專利名稱：：低功耗掃描測試技術及裝置的制作方法
技術領域：
：本專利申請與測試集成電路的領域有關。特別地，本專利申請與在測試期間降低功耗的工具和技術有關。
背景技術：
：在集成電路制造的過程中，為了提供高測試覆蓋率，基于掃描和自動測試矢量生成("ATPG(automatictestpatterngeneration)")的設計可測性("DFT")技術被普遍采用。然而，對于大規(guī)模電路而言，對于這些電路進行測試所需的大量測試數據極大地增加了對測試時間和測試存儲器的要求。為了應付這些挑戰(zhàn)，人們引入各種減低測試數據量的方案。例如，使用片上解壓和壓縮硬件。通過使用這種硬件，測試儀以壓縮方式提供測試矢量，片上解壓硬件擴展(或解壓)壓縮的測試矢量為加載到掃描鏈上的實際數據。后者之所以成為可能是因為在解壓后的測試矢量中通常只有很少的比特位是指定比特位用于檢測集成電路中的一個或多個特定的故障。解壓后測試矢量中剩下的未指定比特位稱為"不在乎"比特位，它們的取值通常由解壓器的結構而隨機決定。但是，在載入解壓測試矢量到掃描鏈的過程中，大量的隨機填充的測試矢量比特位可導致掃描鏈中掃描單元過度切換，從而導致在測試過程中出現(xiàn)不期望的高功率消耗。類似地，在載入測試矢量到掃描鏈中并輸送到系統(tǒng)邏輯后，；故捕獲的測試響應中經常包含許多沒有指示任何目標故障存在的測試響應比特位，因為這些測試響應比特位對故障;險測或診斷沒有貢獻，這些比特位可稱為"不在乎"測試響應比特位。與"不在乎"測試矢量比特位類似，在對測試響應進行捕獲和/或在從掃描鏈卸載測試響應時，"不在乎"測試響應比特位同樣可導致掃描鏈中掃描單元過度切換。在掃描鏈載入、捕獲、和/或卸載過程中，過高的功率消耗可導致過熱，或是電源電壓噪聲一它們可導致設備故障，永久損壞，或是由于加速電遷移從而表現(xiàn)出可靠性降低。因此，在測試期間改善方法和測試結構以降低測試功耗成為必需考慮的問題。
發(fā)明內容以下公開的是在集成電路測試期間降低功耗的方法、設備和系統(tǒng)的典型實施例。本公開技術的實施例可用于提供低功耗測試方案，并可以集成到各種壓縮硬件結構(例如，嵌入式確定性測試("EDT")結構)。公開的實施例中有些包括含有測試激勵選擇器的集成電路。比如在一些特定的實施例中，集成電路包括一第一測試激勵源被配置生成原始測試矢量值，一第二測試激勵源被配置生成一常量值，一控制器被配置生成控制信號，及一測試激勵選擇器含有連接到第一測試激勵源、第二測試激勵源和控制器的輸入。測試激勵選擇器也包含連接到集成電路中多個掃描鏈的輸出。在這些實施例中，根據控制器的控制信號，測試激勵選擇器被配置在其每個各自的輸出中選擇性輸出第一測試激勵源的一原始測試矢量值或第二測試激勵源的常量值。在一些特定的實施例中，測試激勵選擇器被配置以逐一周期方式、逐一掃描鏈段方式或逐一矢量方式選擇性輸出值。此外，第一試激勵源可以是一解壓器接收來自外部測試儀的壓縮的測試矢量。在一些實現(xiàn)中，測試激勵選擇器包括多個多路復用器。每個多路復用器的第一輸入連接到第一測試激勵源的各自輸出，第二輸入連接到第二激勵源的各自輸出，第三輸入連接到控制器的各自輸出，并且一輸出連接到各自的一個或多個掃描鏈上。控制器可以是可編程的，被配置加載來自一外部測試儀、或集成電路上的一存儲單元、或集成電路上的一測試生成器之一的控制數據。在某些實現(xiàn)中，常量值是第一常量值，集成電路進一步包括一第三測試激勵源被配置生成第二常量值，測試激勵選擇器進一步有一輸入連接到第三測試激勵源，并根據控制器的控制信號，測試激勵選擇器被配置在其每個各自的輸出選擇性輸出第一測試激勵源的原始測試矢量值，或第二測試激勵源的第一常量值，或是第三測試激勵源的第二常量值。在這些實現(xiàn)中，第一常量值和第二常量值可以各自是O和l,或各自是1和0。進一步地，這些實現(xiàn)中的測試激勵選擇器可以15包括多個多路復用器，每個多路復用器的第一輸入連接到第一測試激勵源的各自輸出，第二輸入連接到第二測試激勵源的各自輸出，第三輸入連接到第三測試激勵源的各自輸出，第四輸入連接到控制器的各自輸出，并且一輸出連接到各自的一個或多個掃描鏈上。對這些實現(xiàn)的任一種，控制器可包括一個或多個移位寄存器用于加載和輸出控制數據。進一步地，一個或多個移位寄存器可包括多個組成多級寄存器管道的移位寄存器。例如，多個移位寄存器可被配置為響應寄存器移位時鐘以串行方式加載數據，和/或響應管道移位時鐘在移位寄存器之間以并行方式移位控制數據。一個或多個映像寄存器可以連接到一個或多個移位寄存器上。更進一步，控制器可包括一異或(XOR)或同或(XNOR)網絡并連接到至少一個該一個或多個移位寄存器上，并且控制器可進一步包括一偏置電路并連接到異或或同或網絡。例如，偏置電路被配置以偏置異或或同或網絡的一個或多個輸出，以使每個^C偏置輸出更可能生成各自的二進制值。偏置電路更可以是，例如，一可重復配置偏置電路被配置以根據可選擇的數量來偏置一個或多個異或或同或網絡的輸出。在其它公開的實施例中，集成電路包括一測試激勵源被配置生成原始測試矢量值，一控制器被配置生成控制信號，及一測試激勵選擇器含有連接到測試激勵源和控制器的輸入，其輸出連接到集成電路中多個掃描鏈上。在這些實施例中，根據控制器的控制信號，測試激勵選擇器被配置在其每個各自的輸出中選擇性輸出測試激勵源的一原始測試矢量值或是一個常量值。進一步地，測試激勵源可包括門控電路并被配置生成常量值。在一些特定的實施例中，測試激勵選擇器被配置以逐一周期方式、逐一掃描鏈段方式或逐一矢量方式選擇性輸出值。在某些實施例中，測試激勵源是一解壓器被配置接收來自一外部測試儀的壓縮測試矢量值?？刂破骺梢允强删幊痰?，被配置加載來自一外部測試儀、或集成電路上的一存儲單元、或集成電路上的一測試生成器其中之一的控制數據。在某些實現(xiàn)中，控制器可包括一個或多個移位寄存器用于加載和輸出控制數據。一個或多個移位寄存器可包括多個組成多級寄存器管道的移位寄存器?？刂破骺蛇M一步包括一異或或同或網絡并連接到至少一個該一個或多個移位寄存器上。此外，控制器可包括一偏置電路并連接到異或或同或網絡。偏置電路可被配置以偏置異或或同或網絡的一個或多個輸出，以使每個被偏置輸出更可能生成各自的二進制值。這里公開的一個范例方法，在m條路徑上接收測試集成電路的原始測試矢量值。原始測試矢量值可從，例如，一解壓器處接收。在該范例方法中，m條路徑中至少有n條路徑的測試矢量值被選擇性修改，以便n條路徑上測試矢量值成為至少兩個連續(xù)常量值，其中n小于m。關于m條掃描鏈輸入路徑的測試矢量值被輸出。這些測試矢量值包含關于m條掃描鏈輸入路徑中n條掃描鏈輸入路徑的至少兩個連續(xù)常值。在某些實現(xiàn)中，指示m條路徑哪些將被修改的控制數據被接收?？刂茢祿晒┒鄠€額外的測試矢量重復使用。輸出的測試矢量值可包含原始測試矢量的所有指定比特位，這些指定比特位是用于檢測集成電路中一個或多個故障。進一步地，選擇性修改測試矢量值的行為可包括施加控制信號到被配置產生至少兩個相鄰常量值的邏輯門上。這里也公開了集成電路含有掃描使能電路范例的實施例。例如，在一些特定的實施例中，一集成電路包括一解壓器連接到集成電路中掃描鏈的數據輸入端口，一控制器被配置生成控制信號，及一掃描使能電路，其一輸入連接到控制器，輸出連接到掃描鏈掃描單元的掃描使能輸入。在這些實施例中，掃描使能電路被配置在其一個或多個輸出生成獨立可控制的掃描使能信號。獨立可控制的掃描使能信號的值基于控制器的控制信號的至少一部分。獨立可控制的掃描使能信號的值可包括一第一掃描使能值和一第二掃描使能值。第一掃描使能值可用于導致一個或多個掃描鏈以移位^t式操作，第二掃描使能值可用于導致一個或多個掃描鏈以正常電路模式操作。在一些實現(xiàn)中，掃描使能電路的該輸入是第一輸入，掃描使能電路可進一步包括第二輸入被配置接收一全局掃描使能信號。在這些實現(xiàn)中，掃描使能電路可被配置以便其生成的掃描使能信號至少有一部分可被全局掃描使能信號部分控制。掃描使能電路每個輸出連接到集成電路中各自的一個或多個掃描鏈掃描單元的掃描使能輸入上。進一步地，在某些實現(xiàn)中，集成電路可包括一測試激勵選擇器，含有輸出被配置連接到由掃描單元組成的掃描鏈上。測試激勵選擇器被配置在其每個各自的輸出中選擇性輸出原始測試矢量值或一常量值。在某些實現(xiàn)中，控制器可以是可編程的，被配置加載來自一外部測試儀、或集成電路上的一存儲單元、或集成電路上的一測試生成器其中之一的控制數據?？刂破骺砂ǎ?，一個或多個移位寄存器用于加載和輸出控制數據。一個或多個移位寄存器可包括多個組成多級寄存器管道的移位寄存器。進一步地，一個或多個映像寄存器可連接到一個或多個移位寄存器上。在一些實現(xiàn)中，控制器可包括一異或或同或網絡并連接到至少一個該一個或多個移位寄存器上。更進一步，控制器可包括一偏置電路并連接到異或或同或網絡。偏置電路可被配置以偏置異或或同或網絡的一個或多個輸出，以使每個^皮偏置輸出更可能生成各自的二進制值。這里還公開了在測試期間對電路施加掃描使能信號的實施例。例如，在一些實施例中，掃描鏈加載來自解壓器的解壓測試矢量時，一掃描使能信號被施加到被測電路掃描鏈上。掃描使能信號導致掃描鏈以一個或多個移位寄存器方式操作。進一步地，在從剩下的、沒有施加掃描使能信號的掃描鏈上捕獲對于解壓測試矢量的測試響應時，掃描使能信號施加到一個或多個掃描鏈。在一些實現(xiàn)中，被施加掃描使能信號的一個或多個掃描鏈包括否則會捕獲到未知值的一個或多個掃描鏈。在進一步的實現(xiàn)中，在從掃描鏈上卸載測試響應時，掃描使能信號可施加到被測電路的掃描鏈上。在解壓測試矢量的測試響應被捕獲時，控制哪些掃描鏈將被施加掃描使能信號的控制信號被接收。在多個額外解壓測試矢量加載到掃描鏈時，這些控制信號可被再使用。更進一步，在測試矢量加載到掃描li時，用于下一個測試矢量的控制信號可被力口載。這里公開的另一些實施例中，一個或多個計算機可讀介質存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致計算機執(zhí)行一種方法。在某些實現(xiàn)中，該方法包括模擬一測試矢量被加載到被測電路并由此產生一模擬測試響應，從模擬測試響應中識別被測電路中一個或多個捕獲未知狀態(tài)的掃描鏈，生成控制信號以導致一掃描使能電路在捕獲窗口期間抑制一個或多個被識別掃描鏈的掃描使能信號，并存儲控制信號到一個或多個計算機可讀介質上。這里還公開了集成電路中包括時鐘使能電路的實施例。例如，在某些公開的實施例中，一集成電路包括一解壓器連接到集成電路中掃描鏈的數據輸入，一控制器被配置生成控制信號，和一時鐘使能電路。這些實施例中的時鐘使能電路輸入連接到控制器，輸出連接到掃描鏈掃描單元的時鐘輸入。進一步地，基于控制器控制信號的至少一部分，時鐘使能電路被配置在其一個或多個輸出中生成獨立可控制的時鐘信號。時鐘使能電路生成的獨立可控制的時鐘信號可以是捕獲時鐘信號。進一步地，在某些實現(xiàn)中，時鐘使能電路的該輸入可以是第一輸入，時鐘使能電路可進一步包括第二輸入被配置接收一源時鐘信號，時鐘使能電路生成的時鐘信號可派生自源時鐘信號。在某些實現(xiàn)中，時鐘使能電路進一步包括第三輸入被配置接收一全局時鐘使能信18號，而且時鐘使能電路被配置在全局時鐘使能信號有效時，在其所有輸出中生成時鐘信號。時鐘使能電路的每個輸出可連接到集成電路中各自的一個或多個掃描鏈掃描單元的時鐘輸入。時鐘使能電路可包括個體時鐘使能者電路以控制時鐘使能電路每個各自的輸出。在某些實現(xiàn)中，集成電路進一步包括一測試激勵選擇器，其含有輸出被配置連接到由掃描單元組成的掃描鏈上。測試激勵選擇器被配置在其每個各自的輸出選擇性輸出原始測試矢量值或一常量值。進一步地，控制器可以是可編程的，被配置加載來自一外部測試儀、或集成電路上的一存儲單元、或集成電路上的一測試生成器其中之一的控制數據?？刂破骺砂?，例如，一個或多個移位寄存器用于加載和輸出控制數據。一個或多個移位寄存器可包括多個組成多級寄存器管道的移位寄存器。進一步地，一個或多個映像寄存器可連接到一個或多個移位寄存器上?？刂破鬟€可包括一異或或同或網絡并連接到至少一個該一個或多個移位寄存器上。在某些實現(xiàn)中，控制器進一步包括一偏置電路，其連接到異或或同或網絡，偏置電路可被配置以偏置異或或同或網絡的一個或多個輸出，以使每個被偏置輸出更可能生成各自的二進制值。在^>開的實施例中包括在測試期間施加和抑制時鐘信號的方法。例如，在某些公開的實施例中，在一解壓器的解壓測試矢量加載到一被測電路的掃描鏈時，一時鐘信號被施加到被測電路的掃描鏈上。在捕獲窗口期間捕獲解壓測試矢量的測試響應時，一個或多個但不是所有掃描鏈或掃描鏈段上的時鐘信號被抑制。時鐘信號的抑制導致一個或多個但不是所有掃描鏈或掃描鏈段在捕獲窗口期間保持一個恒定狀態(tài)。一個或多個掃描鏈包括否則會捕獲到未知值的一個或多個掃描鏈。在一些特別的實現(xiàn)中，時鐘信號在掃描鏈加載測試矢量時有一第一頻率，在捕獲窗口期間捕獲測試響應時有一第二頻率。公開的實施例可進一步包括在從掃描鏈上卸載測試響應時，施加時鐘信號到被測電路的掃描鏈上。更進一步，控制在捕獲窗口期間哪些掃描鏈或是掃描鏈段的時鐘信號將^皮抑制的控制信號可凈皮接收。當捕獲多個額外解壓測試矢量的測試響應時，這些控制信號可被重新使用。在測試矢量加載到掃描鏈時，針對下一個測試矢量的控制信號可纟皮加載。這里公開的另外一個實施例中，一個或多個計算機可讀介質存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致計算機執(zhí)行一種方法。在某些實現(xiàn)中，該方法包括模擬一測試矢量被力口載到被測電路并由此產生一模擬測試響應，從模擬測試鏈，生成控制信號以導致一時鐘使能電路在捕獲窗口期間抑制一個或多個被識別掃描鏈的捕獲時鐘，并存儲控制信號到一個或多個計算^L可讀介質上。這里還公開了一集成電路包括復位使能電路的實施例。例如，在某些實施例中，一集成電路包括一解壓器連接到集成電路中掃描鏈的數據輸入，一控制器被配置生成控制信號，和一復位使能電路，其輸入連接到控制器，其輸出連接到掃描鏈掃描單元的復位輸入。復位使能電路可被配置基于控制器控制信號的至少一部分，在其一個或多個輸出中選擇性生成復位信號。當復位信號施加到復位輸入時，集成電路中掃描單元可被配置復位至0或1。復位使能電路的該輸入可以是復位使能電路的第一輸入，復位使能電路可進一步包括第二輸入被配置接收一源復位信號。在一些特別的實現(xiàn)中，復位使能電路可包括個體復位使能者電路以控制復位使能電路每個各自的輸出。更進一步，在一些實現(xiàn)中，復位使能電路的每個輸出可連接到集成電路中各自的一個或多個掃描鏈掃描單元的復位輸入。掃描單元復位輸入可包括掃描單元的異步控制管腳。集成電路可進一步包括一移位時鐘使能電路，其輸出連接到集成電路中掃描鏈的移位時鐘輸入。在這些實施例中，移位時鐘使能電路可被配置在其一個或多個輸出中選擇性輸出一移位時鐘信號。移位時鐘使能電路可進一步包括與控制器連接的輸入，并基于控制器的控制信號的至少一部分選擇性生成移位時鐘信號。進一步地，移位時鐘使能電路可包括個體移位時鐘使能者電路以控制移位時鐘使能電路每個各自的輸出。集成電路可進一步包括一測試激勵選擇器，其含有輸出被配置連接到由掃描單元組成的掃描鏈上。測試激勵選擇器被配置在其每個各自的輸出選擇性輸出原始測試矢量值或一常量值。在某些實現(xiàn)中，集成電路中的控制器是可編程的，被配置加載來自一外部測試儀、或集成電路上的一存儲單元、或集成電路上的一測試生成器其中之一的控制數據?？刂破骺砂ㄒ粋€或多個移位寄存器以用于加載和輸出控制數據。進一步地，一個或多個移位寄存器可包括多個組成多級寄存器管道的移位寄存器。一個或多個映像寄存器可連接到一個或多個移位寄存器上。控制器可進一步包括一異或或同或網絡并連接到至少一個該一個或多個移位寄存器上。更進一步，控制器可包括一偏置電路，其連接到異或或同或網絡。偏置電路可被配置以偏置異或或同或網絡的一個或多個輸出，以使每個被偏置輸出更可能生成各自的二進制值。這里還公開了在測試期間對電路施加復位信號的實施例。在某些公開的實施例中，在一集成電^^的掃描鏈上捕獲對于一測試矢量(比如，由解壓器解壓的測試矢量)的一測試響應。在測試矢量的測試響應被捕獲后，一復位信號被施加到一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段上。復位信號施加后，掃描鏈上的內容被卸載。被施加復位信號的一個或多個掃描鏈包括否則會捕獲到未知值的一個或多個掃描鏈。復位信號的施加導致一個或多個但不是所有掃描鏈或是掃描鏈段捕獲到的值成為一單一常量值(比如1或0)。控制哪些掃描鏈或掃描鏈段將被施加復位信號的控制信號可被接收。這些控制信號可供多個額外測試矢量的測試響應重新使用。更進一步，在測試矢量加載到掃描鏈時，針對下一個測試矢量的控制信號可被加載。這里公開的另外一個實施例中，一個或多個計算機可讀介質存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致計算機執(zhí)行一種方法。在某些實現(xiàn)中，該方法包括模擬一測試矢量被加載到被測電^各并由此產生一才莫擬測試響應，從模擬測試響應中識別被測電路中一個或多個捕獲未知狀態(tài)的掃描鏈，生成控制信號以導致一復位使能電路生成復位信號給一個或多個被識別掃描鏈，并存儲控制信號到一個或多個計算機可讀介質上。在這里公開的各種實施例中包括測試矢量生成方法。這些方法可通過，例如，一個或多個計算機可讀介質存有計算機可執(zhí)行指令以導致計算機執(zhí)行一種方法的實施例來實現(xiàn)。在某些實施例中，原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量被決定。該數量通常少于電路設計中可用掃描鏈數量。從目標故障列表中選擇一故障，并生成該故障的測試立方。該測試立方可包括一組指定掃描鏈中的指定比特位。測試立方中指定掃描鏈的數量是否小于原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量的決定被做出。如果測試立方中指定掃描鏈的數量不超過原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，測試立方就被存儲。在某些實現(xiàn)中，該故障是第一故障，如果測試立方中指定掃描鏈的數量超過原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，該測試立方就被拒絕。于是選擇、生成、決定和存儲的行為就會對目標故障列表中第二故障重復進行。在某些實現(xiàn)中，該故障是第一故障，第二故障從目標故障列表中選出。第一故障的測試立方被擴展以包含用于探測第二故障的一個或多個額外的指定比特位。一個或多個額外的指定比特位是否導致擴展測試立方中指定掃描鏈數量超過原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量的決定被做出。如果擴展測試立方中指定掃描鏈數量沒有超過原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，擴展測試立方就被存儲。如果擴展測試立方中指定掃描鏈數量超過原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，擴展測試立方就被拒絕，于是選擇、擴展、決定和存儲的行為就會對目標故障列表中第三故障重復進行。在某些實現(xiàn)中，為了決定原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，用于一測試激勵選擇器的控制器編碼容量被確定。進一步地，原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量可基于一測試激勵選擇器所能獨立控制的最大掃描鏈數量。在某些實現(xiàn)中，原始測試激勵源是一解壓器，其被配置解壓一外部測試儀的壓縮測試矢量。在一些實現(xiàn)中，基于測試立方可生成測試激勵選擇器的控制信號。在測試期間加載含有測試立方的測試矢量時，該控制信號有能力導致測試激勵選擇器施加常量值到未指定掃描鏈上。在其它測試矢量生成方法范例中，可用于觀測故障效應的掃描鏈數量被確定。該數量一般小于電路設計中可用掃描鏈數量。從目標故障列表中選擇一故障，并生成該故障的測試立方。用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量被確定。用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量是否小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量被評估。如果用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，測試立方就被存儲。在某些實現(xiàn)中，該故障是第一故障，如果用于觀察來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，測試立方就被拒絕。于是選擇、生成、決定、評估和存儲的行為就會對目標故障列表中第二故障重復進行。在另外一些實現(xiàn)中，目標故障列表中該故障是目標故障列表中的第一故障，第二故障從目標故障列表中選出。第一故障的測試立方被擴展以包含用于探測第二故障的一個或多個額外的指定比特位。一個或多個額外的指定比特位是否導致用于觀測來自擴展測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過可用于觀測故障效應的掃描鏈數量的決定被做出。如果用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，擴展測試立方就被存儲。如果用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，擴展測試立方就被拒絕。于是選擇、擴展、決定和存儲的行為就會對目標故障列表中第三故障重復進行。在某些實現(xiàn)中，為了決定可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，控制器編碼容量被確定，控制器包括掃描使能電路控制器、時鐘使能電路控制器、復位使22能電路控制器或移位時鐘使能電路控制器。用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量可通過模擬施加測試立方到被測電路上來決定。在某些實現(xiàn)中，原始測試激勵源是一解壓器被配置解壓一外部測試儀的壓縮測試矢量。在一些實現(xiàn)中，基于測試立方可生成掃描使能電路的控制信號。在測試期間加載含有測試立方的測試矢量時，該控制信號有能力導致掃描使能電路抑制來自那些不觀測來自測試立方故障效應的掃描鏈掃描使能信號。在另外一些實現(xiàn)中，基于測試立方可生成時鐘使能電路的控制信號。在測試期間加載含有測試立方的測試矢量時，該控制信號有能力導致時鐘使能電路抑制來自那些不觀測來自測試立方故障效應的掃描鏈時鐘信號。在更進一步的實現(xiàn)中，基于測試立方可生成復位使能電路的控制信號。在測試期間在捕獲含有測試立方測試矢量的測試響應后，該控制信號有能力導致復位使能電路施加復位信號到那些不觀測來自測試立方故障效應的掃描鏈上。在另外一些實現(xiàn)中，基于測試立方可生成移位時鐘使能電路的控制信號。在測試期間在捕獲含有測試立方測試矢量的測試響應后，該控制信號有能力導致移位時鐘使能電路抑制來自那些不觀測來自測試立方故障效應的掃描鏈移位時鐘信號。在某些實現(xiàn)中，原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量也被確定。在這些實現(xiàn)中，原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量基于能夠被一掃描使能電路、一時鐘使能電路、一復位使能電路或一移位時鐘使能電路所能獨力控制的最大掃描鏈數量。可在各種環(huán)境中執(zhí)行任一本公開的實施例，包括一個模擬環(huán)境。進一步地，任一公開的方法可以通過一個或多個計算機可讀介質存有計算機可執(zhí)行指令以導致計算機執(zhí)行一種方法的任一種來實現(xiàn)。計算機環(huán)境中實現(xiàn)的任一本公開方法可由一單獨計算機或通過一網絡來執(zhí)行。進一步地，這里也公開了計算機可讀介質，該介質用于存儲測試矢量、測試矢量值、或由任一公開方法生成的控制數據(或任何其它中間或最終結果)。此外，任何公開的裝置可由一個適當的電子設計自動化("EDA")軟件工具生成并以設計數據方式存儲到一個或多個計算機可讀介質上。例如，任一公開的測試結構可以通過一個HDL文件(如Verilog、VHDL、或寄存器傳輸級文件)、一個門級網表或其它所謂EDA設計文件(例如，一個GDSII文件或Oasis文件)來描述或表現(xiàn)。通過下面的具體描述和參考附圖，前面提到的和本發(fā)明的其它目標、特2征和優(yōu)勢將更加明顯。圖1是一個原理框圖，顯示可以使用本公開技術的實施例的一個測試環(huán)境范例。圖2(a)至2(d)是圖表，顯示在測試電路范例中含有指定比特位的掃描鏈數量的分布，指定比特位用于主要目標轉換故障。圖3(a)至3(d)是圖表，顯示測試電路范例在動態(tài)壓縮后，含有指定比特位掃描鏈的分布。圖4是圖表，顯示測試電路范例的兩種不同測試生成方案其矢量數量增加的比較。其中一個方案使用限定數量的含有指定比特位的掃描鏈，另一方案則沒有限制。圖5(a)至5(d)是圖表，顯示在測試電路范例中，觀測額外檢測到故障的掃描鏈數量。圖6是一個原理框圖，顯示一集成電路包括一可編程測試激勵選擇器的第一實施例。圖7是一個原理框圖，顯示一集成電路包括一可編程測試激勵選擇器的第二實施例。圖8是一個原理框圖，顯示可被運用到圖6或圖7中實施例的一選擇器電路范例。圖9(a)至9(c)是一組原理框圖，顯示可,皮運用到圖6或圖7中實施例的一組選擇器電路范例。圖IO是一個原理框圖，顯示可被運用到圖6或圖7中實施例的一可編程控制器范例。圖ll是一個原理框圖，顯示可被運用到圖10中控制器的一移位寄存器文件范例。圖12是一個原理框圖，顯示用于圖11中移位寄存器文件的一時鐘電路范例。圖13是一個原理框圖，顯示可用于圖10中控制器的一使用映像寄存器的移位寄存器文件范例。圖14(a)-14(b)是一組原理框圖，顯示可用于圖IO中控制器的一組偏置24電路范例。圖15是一個原理框圖，顯示可用于圖10中控制器的一重新可配置偏置電^各范例。圖16是一個原理框圖，顯示可用于圖10中控制器的另一重新可配置偏置電路范例。圖17是一個原理框圖，顯示一含有具有偏置電路的測試激勵控制器的電路范例。圖18是一個原理框圖，顯示一集成電路包括一可編程掃描使能電路的第一實施例。圖19是一個原理框圖，顯示可用于圖18集成電路中的一可編程掃描使能電路范例。圖20是一個原理框圖，顯示可用于圖19中實施例的一掃描使能電路。圖21是一個原理框圖，顯示一集成電路包括一可編程掃描使能電路的第二實施例。該實施例進一步包括一可編程測試激勵選擇器。圖22是一個原理框圖，顯示含有一可編程掃描使能電路和一含有偏置電^^的可編程測試激勵選4奪器的電i各范例。圖23是一個原理框圖，顯示一含有具有偏置電路的可編程掃描使能電路的電路范例。圖24是一個原理框圖，顯示一集成電路包括一可編程時鐘使能電路的第一實施例。圖25是一個原理框圖，顯示了可用于圖24集成電路中的一可編程時鐘使能電路范例。圖26(a)至26(b)是一組原理框圖，顯示可用于圖25中實施例的連接時鐘使能電路輸出和掃描鏈的配置范例。圖27是一個原理框圖，顯示可用于圖25中實施例的一時鐘使能電路范例。圖28(a)至28(b)是一組原理框圖，顯示可用于圖25中實施例的一組時鐘使能電路范例。圖29是一個原理框圖，顯示一含有可編程時鐘使能電路和一可編程測試激勵選擇器的電路范例。圖30是一個原理框圖，顯示一含有可編程時鐘使能電路和一含有一偏置電路的可編程測試激勵選擇器的電路范例。圖31是一個原理框圖，顯示一含有具有偏置電路的可編程時鐘使能電路的電路范例。圖32是一個原理框圖，顯示一集成電路包括一可編程復位/移位時鐘電路的第一實施例。圖33是一個原理框圖，顯示可用于圖32集成電路中的一移位時鐘使能電路范例。圖34是一個原理框圖，顯示可用于圖32集成電路中的一復位時鐘使能電路范例。圖35是一個原理框圖，顯示一含有一可編程時鐘使能電路、一可編程測試激勵選4奪器和一可編程移位/復位時鐘使能電路的電路范例。圖36是一個原理框圖，顯示含有一可編程測試激勵選擇器的一電路范例；該選擇器含有一偏置電路；該電路范例用于分析公開技術的實施例。圖37是一個原理框圖，顯示可用于執(zhí)行或實現(xiàn)任一本公開實施例的第一分布式計算網絡。圖38是一個原理框圖，顯示可用于執(zhí)行或實現(xiàn)任一本公開實施例的第二分布式計算網絡。圖39是一個流程圖，顯示使用一分布式計算機網絡(例如圖37和圖38所示的網絡)執(zhí)行或實現(xiàn)任一本公開實施例的一方法范例。圖40是一個流程圖，顯示一方法范例，該方法選擇性修改加載到一集成電路中掃描鏈上的測試矢量值。圖41是一個流程圖，顯示在測試期間捕獲一測試響應時，選沖奪性施加一掃描使能信號的一方法范例。圖42是一個流程圖，顯示在測試期間捕獲一測試響應時，選擇性抑制時鐘信號的一方法范例。圖43是一個流程圖，顯示在測試期間捕獲一測試響應后，選擇性施加一復位信號到掃描鏈的一方法范例。圖44是一個流程圖，顯示一生成測試立方的測試矢量生成方法范例，這里，一測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量是受約束的。圖45是一個流程圖，顯示一生成測試立方的測試矢量生成方法范例，這里，在測試期間觀測故障效應的掃描鏈數量是受約束的。具體實施方式一、總則本公開的方法、裝置和系統(tǒng)，不應以任何方式被解釋為限定。相反，目前的公開是針對所有新穎的、非顯而易見的特性和各種公開方法、裝置、系統(tǒng)的各個方面，以及其等同的或是獨立、或是相互之間的各種組合與子組合。目前的公開不局限于任何特定的方面或特性或其組合，公開的方法、裝置、和系統(tǒng)也不需要任何一個或多個特定的優(yōu)勢^^示，或某個特定的問題被解決。盡管本公開的一些方法、裝置、和系統(tǒng)的操作以一種特定的、按次序的方式來描述以便于說明，應理解這種描述方式包含了各種組合，除非特定的語句指示特別的次序是必需的。例如，按次序描述的操作在某些情況可以重新安排或以并行方式執(zhí)行。此外為了簡便，附圖可能沒有顯示公開的方法、裝備、和系統(tǒng)可以和其它方法、裝備、和系統(tǒng)之間的各種使用組合。加之，描述中有時使用詞語如"評估"和"決定"來解釋公開的方法。這些詞語是對實際操作的高度概括。針對這些詞語的實際操作可根據特定的實現(xiàn)而不同，并很容易被所屬領域的技術人員理解。公開的裝置可以通過各種基于掃描或是部分掃描的電路來實現(xiàn)(例如，專用集成電路("ASIC")(包括混合信號ASIC)、片上系統(tǒng)("SoC")或可編程邏輯器件("PLD")，如現(xiàn)場可編程門陣列("FPGA"))。這些電路可被使用到各種設備中，從手提式電子產品(如手機、多媒體播放器及類似產品)到大規(guī)模設備(如計算機、控制系統(tǒng)、飛機，汽車、工業(yè)設備及類似產品)。所有這些產品，如果其電路含有一個或多個本公開測試裝置的實施例，均被認為落入本公開的范圍。任一本公開的裝置可被描述或表現(xiàn)為設計數據或設計信息并被存儲于一個或多個計算機可讀介質上。例如，任一公開的測試結構可被描述或表現(xiàn)在一個HDL文件(例如Verilog、VHDL、或寄存器傳輸級文件)、一個門級網表、或是其它EDA設計文件(例如，一個GDSII文件或Oasis文件)。這些設計數據或設計信息可通使用軟件部分或全部創(chuàng)建，這些軟件包括存儲于計算機可讀介質(例如，一個或多個CD、易失存儲元件(如DRAM或SRAM)或非易失存儲元件(如硬盤))的計算機可執(zhí)行指令。任一公開的技術也可通過軟件全部或部分實現(xiàn)，這些軟件包含存儲于計算機可讀介質的計算機可執(zhí)行指令。這些軟件包括，例如，一個適當的電子設計自動化("EDA")軟件工具(例如，一個自動測試矢量生成("ATPG")工具)。這些軟件可執(zhí)行在單個計算機或一個聯(lián)網的計算機上(例如，通過互聯(lián)網、廣域網、局域網、客戶端-服務器網絡、或其它類似網絡)。為清楚起見，只有基于軟件實現(xiàn)的某些選擇在這里描述。此項技術中已知的其它細節(jié)被省略。例如，應了解本公開的技術并不局限于任何特定的計算機語言、程序或計算機。例如，本公開的技術可通過任何可用的商業(yè)計算機執(zhí)行用任何可用的商業(yè)或其它適當的語言編寫的程序來實現(xiàn)。或者，任一公開的方法可通過硬件(如ASIC、PLD、或SoC)來(部分或全部)實現(xiàn)。任一本公開的方法生成的任何數據(例如，中間或最后測試矢量、測試矢量值或控制數據)可通過各種不同的數據結構或格式存儲于計算機可讀介質上(例如，可觸摸計算機可讀介質，比如一個或多個CD,易失存儲元件(如DRAM或SRAM)或非易失存儲元件(如硬盤))。這類數據可通過使用一個本地計算機或通過網絡(例如，通過一個服務器)來創(chuàng)建、更新或存儲。任一本公開的方法也可在一個計算機模擬環(huán)境或其它EDA環(huán)境中執(zhí)行(例如，在一個模擬環(huán)境中，測試矢量被模擬施加到電路模型中)。例如，可以使用可測電路以及關聯(lián)測試硬件的電路設計信息模型(如網表、HDL文件(如Verilog或VHDL文件)、RTL文件、GDSII文件、Oasis文件或類似文件)來執(zhí)行公開的方法，并存儲到計算機可讀介質上。然而為了便于展示，這里的公開有時使用被測電路(包括被測電路的各種元件)和關聯(lián)測試硬件(包括硬件的各種元件)的參考其物理相對物(如掃描鏈、掃描單元、移位寄存器、映像寄存器以及其它類似詞語)來描述。應了解，不論是在具體說明中還是在權利要求中，任何如此的參考不僅涵蓋物理元件，也涵蓋這些元件在模擬、自動測試矢量生成、或其它此類EDA環(huán)境中的表現(xiàn)形式。如同在本公開中所使用的，除非上下文明確指出，單數形式的"一"、"一個"和"這個/該"包含了復數的形式。加之，"包含"與"包括"同義。此外，除非上下文明確指出，"連接"的意思是電氣地或是電磁地相連或連接，并包括通供一個或多個不影響電路操作的媒介物進行直接相連或直接連接、或者間接相連或間接連接。更進一步，如同在此所用，詞語"測試激勵源"是指一測試激勵生成器，其直接或間接提供測試激勵給掃描鏈和最初輸入端。測試激勵生成器可用不同形式來實現(xiàn)。這些形式包括，但不局限于，外部測試設備、加權或非加權偽隨機矢量生成器("PRPG")、含有移相器和/或偏置電路的PRPG、解壓器、產生一個常量邏輯值0的源、和可產生一個常量邏輯值1的源。詞語"解壓器"是指一功能單元用以解壓壓縮的測試激勵，如來自外部測試設備的確定性測試激勵，以輸送到芯片上的被測電路。一個解壓器可以通過各種形式來實現(xiàn)。這些形式包括，但不局限于，廣播電路、有選擇廣播電路、含有或不含有偏置電路的組合電路(包括，但不局限于，基于多路復用器MUX或是基于異或門XOR的組合電路)、含有或不含有移相器和/或偏置邏輯的反饋移位寄存器和/或含有追播(reseeding)的反饋移位寄存器。詞語"測試激勵選擇器"是指一功能單元，其選4奪至少一個測試激勵源(如，從上述多類源中)以輸送到掃描鏈的輸入。詞語"可編程測試激勵選擇器，，是指一功能單元，其可包括，比如，兩個元件一可編程控制器和一測試激勵選擇器?？删幊炭刂破骺梢裕热纾B接到外部測試設備或一內嵌測試生成器，并可配置以接收來自該外部測試設備或該內嵌測試生成器輸出的控制數據。詞語"掃描鏈段"是指掃描鏈中一組連續(xù)相連的掃描單元。詞語"掃描使能者(scanenabler)"或"掃描使能電路"是指一功能單元，其在捕獲窗口期間以移位模式或功能捕獲模式(有時又稱為"正常電路"模式)來配置掃描鏈。詞語"可編程掃描使能者"或"可編程掃描使能電路"是指一功能單元,其可包括，比如，兩個元件一可編程控制器和一掃描^f吏能電路。可編程控制器可連接到外部測試設備或一內嵌測試生成器，并可配置以接收來自該外部測試設備或該內嵌測試生成器輸出的控制數據。詞語"時鐘使能者"或"時鐘使能電路"是指一功能單元，其啟動/制止一組狀態(tài)單元在捕獲窗口中捕獲系統(tǒng)響應。詞語"可編程時鐘使能者，，或"可編程時鐘使能電路"是指一功能單元，其可包括，比如，兩個元件一可編程控制器和一時鐘使能電路?？删幊炭刂破骺蛇B接到外部測試設備或一內嵌測試生成器，并可配置以接收來自該外部測試設備或該內嵌測試生成器輸出的控制數據。詞語"移位時鐘使能者"或"移位時鐘使能電路"是指一功能單元，其29在掃描移位期間啟動/制止一組掃描鏈加載/卸載測試數據。詞語"復位使能者，，或"復位使能電路，，是指一功能單元，其啟動/制止用以復位掃描鏈的掃描單元的復位時鐘或復位信號。詞語"可編程復位/移位使能者，，是指一功能單元，其可包括，比如，三個元件一可編程控制器、一移位時鐘使能電路和一個復位使能電路?？删幊炭刂破骺蛇B接到外部測試設備或一內嵌測試生成器，并可配置以接收來自該外部測試設備或該內嵌測試生成器輸出的控制數據。請注意這些特定的詞語使用不應被解釋為限定，因為這些詞語可能包含所屬領域技術人員理解的、或是由上下文指示的額外特性。二、低功耗測試概述這里公開的技術與低功耗測試的方法和設備有關。該公開的技術有時在嵌入式確定性測試("EDT，，)環(huán)境中討論，但是應了解這里說明的原理不局限于該環(huán)境。比如，這里說明的低功耗測試技術和裝置可以和涉及到對含有指定比特位的測試立方(cube)進行編碼的其它壓縮方案或不使用壓縮硬件的測試方案一起使用。圖1顯示了一測試環(huán)境范例100，圖中壓縮測試激勵112被輸送到內嵌在被測電路110上的解壓器118。該實施例展示了一個典型的EDT環(huán)境，即壓縮測試激勵由外部的自動測試設備("ATE")114提供給被測電路110。測試激勵被解壓并以測試矢量形式施加到掃描鏈120。掃描鏈的輸出通過一壓縮裝置122纟皮壓縮，并以壓縮測試響應124輸送到ATE114以作分析?？蛇m用于本公開技術的EDT解壓器118和EDT環(huán)境范例的例子在以下文獻說明，比如，美國專利號6,327,687;6,353,842;6,557,129;6,684,358;6，874，109;以及美國專利申請公開號2003/0120988,所有這些作為引用在此納入。確定性測試矢量通常只有一小部分比特位被指定。剩下的位可以隨機地填入0和1，或以其它方式填入，一般不會影響測試覆蓋率。而且，大量的實驗證據表明，指定比特位的位置普遍只界定于一些掃描鏈上。為了闡明這一現(xiàn)象，考慮使用EDT技術的四個工業(yè)設計中收集的數據。表l列出這些示范設計的參數。圖2(a)-2(d)中圖表200、202、204、206顯示了在電路C1至C4中，針對所有主要目標轉換故障，含有指定比特位的掃描鏈數量的分布情況。注意含有指定比特位的掃描鏈的數量是在動態(tài)壓縮前計算的?？梢钥吹?，大多數測試立方在少于20%的掃描鏈中有指定比特位，沒有測試立方在超過50%的掃描鏈中有指定比特位(<table>tableseeoriginaldocumentpage31</column></row><table>表l:所者慮電路的參數特性在測試生成期間通常使用動態(tài)壓縮以降低矢量數量。從對于一主要目標故障產生的測試立方開始，動態(tài)壓縮通過賦予適當的值給未指定位，擴展該測試立方以覆蓋更多的故障。其結果是，隨著動態(tài)壓縮過程的進行，含有指定比特位的掃描鏈數量逐步增加。在測試應用期間可以利用沒有指定比特位的掃描鏈以減少反轉次數，為了利用沒有指定比特位的掃描鏈，人們期望最大化這種掃描鏈的數量，同時在動態(tài)壓縮期間最小化對矢量數量的影響。為了分析在含有動態(tài)壓縮的測試生成期間，矢量數量和含有指定比特位的掃描鏈數量之間的關系，人們可以限制含有指定比特位的掃描鏈數量。例如，根據一個實施例，只有在一測試立方含有少于指定數量(如20%)的含有指定比特位掃描鏈時，動態(tài)壓縮才可執(zhí)行；同時，在不含有指定比特位的掃描鏈中，掃描鏈總量的某個指定數量(如50%)可被隨機選擇，這些掃描鏈的掃描單元可用一常量值來填充。對剩下的未指定比特位，其邏輯值可由解壓器來決定。圖3(a)-3(d)中圖表300，302,303，304顯示了在動態(tài)壓縮后，電路C1至C4含有指定比特位的掃描鏈分布情況?？梢钥吹?，大多數測試立方在少于20%的掃描鏈中有指定比特位。而且，通過限定動態(tài)壓縮只在含有指定比特位的掃描鏈數量處于較低(如20%)水平時進行，采用該范例技術對矢量數量的影響是適度的。比如，圖4中圖表400顯示了與一個測試生成方案相比，電路C1至C4矢量數量增加的情況；被比較方案就掃描鏈是否含有指定比特位而言是沒有限制的。圖表400是使用一個常規(guī)的EDT環(huán)境(比如，如圖1所示)作為實驗平臺。而且，采用這一新的測試生成技術并沒有引起故障覆蓋率損失的報告?？沙浞掷蒙鲜鲇^察，從測試數據解壓器直接輸送指定比特位給掃描鏈，同時使用常量值替換剩下掃描鏈中的"不在乎"比特位。如同以下段落所述，在移位掃入數據期間，這種方式可極大地減少轉換(電路切換)的數量。除了從測試激勵角度來看切換動作可以降低外，還可以分析用于觀測前次施加的測試矢量沒有探測到之故障的故障效應的掃描鏈數量。圖5(a)-5(d)中圖表500，502,504，506顯示了電路C1匿C4中，觀測額外檢測到故障的掃描鏈數量分布情況。例子中施加的測試矢量在生成時，掃描鏈總量的50%由一解壓器驅動，剩下的掃描鏈由常量0驅動。在故障模擬期間，例子中的所有掃描鏈均用作觀測點。可以看出，大部分掃描鏈沒有觀測到額外探測到的故障。人們可以利用這個觀察數據，在捕獲階段通過阻止捕獲新數據/不同數據到掃描單元，降低掃描移位階段和捕獲階段的切換動作。在任何可能的時候，減少未知值對測試響應壓縮的影響也是所期望的。以下段落介紹達到一個或多個這些目標的范例技術。下面說明的技術更包括執(zhí)行所說明技術的硬件結構范例。盡管只顯示了有特定代表性的硬件結構實現(xiàn)方法，基于所說明原理的各種其它安排方法也是可能的(例如，使用其它邏輯或重新編排邏輯次序從而充分獲得相同的功能)。所有這些不同的安排方法和它們的等同方式均可認為落入本^Hf的范圍。三、低功耗加載搡作掃描結構通常有一單獨測試激勵源。因此，下面公開的實施例只包含單一原始測試激勵源。但是，所描述的低功耗技術可很容易地擴展到其它具有多個測試激勵源的基于掃描的結構上。A.可編程測試激勵選擇器的結構范例為減少在掃描移位期間的切換動作，從而降低功率消耗，一個或多個可編程選擇器邏輯上可以置放在一測試激勵源和掃描鏈輸入之間。圖6的原理框圖顯示了一個通用版本，一可編程選擇器650被置放在測試激勵源610(包含一原始激勵源、一與原始激勵源連接的加權電路、一個邏輯0源和一個邏輯i源)和掃描鏈I20a、120b、120N的掃描鏈輸入122a、122b、122N之間。示范的可編程選擇器650可包括一個或多個測試激勵選"t奪器652和一個或多個可編程控制器660。單個的測試激勵選4奪器可以，例如，和超過一個的掃描鏈輸入相連。更進一步，可編程選4奪器650可由，例如，多個測試數據源驅動。比如在所顯示的實施例中，四種測試數據可成為測試激勵被偏置電路偏置的原始測試激勵、未被偏置電路偏置的原始測試激勵、常量值0或常量值1。使用可編程選擇器650的一測試應用范例方法包括加載測試激勵的控制數據到可編程控制器；提供來自原始測試激勵源的測試激勵；移入測試激勵至掃描鏈；在每個掃描移位周期，使用可編程控制器決定通過測試激勵選擇器的源；施加捕獲時鐘；和從掃描鏈上卸載測試響應。掃描移位期間產生的切換動作可通過以下方式來降低，即在掃描鏈加載期間，減少在連續(xù)掃描單元中發(fā)生的反轉數量。執(zhí)行一個或多個以下動作可達到數量減少的目的加載一常量0或1至一組掃描鏈；加載常量0或1至一個或多個掃描鏈段；或在原始測試激勵源驅動掃描鏈時，利用一加權電路增加連續(xù)掃描單元接收相同邏輯值的機率。在一個實例中該可編程控制器提高了在掃描移位操作期間選擇一測試激勵源的靈活性，同時降低硬件開銷和每個測試矢量額外的測試數據容量。圖40的流程圖顯示了一個方法范例，即通過使用，例如，一可編程測試激勵選擇器選擇性修改測試矢量值。在4010，在m條路徑上接收到用于測試一集成電路的原始測試矢量值。該原始測試矢量值可從，比如，一解壓器處接收。在4012,m中至少n條路徑上的測試矢量值被選擇修改，其中n小于m，其目的是使n條路徑上的測試矢量值成為至少兩個相鄰常量值。在4014，測試矢量值輸出到m條掃描鏈輸入路徑。這些測試矢量值包含至少兩個相鄰常量值在m中n條掃描鏈輸入路徑上。在某些實現(xiàn)中，指示m條輸入路徑中哪些被修改的控制數據被接收。多個額外的測試矢量可重復使用該控制數據。輸出的測試矢量值可包含用于檢測集成電路中一個或多個故障的原始測試矢量所有指定比特位。更進一步，在某些實現(xiàn)中，這些測試矢量值可在4012處被修改以響應施加到邏輯門的控制信號，這些邏輯門被配置用于生成至少兩個相鄰常量值。1,測試激勵選擇器范例一測試激勵選擇器可包括一組具有相同或不同功能的選擇器。圖7的原理框圖顯示了可被用作圖6中可編程測試激勵選^f器650的一可編程測試激勵選擇器750，其包括多個選擇器，每個選擇器連接一個或多個掃描鏈。比如，如圖7所示，一選擇器可驅動一單獨給定的掃描鏈(例如，所示選擇器754驅動掃描鏈120N)或可驅動由兩個或更多掃描鏈組成的一組掃描鏈(例如，所示選擇器752驅動掃描鏈120a，120b)。圖8的原理框圖顯示了一選擇器范例，該選擇器有兩個或更多個輸入和一個輸出。所顯示的選擇器800可被用作，例如，圖7中所示的選擇器752，754的其中之一。該選4奪器的每個輸入可由多個測試激勵源810中任意一個被選中的測試激勵源來驅動。在圖8中，該測試激勵源可包括任意數量的測試激勵源，并在這里表述為測試激勵源810a到測試激勵源810N。在這個例子中選擇器800的其它輸入連接到可編程控制器860,并被用來控制測試源810a至810N中哪個被輸出到選擇器800的輸出。根據可用的測試源種類，選擇器的實現(xiàn)可以被優(yōu)化以降低其面積開銷。比如在圖8中，選擇器800用一多路復用器802來實現(xiàn)。圖9(a)至9(c)顯示了其它可被用作測試激勵選擇器電路的選擇器范例。特別地，圖9(a)至9(c)顯示了三個選擇器900，902,904。選擇器900連接到一原始激勵源910并由可編程控制器920來控制，通過使用與門930和或門940輸出來自原始激勵源910的輸出值、或一邏輯0或一邏輯1。選擇器902連接到原始激勵源910并由可編程控制器922來控制，通過使用或門942輸出來自原始激勵源910的輸出值或一邏輯1。選擇器904連接到原始激勵源910并由可編程控制器924來控制，通過使用與門952輸出來自原始激勵源910的輸出值或一邏輯0。表2詳細列出了使用圖9(a)至9(c)實施例的編碼方式，該編碼用于選4奪加載到掃描鏈輸入的數值。<table>tableseeoriginaldocumentpage34</column></row><table>表2:控制信號的編碼2.可編程控制器范例圖6所示的結構范例中，可編程控制器660可以從，例如，一外部測試儀、一內嵌測試生成器、或一內嵌ROM接收控制數據。一般而言，控制器660在每個掃描移入周期期間負責提供選擇一測試激勵源的信號。根據一個實施例，一可編程控制器被期望表現(xiàn)出兩個屬性獨立控制每個可用選擇器電路；及以基于周期的方式選擇一測試激勵源。在另外的實施例中，該可編程控制器被配置以逐一掃描鏈段或逐一測試矢量方式來選擇測試激勵源。圖10的原理框圖顯示了可編程控制器660的一實現(xiàn)范例。所顯示控制器1000包括一移位寄存器文件1010、一異或網絡1020和一可選的配置電路1030。移位寄存器文件1010(代表兩個或更多移位寄存器的安置方式)存儲壓縮的控制數據。壓縮的控制數據可由，例如，一外部測試儀、一內嵌測試生成器或一內嵌ROM來提供。該數據由異或網絡1020進行解壓，并在驅動測試激勵選擇器之前通過偏置電路1030。圖11顯示了移位寄存器文件1010的實現(xiàn)范例1100。所顯示的移位寄存器文件1100包括N個移位寄存器(這個例子中，從1110a到1110N)并利用一名為Register_Shift—Clock的時鐘信號1120將控制數據移至其每個狀態(tài)單元(例如，移位寄存器的觸發(fā)器)。盡管這里沒有顯示出，寄存器文件1100中的寄存器之間可以串聯(lián)方式相互連接以便在響應移位時鐘時，控制可序列移入寄存器文件。另一種方法是，寄存器文件中每個寄存器可通過其專用輸入加載數據。在所顯示的實施例中，每個寄存器文件均包含控制數據用以在掃描移位操:作期間，為一掃描鏈段選擇一不同測試激勵源。如圖ll顯示，N個移位寄存器可組成N級寄存器管道。一管道時鐘信號(Pipeline—Shift—Clock)1130由一管道移位時鐘生成器1132生成。該實現(xiàn)方法容許在掃描移位搡作期間動態(tài)更改測試矢量多至N次。在一些實現(xiàn)中，為每個掃描鏈的測試源在整個掃描移位操作期間是固定的。在這些實現(xiàn)中，只使用一個移位寄存器是可能的，因為沒有必要包含一個管道移位時鐘生成器。圖12顯示了可用于圖11中生成器1132的一個管道移位時鐘生成器的實現(xiàn)范例1200，所示范例中電路1200包括連接到名為Shift—Clock的信號線1212的一計數器1210。計數器1210的一輸出連接到時鐘使能電路1230。時鐘使能電路1230每k個周期輸出一個l(或其它適用值)來移位管道寄存器文件。所顯示的時鐘門控邏輯1240的形式是一個無毛刺型設計，并包括一鎖存器1242和一與門1244。Shift—Clock信號線1212可由一外部測試儀直接控制。對于這種情況，管道移位時鐘生成器沒有額外硬件開銷。在一些情況下，Shift—Clock信號可以是Register—Shift—Clock信號。如圖13所示，為了減少測試施加時間，實現(xiàn)移位寄存器文件1300時可使用一映像寄存器文件1310。例如，在通過映像寄存器文件1310加載測試矢量^到掃描鏈時，測試矢量^的控制數據可并行移入移位寄存器文件1300。在加載測試矢量^前，為了在一個時鐘周期內把控制信號從移位寄存器文件1300移到映像寄存器文件1310,L^fete一C7coH言號1322(也稱為Coj^—C/ocA:信號)可被激活。然后在加載測試矢量/,時，映像寄存器文件1310中的控制數據可用來選擇測試激勵源。圖13顯示結構使用N個移位寄存器和N個映像寄存器以支持在掃描移位期間更改控制數據N次。為減少面積開銷，圖13中寄存器可用一單獨移位寄存器和一單獨映像寄存器來取代。在這個例子中，為了在掃描移位期間更改控制數據N次，一個控制過程可被執(zhí)行。下面描述一個適用的控制過程例子。為了這個例子，設定&是被加載到第i個掃描段的掃描單元數量，這里ie[l，7V]并且l;s,等于掃描鏈長度。此外，設定掃描段&是最接近掃描輸出管腳的掃描段，5V是最接近掃描輸入管腳的掃描段。最后，設定￡是移位寄存器的長度。表3的偽代碼詳盡解釋了示范控制過程。36<table>tableseeoriginaldocumentpage37</column></row><table>表3:使用映像寄存器在結構中控制移位的偽代碼范例請注意，取決于實現(xiàn)方法，該過程的方法操作可單獨執(zhí)行，或以各種彼此的組合和子組合方式執(zhí)行。圖10中示范控制器1000的異或網絡1020可以設計成為一個N-輸入，M-輸出的線性映射電路,這里N是控制比特位數量，M是偏置電路輸入數量。換句話說，該模塊的每個輸出可以通過如下方式獲得由一個b-項多項式指定某些控制比特位，這些比特位再進行異或操作?？蓪Ξ惢蚓W絡1020以獲得高編碼效率的方式進行配置(例如，已成功編碼的預指定輸出信號對控制比特位數量的比例接近100%)。而且，應理解異或網絡可以用其它種類的邏輯門(例如，同或門或者其它類似線性邏輯門)來實現(xiàn)?？衫靡黄秒娐?比如圖10中偏置電路1030)來增加在異或網絡1020的一個或多個各自的輸出產生二進制0或1的機率。例如，假設偏置電路的每個輸入基本上看到均分的零和一，由一個兩輸入與(或)門實現(xiàn)的偏置電路增加含有值0(1)的機率到75%，同時降低含有值1(0)的機率至25%。圖14(a)和14(b)分別顯示了兩個偏置電^^實現(xiàn)的范例1400,1450。圖14(a)中偏置電路1400被配置提供三個測試激勵源。例如，使用所顯示的偏置電路1400，選擇一原始測試激勵源1410、或選擇常量值0或選4奪常量值1的機率分別是12.5%、37.5%和50%。圖14(b)中偏置電路1450被配置提供兩個測試激勵源。例如，使用所顯示的偏置電路1450,選擇一原始測試激勵源1410或選擇常量值0的機率分別是25%和75%。解壓器驅動的掃描鏈的比例，可通過圖14(a)所示方法來修改，其中該方法在異或網絡的輸出上增加更多的與門輸入。例如，3-輸入與門的增加降4氐該比例至6.25%，同時得到常量值0的掃描鏈數量由此而增加。應理解，根據所期望的選擇各種測試激勵源的機率，和通過使用不同的邏輯門組合，可以生成各種不同的偏置電路。這些變化可被所屬領域的技術人員所理解，沒有必要在這里詳述。當原始激勵測試源是一解壓器時，解壓器驅動的掃描鏈具體數量可取決于可編程控制器的編碼能力。因為編碼過程等同于解決一組線性方程(例如，見美國專利號6,327,687),按平均數計算，設定異或網絡1020的一個輸出信號至一個預指定值需要一個控制比特位(例如，一個變量)。由此，對圖14(a)中的偏置電路1400而言，為了用指定的比特位驅動相應的掃描鏈，一般需要解決三個方程式(一個方程式用于一個門控信號)。然而，如果一個掃描鏈包含單值的指定比特位，掃描鏈就可以用匹配的常值來驅動。對這種情況，使用少于三個方程式(例如，只有一個)來編碼控制比特位通常是可能的。例如，如果需要的常值等于l，為異或網絡1020使用代表驅動或門1422的門控信號并被設定為0的一個方程式是足夠的(因為反相器1420變換0至1，從而導致或門1422只輸出1)。如果指定比特位都是O，那么驅動或門1422的信號可設定為1。但這還沒有強加一個常量O在掃描鏈上，因為與門1424必須也有一個O輸入。然而，為了維持編碼容量，人們可以選擇不使用另外一個方程式。在這種狀況下，兩種方案成為可能驅動與門1424的信號設置為O并且掃描鏈接收常量0,或者解壓器用與指定0保持一致的測試數據輸送給掃描鏈。在掃入移位期間，為了增強偏置電路的能力以減少切換動作，偏置電路(比如圖10所示偏置電路1030)可被設計為一個重復可配置器件。圖15顯示了一重復可配置偏置電路范例1500。該例子包括一組偏置電^各1510a至1510N,每個偏置電路選擇測試激勵源的機率是不一樣的。一可編程控制器1520用于選擇1510a-1510N中的一個偏置電路?？梢允褂茫热?，一外部測試儀、或一內嵌測試生成器或一內嵌ROM加載控制數據到可編程控制器1520。根據實現(xiàn)的方法，圖15中重復可配置偏置電路1500可被用于兩種才莫式(l)在整個掃描移位期間，所選擇的偏置電路1510a-1510N保持不變；(2)在掃描移位期間，為不同的掃描鏈段選擇各種不同的偏置電路1510a-1510N?？删幊炭刂破?520的結構可以和前面討論的其它可編程控制器結構相同，并用于控制測試激勵選擇器652。圖16顯示了另一種重復可配置偏置電路1600。在該實現(xiàn)中，選擇原始測試激勵或常值0的幾率是50%，前提是加載到映像數據觸發(fā)器1610("DFF，)的控制數據等于l。另一方面，如果加載到映像數據觸發(fā)器1610的控制數據設為0,那么選擇原始測試激勵源或常值0的幾率分別是25%和75%。B.含有可編程控制器之結構的低功耗測試生成在自動測試矢量生成("ATPG，，)期間，測試生成過程可被調整以考慮一可編程控制器的存在(例如，考慮可編程控制器的面積限制)。圖17是一個原理框圖，顯示了使用ATPG過程的一個結構范例1700。為了圖17的例子，假設使用一解壓器1710(例如，一個EDT解壓器)來實現(xiàn)測試激勵選擇器。在所顯示的實施例中有兩種測試激勵源一個解壓器1710和一個常量0。在該例子中，控制器1720生成常量0，控制器包括一與門偏置電路1730、一異或網絡1740、一映像寄存器1750和一移位寄存器1760。在一個掃描加載操作期間，驅動掃描鏈的測試激勵源類型可以保持不變。例如，以這樣的方式設計異或網絡1740:加載全是1的矢量到映像寄存器1750將導致解壓器1710驅動所有掃描鏈。下面的偽代碼詳細解釋了為圖17所示結構生成測試矢量的一個過程范例。請注意，該過程可以很容易地擴展到其它使用其它解壓硬件和/或其它可編程測試選^^器的結構上。<table>tableseeoriginaldocumentpage40</column></row><table>i.根據控制數據賦給C中未指定比特位的測試源來填充這些比特位以生成一個新的測試矢量t。j.故障模擬f并且從F中去除;險測到的故障。k.才巴r加到測試組r。5.返回生成的測^式纟且r。表4:使用圖17測試激勵選擇器的生成測試矢量的偽代碼范例請注意，取決于實現(xiàn)方法，該過程范例的方法操作可以單獨方式執(zhí)行，或以不同的彼此組合或子組合方式執(zhí)行。表4詳細描述的過程范例中包括一個額外;險查的步驟(例如，在操作4(g)(v)前)來核實用于測試選擇器1740的控制數據是否可被生成，以便所有含指定比特位的掃描鏈可以由解壓器來驅動。如果不能為測試立方Cg生成控制數據，控制數據可被丟棄，原來的測試立方可保持不變。此外，如果一個掃描鏈中只有所指定的比特位是O,那么，在該例子中，沒有必要把該鏈計入S。圖44是一個流程圖，顯示了基于公開技術的測試矢量生成的另外一個范例。在4410，由一原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量被決定。該數量一般小于一電路設計中可用的掃描鏈數量。在某些實現(xiàn)中，原始測試激勵源是一解壓器，被配置解壓一來自外部測試儀的壓縮的測試矢量。在一些實現(xiàn)中，用于測試激勵選擇器的控制器的編碼容量用于決定一原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量。例如，原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量可以基于一測試激勵選擇器所能獨立控制的掃描鏈最大數量。在4412,—故障從一目標故障列表中選出。在4414，為該故障的一測試立方被生成。該測試立方包括一組指定掃描鏈中的指定比特位。在4416,測試立方中指定掃描鏈的數量是否小于原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量的決定被做出。如果測試立方中指定掃描鏈的數量不超過原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，測試立方就被存儲，并且在4418—額外故障^皮^v故障列表中選出。否則，在4424，測試立方被拒絕，如果故障列表中還有其它故障(在4432中決定)，該方法自目標故障列表中的下一故障繼續(xù)下去。在4420，為第一故障的測試立方被擴展包含用于探測第二故障的一個或多個額外指定比特位。在4422,—個或多個額外的指定比特位是否導致擴展測試立方中指定掃描鏈的數量超過了原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量的決定被做出。如果擴展測試立方中指定掃描鏈的數量沒有超過原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，擴展測試立方就被存儲，并且如果還有額外的故障(在4428中決定)，這個選擇額外故障和擴展測試立方以包括額外故障的過程就被重復。如果擴展測試立方中指定掃描鏈的數量超過了原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，在4426,擴展測試立方就被拒絕，并且如果目標故障列表中還有額外故障，關于下一個故障的選擇、擴展、決定和存儲的行為就被重復。在一些實現(xiàn)中，基于已存儲測試立方可為測試激勵選擇器生成控制信號。在測試期間加載含有測試立方的測試矢量時，該控制信號有能力導致測試激勵選擇器施加常量值到未指定掃描鏈上。C.控制lt據量降低當生成測試矢量時，有可能讓不同的測試矢量共享相同的控制數據，以便為多個測試矢量只加載一次控制數據到可編程控制器中。在這種例子中，例如，只有唯一的控制數據可被存儲到外部測試儀中。為了最大化不同測試矢量共享控制數據，表4中所述操作4(h)可被增強以給那些滿足當前要求并用于多個測試矢量的控制數據以優(yōu)先權。選擇來自常量測試激勵源并加載到掃描鏈的不同常量邏輯值在捕獲階段可對切換動作有不同的影響。首選的填充方式(在美國專利申請公開號2007/0250749中描述的實施例，這里加以引用并入)可以和本公開的4支術實施例一起使用。這些方式使用信號概率在測試矢量生成期間幫助決定在捕獲階段期間減少切換行為的填充值。這些策略可與本公開技術一起使用，例如，以這樣的方式選擇常量測試激勵源任何時候當含有首選值0的掃描單元數量大于或等于含有首選值1的掃描單元數量時，常量0被選中。注意"掃描單元數量"這里是針對所有含有相同測試源的掃描鏈、或一組共享相同測試源的掃描鏈，或一單獨被其本身測試源驅動的掃描鏈。四、低功耗捕獲和具有掃描使能者的掃描移位操作在測試中的掃描移位階段，通過把常量邏輯值移入一組掃描鏈可減少切換動作。在掃描移位期間切換動作也取決于在測試期間捕獲的測試響應值和新測試矢量移入時移出的測試響應^i。在捕獲窗口期間，如果載有常值的掃描鏈在掃描移位模式時被保持，那么掃入移位功率和掃出移位功率均可降低。這是因為在掃描移位模式時被保持的掃描單元的捕獲值將和載入值相同。因此，在捕獲窗口期間和在卸載測試響應期間，這些值不產生造成后端門電路反轉的轉換。即使掃描鏈沒有被設計成在掃描模式被啟動時高速運行，在捕獲窗口期間運行于移位模式的掃描單元的邏輯值在此時間段通常也不會成為未知，因為掃描單元的數據輸入值是不會改變的。A.可編程掃描使能者的結構范例圖18顯示了一測試結構范例1800含有一可編程掃描使能者。特別地，圖18顯示了一可編程掃描使能者1810插入于Global—Scan—Enable信號線1812和掃描鏈的掃描使能輸入1814之間。掃描使能者1810可包括(或由)兩個元件(組成)一掃描使能電^各1820和一可編程控制器1830。一個使用可編程掃描使能者1810的測試應用過程包括為測試矢量t加載控制信號至可編程測試激勵選擇器和可編程掃描使能者；強制(assert)Global—Scan—Enable信號以切換電路至一移位才莫式；移位測試激勵t至掃描鏈；取消(de-assert)Global—Scan—Enable信號以切換電路至一捕獲才莫式；選擇性強制一掃描使能信號至一個或多個被選擇的掃描鏈；施加捕獲信號；和強制Global—Scan—Enable信號以切換電路至移位模式并從掃描鏈上卸載測試響應。圖41是一個流程圖，顯示了在測試期間施加掃描使能信號至一電路的一個實施例。在4110,當加載來自一解壓器的一解壓測試矢量到掃描鏈時，一掃描使能信號被施加到一被測電路的掃描鏈。該掃描使能信號導致掃描鏈以一個或多個移位寄存器的形式操作。在4412，在從剩下的、沒有施加掃描使能信號的掃描鏈上捕獲解壓掃描矢量所激活的測試響應時，將掃描使能信號施加到一個或多個掃描鏈。在一些實現(xiàn)中，故施加掃描^f吏能信號的一個或多個掃描鏈包括否則會捕獲到未知值的一個或多個掃描鏈。在解壓測試矢量的測試響應被捕獲時，控制哪些掃描鏈將被施加掃描使能信號的控制信號被接收。在多個額外解壓測試矢量加載到掃描鏈時，這些控制信號可被再使用。更進一步，在加載測試矢量到掃描鏈時，用于下一個測試矢量的控制信號可被力口載。B.掃描使能電路范例圖18中掃描使能電路1820可用各種方法實現(xiàn)。圖19顯示了掃描使能電路1900的一個范例。特別地，掃描使能電路1900包括多個掃描使能者(圖19中，其中兩個標注為1910和1912)。如圖19所示，一個掃描^f吏能者可驅動一個單獨掃描鏈的掃描使能輸入(如掃描使能者1912)或兩個或更多掃描鏈的掃描使能輸入(如掃描使能者1910)。掃描使能者的功能是以這樣的方式處理Global—Scan_Enable信號當該信號被取消時，掃描使能者輸出到一個或多個掃描鏈的獨自掃描使能信號由可編程控制器1930控制。掃描使能者(如1910)的一個形式的實現(xiàn)范例如圖20中的掃描使能者2000。C.掃描使能可編程控制器掃描使能可編程控制器(例如，圖18中的可編程控制器1830)的結構可與此前描述的選擇測試激勵源的控制器相同。除了一個可編程掃描使能控制器外，為測試激勵選4奪使用一獨立的可編程控制器，可為一組載有一常量值的掃描鏈靈活控制掃描使能信號。然而，既為測試激勵選4奪使用一可編程控制器，也使用可編程掃描使能控制器會增加測試數據容量，并增加額外面積開銷。所以，在某些實現(xiàn)中，可編程測試激勵選擇器和可編程掃描使能者共享一個可編程控制器。圖21顯示了含有一個共享控制器的一結構范例。特別地，圖21顯示了在結構2100中，一共享控制器2110用于控制測試激勵選擇器2120和掃描使能電路2130。此前介紹的任一控制器設計可用于實現(xiàn)控制器2110。一個含有可編程掃描使能者的基于掃描的結構，其測試生成過程可與前述測試生成過程類似。為了說明的目的，一個測試生成過程的范例將用于描述圖22所示的掃描結構。在相關部分，圖22中結構范例2200包含用于控制一測試激勵選^^器2222和一掃描使能者2224的單一可編程控制器2210。這里描述的過程范例可被擴展至含有一可編程測試激勵選擇器和一可編程掃描使能者的其它掃描結構上。圖22中顯示了兩種測試激勵源解壓器2220和常值0源(用測試激勵選擇器2222中的與門實現(xiàn))。在該例子中，在掃描加載過程期間輸送至掃描鏈的測試激勵種類保持不變。而且，如所示實施例，當常值O驅動一掃描鏈時，掃描鏈的Scan—Enable信號被強制。Scan—Enable信號不僅可在測試掃描移位階段被施加，也可在捕獲階段被施加，以便掃描鏈保持載入的常值0。異或(XOR)網絡2230可以用這樣的方式來設計，當控制映像寄存器2240被載入全是1的矢量時，所有掃描鏈由解壓器2220驅動。表5的偽代碼描述了使用包含一個測試激勵選擇器和一個掃描使能者的測試結構生成測試矢量的一個過程。過程范例舍才豸試;^^遂脊器和在潛炎然者的^試^:4<table>tableseeoriginaldocumentpage45</column></row><table>iv.如果通過擴展Cg不能檢測到故障g，回到步驟4(g)并繼續(xù)。V.如果Cg中含有指定比特位并/或用于觀測g故障和C所針對及探測到所有故障之故障效應的掃描鏈數量大于S，回到步驟4(g)并繼續(xù)。vi.從F中去除g。h.生成加載到可編程控制器的控制數據以便對含有指定比特位并/或用于觀測C所針對及探測到之故障的故障效應的掃描鏈，其相應的門控信號設定為1;對剩下的掃描鏈，其相應的門控信號進行設定以便這些掃描鏈被常量0驅動，并且在捕獲期間保持移位模式。i.根據控制數據賦給C中未指定比特位的測試源來填充這些比特位以生成一個新的測試矢量f。j.故障模擬f并且從F中去除檢測到的故障。k.把t加到測試組r。5.返回生成的測試組r。表5:利用圖22中測試激勵選擇器和掃描使能電路生成測試矢量的偽代碼范例請注意，取決于實現(xiàn)方法，該過程范例的方法操作可以單獨方式執(zhí)行，或以不同的彼此組合或子組合方式執(zhí)行。表5詳細描述的過程范例中包括一個步驟(例如，在操作4(g)(vi)前)來核實用于測試選擇器的控制數據是否可被生成，以便所有含指定比特位的掃描鏈可以由解壓器來驅動。如果不能為測試立方Cg生成控制數據，控制數據可被丟棄，原來的測試立方可保持不變。此外，如果一個掃描鏈中只有所指定的比特位是O,并且不用作觀測任何故障效應，那么，在該例子中，沒有必要4巴該4連計入S。此外，盡管表5列出的過程關心在含有測試激勵選擇器和掃描使能電路的結構中生成控制信號，對只含有掃描使能電路的結構這個過程可被修改。例如，變量S可被設定為只用于觀測故障效應的掃描鏈數量，并且在4(g)(v)做46出的評估可基于在擴展測試立方中用于觀測故障的比特位數量。圖45是一個流程圖，顯示了含有一個掃描使能電路的結構生成測試矢量的過程范例。在4510，可用于觀測故障效應的掃描鏈數量被決定，該數量一般小于電路設計中可用的掃描鏈數量。在某些實現(xiàn)中，一掃描使能電路的控制器的編碼容量被用于決定可用于觀測故障效應的掃描鏈數量。(當該測試矢量生成過程和下面描述的某些實施例一起使用時，可用于觀測故障效應的掃描鏈數量可決定于一時鐘使能電路控制器的編碼容量、一復位使能電路控制器的編碼容量或一移位時鐘使能電路控制器的編碼容量。)在4512，一故障從一目標故障列表中選出。在4514,為該故障的一測試立方^皮生成，用于觀測來自測試立方故障效應的掃描鏈數量被決定(例如，使用故障模擬)。在4516,用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量是否小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量的評估被做出。如果用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，測試立方就被存儲，并且在4518一個額外故障被從故障列表中選出。如果用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過了可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，那么在4524測試立方被拒絕，并且如果故障列表中還有額外故障(在4532決定)，該過程就被重復。在4518，為第一故障的測試立方被擴展包含用于探測第二故障的一個或多個額外指定比特位。在4522，一個或多個額外的指定比特位是否導致用于觀測來自擴展測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過了可用于觀測故障效應的掃描鏈數量的決定被做出。如果用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，擴展測試立方就被存儲，并且如果故障列表中還有額外故障(在4528決定)，選擇額外的故障并擴展測試立方(如果可能)的過程就被重復。如果用于觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過了可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，在4526,皮擴展的測試立方^皮拒絕，并且如果故障列表中還有額外故障(在4528決定)，選擇額外的故障并擴展掃描立方(如果可能)的過程就被重復?；跍y試立方可為掃描使能電路生成控制信號。在測試過程期間當含有測試立方的測試矢量被施加時，該控制信號有能力導致掃描使能電路抑制來自那些不觀測來自測試立方故障效應的掃描鏈的掃描使能信號。如表5所示，測試矢量生成方法實施例也可用于那些包含一掃描使能電路和一可編程測試激勵源的結構中。在這些例子中，一測試立方或擴展測試立方是否可被接受的決定也涉及決定測試立方中指定掃描鏈的數量是否小于原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量。原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量可基于，例如，一掃描使能電路所能獨立控制的最大掃描鏈數量。D.未知狀態(tài)抑制未知狀態(tài)(有時稱作"x狀態(tài)")可潛在導致無用的測試。x狀態(tài)源包括沒有初始化的存儲單元、總線竟爭、非掃描觸發(fā)器、懸浮總線、內部三態(tài)邏輯和生成高速測試時的多周期與假路徑。在許多基于掃描的設計中，X狀態(tài)一旦被捕獲進掃描單元，隨后就會被插入到測試響應壓縮器中。在測試響應壓縮器里，X狀態(tài)可嚴重影響測試結果。如果使用了一個時序壓縮器，由X狀態(tài)造成的潛在測試響應損壞尤其嚴重。例如，在時序壓縮器里，由于反饋扇出、損壞信號、并滯留在壓縮器里直到信號被讀出，一個X狀態(tài)可以迅速成倍增加。相比之下，組合壓縮器(即空間壓縮器的一種形式)相對地不受X狀態(tài)的影響。然而，為了避免掩碼和允許診斷，這種壓縮器有時不得不觀測每個掃描鏈的兩個或以上輸出。經過一些掃描移位周期后，有限存儲壓縮器從其寄存器中清除x狀態(tài)。盡管一個壓縮器被設計成容忍一預指定數量的X狀態(tài)，其對X狀態(tài)的弱點仍然可造成無用的測試響應。因此，期望通過一個掃描^1選擇機制來限制進入壓縮器的X狀態(tài)。否則，ATPG工具沒有消除的某些X狀態(tài)組合可影響某些掃描單元的觀測能力，并導致整體的故障覆蓋率下降。有些方案允許有選擇的觀察使用電路的掃描鏈，這些電路用于掩飾被選擇卸載值以便X狀態(tài)不達到壓縮器。提供掃描鏈選擇邏輯和為了生成合適的掩碼信號而進行掃描鏈排位的一些方法在下面的公開出版物中均有描述美國專利申請公開號2007/0234157、2007/0234163、2007/0234169，以及G.Mmgalski等人的"測試響應壓縮器與可編程選擇器，，，會議記錄，設計自動化大會，1089-1094頁(2006)("G.Mrugalski等人")，所有這些均在這里作以參考形式納入。這些方法范例幫組尋找可隨后用于抑制X狀態(tài)的掃描鏈選擇控制數據。簡單地說，在美國專利申請公開號2007/0234157、2007/0234163、2007/0234169，以及G.Mrugalski等人文獻中描述的某些實施例中，使用由掃48描鏈驅動的邏輯門來掩飾X狀態(tài)，和由基于壓縮控制數據的可編程控制器來生成適當的門控信號。其結果是，公開的方法顯著地減少或完全消除了測試響應中發(fā)生的X狀態(tài)。為了進行有效的掃描鏈選擇，本公開的技術實施例可與美國專利申請公開出版物號2007/0234157、2007/0234163、2007/0234169，以及GMrugalski等人文獻中描述的技術一起使用。然而，當使用本公開技術的實施例時，在掃描鏈輸出使用專用的門控信號沒有必要，因為其功能可被掃描使能電路替代，該掃描使能電路被配置在捕獲期間保持被選擇的掃描鏈處于掃描移位模式。圖23中結構范例2300顯示了這個功能的一個例子。在整個測試周期里，可編程掃描使能者2310可用于保持120a-120N中的任一個掃描鏈處于移位-漠式，而不是門控載有X狀態(tài)的掃描鏈。這個技術本質上阻止掃描鏈120a-120n捕獲X狀態(tài)并加載到壓縮器2320。圖23顯示的的例子中，大約75%的掃描鏈在一個給定掃描矢量的應用期間可保持在掃描移位模式，并且不捕獲來自電路組合邏輯部分的任何測試響應。其余的25%掃描鏈可以捕獲測試響應值，這些值包括指示一個目標故障是否存在的值。圖23所示方法與圖22所描述的解決方案可以很容易地集成起來。其結果是，用于處理并行功耗的同一控制電路可被用來處理未知狀態(tài)的存在。一測試矢量被施加到一被測電路以產生一模擬測試相應；識別被測電路中一個或多個從模擬測試響應中捕獲未知狀態(tài)的掃描鏈；生成控制信號，該控制信號可導致掃描使能電路在捕獲窗口期間，抑制一個或多個被識別的掃描鏈的掃描使能信號。生成的控制信號可存儲于一個或多個計算機可讀介質上，并隨后在測試應用期間加載到掃描使能電路的可編程控制器中。五、低功耗捕獲與具有時鐘使能者的掃描移位操作在測試生成期間，不觀測故障效應的某些掃描鏈可被確定(例如，模擬施加掃描矢量到被測電路上)。在捕獲窗口期間捕獲新值到這些掃描鏈上會產生不期望的切換動作。為了減少捕獲窗口中的切換，這些掃描鏈各自的時鐘(例如，各自的時鐘樹)可被取消以便降低捕獲窗口中的切換動作。相對的時鐘可以是分布到一個掃描鏈上每個掃描單元的專用時鐘，也可以是通過一個提供移位信號(例如，在第一個頻率)和捕獲信號(例如，在第二個頻率)的單獨時鐘樹分布的一個單獨的時鐘，后者的移位信號和捕獲信號可由連接到時鐘樹的一個時鐘生成器產生。A.可編程時鐘使能者的結構范例圖24是一個原理框圖，顯示了利用一可編程時鐘使能者2410的一個基于掃描的結構范例2400。特別地，可編程時鐘使能者2410被插入在時鐘(例如，一個捕獲時鐘)和一個驅動掃描鏈120a-120N的時鐘樹之間。如圖24所示，可編程時鐘使能者2410可包括(或由)兩個元件(組成)一個時鐘使能電路2420和一個可編程控制器2430。一個使用結構2400的測試應用過程范例包括加載測試矢量t的控制數據至可編程控制器2430;在掃描移位開始前強制Global—Clock—Enable信號2440;移入測試激勵t至掃描鏈；在掃描移位操作結束時取消Global—Clock—Enable信號2440;施加捕獲信號到被選擇的掃描鏈上；在從掃描鏈上卸載測試響應前強制Global—Clock—Enable信號2440。圖42是一個流程圖，顯示了在測試期間施加和抑制時鐘信號的一個方法范例。在4210,在來自一解壓器的一個解壓測試矢量被加載到被測電路的掃描鏈上時，一時鐘信號被施加到被測電路的掃描鏈上。在4212,在一個捕獲窗口期間，當一解壓測試矢量的測試響應被捕獲時，一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段的時鐘信號被抑制。時鐘信號的抑制導致一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段在捕獲窗口期間保持一個常量狀態(tài)。一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段可包括否則會捕獲未知值的一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段。此外，用于控制哪些掃描鏈或掃描鏈段在捕獲窗口期間其時鐘信號將凈皮抑制的控制信號^皮接收。在更多額外的解壓測試矢量的測試響應被捕獲時，這些控制信號可被重新使用。B.時鐘使能電路范例時鐘使能電路2410可由各種方式實現(xiàn)。圖24顯示了時鐘使能電路2510的一個實現(xiàn)方式。特別地，時鐘使能電路2510可包括(或由)多個時鐘使能50者(組成)(圖25中其中兩個編號為2520，2522)。圖25所顯示的例子中，一個時鐘使能者驅動一個單獨掃描鏈的時鐘樹(如時鐘使能者2522)，或一組兩個或更多的掃描鏈(如時鐘使能者2520)。特別地，圖25中，時鐘使能者2520驅動掃描鏈120a、120b，時鐘使能者2522驅動掃描鏈120N。圖26(a)和26(b)顯示了兩種可選的時鐘使能者配置范例。圖26(a)中，時鐘使能者2610，2612驅動相同掃描鏈2620的不同段。圖26(b)中，同一時鐘使能者2650驅動不同掃描鏈2660,2662的多個段。注意在這些例子中，一個掃描鏈的掃描鏈段沒有必要是連續(xù)相連的。一個掃描鏈的掃描鏈段可包含任意兩個或以上的掃描單元。參見圖24,在某些實施例中，時鐘使能者2410可控制每個狀態(tài)單元的時鐘以便在Global—Clock_Enable信號2440被強制時原始的時鐘被施力口。在捕獲模式，當Global—Clock—Enable被取消時，觸發(fā)掃描鏈中掃描單元的時鐘2450可使用來自可編程控制器2430的控制數據加以門控。圖27顯示了一個沒有毛刺(glitch)的時鐘使能者實現(xiàn)范例2700。當不關心毛刺時，圖27中鎖存器2710可被移除，并且或門2720的輸出可直接連接到與門2730的輸入上。為了減少面積開銷，如果適用，一個時鐘使能電路(例如，時鐘使能電路2420)可與已存在的時鐘門控邏輯共享。圖28(a)顯示了原始時鐘門控邏輯2800的一個例子。特別地，在圖28(a)中，Scan—Enable信號2810是一個全局時鐘使能信號。例如，當Scan—Enable信號是1,設計中所有時鐘門(例如，門2830)通過忽略來自功能控制器的信號2820被使能。圖28(b)顯示了對現(xiàn)有時鐘門控邏輯2800的一個修改范例2850。在圖28(b)的具體修改中，與門2852插入在或門2860和來自功能可控制器的信號路徑2870之間。當Scan—Enable信號2880為0時，在該例子中，來自可編程時鐘使能者2890的信號使能/取消功能時鐘控制信號2870。用于可編程時鐘使能者的控制器2430可用前述的任一控制器設計來實現(xiàn)。此外，當在捕獲窗口期間被禁用的一組掃描鏈在所有捕獲周期均相同時，可只用一個移位寄存器來實現(xiàn)控制器。為了容許在捕獲窗口期間;故禁用的一組掃描鏈能夠在不同的捕獲周期動態(tài)地改變，一個包括兩個或更多管道移位寄存器的移位寄存器文件(如圖11中的移位寄存器文件)可被使用。C.掃描移位和捕獲的切換動作消減為減少在掃描移位和捕獲期間的切換動作，可編程時鐘使能者實施例可與前述的可編程測試激勵選擇器實施例一起使用。圖29顯示了含有可編程時鐘使能者和可編程測試激勵選4奪器的掃描結構范例2900。當載有常量測試激勵的掃描鏈被禁止以捕獲新數據，以便在從這些掃描鏈上卸載測試響應期間沒有轉換時，可觀測到最高效率的切換動作消減。為了降低面積開銷，可編程時鐘使能者和可編程測試激勵選擇器可共享可編程控制器。圖30顯示了共享可編程控制器的一個實現(xiàn)3000。D,測試矢量生成含有可編程時鐘使能者的基于掃描的結構，其測試矢量生成過程類似于前述的測試矢量生成過程。例如，假設圖30顯示了該掃描結構。在圖30中有兩種類型的測試源一解壓器3010和一生成常值0的源(由可編程控制器3030和門3020結合產生)。該例子中在掃描移位期間載入掃描鏈的測試激勵類型不變。對所顯示的結構，當一個掃描鏈被O驅動時，驅動掃描鏈的時鐘在捕獲期間被耳又消。在該例子中，以這樣的方式設計異或網絡3040:當在映4象寄存器3050的控制數據被載入全是1的矢量時，解壓器3010驅動所有的掃描鏈。表6的偽代碼描述了使用包含一個測試激勵選擇器和一個時鐘使能者的測試結構生成測試矢量的一個過程。<table>tableseeoriginaldocumentpage52</column></row><table>a.設定測試立方C至一個全是X的矢量。b.從F中選擇一個故障/并從F中去除/。c.為/生成測試立方&。d.如果/不可測試，回到步驟4并繼續(xù)。e.合并C/到C并設定S為C中在所有捕獲時鐘周期含有指定比特位和/或用于觀測/故障效應的掃描鏈的數量。_f.標記F中每個故障為未嘗試的。g.當F中還有未嘗試的故障，并且S不大于見執(zhí)行i.從F中選擇一個未嘗試的故障g并標記其為已嘗試的。.ii.賦C給Cg。iii.通過在Cg中指定額外的x比特位來擴展Cg以檢測g。iv.如果通過擴展Cg不能檢測到故障g，回到步驟4(g)并繼續(xù)。v.如果Cg中在所有捕獲時鐘周期含有指定比特位并/或用于觀測g故障和C所針對及探測到所有故障之故障效應的掃描鏈數量大于S，回到步驟4(g)并繼續(xù)。vi.從F中去除g。h.生成加載到可編程控制器的控制數據以4更對在所有捕獲時鐘周期含有指定比特位并/或用于觀測C所針對及探測到之故障的故障效應的掃描鏈，其相應的門控信號設定為1;對剩下的掃描鏈，其相應的門控信號進行設定以便這些掃描鏈被常量O驅動，并且在捕獲期間它們的時鐘被取消。i.根據控制數據賦給C中未指定比特位的測試源來填充這些比特位以生成一個新的測試矢量t。j.故障模擬t并且從F中去除檢測到的故障。53k.把t加到測試組T。5.返回生成的測試纟且T。表6:利用圖30中測試激勵選擇器和時鐘使能電路生成測試矢量的偽代碼范例請注意，取決于實現(xiàn)方法，該過程范例的方法操作可以單獨方式執(zhí)行，或以不同的彼此組合或子組合方式執(zhí)行。表6詳細描述的過程范例中在操作4(g)(vi)前使用了一個額外的檢查步驟來核實為可編程控制器的控制數據是否可被生成，以便含指定比特位的掃描鏈可以由解壓器來驅動。如果不能為測試立方Cg生成控制數據，控制數據可被丟棄，原來的測試立方可保持不變。此外，如果一個掃描鏈中只有所指定的比特位是O,并且掃描鏈不用作觀測任何故障效應，那么，在該例子中，沒有必要把該鏈計入S。此外，盡管表6列出的過程關心在含有測試激勵選擇器和時鐘使能電路的結構中生成控制信號，對只含有時鐘使能電路的結構該過程可被修改。例如，變量S可被設定為只用于觀測故障效應的掃描鏈數量，并且在4(g)(v)的評估可基于在擴展測試立方中用于觀測故障的比特位數量。圖45顯示的實施例及上面所討論的也可用于為含有一時鐘使能電路的結構生成測試矢量。在這些實施例中，可基于生成的測試立方來為時鐘使能電路生成控制信號。例如，在測試期間當一含有測試立方的測試矢量被施加時，該控制信號有能力導致時鐘使能電路抑制來自那些不觀測來自掃描立方故障效應的掃描鏈時鐘信號。E.未知狀態(tài)抑制可編程時鐘使能者可用于排除X狀態(tài)到掃描單元的傳輸。使用可編程時鐘使能者進行掃描鏈選擇，可消除非?？捎^的X狀態(tài)數量，否則這些X狀態(tài)會被捕獲。圖31顯示了在一個基于掃描的環(huán)境中可用于抑制X狀態(tài)的一個結構范例3100。例如，結構3100可用來幫助減少掩碼測試響應壓縮器(例如，圖31中壓縮器3110)輸出的X數量。與使用掃描使能者的情況相同，在使用時鐘使能者阻止X狀態(tài)被捕獲時，沒有必要在掃描鏈的輸出使用任何定制的門控邏輯。通過在捕獲期間取消被選擇掃描鏈的時鐘可獲得所期望的功能。換句話說，一個或多個可編程時鐘使能者3120可用于取消指定掃描鏈的時鐘樹，而不是門控載有X狀態(tài)的掃描鏈?？删幊虝r鐘使能者3120可由，例如，預先計算的數據來驅動(例如，使用美國專利申請公開號2007/0234157、2007/0234163、2007/0234169，以及G.Mrugalski等人文獻中描述的任何方法范例來計算)。該技術范例本質上阻止掃描鏈捕獲X狀態(tài)并加載它們到解壓器3110上。圖31的例子中，在捕獲期間，大約75%的掃描鏈時鐘無效(即，它們不記錄測試結果(包括X狀態(tài)))，剩下的25%掃描鏈在捕獲期間時鐘有效并捕獲測試響應。用圖31解釋的方法可和用圖30解釋的方法相結合。由此的結果是，共享同一控制電路來并行處理功率消耗和未知狀態(tài)的存在。為時鐘使能電路生成控制數據以阻止X狀態(tài)被捕獲的技術范例包括模擬一測試矢量被施加到一被測電路并生成一模擬測試響應；識別被測電路中一個或多個從模擬測試響應中捕獲未知狀態(tài)的掃描鏈；生成控制信號，該控制信號可導致時鐘使能電路在捕獲窗口期間，抑制一個或多個被識別的掃描鏈的捕獲時鐘；生成的控制信號可存儲于一個或多個計算機可讀介質上，并隨后在測試應用期間加載到時鐘使能電路的可編程控制器中。七、利用復位/移位時鐘使能者的低功耗掃描移位操作由于觸發(fā)器通常^皮設計成有一個或多個異步控制輸入用于狀態(tài)初始化(例如，一個異步置位輸入或一個異步復位輸入)，有可能通過使用一個可編程信號例如其中一個異步控制輸入(例如，一個異步置位信號或一個異步復位信號)來強制掃描單元進入一個已知狀態(tài)，從而在掃描移位期間降低反轉。圖32顯示了實現(xiàn)該方法的一個結構范例3200。實現(xiàn)該公開結構可具有顯著降低時鐘布線功耗(芯片功耗的另一個主要源頭)的能力。該結構范例使用了可用此前所述任一控制器設計來實現(xiàn)的可編程控制器。針對圖32顯示的方法，兩個有關掃描鏈的決定是所期望的決定在移入測試矢量ti時必須直接由解壓器驅動的掃描鏈(因為它們包含測試矢量ti的指定比特位)；決定在施加測試矢量tw后含有必須加載到壓縮器的測試響應值的掃描鏈(因為這些值是tw捕獲到的指示目標故障的值)。一般在測試矢量tw被施加后，測試矢量ti被立即施加。這些掃描鏈可在，例如，ATPG過程期間被識別。根據一個確定的實現(xiàn)，可以控制掃描鏈以便只有被識別的掃描鏈響應移位時鐘信號。其它的掃描鏈因其移位時鐘信號被抑制可處休眠狀態(tài)。結果是，由掃描移位和使用時鐘引起的切換動作被降低。此外，在一些例子中，由于編碼過程的副作用，可有很小一部分的掃描鏈處于活動狀態(tài)。一般而言，偏置電路的某些配置會影響處于活動狀態(tài)的不必要掃描鏈的比例。為了避免在休眠掃描鏈輸出端的未知值，其輸出在進入壓縮器之前可通過門控來獲得一個常值。門控控制信號可來自控制移位時鐘信號的可編程控制器。在很多情況中，某些掃描鏈捕獲的測試響應值是用來觀測那些還沒有被早先的測試矢量所探測到的目標故障的故障效應；同時其它掃描鏈捕獲的測試響應值是用來觀測那些已被早先的測試矢量所探測到的目標故障的故障效應。利用這個事實，掃描鏈的切換動作可被進一步降低。從上述后者的掃描鏈中移出響應值通常不會提高故障覆蓋率。因此在某些實現(xiàn)中，在先前捕獲的測試響應被卸載和下一個測試矢量被加載前，這些掃描鏈可被復位。這導致在加載下一個測試矢量前，掃描鏈被設定為全部常值，從而降低了在掃描鏈被加載下一個測試矢量時發(fā)生的切換數量。在施加一個新的測試矢量前復位掃描鏈可減少一半的切換動作(假設相鄰的掃描單元間沒有倒置)。A.可編程移位/復位時鐘使能者的結構范例圖32結構范例3200中，一個可編程復位/移位時鐘使能者3210被插入在最初輸入管腳Reset—Clock3220與Shift—Clock3222,和驅動掃描鏈的復位時鐘與移位時鐘樹之間。如圖32所示，可編程移位/復位時鐘使能者3200包括(或由)三個元件(組成)一移位時鐘使能電路3230，一復位使能電路3232,和一可編程控制器3240。使用圖32結構的一個測試應用過程范例包括加載控制測試矢量/,復位使能的控制數據和控制下一個測試矢量移位時鐘使能的控制數據到可編程控制器；移位測試激勵f,至掃描鏈(當^測試激勵移入時，控制測試矢量^.移位時鐘使能的控制數據被加載)；施加捕獲時鐘；強制i^d—C/ocA:管腳至被選擇的掃描鏈并在所需的時鐘周期內保持其處于激活狀態(tài)；取消ie化LCfocA:管腳；/人掃描《連移出測試響應。請注意在某些實施例中，移位時鐘使能電路3230從設計中省略。在這些實施例中上述測試應用過程將被修改以便移位時鐘使能者的控制數據不被使用。圖43是一個流程圖，顯示了在測試期間施加復位信號于一電路的實施范例。在4310，測試矢量(例如，解壓器解壓的測試矢量)的測試響應^^皮捕獲至被測電路的掃描鏈中。在4312，測試矢量的測試響應被捕獲后，施加一復位信號到一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段上。在4314,復位信號施加后掃描鏈中的內容被卸載。施加了復位信號的一個或多個掃描鏈或掃描鏈段可包括否則會捕獲未知值的一個或多個掃描鏈或掃描鏈段。施加復位信號可導致捕獲入一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段的值成為一個單一的常量值(例如，一個1或0)?？刂菩盘柨杀唤邮找钥刂颇男呙桄溁驋呙桄湺伪皇┘訌臀恍盘?。這些控制信號可被重復用于關于更多額外測試矢量的測試響應中。此外，當測試矢量被加載到掃描鏈時，下一個測試矢量的控制信號可被力口載。B.移位時鐘使能者和復位使能者移位時鐘使能電路3230可包括(或由)多個移位時鐘使能者(組成)。此外，移位時鐘使能者可驅動一個單獨掃描鏈的移位時鐘輸入或一組兩個或更多掃描鏈的移位時鐘輸入。一般而言，移位時鐘使能電路3230的功能是在掃描移位期間使能/取消掃描鏈工作于移位模式。圖33顯示了移位時鐘使能者一個沒有毛刺的實現(xiàn)范例3300。復位使能電路3232可包括(或由)一組多個復位使能者(組成)。復位使能者可驅動一個單獨掃描鏈的復位時鐘輸入或一組兩個或更多掃描鏈的復位時鐘輸入。復位使能者的功能是使能/取消Reset—Clock從而在Reset一Clock有效時復位掃描鏈。圖34顯示了復位使能者的一個實現(xiàn)范例3400?？删幊炭刂破?240的一個范例可包括(或由)兩個模塊(組成)一個控制移位時鐘使能者，另外一個控制復位使能者。每個控制器模塊可與此前描述的、和可編程測試激勵選擇器652—起使用的可編程控制器有相同的結構。C.測試矢量生成含有這里描述的任何復位時鐘使能電路或移位時鐘使能電路的結構，其測試矢量生成過程類似于前述表5和表6所描述的、含有時鐘使能者或掃描使能者結構的測試矢量生成過程，沒有必要在這里分開詳述。例如，測試矢量生成過程可用來為一個復位使能電路的控制器生成控制信號，以便在從一個或多個那些不觀測故障效應的掃描鏈上移出測試響應前，復位使能電路復位這些掃描鏈。圖45所示實施例和上面所討論的也可用于為含有一個復位使能電路的結構生成測試矢量。在這些實施例中，可根據生成的測試立方為復位使能電路生成復位信號。例如，在測試期間，當對含有測試立方的測試矢量的測試響應一皮捕獲后，復位信號有能力導致復位使能電路施加復位信號到那些不觀測來自測試立方故障效應的掃描鏈上。圖45所示實施例和上面所討論的也可用于為含有一個移位時鐘使能電路(例如，與復位使能電路的組合)的結構生成測試矢量。在這些實施例中，可根據測試立方為移位時鐘使能電路生成控制信號。在測試期間，當對含有測試立方的測試矢量的測試響應被捕獲后，這些控制信號有能力導致移位時鐘使能電路抑制來自那些不觀測來自測試立方故障效應的掃描鏈的移位時鐘信號。D.掃描移位和捕獲的切換動作削減為了降低在捕獲期間的切換動作和進一步降低掃描移位的切換動作，可編程復位/移位時鐘3210可與此前描述的可編程測試激勵選4奪器和可編程時鐘使能者組合使用。圖35顯示了該實現(xiàn)的一個掃描結構范例3500。使用這種實現(xiàn)的一個測試應用過程范例包括加載控制測試矢量^復位使能的控制數據和控制測試矢量6+1移位使能的控制數據至可編程控制器；移位測試矢量f,至掃描鏈(可編程測試矢量選擇器在移入測試激勵期間選擇測試矢量的源)；在掃描移位搡作結束時取消G/o6"/—C/oc&一五mWe;施加捕獲時鐘(被選擇用于捕獲新數據的掃描單元由可編程時鐘使能者控制)；強制7a^LC/ocA:管腳并在所需的時鐘周期內保持其處于激活狀態(tài)；取消i^"—C/od:管腳；強制G/o6a/—C7oA—信號；/人掃描鏈移出測試響應。圖35所示結構3500中，移位時鐘和捕獲時鐘是相同的。然而，圖35所示結構可被調整使用不同的移位和捕獲時鐘。例如，在掃描移位模式，58并且移位時鐘可由可編程移位/復位時鐘使能者控制。在捕獲模式，Global—Clock—Enable可^皮取消，捕獲時鐘可由可編程時鐘使能者控制。為減少管腳數量，管腳Global—Clock—Enable和管腳Scan—Enable可共享一個管腳。E.未知狀態(tài)抑制可編程復位使能電路可用來阻止掃描鏈輸出X狀態(tài)。例如，相當一部分X狀態(tài)可使用可編程復位使能者來消除，否則它們會^1捕獲和輸出。特別地，當測試響應被捕獲到掃描鏈后，對那些捕獲到未知狀態(tài)、但沒有捕獲到指示目標故障的測試響應值(或捕獲到的測試響應對所期望的測試覆蓋率沒有顯著貢獻)的已知一個或多個掃描鏈，可以使能Reset—Clock信號。由此，掃描鏈的值將被復位至已知常量。和使用掃描使能者的情況相同，在使用復位使能者阻止捕獲X狀態(tài)時，沒有必要在掃描鏈的輸出使用任何定制的門控邏輯。所期望的功能可通過在測試響應被捕獲后復位所期望的掃描鏈來獲得。換句話說，可以使用一個或多個復位使能電路3232來復位掃描鏈中捕獲的值為已知常量，而不是門控載有X狀態(tài)的掃描鏈。可編程復位使能者3210可由，例如，預先計算的數據來驅動(例如，使用美國專利申請公開出號2007/0234157、2007/0234163、2007/0234169，以及G.Mmgalski等人文獻中描述的任何方法范例來計算)。為復位使能電路生成控制數據以阻止X狀態(tài)被輸出的技術范例包括模擬被施加到一被測電路的一測試矢量以生成一模擬測試響應；識別被測電路中一個或多個從模擬測試響應中捕獲未知狀態(tài)的掃描鏈；生成控制信號，該控制信號可導致復位使能電路在一含有未知狀態(tài)的測試響應被捕獲后，對一個或多個被識別的掃描鏈的值進行復位；生成的控制信號可存儲于一個或多個計算機可讀介質上，并隨后在測試應用期間加載到復位使能電路的可編程控制器中。八、實驗結果掃描移位操作消耗功率，并直接取決于掃描鏈中發(fā)生的轉換數量以及被測電路("CUT")的其它組件。由此發(fā)生的切換動作可通過一個加權的轉換度量來估算，該度量不僅考慮在連續(xù)的掃描單元中引發(fā)的轉換數量，還考慮它們的相對位置。設m是掃描鏈的長度，丁=6162...^代表一個測試矢量，比特位6k在&+1前掃入。標準化后的度量可定義如下尸=2[咖—1)]-)§(附-，，十),=i測試應用期間的平均掃描功耗可通過把上面的公式運用到所有的掃描鏈和所有的測試矢量并取和而獲得。前面描述的低功耗方法的一個實施例在一些工業(yè)界的設計上作了測試。在本段中顯示的結果使用了圖36所示的結構范例3600,該電路處于規(guī)模從220K到10.5M個門的設計上。對每個設計，使用了不同壓縮程度的EDT，固定掃描通道數為8，并且所有設計使用48比特位的解壓器。表7總結了這些實驗結果。除了門數量外，每個電路還有以下數據施加的測試矢量數量，填充率(指定比特位比率)，控制寄存器的尺寸("CR")，使用加權的轉換度量測量到的切換比率(假設使用了一個標準內嵌確定性測試，(列"SDT")),使用了建議的低功耗方案后的切換比率(列"LP")?？梢钥闯觯瑢λ械膶嶒?，轉換總數量均獲得大量消減，從而顯著地降低了切換的比率。60<table>tableseeoriginaldocumentpage61</column></row><table>表7:實驗結果九、計算環(huán)境范例上面所述技術的任何一個方面均可在一個分布式計算網絡中執(zhí)行。圖37顯示了一適用的網絡范例。服務器3700可有一關聯(lián)的存儲設備3702(服務器外部或內部的)。例如，服務器3700可配置用于基于任一公開方法生成測試矢量、測試矢量值或控制數據，或為實現(xiàn)任一本公開的結構生成設計數據(例如，作為一EDA軟件工具的一部分，比如一測試矢量生成工具)。服務器3700可連接到如3704所示的一個網絡，例如，廣域網、局域網、客戶端-服務器網絡、互聯(lián)網或其它適用網絡。一個或多個客戶計算才幾，如所示的3706、3708，可使用網絡協(xié)議連接到網絡3704。工作也可以在一單獨專用的、有其自己的存儲器和一個或多個CPU的工作站上執(zhí)行。圖38顯示了另外一個網絡范例。一個或多個計算機3802通過網絡3804進行通信并且組成一個計算環(huán)境3800(例如，一個分布式計算環(huán)境)。計算環(huán)境3800中每個計算機3802可用于執(zhí)行測試矢量生成、控制數據生成或測試硬件生成過程中的至少一個部分。所示實施例中網絡3804也連接到一個或多個客戶計算機3808。圖39顯示了一個被測電路的設計信息(例如，一個HDL文件、網表、GDSI1文件、Oasis文件、或其它代表被測電路與其掃描鏈的適用的設計文件)可以使用一個遠程服務器(例如圖37所示服務器3700)或一個遠程計算環(huán)境(如圖38所示計算環(huán)境3800)進行分析，以便按照任一本公開的技術實施例來生成測試矢量、控制數據、或測試硬件。在過程塊3902，例如，客戶計算機發(fā)送集成電路設計信息給遠程服務器或計算環(huán)境。在過程塊3904，遠程服務器或遠程服務環(huán)境中相應的組成部分接收和加載集成電路設計信息。在過程塊3906,測試矢量生成、控制數據生成或測試硬件生成被執(zhí)行以便實現(xiàn)任一本公開的實施例。在過程塊3卯8，遠程服務器或計算環(huán)境發(fā)送測試矢量結果、控制數據結果或存有生成的測試硬件的設計數據結果給在過程塊3910處接收數據的客戶計算機。對所屬領域的技術人員而言，很明顯圖3900所示的例子并不是使用多個計算機生成測試矢量、控制數據或用于測試硬件的設計數據的唯一方法。例如，CUT設計信息可存儲于一個計算機可讀介質上，該介質不在一個網絡上并被個別地輸送到服務器或計算環(huán)境中(例如，CD-ROM，DVD，或手提式硬盤)。或者，服務器或遠程計算網絡只執(zhí)行測試矢量生成，控制數據生成或測試硬件生成過程的一部分。本公開技術的原理已被說明和描述，很顯然，對所屬領域的技術人員而言，本公開的實施例可在編排和細節(jié)上進行修改而不會背離這些原理。鑒于本公開技術的原理可應用到許多可能的實施例中，應當承認所說明的實施例只是優(yōu)選的例子，不應認為是對發(fā)明范圍的局限。相反，發(fā)明的范圍在以下的權利要求及其等價物中加以定義。因此，我們要求所有那些落入這些權利要求范圍和精神的均是我們的發(fā)明。權利要求1.一種集成電路，其包括一第一測試激勵源，其被配置以生成原始測試矢量值；一第二測試激勵源，其被配置以生成一常量值；一控制器，其被配置以生成控制信號；和一測試激勵選擇器，其含有連接到第一測試激勵源、第二測試激勵源和控制器的輸入，其進一步含有連接到集成電路中一組掃描鏈的輸出，其被配置以根據控制器的控制信號，在其每個相應的輸出中選擇性地輸出第一測試激勵源的原始測試矢量值或第二測試激勵源的常量值。2.如權利要求1所述的集成電路，其中該測試激勵選擇器被配置以逐一周期方式、逐一掃描鏈段方式、或逐一矢量方式選擇性地輸出值。3.如權利要求1所述的集成電路，其中該第一測試激勵源是一解壓器，其被配置以接收來自一外部測試儀的壓縮的測試矢量值。4.如權利要求1所述的集成電路，其中該測試激勵選"t奪器包括一組多路復用器，每個多路復用器含有連接到第一測試激勵源的各自輸出的第一輸入，連接到第二測試激勵源的各自輸出的第二輸入，連接到控制器的各自輸出的第三輸入，以及連接到各自的一個或多個掃描鏈上的輸出。5.如權利要求1所述的集成電路，其中該控制器是一可編程控制器，其被配置以加載控制數據，該控制數據來自一外部測試儀、該集成電路上的一存儲器或該集成電路上的一測試生成器中三者之一。6.如權利要求1所述的集成電路，其中該常量值是第一常量值，其中該集成電路進一步包括一第三測試激勵源，被配置以生成一第二常量值，其中該測試激勵選擇器進一步含有連接到第三測試激勵源的輸入，其中該測試激勵選擇器被配置以根據控制器的控制信號，在其每個各自的輸出中選擇性地輸出第一測試激勵源的原始測試矢量值、第二測試激勵源的第一常量值、或第三測試激勵源的第二常量值。7.如權利要求6所述的集成電路，其中該第一常量值和第二常量值各自是0和1，或各自是1和0。8.如權利要求6所述的集成電路，其中該測試激勵選擇器包括一組多路復用器，每個多路復用器含有連接到第一測試激勵源的各自輸出的第一輸入，連接到第二測試激勵源的各自輸出的第二輸入，連接到第三測試激勵源的各自輸出的第三輸入，連接到控制器的各自輸出的第四輸入，以及連接到各自的一個或多個掃描l^上的輸出。9.如權利要求1所述的集成電路，其中該控制器包括加載和輸出控制數據的一個或多個移位寄存器。10.如權利要求9所述的集成電路，其中該一個或多個移位寄存器包括構成多級寄存器管道的一組移位寄存器。11.如權利要求IO所述的集成電路，其中該一組移位寄存器被配置為響應一寄存器移位時鐘而串行加載數據。12.如權利要求IO所述的集成電路，其中該一組移位寄存器被配置為響應一管道移位時鐘而并行地從移位寄存器中的一個移入控制數據到移位寄存器中的另一個。13.如權利要求9所述的集成電路，其進一步包括連接到該一個或多個移位寄存器的一個或多個映像寄存器。14.如權利要求9所述的集成電路，其中該控制器進一步包括連接到該一個或多個移位寄存器中至少之一的一異或XOR或同或XNOR網絡。15.如權利要求14所述的集成電路，其中該控制器進一步包括連接到該異或或同或網絡的一偏置電路。16.如權利要求15所述的集成電路，其中該偏置電路被配置以偏置該異或或同或網絡的一個或多個輸出，以便每個4皮偏置的輸出更有可能產生各自的二進制值。17.如權利要求15所述的集成電路，其中該偏置電路是一可重新配置的偏置電路，其被配置以一可選擇的數量偏置該異或或同或網絡的一個或多個輸出。18.—種計算機可讀介質，其存儲如權利要求1所述集成電路的設計數據。19.一種計算機可讀介質，其存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致一計算機創(chuàng)建如權利要求1所述的集成電路。20.—種集成電路，其包括一測試激勵源，其被配置以生成原始測試矢量值；一控制器，其被配置以生成控制信號；及一測試激勵選擇器，其含有連接到測試激勵源和控制器的輸入，其還含有連接到集成電路中的一組掃描鏈的輸出，其被配置以根據從控制器接收的控制信號，在其每個各自的輸出中選擇性地輸出測試激勵源的原始測試矢量值或一常量值，測試激勵源進一步包括被配置生成該常量值的門控邏輯。21.如權利要求20所述的集成電路，其中該測試激勵選擇器被配置以逐一周期方式、逐一掃描鏈段方式、或逐一矢量方式選擇性地輸出值。22.如權利要求20所述的集成電路，其中該測試激勵源是一解壓器，其被配置以接收來自一外部測試儀的壓縮的測試矢量值。23.如權利要求20所述的集成電路，其中該控制器是一可編程控制器，其被配置以加載控制數據，該控制數據來自一外部測試儀、該集成電路上的一存儲器或該集成電路上的一測試生成器中三者之一。24.如權利要求20所述的集成電路，其中該控制器包括加載和輸出控制數據的一個或多個移位寄存器，該一個或多個移位寄存器構成一個多級寄存器管道。25.如權利要求24所述的集成電路，其中該控制器進一步包括一連接到該一個或多個移位寄存器中至少之一的異或或同或網絡，及一偏置電路連接到該異或或同或網絡，該偏置電路被配置以偏置該異或或同或網絡的一個或多個輸出，以便每個被偏置的輸出更有可能產生各自的二進制值。26.—種計算機可讀介質，其存儲如權利要求20所述集成電路的設計數據27.—種計算機可讀介質，其存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致一計算機創(chuàng)建如權利要求20所述的集成電路。28.—種方法，其包括在m條輸入路徑上接收用于測試一集成電路的原始測試矢量值，該原始測試矢量值來自一解壓器；在m條輸入路徑中至少n條輸入路徑上選擇性修改該測試矢量值，以便n條輸入路徑上的測試矢量值成為至少兩個連續(xù)的常量值，其中n小于m;及輸出測試矢量值到m條掃描鏈輸入路徑，該測試矢量值包含關于m條掃描鏈輸入路徑中n條掃描鏈輸入路徑的至少兩個連續(xù)的常量值。29.如權利要求28所述的方法，其進一步包括接收指示m條輸入路徑中哪些將^皮修改的控制數據。30.如權利要求29所述的方法，其中該原始測試矢量值是針對一第一測試矢量，其中該方法進一步包括重新使用該控制數據針對多個額外的測試矢量上選擇m<條輸入路徑中哪些將被修改。31.如權利要求28所述的方法，其中被輸出的測試矢量值包含該原始測試矢量中針對該集成電路的一個或多個故障的所有指定比特位。32.如權利要求28所述的方法，其中選擇性修改測試矢量值的行為包括:對被配置生成至少兩個連續(xù)常量值的邏輯門施加控制信號。33.—種集成電^各，其包括一解壓器，連接到該集成電路中掃描鏈的數據輸入；一控制器，被配置生成控制信號；及一掃描使能電路，其含有連接該控制器的一輸入和連接掃描鏈的掃描單元的掃描使能輸入的輸出，其被配置在其一個或多個輸出中生成獨立可控制的掃描使能信號，獨立可控制的掃描使能信號的值基于來自控制器的至少部分控制信號。34.如權利要求33所述的集成電路，其中獨立可控制的掃描使能信號的值包括一第一掃描使能值和一第二掃描使能值，第一掃描使能值用于導致一個或多個掃描鏈工作于移位模式，第二掃描使能值用于導致一個或多個掃描鏈工作于正常電路模式。35.如權利要求33所述的集成電路，其中該掃描使能電路的每個輸出連接到各自的一個或多個掃描鏈中掃描單元的掃描使能輸入上。36.如權利要求33所述的集成電路，其進一步包括一測試激勵選擇器，其含有被配置連接到掃描單元組成的掃描鏈上的輸出，該測試激勵選擇器被配置在其每個各自的輸出中選擇性輸出一原始測試矢量值或一常量值。37.如權利要求33所述的集成電路，其中該控制器是可編程控制器，其被配置以加載控制數據，該控制數據來自一外部測試儀、該集成電路上的一存儲器或該集成電路上的一測試生成器中三者之一。38.如權利要求33所述的集成電路，其中該控制器包括加載和輸出控制數據的移位寄存器，該移位寄存器構成一個多級寄存器管道。39.如權利要求38所述的集成電路，其進一步包括連接到該一個或多個移位寄存器的一個或多個映像寄存器。40.如權利要求38所述的集成電路，其中該控制器進一步包括一連接到該移位寄存器中至少之一的異或或同或網絡；及一偏置電路連接到該異或或同或網絡，該偏置電路^^皮配置以偏置該異或或同或網絡的一個或多個輸出，以便每個被偏置的輸出更有可能產生各自的二進制值。41.一種計算機可讀介質，其存儲如權利要求33所述電路的設計數據。42.—種計算機可讀介質，其存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致一計算機創(chuàng)建如權利要求33所述的集成電路。43.—種方法，其包括在加載來自一解壓器的一已解壓測試矢量至被測電路的掃描鏈時，施加一掃描使能信號到該掃描鏈上，該掃描使能信號導致掃描鏈作為一個或多個移位寄存器工作；及在從一些剩下沒有被施加掃描使能信號的掃描鏈上捕獲對于已解壓測試矢量的一測試響應時，施加該掃描使能信號到一個或多個掃描鏈上。44.如權利要求43所述的方法，其中該一個或多個被施加掃描使能信號的掃描鏈包括那些否則會捕獲到未知值的一個或多個掃描鏈。45.如權利要求43所述的方法，其進一步包括在從掃描鏈卸載掃描響應時，施加該掃描使能信號到被測電路的掃描鏈上。46.如權利要求43所述的方法，其進一步包括在捕獲對于已解壓測試矢量的測試響應時，接收控制哪些掃描鏈將被施加掃描使能信號的控制信號。47.如權利要求46所述的方法，其進一步包括在加載多個額外已解壓測試矢量至掃描鏈時，重新使用該控制信號。48.如權利要求43所述的方法，其進一步包括在加載測試矢量至掃描鏈時，加載用于下一個測試矢量的控制信號。49.一種電路，其被配置執(zhí)行權利要求43所述的方法。50.—種集成電路，其包括一解壓器，連接到該集成電路中掃描鏈的數據輸入；一控制器，被配置生成控制信號；及一時鐘使能電路，其含有連接該控制器的輸入和連接掃描鏈的掃描單元的時鐘輸入的輸出，其被配置基于來自控制器的至少部分控制信號，在其一個或多個輸出中生成獨立可控制的時鐘信號。51.如權利要求50所述的集成電路，其中該時鐘使能電路生成的該獨立可控制的時鐘信號是捕獲時鐘信號。52.如權利要求50所述的集成電路，其中該時鐘使能電路的每個輸出連接到該集成電路中各自的一個或多個掃描鏈中的掃描單元的時鐘輸入上。53.如權利要求50所述的集成電路，其中該時鐘使能電路包括單獨的時鐘使能者電路以用于控制時鐘使能電路的每個各自的輸出。54.如權利要求50所述的集成電路，其進一步包括一測試激勵選擇器，其含有被配置連接到掃描單元組成的掃描鏈上的輸出，該測試激勵選擇器被配置在其每個各自的一個輸出中選擇性輸出一原始測試矢量值或一常量值。55.如權利要求50所述的集成電路，其中該控制器是可編程控制器，其被配置以加載控制數據，該控制數據來自一外部測試儀、該集成電路上的一存儲器或該集成電路上的一測試生成器中三者之一。56.如權利要求50所述的集成電路，其中該控制器包括加載和輸出控制數據的移位寄存器，該移位寄存器構成一個多級寄存器管道。57.如權利要求56所述的集成電路，其進一步包括連接到該一個或多個移位寄存器的一個或多個映像寄存器。58.如權利要求56所述的集成電路，其中該控制器進一步包括一連接到該移位寄存器中至少之一的異或或同或網絡；及一偏置電路，連接到該異或或同或網絡，該偏置電路被配置以偏置該異或或同或網絡的一個或多個輸出，以i"更每個^皮偏置的輸出更有可能產生各自的二進制值。59.—種計算機可讀介質，其存儲如權利要求50所述電路的設計數據。60.—種計算機可讀介質，其存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致一計算機創(chuàng)建如權利要求50所述的集成電路。61.—種方法，其包括在加載來自一解壓器的一已解壓測試矢量至被測電路的掃描鏈時，施加一時鐘信號到被測電路的掃描鏈上；以及在一個捕獲窗口期間捕獲對于已解壓測試矢量的一測試響應時，抑制時鐘信號到一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段上，抑制動作導致該一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段在該捕獲窗口期間保持在一個恒定狀態(tài)。62.如權利要求61所述的方法，其中該一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段包括那些否則會捕獲到未知值的一個或多個掃描鏈或掃描鏈段。63.如權利要求61所述的方法，其進一步包括在從掃描鏈卸載掃描響應時，施加該時鐘信號到被測電路的掃描鏈上。64.如權利要求61所述的方法，其進一步包括接收控制信號，該控制信號控制在捕獲窗口期間，哪些掃描鏈或掃描鏈段將使得時鐘信號被抑制。65.如權利要求64所述的方法，其進一步包括在捕獲對于多個額外已解壓測試矢量的測試響應時，重新使用該控制信號。66.如權利要求61所述的方法，其中該時鐘信號在加載測試矢量至掃描鏈時有一第一頻率，在捕獲窗口期間捕獲測試響應時有一第二頻率。67.如權利要求61所述的方法，其進一步包括在加載測試矢量至掃描鏈時，加載用于下一個測試矢量的控制信號。68.—種電路，其被配置執(zhí)行權利要求61所述的方法。69.—種集成電^各，其包括一解壓器，連接到該集成電路中掃描鏈的數據輸入；一控制器，被配置生成控制信號；及一復位使能電路，其含有連接該控制器和輸出連接掃描鏈的掃描單元的復位輸入的輸入，其被配置基于來自控制器的至少部分控制信號，在其一個或多個輸出中選擇性生成一復位信號。70.如權利要求69所述的集成電路，其中在施加復位信號到復位輸入時，該集成電路中的該掃描單元被配置復位至O或1。71.如權利要求69所述的集成電路，其中該復位使能電路包括單獨的復位使能者電路以用于控制復位使能電路的每個各自的輸出。72.如權利要求69所述的集成電路，其中該復位使能電路的每個輸出連接到該集成電路中各自的一個或多個掃描鏈中的掃描單元的復位輸入上。73.如權利要求69所述的集成電路，其中該掃描單元復位輸入包括掃描單元的異步控制管腳。74.如權利要求69所述的集成電路，其進一步包括一移位時鐘使能電路，該移位時鐘使能電路含有連接到該集成電路中掃描鏈的移位時鐘輸入上的輸出，該移位時鐘使能電路被配置在其一個或多個輸出中選4奪性生成一移位時鐘信號。75.如權利要求74所述的集成電路，其中該移位時鐘使能電路進一步包括連接到該控制器的輸入，及其中該移位時鐘信號選擇性生成是基于來自控制器的至少部分控制信號。76.如權利要求69所述的集成電路，其進一步包括一測試激勵選擇器，其含有被配置連接到掃描單元組成的掃描鏈上的輸出，該測試激勵選擇器被配置在其每個各自的一個輸出中選擇性輸出一原始測試矢量值或一常量值。77.如權利要求69所述的集成電路，其中該控制器是可編程控制器，其被配置以加載控制數據，該控制數據來自一外部測試儀、該集成電路上的一存儲器或該集成電路上的一測試生成器中三者之一。78.如權利要求69所述的集成電路，其中該控制器包括加載和輸出控制數據的移位寄存器，該移位寄存器構成一個多級寄存器管道。79.如權利要求78所述的集成電路，其進一步包括連接到該一個或多個移位寄存器的一個或多個映像寄存器。80.如權利要求78所述的集成電路，其中該控制器進一步包括一連接到該移位寄存器中至少之一的異或或同或網絡；及一偏置電路連，接到該異或或同或網絡，該偏置電路被配置以偏置該異或或同或網絡的一個或多個輸出，以便每個被偏置的輸出更有可能產生各自的二進制值。81.—種計算機可讀介質，其存儲如權利要求69所述電路的設計數據。82.—種計算機可讀介質，其存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致一計算機創(chuàng)建如權利要求69所述的集成電路。83.—種方法，其包括捕獲一被測電路的掃描鏈中對于一測試矢量的一測試響應，該測試矢量是^:一解壓器解壓后的一測試矢量；在捕獲對于該測試矢量的測試響應后，施加一復位信號至一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段上；及在施加該復位信號后，卸載掃描鏈上的內容。84.如權利要求83所述的方法，其中被施加復位信號的該一個或多個掃描鏈或掃描鏈段包括那些否則會捕獲到未知值的一個或多個掃描鏈或掃描鏈段。85.如權利要求83所述的方法，其中復位信號的施加導致捕獲到該一個或多個但不是所有的掃描鏈或掃描鏈段上的值成為一單一的常量值。86.如權利要求83所述的方法，其進一步包括接收控制信號，該控制信號控制哪些掃描鏈或掃描鏈段被施加復位信號。87.如權利要求86所述的方法，其進一步包括針對關于多個額外測試矢量的測試響應重新使用該控制信號。88.如權利要求83所述的方法，其進一步包括在加載測試矢量至掃描鏈時，加載用于下一個測試矢量的控制信號。89.—種電路，其被配置執(zhí)行權利要求83所述的方法。90.—個或多個計算機可讀介質，其存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致一計算機運4于一種方法，該方法包括決定一原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，該數量小于一電路設計中可用掃描鏈的數量；從一目標故障列表中選擇一故障；為所選故障生成一測試立方，該測試立方包括一組指定掃描鏈中的指定比特位；決定在該測試立方中指定的掃描鏈數量是否小于該原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量；以及如果該測試立方中指定掃描鏈數量不超過該原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，存儲該測試立方。91.如權利要求90所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該故障是一第一故障，及其中該方法進一步包括如果該測試立方中指定掃描鏈數量超過該原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，拒絕該測試立方；及為該故障列表中一第二故障重復選擇、生成、決定和存儲的動作。92.如權利要求90所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該故障是一第一故障，及其中該方法進一步包括從該目標故障列表中選擇一第二故障；擴展該第一故障的測試立方，以包括用于檢測該第二故障的一個或多個額外的指定比特位；決定該一個或多個額外的指定比特位是否導致該擴展后的測試立方中指定掃描鏈數量超過該原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量；以及如果該擴展后的測試立方中指定掃描鏈數量不超過該原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，存儲該擴展后的測i式立方。93.如權利要求92所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該方法進一步包括如果該擴展后的測試立方中指定掃描鏈數量超過該原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，拒絕該擴展后的測試立方；以及為該故障列表中一第三故障重復選擇、擴展、決定和存儲的動作。94.如權利要求90所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該決定一原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量的動作包括決定用于一測試激勵選擇器的一控制器的編碼容量。95.如權利要求90所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該原始測試激勵源是一解壓器，其被配置解壓一外部測試儀提供的壓縮測試矢量。96.如權利要求90所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該方法進一步包括根據該測試立方，為一測試激勵選擇器生成控制信號，該控制信號在測試期間加載該測試立方的一測試矢量時，有能力導致該測試激勵選擇器施加常量值到未指定的掃描鏈上。97.如^k利要求90所述的一個或多個計算^L可讀介質，其中該原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量基于一測試激勵選擇器能夠單獨控制的掃描鏈最大數量。98.—個或多個計算機可讀介質，其存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致一計算機運行一種方法，該方法包括決定可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，該數量小于一電路設計中可用的掃描鏈數量；從一目標故障列表中選擇一故障；為所選故障生成一測試立方；決定用來觀測來自該測試立方的故障效應的掃描鏈數量；評估用來觀測來自該測試立方的故障效應的掃描鏈數量是否小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量；以及如果用來觀測來自該測試立方的故障效應的掃描鏈數量小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，則存儲該測試立方。99.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該故障是一第一故障，及其中該方法進一步包括如果用來觀測來自該測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過了可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，則拒絕該測試立方；以及為該目標故障列表中一第二故障重復選擇、生成、決定、評估和存儲的動作。100.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其中來自該目標故障列表的該故障是來自該目標故障列表的一第一故障，其中該方法進一步包括從該目標故障列表中選擇一第二故障；擴展該第一故障的測試立方，以包括用于檢測該第二故障的一個或多個額外的指定比特位；決定該一個或多個額外的指定比特位是否導致用來觀測來自該擴展后的測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過了可用于觀測故障效應的掃描鏈數量；以及如果用來觀測來自該擴展后的測試立方的故障效應的掃描鏈數量小于可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，則存儲該擴展后的測試立方。101.如權利要求100所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該方法進一步包括如果用來觀測來自該擴展后的測試立方的故障效應的掃描鏈數量超過了可用于觀測故障效應的掃描鏈數量，拒絕該擴展后的測試立方；以及為該目標故障列表中一第三故障重復選擇、擴展、決定和存儲的動作。102.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該決定可用于觀測故障效應的掃描鏈數量的動作包括決定一掃描使能電路的一控制器、一時鐘使能電路的一控制器、一復位使能電路的一控制器或一移位時鐘使能電路的一控制器的編碼容量。103.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該決定用來觀測來自該測試立方的故障效應的掃描鏈數量的動作包括模擬施加該測試立方到一^皮測電3各上。104.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該原始測試激勵源是一解壓器，其被配置解壓一外部測試儀提供的壓縮測試矢量。105.如權利要求98所述的一個或多個計算^L可讀介質，其中該方法進一步包括根據該測試立方，為一掃描使能電路生成控制信號，該控制信號能夠在測試期間在施加含有該測試立方的一測試矢量時，有能力導致該掃描使能電路抑制來自那些不觀測測試立方的故障效應的掃描鏈的掃描使能信106.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該方法進一步包括根據該測試立方，為一時鐘使能電路生成控制信號，該控制信號能夠在測試期間在施加含有該測試立方的一測試矢量時，有能力導致該時鐘使能電路抑制來自那些不觀測測試立方的故障效應的掃描鏈的時鐘信號。107.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該方法進一步包括根據該測試立方，為一復位使能電路生成控制信號，該控制信號能夠在測試期間在捕獲對于含有該測試立方的一測試矢量的測試響應后，有能力導致該復位使能電路施加復位信號到那些不觀測來自測試立方的故障效應的掃描鏈上。108.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其中該方法進一步包括根據該測試立方，為一移位時鐘使能電路生成控制信號，該控制信號能夠在測試期間捕獲對于含有該測試立方的一測試矢量的測試響應后，有能力導致該移位時鐘使能電路抑制來自那些不觀測測試立方的故障效應的掃描鏈的移位時鐘信號。109.如權利要求98所述的一個或多個計算機可讀介質，其進一步包括:決定一原始測試激勵源所要驅動的掃描鏈數量，該原始測試激勵源所要驅動的該掃描鏈數量基于一掃描使能電路、一時鐘使能電路、一復位使能電路、或一移位時鐘使能電路能夠單獨控制的掃描鏈最大數量。110.—個或多個計算機可讀介質，其存儲計算機可執(zhí)行指令，該指令導致一計算機運行一種方法，該方法包括模擬一施加于一被測電路的測試矢量從而產生一模擬測試響應；從該模擬測試響應中識別一個或多個該被測電路中捕獲未知狀態(tài)的掃描鏈；生成控制信號，該控制信號導致在捕獲窗口期間一掃描使能電路抑制在一個或多個被識別的掃描鏈的掃描使能信號、在捕獲窗口期間一時鐘使能電路抑制在一個或多個被識別的掃描鏈的捕獲時鐘、或一復位使能電路生成在一個或多個被識別的掃描鏈的復位信號；以及存儲該控制信號于一個或多個計算機可讀介質上。全文摘要以下所公開的是在集成電路測試期間降低功率消耗的方法、裝置、和系統(tǒng)的典型實施例。本發(fā)明技術的實施例可用于提供一個低功耗測試方案，并可和各種壓縮硬件結構集成在一起(例如，一個嵌入式確定性測試(“EDT”)結構)。在本發(fā)明的實施例中，集成電路包含可編程測試激勵選擇器、可編程掃描使能電路、可編程時鐘使能電路、可編程移位使能電路、和/或可編程復位使能電路。同時公開的是測試矢量生成方法，這些方法可用于生成測試矢量并與本發(fā)明的任一實施例一同使用。文檔編號G06F11/00GK101663648SQ200880011686公開日2010年3月3日申請日期2008年2月12日優(yōu)先權日2007年2月12日發(fā)明者杰齊·泰澤,林希江,格澤戈茲·姆魯加爾斯基,賈納茲·拉杰斯基,達賴厄茲·齊茲,馬克·卡薩布申請人:明導公司