專(zhuān)利名稱(chēng)：數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置、數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器及相關(guān)自動(dòng)化測(cè)試的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試(automated testing)之機(jī)制，尤其涉及一種用以對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器、數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置及其相關(guān)自動(dòng)化測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
—般而言，傳統(tǒng)上對(duì)內(nèi)存組件進(jìn)行測(cè)試的方式系以人工不斷更改參數(shù)設(shè)定，逐一對(duì)不同的測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，舉例來(lái)說(shuō)，測(cè)試人員依據(jù)自?xún)?nèi)存組件之制造商所得到的基本規(guī)格，不斷更改參數(shù)設(shè)定來(lái)進(jìn)行測(cè)試，并以自身經(jīng)驗(yàn)判斷何種參數(shù)設(shè)定為最佳設(shè)定。然而，此種以人工經(jīng)驗(yàn)判斷來(lái)決定最佳參數(shù)設(shè)定的方式，其缺點(diǎn)除了耗時(shí)且容易出錯(cuò)外，更有可能受限于該名測(cè)試人員本身的經(jīng)驗(yàn)而使測(cè)試流程不盡完善。

發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的目的之一在于提供一種用以對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器、數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置及其相關(guān)自動(dòng)化測(cè)試方法，以解決習(xí)知所遭遇的問(wèn)題。
依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，其系揭露一種用以控制一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件之每一筆數(shù)據(jù)存取的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器。數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器包含有一處理單元與一儲(chǔ)存單元，其中該處理單元系用來(lái)執(zhí)行一 自動(dòng)化測(cè)試程序以對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，以及該儲(chǔ)存單元系耦接于該處理單元，并用來(lái)儲(chǔ)存該自動(dòng)化測(cè)試程序。 依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，其另揭露一種數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置。該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置包含有一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件與一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器系耦接于該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件，并用來(lái)控制該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件的每一筆數(shù)據(jù)存取，以及執(zhí)行一自動(dòng)化測(cè)試程序(automatedtestingprocedure)來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。 依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，其系揭露一種利用一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器對(duì)一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)
行一自動(dòng)化測(cè)試的方法。其中，該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件的每一筆數(shù)據(jù)存取系由該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器
所控制，以及該方法包含有將一自動(dòng)化測(cè)試程序儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器；以及使用該
數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序以對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該自動(dòng)化測(cè)試。 本發(fā)明之實(shí)施例藉由執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序，可有效避免發(fā)生人工測(cè)試所產(chǎn)生的
錯(cuò)誤，并達(dá)到降低人力成本與縮短整體測(cè)試時(shí)間的目的。此外，本發(fā)明的實(shí)施例并不會(huì)受限
于人工經(jīng)驗(yàn)的判斷，因此，本發(fā)明的測(cè)試流程將較為完善。


圖1是本發(fā)明一實(shí)施例之?dāng)?shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置的示意圖； 圖2a與圖2b是圖1所示之?dāng)?shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器之自動(dòng)化測(cè)試程序?qū)?shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)
行自動(dòng)測(cè)試的流程圖。 附圖標(biāo)記
100數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置105數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件110數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器1105處理單元1110儲(chǔ)存單元
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參照?qǐng)D1，圖1是本發(fā)明一實(shí)施例之?dāng)?shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100的示意圖。數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100包含有一殼體(未顯示于圖1中)、一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105與一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110，其中數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105與數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110系設(shè)置于該殼體的內(nèi)部，實(shí)作上，本實(shí)施例的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100系一NAND型快閃記憶裝置(NAND flash a卯a(chǎn)ratus)，例如快閃記憶卡，而數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105系一 NAND型閃存組件(NAND flash memory)，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110則系一閃存控制器，一般而言，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110系依據(jù)一主機(jī)(未顯示于圖1中)之存取指令控制對(duì)于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105之存取，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110系將存取指令之邏輯地址轉(zhuǎn)換為相對(duì)應(yīng)的實(shí)體地址，并依據(jù)實(shí)體地址對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行存取。而在其它實(shí)施例中，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105亦可利用其它類(lèi)型的內(nèi)存來(lái)實(shí)作之，例如NOR型閃存組件或其它類(lèi)型的內(nèi)存組件，而此亦屬于本發(fā)明的范疇。 具體來(lái)說(shuō)，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110具有一處理單元1105與一儲(chǔ)存單元1110，其中，儲(chǔ)存單元1110可為一只讀存儲(chǔ)器(R0M，Read Only Memory)，但不限于此，其系耦接于處理單元1105并用來(lái)預(yù)先儲(chǔ)存一自動(dòng)化測(cè)試程序(automated testing program)，而處理單元1105系用以執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，其中該自動(dòng)化測(cè)試程序針對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值的測(cè)試，以得出復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試結(jié)果，接著再依該等測(cè)試結(jié)果中一特定測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)的一特定參數(shù)設(shè)定值來(lái)決定數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105時(shí)的相關(guān)設(shè)定；實(shí)際上，在測(cè)試時(shí)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110的處理單元1105會(huì)使用該自動(dòng)化測(cè)試程序先對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行一預(yù)定參數(shù)設(shè)定值的測(cè)試，接著再以所設(shè)定的級(jí)距為單位對(duì)該預(yù)定參數(shù)值進(jìn)行調(diào)整以得到至少一調(diào)整后的參數(shù)設(shè)定值，并對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行一或多個(gè)調(diào)整后參數(shù)設(shè)定值的測(cè)試，因此，藉由執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序，本發(fā)明之實(shí)施例可有效避免發(fā)生人工測(cè)試時(shí)的錯(cuò)誤，并達(dá)到降低人力成本與縮短整體測(cè)試時(shí)間的目的。 實(shí)作上，舉例來(lái)說(shuō)，該自動(dòng)化測(cè)試程序的測(cè)試方式先將一預(yù)定參數(shù)設(shè)定值(亦即第一組測(cè)試參數(shù))設(shè)定為數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110用以存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105之存取參數(shù)設(shè)定，再依據(jù)預(yù)定參數(shù)設(shè)定值寫(xiě)入一筆測(cè)試數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105，再由數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105中讀取出所寫(xiě)入的數(shù)據(jù)，若所讀出的數(shù)據(jù)與原先寫(xiě)入的測(cè)試數(shù)據(jù)相同，則表示此預(yù)定參數(shù)
設(shè)定值的測(cè)試結(jié)果成功，而若不同，則表示測(cè)試結(jié)果失敗， 一般來(lái)說(shuō)，預(yù)定參數(shù)設(shè)定值的測(cè)試結(jié)果會(huì)成功(可將預(yù)定參數(shù)設(shè)定值設(shè)定為基本的參數(shù)設(shè)定值)，處理單元1105會(huì)接著調(diào)整該預(yù)定參數(shù)設(shè)定值并逐一以調(diào)整后的參數(shù)設(shè)定值來(lái)對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行上述的寫(xiě)入/讀取測(cè)試。例如，預(yù)定參數(shù)設(shè)定值中包含將邏輯高電壓準(zhǔn)位設(shè)為3. 3V，而其相對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果亦成功，則接著可以調(diào)整參數(shù)設(shè)定值，將邏輯高電壓準(zhǔn)位設(shè)成3. 2V或3. 1V等以進(jìn)行
因此，最后可得到多個(gè)分別相對(duì)應(yīng)于不同的參數(shù)設(shè)定值的測(cè)試結(jié)果，而該自動(dòng)化測(cè)試程序會(huì)依據(jù)某一特定測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)的特定參數(shù)設(shè)定值來(lái)決定存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的設(shè)定，一般而言，該自動(dòng)化測(cè)試程序系由多個(gè)不同的成功測(cè)試結(jié)果中選出一特定成功測(cè)試結(jié)果，再以該特定成功測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)的特定參數(shù)設(shè)定值來(lái)作為存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的參數(shù)設(shè)定。例如，將邏輯高電壓準(zhǔn)位設(shè)為3. 3V、3. 2V或3. 1V均可得到成功的測(cè)試結(jié)果，則該自動(dòng)化測(cè)試程序可將3. 2V的邏輯高電壓準(zhǔn)位作為存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的參數(shù)設(shè)定。
在另一實(shí)施例中，該等不同的參數(shù)設(shè)定值例如可以是數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105與數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110之連接接腳(pin)上測(cè)試數(shù)據(jù)寫(xiě)入/讀取時(shí)訊號(hào)脈波的不同寬度，處理單元1105系執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序以一固定或非固定的級(jí)距由一預(yù)定訊號(hào)脈波寬度開(kāi)始進(jìn)行調(diào)整，例如預(yù)定訊號(hào)脈波寬度可為1微秒(P second)，于每次調(diào)整時(shí)得出不同的訊號(hào)脈波寬度來(lái)進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)的寫(xiě)入或讀取，例如逐次將訊號(hào)脈波寬度調(diào)整為0. 95微秒、0. 9微秒、0. 85微秒等。因而藉此可得到不同訊號(hào)脈波寬度所對(duì)應(yīng)的不同測(cè)試結(jié)果，接著該自動(dòng)化測(cè)試程序會(huì)由該些不同的測(cè)試結(jié)果中選出上述的特定測(cè)試結(jié)果，并將該特定測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)的特定訊號(hào)脈波寬度儲(chǔ)存于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110中，以作為存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105時(shí)的訊號(hào)脈波寬度設(shè)定。 而在上述實(shí)施例中，若所進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目為效能測(cè)試且測(cè)試參數(shù)為訊號(hào)脈波寬度，則該特定測(cè)試結(jié)果系代表一最佳效能的測(cè)試結(jié)果，舉例來(lái)說(shuō)，該效能測(cè)試可系指測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105寫(xiě)入兆字節(jié)(Megabyte)之?dāng)?shù)據(jù)所需的時(shí)間，因此，該特定測(cè)試結(jié)果系為寫(xiě)入兆字節(jié)數(shù)據(jù)所需的最短時(shí)間，此表示若使用該特定參數(shù)設(shè)定值(亦即特定訊號(hào)脈波寬度)來(lái)作為存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105時(shí)其連接接腳上的訊號(hào)脈波寬度大小，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110可達(dá)到最快將兆字節(jié)數(shù)據(jù)寫(xiě)入至數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的功效。 此外，該等參數(shù)設(shè)定值并未被限定為不同的訊號(hào)脈波寬度，在另一實(shí)施例中，該等參數(shù)設(shè)定值亦可以是不同的時(shí)鐘頻率(clock frequency)、不同的訊號(hào)電壓、不同的訊號(hào)電流或是不同的訊號(hào)穩(wěn)定時(shí)間(signal setup/hold time)，換言之，本發(fā)明之該復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值系訊號(hào)脈波寬度、時(shí)鐘頻率、訊號(hào)電壓、訊號(hào)電流及訊號(hào)穩(wěn)定時(shí)間中至少其中一個(gè)參數(shù)的不同參數(shù)值。 另外，本發(fā)明所進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目并非僅限于效能測(cè)試，在其它實(shí)施例中，測(cè)試項(xiàng)目亦可以是寫(xiě)入/讀取的穩(wěn)定性測(cè)試、省電測(cè)試或是其它測(cè)試；而對(duì)于穩(wěn)定性測(cè)試來(lái)說(shuō)，本發(fā)明的自動(dòng)化測(cè)試程序系依據(jù)一特定穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)來(lái)對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行測(cè)試，例如連續(xù)存取一萬(wàn)筆數(shù)據(jù)均不得發(fā)生錯(cuò)誤，而對(duì)于省電測(cè)試來(lái)說(shuō)，本發(fā)明的自動(dòng)化測(cè)試程序系依據(jù)一特定功率標(biāo)準(zhǔn)來(lái)對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行測(cè)試，例如以一特定功率連續(xù)存取一萬(wàn)筆數(shù)據(jù)均不得發(fā)生錯(cuò)誤。以穩(wěn)定性測(cè)試項(xiàng)目為例，該自動(dòng)化測(cè)試程序藉由調(diào)整訊號(hào)脈波寬度、時(shí)鐘頻率、訊號(hào)電壓、訊號(hào)電流及訊號(hào)穩(wěn)定時(shí)間等不同類(lèi)別的參數(shù)設(shè)定值，最后即可獲知為達(dá)到連續(xù)存取一萬(wàn)筆數(shù)據(jù)均未發(fā)生錯(cuò)誤的功效，存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105時(shí)各參數(shù)設(shè)定值的最佳設(shè)定。 再者，雖然上述實(shí)施例系將該自動(dòng)化測(cè)試程序預(yù)先儲(chǔ)存于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110之儲(chǔ)存單元1110中，當(dāng)欲對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行測(cè)試時(shí)，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110之處理單元1105再由儲(chǔ)存單元1110加載該自動(dòng)化測(cè)試程序以進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，然而，在其它實(shí)施例中，該自動(dòng)化測(cè)試程序亦可儲(chǔ)存于數(shù) 儲(chǔ)存裝置100外的一外部電子裝 (例如個(gè)人計(jì)算機(jī))中，當(dāng)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100開(kāi)機(jī)時(shí)，處理單元1105先由該外部電子裝置下載該自動(dòng)化測(cè)試程序，再將該自動(dòng)化測(cè)試程序暫存于儲(chǔ)存單元1110中，因此，欲對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行測(cè)試時(shí)，處理單元1105可由儲(chǔ)存單元1110中加載上述所暫存的自動(dòng)化測(cè)試程序以進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，之后再選擇是否將自動(dòng)測(cè)試的測(cè)試結(jié)果回報(bào)至該外部電子裝置；甚至，在另一實(shí)施例中，系設(shè)計(jì)成將該自動(dòng)化測(cè)試程序預(yù)先儲(chǔ)存于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105中，當(dāng)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100開(kāi)機(jī)時(shí)，處理單元1105先由數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105讀取出該自動(dòng)化測(cè)試程序，再將該自動(dòng)化測(cè)試程序暫存于儲(chǔ)存單元1110中，因此，欲對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行測(cè)試時(shí)，處理單元1105可由儲(chǔ)存單元1110中加載上述所讀出的自動(dòng)化測(cè)試程序以進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試；以上針對(duì)自動(dòng)化測(cè)試程序所設(shè)計(jì)之儲(chǔ)存方式的種種實(shí)施變化皆落入本發(fā)明的范疇。 請(qǐng)參照?qǐng)D2a與圖2b，其所繪示為圖1中數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110之自動(dòng)化程序?qū)?shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的流程示意圖；請(qǐng)注意，倘若大體上可達(dá)到實(shí)質(zhì)相同的結(jié)果，并不需要一定照?qǐng)D2a與圖2b所示之流程中的步驟順序來(lái)進(jìn)行，且圖2a與圖2b所示之步驟不一定要連續(xù)進(jìn)行，亦即其它步驟亦可插入其中；詳細(xì)步驟說(shuō)明則描述于下
步驟200:開(kāi)始； 步驟205 :于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100之使用者界面(例如顯示屏幕)上顯示是否進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的訊息； 步驟210 :使用者是否按下開(kāi)啟自動(dòng)測(cè)試的按鈕？若是，則進(jìn)行步驟215，反之，則進(jìn)行步驟260 ; 步驟215 :決定此次自動(dòng)測(cè)試時(shí)的參數(shù)設(shè)定值(例如訊號(hào)脈波寬度、時(shí)鐘頻率、訊號(hào)電壓、訊號(hào)電流或是訊號(hào)穩(wěn)定時(shí)間)，其中此步驟于第一次執(zhí)行時(shí)系先將一預(yù)定參數(shù)設(shè)定值作為此次自動(dòng)測(cè)試時(shí)的參數(shù)設(shè)定值，爾后再逐一調(diào)整預(yù)定參數(shù)設(shè)定值以產(chǎn)生自動(dòng)測(cè)試時(shí)的參數(shù)設(shè)定值； 步驟220 :開(kāi)啟數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的電源； 步驟225 :執(zhí)行數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的初始化程序，其中初始化程序包括確認(rèn)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105系為何種類(lèi)型的內(nèi)存組件(例如讀取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的識(shí)別碼來(lái)得知其型號(hào))以及依據(jù)型號(hào)對(duì)其進(jìn)行其它初始化測(cè)試； 步驟230 :以步驟215中所決定之參數(shù)設(shè)定值進(jìn)行至少一特定測(cè)試項(xiàng)目的自動(dòng)化測(cè)試，其中該特定測(cè)試項(xiàng)目包括效能測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試及省電測(cè)試等測(cè)試項(xiàng)目的至少其中之一 ； 步驟235 :測(cè)試結(jié)果是否成功？若是，則進(jìn)行步驟240，反之，則進(jìn)行步驟255 ;
步驟240 :記錄參數(shù)設(shè)定值與相關(guān)的測(cè)試結(jié)果； 步驟245 :是否已完成所有參數(shù)設(shè)定值的測(cè)試？若是，進(jìn)行步驟250，反之，進(jìn)行步驟215 ; 步驟250 :對(duì)于每一參數(shù)設(shè)定，由多個(gè)不同測(cè)試結(jié)果中挑選符合步驟230中之測(cè)試項(xiàng)目的一特定測(cè)試結(jié)果，并以該特定測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)的參數(shù)設(shè)定值來(lái)作為存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的相關(guān)設(shè)定； 步驟255 :記錄此次測(cè)試失敗的參數(shù)設(shè)定值，并再次進(jìn)行步驟215 ;以及
步驟260:結(jié)束。 需注意的是，在步驟215中，決定自動(dòng)測(cè)試時(shí)的參數(shù)設(shè)定值在每次執(zhí)行時(shí)可僅決
8定一單一參數(shù)設(shè)定值的數(shù)值，例如可僅決定出訊號(hào)脈波寬度的大小數(shù)值，然而，在實(shí)作上該步驟在每次執(zhí)行時(shí)亦可決定多個(gè)參數(shù)設(shè)定值的數(shù)值以供后續(xù)測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試，例如步驟215分別決定訊號(hào)脈波寬度、時(shí)鐘頻率、訊號(hào)電壓、訊號(hào)電流與訊號(hào)穩(wěn)定時(shí)間之測(cè)試時(shí)的數(shù)值；而此亦符合本發(fā)明的精神。此外，在步驟225中，確認(rèn)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105為何種類(lèi)型之內(nèi)存組件的操作系為了在自動(dòng)測(cè)試完成之后可將數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的型號(hào)與相關(guān)的存取設(shè)定記錄于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110中，因此，若下次使用者欲立即使用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置IOO，則可直接依據(jù)型號(hào)來(lái)獲知相關(guān)的參數(shù)設(shè)定值，而不需再次執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序。而本發(fā)明之?dāng)?shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100的另一優(yōu)勢(shì)在于，即便日后溫度、電壓、使用環(huán)境或其它因素造成原先依據(jù)該自動(dòng)化測(cè)試程序所決定的參數(shù)設(shè)定值已不合用，處理單元1105仍可再執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)取得存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105時(shí)適合的參數(shù)設(shè)定值，因此， 一般使用者(并非數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110的制造商)亦可自行對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行測(cè)試，并依據(jù)測(cè)試結(jié)果設(shè)定存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的各種參數(shù)，因而可使用具備省電、高效能及高穩(wěn)定性?xún)?yōu)勢(shì)的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100，故在使用上與先前記憶卡相較，更具便利性。 此外，本發(fā)明之上述實(shí)施例可應(yīng)用于使數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置的制造商制造更符合客制化需求的產(chǎn)品，舉例來(lái)說(shuō)，若客戶(hù)所要求的產(chǎn)品著眼于同時(shí)具有高效能與低成本優(yōu)勢(shì)的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，則在數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100出廠前，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110可利用自動(dòng)化測(cè)試程序針對(duì)不同類(lèi)型的內(nèi)存組件進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，以便從中找出通過(guò)效能測(cè)試且具備高效能優(yōu)勢(shì)的多個(gè)內(nèi)存組件及相對(duì)應(yīng)的參數(shù)設(shè)定值，接著再由該些內(nèi)存組件選擇具有低成本優(yōu)勢(shì)的內(nèi)存組件作為數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105，換言之，本發(fā)明圖2a與圖2b所示之流程步驟可擴(kuò)展應(yīng)用于對(duì)各式各樣的內(nèi)存組件(例如各種NAND型的閃存組件)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，因此，出廠后的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100可更貼近客戶(hù)的需求。 甚至，在數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置IOO封裝之后，即便封裝之前未得知數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的規(guī)格或型號(hào)，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器110可于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置100開(kāi)機(jī)啟動(dòng)時(shí)執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序先對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105進(jìn)行測(cè)試，而在該自動(dòng)化測(cè)試程序完成測(cè)試后，即可獲知存取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的相關(guān)設(shè)定，故本發(fā)明在封裝之前未得知數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件105的規(guī)格或型號(hào)下仍可運(yùn)作。 以上所述僅為本發(fā)明之較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明申請(qǐng)專(zhuān)利范圍所做之均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明之涵蓋范圍。
權(quán)利要求
一種用以控制一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件之每一筆數(shù)據(jù)存取之?dāng)?shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，其特征在于包含有一處理單元，用來(lái)執(zhí)行一自動(dòng)化測(cè)試程序以對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試；以及一儲(chǔ)存單元，耦接于該處理單元，用來(lái)儲(chǔ)存該自動(dòng)化測(cè)試程序。
2. 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件系一閃存組件。
3. 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，其特征在于其中該處理單元系執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件分別進(jìn)行復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試，以得出復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試結(jié)果，以及依據(jù)該復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試結(jié)果中一特定測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)之一特定參數(shù)設(shè)定值來(lái)決定該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器存取該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件時(shí)之設(shè)定。
4. 如權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，其特征在于其中該復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值系訊號(hào)脈波寬度、時(shí)鐘頻率(clock frequency)、訊號(hào)電壓、訊號(hào)電流及訊號(hào)穩(wěn)定時(shí)間(setup/hold time)中至少其一之不同參數(shù)值。
5. 如權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，其特征在于其中該處理單元系先對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行一預(yù)定參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試，再調(diào)整該預(yù)定參數(shù)設(shè)定值以得出至少一調(diào)整后參數(shù)設(shè)定值并對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該至少一調(diào)整后參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試。
6. 如權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，其特征在于其中該處理單元系分別依據(jù)復(fù)數(shù)個(gè)不同測(cè)試項(xiàng)目執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該復(fù)數(shù)個(gè)參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試，其中該復(fù)數(shù)個(gè)不同測(cè)試項(xiàng)目包含有穩(wěn)定性測(cè)試、效能測(cè)試或省電測(cè)試。
7. 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，其特征在于其中該處理單元系先由一外部電子裝置下載該自動(dòng)化測(cè)試程序，再將該自動(dòng)化測(cè)試程序暫存于該儲(chǔ)存單元中。
8. 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，其特征在于其中該處理單元系先由該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件中取得該自動(dòng)化測(cè)試程序，再將該自動(dòng)化測(cè)試程序暫存于該儲(chǔ)存單元中。
9. 一種數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于包含有一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件；以及一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器，耦接于該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件，用來(lái)控制該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件之每一筆數(shù)據(jù)存取，并執(zhí)行一自動(dòng)化測(cè)試程序(automated testing procedure)來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。
10. 如權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器另儲(chǔ)存有一自動(dòng)化測(cè)試程序，并執(zhí)行所儲(chǔ)存之該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。
11. 如權(quán)利要求IO所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器系由一外部電子裝置中下載該自動(dòng)化測(cè)試程序以進(jìn)行該自動(dòng)化測(cè)試程序。
12. 如權(quán)利要求10所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器系由該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件中取得該自動(dòng)化測(cè)試程序以進(jìn)行該自動(dòng)化測(cè)試程序。
13. 如權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于另包含有一殼體，其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件與該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器系設(shè)置于該殼體內(nèi)。
14. 如權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件系一閃存組件。
15. 如權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器系執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件分別進(jìn)行復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試，以得出復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試結(jié)果，以及依據(jù)該復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試結(jié)果中一特定測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)之一特定參數(shù)設(shè)定值來(lái)決定該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器存取該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件時(shí)之設(shè)定。
16. 如權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于其中該復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值系訊號(hào)脈波寬度、時(shí)鐘頻率(clock frequency)、訊號(hào)電壓、訊號(hào)電流與訊號(hào)穩(wěn)定時(shí)間(setup/hold time)中至少其一之不同參數(shù)值。
17. 如權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器系先對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行一預(yù)定參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試，再調(diào)整該預(yù)定參數(shù)設(shè)定值以得出至少一調(diào)整后參數(shù)設(shè)定值并對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該至少一調(diào)整后參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試。
18. 如權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器系分別依據(jù)復(fù)數(shù)個(gè)不同測(cè)試項(xiàng)目執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該復(fù)數(shù)個(gè)參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試，其中該復(fù)數(shù)個(gè)不同測(cè)試項(xiàng)目包含有穩(wěn)定性測(cè)試、效能測(cè)試或省電測(cè)試。
19. 一種利用一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器對(duì)一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行一自動(dòng)化測(cè)試之方法，其特征在于其中該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件之每一筆數(shù)據(jù)存取系由該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器所控制，該方法包含有將一自動(dòng)化測(cè)試程序儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器；以及使用該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序以對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該自動(dòng)化測(cè)試。
20. 如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于其中對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該自動(dòng)化測(cè)試之步驟包含有執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件分別進(jìn)行復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試，以得出復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試結(jié)果；以及依據(jù)該復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試結(jié)果中一特定測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)之一特定參數(shù)設(shè)定值來(lái)決定存取該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件時(shí)之設(shè)定。
21. 如權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于其中該復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值系訊號(hào)脈波寬度、時(shí)鐘頻率(clock frequency)、訊號(hào)電壓、訊號(hào)電流與訊號(hào)穩(wěn)定時(shí)間(setup/holdtime)中至少其一之不同參數(shù)值。
22. 如權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于其中對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件分別進(jìn)行該復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試的步驟包含有對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行一預(yù)定參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試；調(diào)整該預(yù)定參數(shù)設(shè)定值以得出至少一調(diào)整后參數(shù)設(shè)定值；以及對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該至少一調(diào)整后參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試。
23. 如權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于其中對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件分別進(jìn)行該復(fù)數(shù)個(gè)不同參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試的步驟包含有分別依據(jù)復(fù)數(shù)個(gè)不同測(cè)試項(xiàng)目執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試程序來(lái)對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行該復(fù)數(shù)個(gè)參數(shù)設(shè)定值之測(cè)試，其中該復(fù)數(shù)個(gè)不同測(cè)試項(xiàng)目包含有穩(wěn)定性測(cè)試、效能測(cè)試或省電領(lǐng)lj試。
24. 如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于其中將該自動(dòng)化測(cè)試程序儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器的步驟包含有由一外部電子裝置下載該自動(dòng)化測(cè)試程序，再將該自動(dòng)化測(cè)試程序暫存于該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器中。
25.如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于其中將該自動(dòng)化測(cè)試程序儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器的步驟包含有先由該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件中取得該自動(dòng)化測(cè)試程序，再將該自動(dòng)化測(cè)試程序暫存于該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器中。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種用以控制一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件之每一筆數(shù)據(jù)存取的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器。數(shù)據(jù)儲(chǔ)存控制器包含有一處理單元與一儲(chǔ)存單元，其中該處理單元系用來(lái)執(zhí)行一自動(dòng)化測(cè)試程序以對(duì)該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存組件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，以及該儲(chǔ)存單元系耦接于該處理單元，并用來(lái)儲(chǔ)存該自動(dòng)化測(cè)試程序。
文檔編號(hào)G06F11/22GK101763298SQ20081018509
公開(kāi)日2010年6月30日 申請(qǐng)日期2008年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月23日
發(fā)明者林峻葦 申請(qǐng)人:慧帝科技(深圳)有限公司;慧榮科技股份有限公司