專利名稱：位置感應(yīng)面板、檢測(cè)方法及顯示器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種位置檢測(cè)顯示器以及顯示器的操作方法。
背景技術(shù)：
位置檢測(cè)器(position sensor)是以可透光的方式迭置在顯示器之上，用以 記錄觸碰或是記錄觸碰筆的輸入。檢測(cè)器可能是由多個(gè)電極所構(gòu)成。所述 電極以陣列方式排列，并連接至驅(qū)動(dòng)/才企測(cè)電路。
檢測(cè)器可為電容式檢測(cè)器，其具有許多電極組。所述電極組連接至驅(qū) 動(dòng)電路和/或檢測(cè)電路。當(dāng)物體(如筆尖或是手指)接近電極時(shí)，電極的容值 會(huì)受到影響。因此，藉由測(cè)量容值的改變，便可得知物體的位置。
為了提高解析度，檢測(cè)電極的數(shù)量將會(huì)增加。然而，由于高解析度需 具有較大的電極陣列，并且檢測(cè)電極需連接至^f全測(cè)電路或是驅(qū)動(dòng)電路，故 連接器的數(shù)量將會(huì)大增。對(duì)制造程序而言，連接器的制造具有相當(dāng)?shù)睦щy 度。大量的連接器將增加制造成本，并可能提高產(chǎn)品的故障率，因而降低 可靠度。
因此，需要能提高解析度，又能不增加連接器的數(shù)量。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明，提供一種檢測(cè)方法，用以檢測(cè)一顯示器前方的一待測(cè)物 的位置。該顯示器具有一前位置感應(yīng)面板。前位置感應(yīng)面板具有多個(gè)細(xì)微x 檢測(cè)電極以及多個(gè)細(xì)微y檢測(cè)電極。細(xì)微x檢測(cè)電極被切分成多個(gè)第 一群 組。第一群組是成梳狀，并且跨越面板。細(xì)微y檢測(cè)電極被切分成多個(gè)第 二群組。第二群組是成梳狀，并且跨越面板以及細(xì)微x檢測(cè)電極。本發(fā)明 的檢測(cè)方法包括，利用所述細(xì)微x檢測(cè)電極以及所述細(xì)微y檢測(cè)電極，實(shí) 施一細(xì)微位置檢測(cè)操作，以定義該待測(cè)物在一細(xì)微解析中的多個(gè)可能位置； 實(shí)施一粗略位置檢測(cè)操作，以判斷該待測(cè)物在一粗略解析中的位置；以及 結(jié)合該細(xì)微位置檢測(cè)操作以及該粗略位置檢測(cè)操作的結(jié)果，用以從所述可能位置中選擇一個(gè)，該被選擇的可能位置即為該待測(cè)物的位置。本發(fā)明還 提供一種位置感應(yīng)面板，適用于一顯示器，用以檢測(cè)一待測(cè)物的位置。本
發(fā)明的位置感應(yīng)面板包括，多個(gè)細(xì)微x檢測(cè)電極、多個(gè)細(xì)微y檢測(cè)電極以 及一裝置。細(xì)微X檢測(cè)電極是平行設(shè)置，并且^^越顯示器。細(xì)微x^企測(cè)電 極被切分成多個(gè)第一群組。所述第一群組是成^f危狀。細(xì)微y檢測(cè)電極是平 行設(shè)置，并且跨越顯示器以及細(xì)微x檢測(cè)電極。細(xì)微y檢測(cè)電極被切分成 多個(gè)第二群組。所述第二群組是成梳狀。所述細(xì)微x檢測(cè)電極與所述細(xì)微y 檢測(cè)電極定義待測(cè)物在一細(xì)微解析中的多個(gè)可能位置。裝置用以實(shí)施一粗 略位置檢測(cè)，以從所述可能位置中，判斷出對(duì)應(yīng)于待測(cè)物的位置的可能位 置。
根據(jù)本發(fā)明，還提供一種顯示器，包括一后面板、 一位置感應(yīng)面板、 多個(gè)細(xì)微檢測(cè)電路、多個(gè)粗略檢測(cè)電路以及一計(jì)算單元。位置感應(yīng)面板設(shè) 置在后面板的前方，并包括多個(gè)細(xì)微x檢測(cè)電極、多個(gè)細(xì)微y檢測(cè)電極以 及一裝置。細(xì)微x檢測(cè)電極平行設(shè)置，并且跨越顯示器。所述細(xì)微x檢測(cè) 電極被切分成多個(gè)第一群組。所述第一群組是成梳狀。細(xì)微y檢測(cè)電極平 行設(shè)置，并且跨越顯示器以及細(xì)微x檢測(cè)電極。細(xì)微y纟全測(cè)電極被切分成 多個(gè)第二群組。所述第二群組是成梳狀。所述細(xì)微x檢測(cè)電極與所述細(xì)微y 檢測(cè)電極定義該待測(cè)物在一細(xì)微解析中的多個(gè)可能位置。裝置用以實(shí)施一 粗略位置^r測(cè)，以從所述可能位置中，判斷出對(duì)應(yīng)于該待測(cè)物的位置的可 能位置。細(xì)樣t檢測(cè)電路設(shè)置在后面板之上，并分別連接至多個(gè)細(xì)微;險(xiǎn)測(cè)連 接器。所述細(xì)微檢測(cè)連接器連接位置感應(yīng)面板上的細(xì)微x檢測(cè)電極以及細(xì) 微y檢測(cè)電極。粗略檢測(cè)電路設(shè)置在后面板之上，并分別連接至多個(gè)粗略 檢測(cè)連接器。粗略檢測(cè)連接器連接該裝置，用以實(shí)施該位置感應(yīng)面板上的 粗略位置4全測(cè)。計(jì)算單元電連接至粗略及細(xì)孩W全測(cè)電路，并根據(jù)粗略及細(xì) 微檢測(cè)電路的信號(hào)，輸出該待測(cè)物的一獨(dú)一細(xì)孩i位置。
藉由結(jié)合群組內(nèi)的檢測(cè)電極，就不需要為了增加解析度，而增加連接 器的數(shù)量。雖然減少連接器的數(shù)量，仍能達(dá)到高解析的功能。
面板可為位置感應(yīng)面板，通常稱為觸碰感應(yīng)面板。嚴(yán)格來(lái)說，面板可 利用電容耦合方式操作，因此，只要稍微接近面板，面板便可感應(yīng)到，而 不需要真正的觸碰到面板。
顯示器可能具有一主動(dòng)矩陣面板，如主動(dòng)矩陣液晶顯示器(active matrixliquid crystal display; AMLCE)面板，或是主動(dòng)矩陣有機(jī)發(fā)光二極體顯示器 (active matrix organic light emitting diode display; AMOLED)面板。可在主動(dòng) 面板上，提供所有的電路及處理，并且位置4全測(cè)電極可設(shè)于前面板上，使 得制造程序更為容易。
為使本發(fā)明的上述和其他目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特 舉出較佳實(shí)施例，并結(jié)合附圖詳細(xì)說明如下。


圖1為根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的正視圖。
圖2為根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的側(cè)視圖。
圖3 5為根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的操作示意圖。
圖6為根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的正視圖。
圖7及8為根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的操作示意圖。
圖9為根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例的正視圖。
附圖符號(hào)說明
1:前位置感應(yīng)面板；2:透明基底；
4:細(xì)孩ix^企測(cè)電才及；6:細(xì)微y4企測(cè)電極；
7:檢測(cè)區(qū)域；8、10、 40、 42:群組;
12^L略4全測(cè)電極；14角落；
27驅(qū)動(dòng)電才及；28拾取電極；
16細(xì)微連接器；18粗略連接器；
20細(xì)微檢測(cè)電路；22粗略檢測(cè)電路；
23粗略驅(qū)動(dòng)單元；24計(jì)算單元；
50后主動(dòng)面板；52液晶;
304寺測(cè)物；32位置；
44才企測(cè)區(qū)i或；34粗略位置；
36檢測(cè)位置；5:顯示器；
56基板；58:整合單元。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明的圖示只是示意圖，并非等比例縮小實(shí)際的物體。相同的元件 以相同的符號(hào)表示，并且不再重復(fù)敘述。
圖1顯示前位置感應(yīng)面々反(front position sensitive panel)的示意圖。前4立 置感應(yīng)面板1設(shè)置在顯示器的前方。
前位置感應(yīng)面板1具有透明基底2、多個(gè)細(xì)微x檢測(cè)電極4與細(xì)微y檢 測(cè)電極6。細(xì)微x檢測(cè)電極4平行設(shè)置，并且往行(column)方向延伸跨越透 明基底2。細(xì)微y檢測(cè)電極6往列(row)方向延伸跨越透明基底2，并與細(xì)微 x檢測(cè)電極4相互隔離。細(xì)微x檢測(cè)電極4與細(xì)微y檢測(cè)電極6覆蓋前位置 感應(yīng)面板的檢測(cè)區(qū)域7。在圖1中，檢測(cè)區(qū)域7如較粗的黑線所示。檢測(cè)區(qū) 域7對(duì)應(yīng)于顯示器的顯示區(qū)。
細(xì)微x檢測(cè)電極像細(xì)微y檢測(cè)電極一樣，被切分成許多群組。在本實(shí) 施例中，細(xì)微x檢測(cè)電極被切分成n個(gè)群組8，并且每第n條細(xì)微x檢測(cè)電 極被連接在一起，以成為一群組。舉例而言，假設(shè)圖1中的最右邊的細(xì)微x 檢測(cè)電極為第l條電極，并且最左邊的細(xì)微x檢測(cè)電極為第12條電極。在 本實(shí)施例中，第1、 5、 9條電極耦接在一起，形成群組8中的第一群組， 第2、 6、 10條電極耦接在一起，形成群組8中的第二群組，第3、 7、 11 條電極耦接在一起，形成群組8中的第三群組，第4、 8、 12條電極耦接在 一起，形成群組8中的第四群組。因此，細(xì)微x檢測(cè)電極的群組是成梳狀。 每個(gè)群組會(huì)輪流或循環(huán)被使用。舉例而言，若從第一個(gè)群組開始使用，直 到所有群組都被使用過了 ，第一個(gè)群組才會(huì)再次被使用。
圖1為簡(jiǎn)單示意圖，其顯示細(xì)微x檢測(cè)電極被切分成四個(gè)群組，每個(gè) 群組具有三條電極。在其它實(shí)施例中，電才及可^f皮切分成更多的群組，并且 每一群組可具有更多的電極。藉由連接在一起的電極，便可定義出不同的 群組。
同樣地，細(xì)微y檢測(cè)電極可被切分成m個(gè)群組10,并且每第m條細(xì)微
y檢測(cè)電極被連接在一起，以成為一群組。
細(xì)微檢測(cè)電極4及6作為檢測(cè)細(xì)微范圍(細(xì)微解析度)的電極。 細(xì)微檢測(cè)電極4及6均為透明，例如透明導(dǎo)體，如氧化銦錫。 '前位置感應(yīng)面板1亦包含四個(gè)粗略檢測(cè)電極12,粗略檢測(cè)電極12分別
設(shè)置在前位置感應(yīng)面板1的四個(gè)角落14。
每一群組8及每一群組IO分別連接至相對(duì)應(yīng)的連接器16。同樣地，每一粗略檢測(cè)電極12各自連接至一相對(duì)應(yīng)的連4妻器18。
粗略檢測(cè)電極2具有驅(qū)動(dòng)電極27以及拾取(pick-up)電極28。驅(qū)動(dòng)電極 27設(shè)置在前位置感應(yīng)面板1的相對(duì)立角落14。 #^又電極28設(shè)置在另一相 對(duì)立角落14。
細(xì)微連接器16以及粗略連接器18分別連接至細(xì)微檢測(cè)電路20以及粗 略檢測(cè)電路22。細(xì)微檢測(cè)電路20以及粗略檢測(cè)電路22并未設(shè)置在透明面 板之上。粗略驅(qū)動(dòng)單元23亦連接至驅(qū)動(dòng)電極27,用以驅(qū)動(dòng)電極。
圖2為本發(fā)明的側(cè)面示意圖。如圖所示，前位置感應(yīng)面板1為主動(dòng)矩 陣液晶顯示器(active matrix liquid crystal display)的前板。主動(dòng)矩陣液晶顯示 器具有一后主動(dòng)面板50以及液晶52。液晶52 i殳置在前位置感應(yīng)面板1與 后主動(dòng)面斗反50之間，利用后主動(dòng)面寺反以呈J見畫面。
在本實(shí)施例中，檢測(cè)電路20及22為后主動(dòng)面板50的電路的一部分， 而計(jì)算單元24為一獨(dú)立的電路。在其它實(shí)施例中，計(jì)算單元24可整合在 后主動(dòng)面板50之中。
在圖3~5中，利用細(xì)微檢測(cè)電路以及細(xì)微檢測(cè)電極的群組，便可實(shí)行 對(duì)待測(cè)物30的基本細(xì)微檢測(cè)操作?？衫么郎y(cè)物與接近待測(cè)物的檢測(cè)電極 的電容耦合效應(yīng)來(lái)實(shí)行。舉例而言，待測(cè)物30可能為筆尖或是手指。檢測(cè) 電路所測(cè)量的信號(hào)會(huì)受到待測(cè)物30與鄰近待測(cè)物30的檢測(cè)電極間的電容 耦合效應(yīng)所影響。因此，檢測(cè)電路藉由接近待測(cè)物的檢測(cè)電極，便可獲得 信號(hào)的改變。
在細(xì)微檢測(cè)電極的細(xì)微解析中，細(xì)微檢測(cè)操作可提供位置信息，但是 所提供的位置信息并非唯一。
在圖3~5的簡(jiǎn)單示意圖中，細(xì)微檢測(cè)電極的每一群組具有兩電極，因 此，在細(xì)微解析中，細(xì)微檢測(cè)操作可得知四種可能的位置32(如圖3所示)。
如圖4所示，在粗略解析中，粗略檢測(cè)操作藉由粗略檢測(cè)電路決定出 唯一的粗略位置34。粗略驅(qū)動(dòng)單元23將信號(hào)傳送至驅(qū)動(dòng)電極27，并且粗 略檢測(cè)電路22會(huì)測(cè)量拾取電極28所拾取到的信號(hào)，用以判定待測(cè)物所接 近的角落14，即為粗略位置34。
如圖5所示，計(jì)算單元24結(jié)合粗略及細(xì)才全測(cè)操作的結(jié)果，從多個(gè)位置 32中找出最近粗略位置34的位置，所找到的位置32即為檢測(cè)位置36。藉由群組化細(xì)微電極，便可減少細(xì)微連接器16的數(shù)量，使得細(xì)微連接 器16的數(shù)量遠(yuǎn)小于已知技術(shù)(每一細(xì)微檢測(cè)電才及具有一連接器)。因此，在 制造具有細(xì)微解析度的產(chǎn)品時(shí)，可大大地簡(jiǎn)化制造程序。
倘若沒有使用上述技術(shù)，則連接器的數(shù)量可能會(huì)大幅增加。為了達(dá)到
細(xì)微解析度，則需要設(shè)置細(xì)微網(wǎng)柵狀(fme grid)檢測(cè)電極。然而，不幸地， 大量的檢測(cè)電極需要大量的連接器，并且位置^^測(cè)屏幕的可靠度將受到連 接器可靠度的影響。
在本實(shí)施例中，電極是整合在顯示裝置的前板。因此，前板與后面板 之間連接的可靠度為關(guān)鍵性的可靠度因素，此因素可藉由減少連接，而被 大幅地降低。
當(dāng)然，電極的群組化會(huì)使得待測(cè)物30位置的判斷變得更困難，不過， 利用粗略及細(xì)微檢測(cè)技術(shù)，便可克服這個(gè)問題。
在其它實(shí)施例中(如圖6所示)，可使用另一種方式排列粗略檢測(cè)電極。 如圖所示，多個(gè)粗略檢測(cè)電極跨越面板，并設(shè)置在細(xì)微檢測(cè)電極之間。粗 略檢測(cè)電極像細(xì)微檢測(cè)電極一樣，都是線狀排列(line)。因此，在本實(shí)施例 中，具有許多細(xì)微檢測(cè)電極以及粗略檢測(cè)電極，但是細(xì)樣i檢測(cè)電極以及粗 略檢測(cè)電極各自被群組化。粗略檢測(cè)電極的群組40及42為相鄰的粗略檢 測(cè)電極。群組40為粗略x 4企測(cè)電極。群組42為粗略y檢測(cè)電極。因此， 在本實(shí)施例中，群組40及42各自連接到相對(duì)應(yīng)的連接器18。本實(shí)施例中， 粗略沖僉測(cè)電極的群組40及42的操作原理與細(xì)樹:;險(xiǎn)測(cè)電極的群組8及10相 同，不同之處在于，群組40及42的劃分方式不同于群組8及10。
粗略檢測(cè)電極的群組對(duì)應(yīng)細(xì)微檢測(cè)電極的群組而設(shè)置。假設(shè)，細(xì)微電
極被切分成n個(gè)群組，則第一群組從一第一電4及、 一第二電極.....至一
第n電極排列，然后第二群組再?gòu)牡谝浑姌O、第二電極.....至第n電極
排列。因此，細(xì)微電極會(huì)形成一重復(fù)圖樣。
在考慮群組的重復(fù)特性的情況下，位置感應(yīng)面板可被切分成多個(gè)檢測(cè) 區(qū)域44。每一檢測(cè)區(qū)域具有每一群組的x及y檢測(cè)電極，并從第一群組內(nèi) 的x及y檢測(cè)電極開始檢測(cè)。而下一個(gè)檢測(cè)區(qū)域44是由第 一群組內(nèi)的下一 x及下一 y ^^測(cè)電極開始4企測(cè)。
就粗略檢測(cè)電極而言，在x及y方向，每 一檢測(cè)區(qū)域44僅會(huì)對(duì)應(yīng)到一 個(gè)粗略檢測(cè)電極的群組。因此，在本實(shí)施例中，粗略檢測(cè)電極的群組切分是對(duì)應(yīng)至重復(fù)循環(huán)的細(xì)微檢測(cè)電極。而當(dāng)細(xì)孩t;險(xiǎn)測(cè)電極被切分成n個(gè)群組 時(shí)，粗略才企測(cè)電極的每個(gè)群組均具有n條粗略4企測(cè)電極。例如，根據(jù)圖6, 粗略檢測(cè)電極群組40包含群組X1 X3，每個(gè)群組X1 X3分別對(duì)應(yīng)至重復(fù) 循環(huán)的細(xì)微檢測(cè)電極群組xl x5，其中，細(xì)孩吏檢測(cè)電極切分為5個(gè)群組 xl x5,而粗略檢測(cè)電極的每個(gè)群組X1 X3均具有5條粗略檢測(cè)電極。
以下將詳細(xì)說明，計(jì)算單元判斷位置的原理，請(qǐng)參考圖7及圖8。
細(xì)微檢測(cè)操作可得到多個(gè)位置結(jié)果(xp，yp)，每個(gè)位置結(jié)果(xp，yp)分別位 于不同的高解析檢測(cè)區(qū)域中，而待測(cè)物的位置就是某一個(gè)高解析檢測(cè)區(qū)域 的位置結(jié)果(xp,yp)。舉例而言，圖7顯示九個(gè)高解析檢測(cè)區(qū)域44,每一高 解析檢測(cè)區(qū)域具有一位置結(jié)果(xp，yp)。因此，總共有九個(gè)位置結(jié)果，而待測(cè) 物的位置就是九個(gè)位置結(jié)果中的一個(gè)。不過，在細(xì)微檢測(cè)操作，并不知道 哪一個(gè)位置結(jié)果才是待測(cè)物的真正位置。
粗略檢測(cè)操作是利用粗略檢測(cè)電極以判定《寺測(cè)物在哪一個(gè)檢測(cè)區(qū)域44 中的粗略位置(Xp,Yp)。即根據(jù)粗略x檢測(cè)電極以及粗略y檢測(cè)電極的群組， 便可定義出待測(cè)物的粗略位置(Xp, Yp)。
將多個(gè)位置結(jié)果(xp,yp)與粗略位置(Xp,Yp)結(jié)合在一起，便可得知待測(cè) 物的位置(如圖8所示)。
在其它實(shí)施例中，可根據(jù)細(xì)微^^測(cè)位置調(diào)整粗略檢測(cè)位置。
舉例而言，當(dāng)一物體接近多個(gè)檢測(cè)區(qū)域之間的邊界時(shí)，低解析4僉測(cè)可 能認(rèn)為物體是在某一檢測(cè)區(qū)域，但是此檢測(cè)區(qū)域是不正確的檢測(cè)區(qū)域。為 了解決這個(gè)問題，可藉由復(fù)雜的演算法判斷物體的位置。尤其是，粗略位 置(Xp,Yp)的判斷可利用細(xì)微位置信息(xp，yp)。藉由判斷xp及yp是大或小， 而得到粗略位置(Xp,Yp)。在圖6 8的實(shí)施例中，假設(shè)，粗略位置接近兩個(gè) 檢測(cè)區(qū)域44的邊界。若xp是大，則表示待測(cè)物靠近一檢測(cè)區(qū)域44的右邊， 故將會(huì)選擇具有較小Xp的檢測(cè)區(qū)域。相反的，若xp是小，則位置應(yīng)該接 近一檢測(cè)區(qū)域的左邊，因此，選4奪具有較大Xp的檢測(cè)區(qū)域。
相似的操作方式可應(yīng)用在y方向檢測(cè)。
上述的說明只是一個(gè)可能實(shí)施例。
舉例而言，雖然上述的內(nèi)容敘述一整合型觸碰面板1，但是在其它實(shí)施 例(如圖9所示)中，觸碰面板1可為一獨(dú)立的面板，并設(shè)置在顯示器54之 上。在此實(shí)施例中， 一主動(dòng)矩陣顯示器54設(shè)置在一支撐的基板56之上。檢測(cè)電路20、 22以及計(jì)算單元24設(shè)置在一整合單元58之中。整合單元58 設(shè)置在基板56之上。
檢測(cè)電路20及22亦可整合在主動(dòng)矩陣面板的驅(qū)動(dòng)電路之中。
在圖6中，檢測(cè)區(qū)域44對(duì)應(yīng)于粗略電極群組以及細(xì)微電極群組，粗略 電極群組以及細(xì)微電極群組重復(fù)的單元及大小都一樣。然而，這并非必要， 只要粗略電極判斷夠準(zhǔn)確，相稱的粗略及細(xì)微電極群組并非必要。尤其相 較于上述實(shí)施例，在其它的排列中，具有較佳的粗略解析是有幫助的，盡 管這個(gè)較佳的粗略解析仍然比細(xì)微解析差。
另外，粗略檢測(cè)操作及細(xì)樣么檢測(cè)操作可同時(shí)進(jìn)行，或是依序進(jìn)行。
在圖6所顯示的排列中，粗略檢測(cè)電極的數(shù)量與細(xì)微檢測(cè)電極相同， 但并非用以限制本發(fā)明。在其它可能實(shí)施例中，粗略電極的數(shù)量可小于細(xì) 微檢測(cè)電極的數(shù)量。
另外，在圖6所顯示的排列中，粗略檢測(cè)電極與細(xì)微檢測(cè)電極是相互 隔離，但在其它可能實(shí)施例中，可利用相同的電極作為粗略檢測(cè)電極與細(xì) 微檢測(cè)電極。舉例而言，為了簡(jiǎn)化電極的群組化方式，可將在某一邊的電 極切分成細(xì)微檢測(cè)電極群組，其中每一細(xì)微4企測(cè)電極群組具有n條電極， 將在另 一邊的電極切分成粗略檢測(cè)電極群組，其中每一粗略才企測(cè)電極群組 具有n條電極。在此例中，開關(guān)(如薄膜晶體管開關(guān))可能用以改變電極的連 接，用以完成粗略位置檢測(cè)，然后改變電極的連接，用以完成細(xì)微位置檢 測(cè)。在粗略位置檢測(cè)以及細(xì)微位置檢測(cè)時(shí)，這些開關(guān)可能輪流操作。
雖然上述的實(shí)施例與已知的主動(dòng)矩陣液晶顯示器有關(guān)，但是本發(fā)明可 應(yīng)用在其它主動(dòng)矩陣液晶顯示器中，如主動(dòng)矩陣有機(jī)發(fā)光二極體顯示器 (active matrix organic light emitting diode display)。
上述的電極也不 一 定全部都是透明的。
在其它實(shí)施例中，計(jì)算單元24可能設(shè)置在一獨(dú)立的面板上。 一般的計(jì) 算機(jī)可作為計(jì)算單元24。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，本 領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前途下可作若干的更動(dòng)與 潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以本發(fā)明的權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1. 一種檢測(cè)方法，用以檢測(cè)一顯示器前方的一待測(cè)物的位置，該顯示器具有一前位置感應(yīng)面板，該前位置感應(yīng)面板具有多個(gè)細(xì)微x檢測(cè)電極以及多個(gè)細(xì)微y檢測(cè)電極，所述細(xì)微x檢測(cè)電極被切分成多個(gè)第一群組，所述第一群組是成梳狀，并且跨越該面板，所述細(xì)微y檢測(cè)電極被切分成多個(gè)第二群組，所述第二群組是成梳狀，并且跨越該面板以及所述細(xì)微x檢測(cè)電極，該方法包括利用所述細(xì)微x檢測(cè)電極以及所述細(xì)微y檢測(cè)電極，實(shí)施一細(xì)微位置檢測(cè)操作，以定義該待測(cè)物在一細(xì)微解析中的多個(gè)可能位置；實(shí)施一粗略位置檢測(cè)操作，以判斷該待測(cè)物在一粗略解析中的位置；以及結(jié)合該細(xì)微位置檢測(cè)操作以及該粗略位置檢測(cè)操作的結(jié)果，用以從所述可能位置中，選擇一個(gè)，該被選擇的可能位置即為該待測(cè)物的位置。
2. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法，其中在實(shí)施該粗略位置檢測(cè)操作的步 驟中，是利用多個(gè)粗略檢測(cè)電極，并且利用多個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)驅(qū)動(dòng)至少一粗略 檢測(cè)電極，并且檢測(cè)其它粗略檢測(cè)電極的信號(hào)。
3. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法，其中在實(shí)施該粗略位置檢測(cè)操作的步 驟中，是利用多個(gè)粗略x檢測(cè)電極以及多個(gè)粗略y檢測(cè)電極。所述粗略x 檢測(cè)電極以及所述粗略y檢測(cè)電極是跨越該顯示器，且被切分成多個(gè)粗略 檢測(cè)群組，每一粗略檢測(cè)群組具有至少一粗略y檢測(cè)電極與至少一粗略x 才全測(cè)電4及；以及在結(jié)合該細(xì)微位置檢測(cè)操作以及該粗略位置檢測(cè)操作結(jié)果的步驟中， 包括利用該細(xì)微位置以及該粗略位置檢測(cè)操作的結(jié)果，以判斷該待測(cè)物的 位置所對(duì)應(yīng)的所述粗略4企測(cè)群組之一；以及在所述可能位置中，選擇一個(gè)，該被選擇的可能位置是對(duì)應(yīng)于所述粗 略才全測(cè)群組之一。
4. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法，其中該顯示器還包括一后主動(dòng)面板， 其中，在實(shí)施該細(xì)微位置檢測(cè)操作的步驟中，包括產(chǎn)生 一驅(qū)動(dòng)信號(hào)在該后主動(dòng)面板上； 將該驅(qū)動(dòng)信號(hào)傳送予至少一該細(xì)微檢測(cè)電極； 拾取其它細(xì)微檢測(cè)電極的信號(hào)；以及利用該后主動(dòng)面板的 一 細(xì)微檢測(cè)電路，檢測(cè)所述細(xì)微檢測(cè)電極的信號(hào)；以及在實(shí)施該粗略位置檢測(cè)操作的步驟中，包括 產(chǎn)生一驅(qū)動(dòng)信號(hào)在該后主動(dòng)面板上； 將該驅(qū)動(dòng)信號(hào)傳送予至少一該粗略檢測(cè)電極； 拾取其它粗略檢測(cè)電極的一檢測(cè)信號(hào)；以及利用該后主動(dòng)面板的一粗略檢測(cè)電路，4全測(cè)所述粗略檢測(cè)電極的信號(hào)。
5. —種位置感應(yīng)面板，適用于一顯示器，用以檢測(cè)一待測(cè)物的位置，該 位置感應(yīng)面板包括多個(gè)細(xì)微x檢測(cè)電極，平行設(shè)置并且跨越該顯示器，所述細(xì)微x檢測(cè) 電極被切分成多個(gè)第一群組，所述第一群組是成梳狀；多個(gè)細(xì)微y檢測(cè)電極，平行設(shè)置并且跨越該顯示器以及所述細(xì)微x檢 測(cè)電極，所述細(xì)微y檢測(cè)電極被切分成多個(gè)第二群組，所述第二群組是成 梳狀，其中，所述細(xì)微x檢測(cè)電極與所述細(xì)微y檢測(cè)電極定義該待測(cè)物在 一細(xì)微解析中的多個(gè)可能位置；以及一裝置，用以實(shí)施一粗略位置檢測(cè)，以從所述可能位置中，判斷出對(duì) 應(yīng)于該待測(cè)物的位置的可能位置。
6. 如權(quán)利要求5所述的位置感應(yīng)面板，其中所述第 一及第二群組中的每 一群組分別連接至一連接器。
7. 如權(quán)利要求5所述的位置感應(yīng)面板，其中所述第一群組的數(shù)量為n， 所述第二群組的數(shù)量為m，其中n及m均為整數(shù)；在所述細(xì)微x檢測(cè)電極中， 一第 一及第二細(xì)微x檢測(cè)電極連接在一起， 以成一群組，其中該第一及第二細(xì)微x檢測(cè)電極之間具有n-l條細(xì)微x檢測(cè) 電才及；以及在所述細(xì)微y檢測(cè)電極中， 一第 一及第二細(xì)微y檢測(cè)電極連接在一起， 以成一群組，其中該第一及第二細(xì)微y檢測(cè)電極之間具有m-l條細(xì)微y檢 測(cè)電才及。
8. 如權(quán)利要求5所述的位置感應(yīng)面板，其中該裝置為多個(gè)粗略檢測(cè)電極。
9. 如權(quán)利要求8所述的位置感應(yīng)面板，其中所述粗略4僉測(cè)電極具有多個(gè)粗略x檢測(cè)電極以及多個(gè)粗略y檢測(cè)電極，所述粗略x檢測(cè)電極是與所述 細(xì)微x檢測(cè)電極平行設(shè)置，并跨越該面板，所述粗略y 4企測(cè)電極是與所述 細(xì)微y檢測(cè)電極平行設(shè)置，并跨越該面板，其中所述粗略4全測(cè)電極與所述 細(xì)微檢測(cè)電極交替，所述粗略x檢測(cè)電極切分為多個(gè)粗略x檢測(cè)電極群組， 每一粗略x檢測(cè)電極群組中包含n條連接在一起的粗略x檢測(cè)電極；以及 所述粗略y檢測(cè)電極切分為多個(gè)粗略y檢測(cè)電極群組，每一粗略y檢測(cè)電極 群組中包含n條連接在一起的粗略y檢測(cè)電極，其中所述粗略x檢測(cè)電極 的每一群組與所述粗略y檢測(cè)電極的每一群組各自連接至一連接器。
10. 如權(quán)利要求8所述的位置感應(yīng)面板，其中所述粗略^r測(cè)電極具有至 少 一驅(qū)動(dòng)電才及對(duì)以及至少 一拾耳又電極對(duì)。
11. 一種顯示器，包括 一后面板；一位置感應(yīng)面板，設(shè)置在該后面板的前方，該位置感應(yīng)面板包括多個(gè)細(xì)微x檢測(cè)電極，平行設(shè)置并且跨越該顯示器，所述細(xì)微x檢測(cè) 電極被切分成多個(gè)第一群組，所述第一群組是成梳狀；多個(gè)細(xì)微y檢測(cè)電極，平行設(shè)置并且跨越該顯示器以及所述細(xì)微x檢 測(cè)電極，所述細(xì)微y檢測(cè)電極被切分成多個(gè)第二群組，所述第二群組是成 梳狀，其中，所述細(xì)微x檢測(cè)電極與所述細(xì)微y檢測(cè)電極定義該待測(cè)物在 一細(xì)微解析中的多個(gè)可能位置；以及一裝置，用以實(shí)施一粗略位置檢測(cè)，以從所述可能位置中，判斷出對(duì) 應(yīng)于該待測(cè)物的位置的可能位置；以及多個(gè)細(xì)微檢測(cè)電路，設(shè)置在該后面板之上，并分別連接至多個(gè)細(xì)微檢 測(cè)連接器，所述細(xì)微檢測(cè)連接器連接該位置感應(yīng)面板上的所述細(xì)微x檢測(cè) 電極以及所述細(xì)微y 4企測(cè)電極；多個(gè)粗略檢測(cè)電路，設(shè)置在該后面板之上，并分別連接至多個(gè)粗略檢 測(cè)連接器，所述粗略檢測(cè)連接器連接該裝置，用以實(shí)施該位置感應(yīng)面板上 的粗略位置;f僉測(cè)；以及一計(jì)算單元，電性連接至該粗略及該細(xì)微4全測(cè)電路，并根據(jù)該粗略及 該細(xì)微檢測(cè)電路的信號(hào)，輸出該待測(cè)物的一獨(dú)一細(xì)微位置。
全文摘要
本發(fā)明涉及位置感應(yīng)面板、檢測(cè)方法及顯示器。其中一位置檢測(cè)顯示器，將觸碰檢測(cè)器與主動(dòng)矩陣液晶面板整合在一起。主動(dòng)矩陣液晶面板具有一粗略檢測(cè)裝置以及一細(xì)微檢測(cè)裝置。細(xì)微檢測(cè)裝置具有多個(gè)細(xì)微檢測(cè)電極。細(xì)微檢測(cè)電極被切分成多個(gè)第一群組。第一群組是成梳狀，并且跨越面板。在使用上，細(xì)微檢測(cè)電極判定一待測(cè)物(如筆尖或是手指)的多個(gè)可能位置。粗略檢測(cè)裝置用以從多個(gè)可能位置中，選擇一個(gè)，被選擇的可能位置即為待測(cè)物的位置。
文檔編號(hào)G06F3/041GK101470557SQ20081018766
公開日2009年7月1日 申請(qǐng)日期2008年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月27日
發(fā)明者馬丁·J·愛德華茲 申請(qǐng)人:統(tǒng)寶光電股份有限公司