的權(quán)利要求范疇?wèi)?yīng)該根據(jù)上述的說明作最寬廣的解釋，以致使其涵蓋所有可能的改變以及具相等性的安排。
權(quán)利要求
1、一種芯片測試裝置，用以測試一射頻識別標(biāo)簽芯片，其特征在于，它包含一指令產(chǎn)生模塊，用以產(chǎn)生一第一測試指令；一傳送/接收模塊，耦接至該指令產(chǎn)生模塊，用以將該第一測試指令傳送至該射頻識別標(biāo)簽芯片并自該射頻識別標(biāo)簽芯片接收一目標(biāo)測試結(jié)果；以及一控制模塊，耦接至該傳送/接收模塊及該指令產(chǎn)生模塊，用以判斷該目標(biāo)測試結(jié)果是否符合一參考測試結(jié)果，若判斷結(jié)果為否，該控制模塊控制該指令產(chǎn)生模塊產(chǎn)生一第二測試指令以重新測試該射頻識別標(biāo)簽芯片。
2、 如權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，其中該第二測試指令 不同于該第一測試指令。
3、 如權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，其中該射頻識別標(biāo)簽 芯片是以有線的方式耦接至該傳送/接收模塊以接收該第一測試指令或傳送該 目標(biāo)測試結(jié)果。
4、 如權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，其中該傳送/接收模 塊包含一轉(zhuǎn)換單元，用以將該第一測試指令的一訊號格式轉(zhuǎn)換成符合該射頻識別 標(biāo)簽芯片的目標(biāo)訊號格式。
5、 如權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，它進(jìn)一步包含-一仿真模塊，耦接至該指令產(chǎn)生模塊及該控制模塊，用以根據(jù)該第一測試指令仿真產(chǎn)生該參考測試結(jié)果。
6、 如權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，它進(jìn)一步包含-一對照芯片，用以接收該第一測試指令以產(chǎn)生該參考測試結(jié)果。
7、 如權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，其中該指令產(chǎn)生模塊 包含一數(shù)據(jù)庫，儲存有復(fù)數(shù)個測試結(jié)果，該指令產(chǎn)生模塊于產(chǎn)生該第一測試指 令時同時至該數(shù)據(jù)庫中選取相對應(yīng)的該參考測試結(jié)果。
8、 如權(quán)利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，其中該指令產(chǎn)生模塊 隨機(jī)地產(chǎn)生該第一測試指令及該第二測試指令。
9、 一種芯片測試方法，用以測試一射頻識別標(biāo)簽芯片，其特征在于，它含下列步驟(a) 隨機(jī)產(chǎn)生一第一測試指令；(b) 將該第一測試指令傳送至該射頻識別標(biāo)簽芯片；(c) 自該射頻識別標(biāo)簽芯片接收一 目標(biāo)測試結(jié)果；(d) 判斷該目標(biāo)測試結(jié)果是否符合一參考測試結(jié)果；以及(e) 若步驟(d)的判斷結(jié)果為否，隨機(jī)產(chǎn)生一第二測試指令以重新測試該射 頻識別標(biāo)簽芯片。
10、 如權(quán)利要求9所述的芯片測試方法，其特征在于，其中該第二測試指 令不同于該第一測試指令。
11、 如權(quán)利要求9所述的芯片測試方法，其特征在于，它進(jìn)一步包含下列 步驟(f) 將該第一測試指令的一訊號格式轉(zhuǎn)換成符合該射頻識別標(biāo)簽芯片的目 標(biāo)訊號格式。
12、 如權(quán)利要求9所述的芯片測試方法，其特征在于，它進(jìn)一步包含下列 步驟(g) 根據(jù)該第一測試指令仿真產(chǎn)生該參考測試結(jié)果。
13、 如權(quán)利要求9所述的芯片測試方法，其特征在于，它進(jìn)一步包含下列步驟(h) 將該第一測試指令傳送至一對照芯片，并根據(jù)該對照芯片的一反應(yīng)來產(chǎn)生該參考測試結(jié)果。
14、 如權(quán)利要求9所述的芯片測試方法，其特征在于，其中該步驟(a)進(jìn)一步包含至一數(shù)據(jù)庫中選取對應(yīng)該第一測試指令的該參考測試結(jié)果。
15、如權(quán)利要求9所述的芯片測試方法，其特征在于，其中該第一測試指 令及該第二測試指令隨機(jī)產(chǎn)生。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種芯片測試裝置及其測試方法，該芯片測試裝置包含指令產(chǎn)生模塊、傳送/接收模塊及控制模塊。在指令產(chǎn)生模塊產(chǎn)生一第一測試指令后，傳送/接收模塊將該第一測試指令傳送至射頻識別標(biāo)簽芯片并自射頻識別標(biāo)簽芯片接收一目標(biāo)測試結(jié)果?？刂颇K用以判斷該目標(biāo)測試結(jié)果是否符合一參考測試結(jié)果。若控制模塊的判斷結(jié)果為否，控制模塊控制指令產(chǎn)生模塊產(chǎn)生一第二測試指令以重新測試射頻識別標(biāo)簽芯片。本發(fā)明其可達(dá)到自動化隨機(jī)重復(fù)測試RFID標(biāo)簽芯片的功效，除省去使用者編輯測試指令所花費(fèi)的時間與精力外，還可以提升RFID標(biāo)簽芯片的測試指令范圍的涵蓋率。
文檔編號G06K7/00GK101672878SQ20081014880
公開日2010年3月17日 申請日期2008年9月12日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月12日
發(fā)明者張至巖, 黃志華 申請人:晨星軟件研發(fā)(深圳)有限公司;晨星半導(dǎo)體股份有限公司