專利名稱：硬件裝置測試方法及硬件裝置測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種硬件裝置測試方法，且特別是有關(guān)于一種硬件裝置測試方法
及硬件裝置測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在計算機主機的開機過程中，計算機主機中的各個硬件裝置常會進行各種測 試。已知的除錯方式，常常在硬件測試過程之中，通過通用異步收發(fā)傳輸器(universal asynchronous receiver/transmitter ;UART)連接端口將測試結(jié)果數(shù)據(jù)直接同時輸出，以 由測試結(jié)果數(shù)據(jù)來進行除錯。然而，由于通用異步收發(fā)傳輸器連接端口處理速度較為緩慢， 對于部分處理時間短暫而迅速的硬件裝置，將造成較大的影響，而使測試結(jié)果數(shù)據(jù)并不準(zhǔn) 確。并且，在高溫環(huán)境下，外接通用異步收發(fā)傳輸器連接端口 ，也容易對硬件裝置的測試結(jié) 果數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響。 因此，如何設(shè)計一個新的硬件裝置測試方法，使硬件裝置產(chǎn)生的測試結(jié)果數(shù)據(jù)具 有高準(zhǔn)確度及可利用性，是業(yè)界中亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的目的在于提供一種新的硬件裝置測試方法和系統(tǒng)，使硬件裝置產(chǎn)生 的測試結(jié)果數(shù)據(jù)具有高準(zhǔn)確度及可利用性。 為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種硬件裝置測試方法，用以測試一主機中的硬 件裝置，硬件裝置測試方法包含下列步驟開始執(zhí)行主機的開機測試程序；由硬件裝置擷 取多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)；分別附加至少一標(biāo)簽于測試結(jié)果數(shù)據(jù)；儲存測試結(jié)果數(shù)據(jù)于內(nèi)存區(qū) 塊；以及在開機測試程序完成后，根據(jù)各測試結(jié)果數(shù)據(jù)的標(biāo)簽分析及顯示測試結(jié)果數(shù)據(jù)。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供一種硬件裝置測試系統(tǒng)，用以測試一主機中的 硬件裝置，硬件裝置測試系統(tǒng)包含數(shù)據(jù)處理模塊、內(nèi)存區(qū)塊以及分析模塊。數(shù)據(jù)處理模塊 是用以在主機的開機測試程序起始執(zhí)行后，擷取硬件裝置的多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)，并分別附 加至少一標(biāo)簽于測試結(jié)果數(shù)據(jù)；內(nèi)存區(qū)塊是用以儲存測試結(jié)果數(shù)據(jù)；以及分析模塊是在開 機測試程序完成后，根據(jù)各測試結(jié)果數(shù)據(jù)的標(biāo)簽分析測試結(jié)果數(shù)據(jù)。 本發(fā)明的優(yōu)點在于能夠利用內(nèi)存區(qū)塊儲存測試結(jié)果數(shù)據(jù)，避免直接于開機測試程
序中讀取測試結(jié)果數(shù)據(jù)，而對硬件的效能造成干擾而無法正確地進行除錯，并通過分析測
試結(jié)果數(shù)據(jù)而將測試結(jié)果數(shù)據(jù)做更有效率的利用，而輕易地達到上述的目的。 在參閱附圖及隨后描述的實施方式后，該技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者便可了解本發(fā)
明的目的，以及本發(fā)明的技術(shù)手段及實施方式。


為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的詳 細說明如下
圖1是本發(fā)明的第一實施例的硬件裝置測試系統(tǒng)的方塊圖； 圖2A及圖2B是分別為本發(fā)明的一實施例中，測試結(jié)果數(shù)據(jù)格式的示意圖；以及 圖3是本發(fā)明的第二實施例的硬件裝置測試方法的流程圖。
主要組件符號說明
具體實施例方式
請參照圖l，是本發(fā)明的第一實施例的硬件裝置測試系統(tǒng)1的方塊圖。硬件裝置測 試系統(tǒng)1是用以測試一主機(未繪示)中的硬件裝置10。硬件裝置測試系統(tǒng)1包含數(shù)據(jù) 處理模塊100、內(nèi)存區(qū)塊102、分析模塊104以及通用異步收發(fā)傳輸器連接端口 106。主機在 進行開機程序時，主機所包含的各硬件裝置將會執(zhí)行一開機測試程序。在硬件裝置10所對 應(yīng)的開機測試程序開始執(zhí)行后，數(shù)據(jù)處理模塊100將擷取硬件裝置10的多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)
ioi，并分別附加至少一標(biāo)簽于測試結(jié)果數(shù)據(jù)ioi，以形成測試結(jié)果數(shù)據(jù)ior。各測試結(jié)果
數(shù)據(jù)101在本實施例中，是一數(shù)值。本實施例中的測試結(jié)果數(shù)據(jù)101是共包含三個數(shù)值，而
附加的標(biāo)簽，是用以標(biāo)示數(shù)值所代表的意義。舉例來說，本實施例的三個數(shù)值，是分別代表
硬件裝置10的溫度、電壓及處理時間，則如圖2A所示，是本發(fā)明的一實施例中，測試結(jié)果數(shù)
據(jù)ior的格式的示意圖。測試結(jié)果數(shù)據(jù)ior的第一字段是標(biāo)簽，而硬件裝置io的溫度、
電壓及處理時間分別以數(shù)值20、21、22代表，而第二字段的數(shù)值則表示溫度值、電壓值及處 理時間長度，分別為25度、5伏特及2秒鐘。在另一實施例中，標(biāo)簽是可包含測試結(jié)果數(shù)據(jù) 101的意義以及數(shù)據(jù)的長度，如圖2B所示，第一字段及第二字段是標(biāo)簽，其中第一字段是與 前一實施例中以數(shù)值表示意義的方式不同，而改為以字符串形式表示，temp代表溫度，vol 代表電壓，time代表時間。第二字段為了避免測試結(jié)果數(shù)據(jù)101'被讀取時產(chǎn)生錯誤，因此 記錄了數(shù)據(jù)的長度。如圖2B所示，溫度的數(shù)值是一 10位的數(shù)據(jù)長度，電壓是一 6位的數(shù)據(jù) 長度，而時間為一 4位的數(shù)據(jù)長度。然而需注意的是，數(shù)值形式的標(biāo)簽，實質(zhì)上將較字符串 形式的標(biāo)簽，所占的空間較小。 在數(shù)據(jù)處理模塊100完成測試結(jié)果數(shù)據(jù)101的處理而形成測試結(jié)果數(shù)據(jù)101'后， 內(nèi)存區(qū)塊102將儲存測試結(jié)果數(shù)據(jù)101'。內(nèi)存區(qū)塊102在本實施例中，是一非揮發(fā)性隨機 存取內(nèi)存(non-volatile random access memory ;NVRAM)。而在主機的開機測試程序完成 后，分析模塊104根據(jù)各測試結(jié)果數(shù)據(jù)IOI'的標(biāo)簽分析測試結(jié)果數(shù)據(jù)101'，以產(chǎn)生一分析 結(jié)果103。分析模塊104實質(zhì)上為一內(nèi)儲于主機的應(yīng)用程序，是可根據(jù)使用者的設(shè)定，由標(biāo) 簽來對測試結(jié)果數(shù)據(jù)101'進行篩選、比對等動作，以產(chǎn)生分析結(jié)果103。最后分析結(jié)果103 可由通用異步收發(fā)傳輸器連接端口 106進行輸出，以供外部的除錯模塊或其它模塊(未繪 示)使用。 上述的硬件裝置測試系統(tǒng)，能夠利用內(nèi)存區(qū)塊102儲存測試結(jié)果數(shù)據(jù)101'，避免
直接在開機測試程序中讀取測試結(jié)果數(shù)據(jù)ior，而對硬件裝置io的效能造成干擾而無法 正確地進行除錯，并通過加上標(biāo)簽為測試結(jié)果數(shù)據(jù)ior做分類，而通過分析模塊io4分析


1 :硬件裝置測試系統(tǒng) 100 :數(shù)據(jù)處理模塊 102 :內(nèi)存區(qū)塊 104 :分析模塊
10 :硬件裝置
101、101':測試結(jié)果數(shù)據(jù)
103 :分析結(jié)果
106 :通用異步收發(fā)傳輸器連接端口
4測試結(jié)果數(shù)據(jù)ior而將測試結(jié)果數(shù)據(jù)ior做更有效率的利用。 本發(fā)明的第二實施例是一種硬件裝置測試方法，用以測試一主機中的硬件裝置。
請參照圖3，是本發(fā)明的第二實施例的硬件裝置測試方法的流程圖，硬件裝置測試方法包含 下列步驟在步驟301，開始執(zhí)行主機的開機測試程序；在步驟302，由硬件裝置擷取多個測 試結(jié)果數(shù)據(jù)；在步驟303，分別附加至少一標(biāo)簽于測試結(jié)果數(shù)據(jù)；在步驟304，儲存測試結(jié)果 數(shù)據(jù)于內(nèi)存區(qū)塊；以及在步驟305，開機測試程序完成后，根據(jù)各測試結(jié)果數(shù)據(jù)的標(biāo)簽分析 及顯示測試結(jié)果數(shù)據(jù)。 雖然本發(fā)明已以一較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此 技術(shù)的人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保 護范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種硬件裝置測試方法，其特征在于，用以測試一主機中的一硬件裝置，包含下列步驟開始執(zhí)行該主機的一開機測試程序；由該硬件裝置擷取多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)；分別附加至少一標(biāo)簽于該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)；儲存該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)于一內(nèi)存區(qū)塊；以及在該開機測試程序完成后，根據(jù)各該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)的標(biāo)簽分析該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生一分析結(jié)果。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬件裝置測試方法，其特征在于，該內(nèi)存區(qū)塊是一非揮發(fā)性 隨機存取內(nèi)存。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬件裝置測試方法，其特征在于，該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)分別 為一數(shù)值，該至少一標(biāo)簽是一數(shù)值或一字符串。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬件裝置測試方法，其特征在于，該分析該多個測試結(jié)果數(shù) 據(jù)的步驟是通過內(nèi)儲于該主機的一應(yīng)用程序執(zhí)行。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬件裝置測試方法，其特征在于，該分析結(jié)果是由一通用異 步收發(fā)傳輸器連接端口輸出。
6. —種硬件裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，用以測試一主機中的一硬件裝置，該硬件裝置 測試系統(tǒng)包含一數(shù)據(jù)處理模塊，用以在該主機的一開機測試程序開始執(zhí)行后，擷取該硬件裝置的多 個測試結(jié)果數(shù)據(jù)，并分別附加至少一標(biāo)簽于該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)； 一內(nèi)存區(qū)塊，用以儲存該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)；以及一分析模塊，是在該開機測試程序完成后，根據(jù)各該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)的標(biāo)簽分析該 多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生一分析結(jié)果。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的硬件裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，該內(nèi)存區(qū)塊是一非揮發(fā)性 隨機存取內(nèi)存。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的硬件裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，該多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)分別 為一數(shù)值，該至少一標(biāo)簽是一數(shù)值或一字符串。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的硬件裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，該分析模塊是內(nèi)儲于該主 機的一應(yīng)用程序。
10. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的硬件裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，該分析結(jié)果是由一通用異 步收發(fā)傳輸器連接端口輸出。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種硬件裝置測試方法及硬件裝置測試系統(tǒng)，是用以測試一主機中的硬件裝置，硬件裝置測試方法包含下列步驟開始執(zhí)行主機的開機測試程序；由硬件裝置擷取多個測試結(jié)果數(shù)據(jù)；分別附加至少一標(biāo)簽于測試結(jié)果數(shù)據(jù)；儲存測試結(jié)果數(shù)據(jù)于內(nèi)存區(qū)塊；以及在開機測試程序完成后，根據(jù)各測試結(jié)果數(shù)據(jù)的標(biāo)簽分析測試結(jié)果數(shù)據(jù)。
文檔編號G06F11/22GK101739321SQ20081017905
公開日2010年6月16日 申請日期2008年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月27日
發(fā)明者簡銘宏 申請人:英業(yè)達股份有限公司