專利名稱：磁盤陣列的測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種磁盤陣列的測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)，且特別是有關(guān)于一種可提
升測(cè)試效率的磁盤陣列測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
—般而言，測(cè)試人員在進(jìn)行磁盤陣列的測(cè)試時(shí)，首先必須要將多顆實(shí)體硬盤機(jī)連接于磁盤陣列中，并利用磁盤陣列配置工具(RAID confugirationtools)，例如HP品牌的ORCA及ACU模塊，將磁盤陣列創(chuàng)建并設(shè)定完成。接下來(lái)，必須實(shí)際進(jìn)行硬盤機(jī)的插拔動(dòng)作，以進(jìn)行磁盤陣列的各項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目。例如將兩顆實(shí)體硬盤機(jī)創(chuàng)建的RAID1形式的邏輯磁盤，進(jìn)行磁盤陣列錯(cuò)誤處理(RAID error handling)測(cè)試。在該測(cè)試項(xiàng)目中，是將其中一棵實(shí) 體硬盤機(jī)拔除，并檢測(cè)磁盤陣列拔除硬盤機(jī)后的狀態(tài)，以及組態(tài)只讀存儲(chǔ)器(Option ROM)應(yīng)該進(jìn)行的動(dòng)作。測(cè)試人員必須實(shí)際進(jìn)行硬盤機(jī)的排線拔除，甚至是將硬盤機(jī)真正自硬盤機(jī)安裝插槽取下。另外，每一項(xiàng)測(cè)試結(jié)果必須通過(guò)輸出模塊來(lái)顯示測(cè)試結(jié)果，必須等候輸出模塊處理的時(shí)間。每一項(xiàng)測(cè)試結(jié)束后，需要人工在測(cè)試機(jī)臺(tái)旁觀察測(cè)試結(jié)果，方能進(jìn)行下一
步領(lǐng)lj試o 當(dāng)欲執(zhí)行多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，測(cè)試人員必須反復(fù)進(jìn)行硬盤機(jī)的插拔動(dòng)作，并且需隨時(shí)在測(cè)試機(jī)臺(tái)旁等候測(cè)試結(jié)果，無(wú)法有效快速地進(jìn)行測(cè)試，將會(huì)耗費(fèi)許多人力及時(shí)間成本。再者，進(jìn)行磁盤陣列測(cè)試時(shí)，磁盤陣列必須連接許多顆實(shí)體硬盤機(jī)，會(huì)耗費(fèi)許多硬件成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是在提供一種磁盤陣列的測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)，在磁盤陣列的測(cè)試過(guò)程中不需要插拔實(shí)體磁盤機(jī)，可提升測(cè)試的效率以及便利性。 根據(jù)本發(fā)明的一方面，提出一種磁盤陣列的測(cè)試方法，首先以一第一模式讀取多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，用以模擬依照一第一方式連接多個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)。接著，根據(jù)該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)產(chǎn)生一總體配置數(shù)據(jù)。其次，以一第二模式讀取該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，用以模擬依照一第二方式連接該些實(shí)體磁盤機(jī)。再來(lái)，對(duì)應(yīng)第二模式更新總體配置數(shù)據(jù)。然后，記錄總體配置數(shù)據(jù)。 根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提出一種磁盤陣列的測(cè)試系統(tǒng)，包括多個(gè)二進(jìn)制文件、一讀取單元、一組態(tài)只讀存儲(chǔ)器以及一記錄單元。每一個(gè)二進(jìn)制文件包含有一磁盤陣列配置數(shù)據(jù)。讀取單元用以根據(jù)多個(gè)模式讀取該些二進(jìn)制文件。組態(tài)只讀存儲(chǔ)器用以根據(jù)該些二進(jìn)制文件中的該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)產(chǎn)生一總體配置數(shù)據(jù)，并且對(duì)應(yīng)該些模式更新總體配置數(shù)據(jù)。記錄單元用以記錄總體配置數(shù)據(jù)。 根據(jù)本發(fā)明的再一方面，提出一種磁盤陣列的測(cè)試系統(tǒng)，包括一內(nèi)存、一讀取單元、一組態(tài)只讀存儲(chǔ)器以及一記錄單元。內(nèi)存存儲(chǔ)有多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)。讀取單元用以根據(jù)多個(gè)模式從內(nèi)存讀取該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)。組態(tài)只讀存儲(chǔ)器用以根據(jù)讀取的該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)產(chǎn)生一總體配置數(shù)據(jù)，并對(duì)應(yīng)該些模式更新總體配置數(shù)據(jù)。記錄單元用以記錄總體配置數(shù)據(jù)。 本發(fā)明利用讀取多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)的方式模擬連接于多個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)，僅需 改變讀取該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)的模式，即可進(jìn)行各項(xiàng)磁盤陣列的測(cè)試，不需要對(duì)于實(shí)體 磁盤機(jī)進(jìn)行插拔的動(dòng)作，提升了測(cè)試的便利性以及效率。此外還可利用記錄總體配置數(shù)據(jù) 的方式直接了解測(cè)試結(jié)果，節(jié)省等待輸出模塊的時(shí)間。


為使本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂，所附附圖的說(shuō)
明如下







圖1示出了依照本發(fā)明一較佳實(shí)施例的磁盤陣列的測(cè)試系統(tǒng)的功能方塊圖 圖2示出了依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的磁盤陣列的測(cè)試方法的流程圖； 圖3示出了依照本發(fā)明另一較佳實(shí)施例的測(cè)試系統(tǒng)的功能方塊圖。主要組件符號(hào)說(shuō)明
測(cè)試系統(tǒng) 130 :讀取單元 170 :記錄單元 D :磁盤陣列配置數(shù)據(jù)
100 :測(cè)試系統(tǒng) 110:組態(tài)只讀存儲(chǔ)器 150 :二進(jìn)制文件 190 :內(nèi)存
100，
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明較佳實(shí)施例的磁盤陣列(Redundant Array of Ind印endent Disks,RAID) 的測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)中，組態(tài)只讀存儲(chǔ)器(Option R0M，0PR0M)利用連接讀取多個(gè)磁盤陣 列配置數(shù)據(jù)的方式，模擬連接至多個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)的狀態(tài)。進(jìn)行磁盤陣列測(cè)試時(shí)，僅需改變讀 取該些磁盤陣列數(shù)據(jù)的模式，即可對(duì)應(yīng)模擬該些實(shí)體磁盤機(jī)的連接方式。如此可省略插拔 實(shí)體磁盤機(jī)的動(dòng)作，提升測(cè)試的便利性及效率。 請(qǐng)參照?qǐng)Dl，其示出了依照本發(fā)明一較佳實(shí)施例的磁盤陣列的測(cè)試系統(tǒng)的功能方 塊圖。磁盤陣列測(cè)試系統(tǒng)100包括多個(gè)二進(jìn)制文件150、一讀取單元130、一組態(tài)只讀存 儲(chǔ)器110以及一記錄單元170。各二進(jìn)制文件150中包含有一磁盤陣列配置數(shù)據(jù)(RAID configuration data)D。讀取單元130用以根據(jù)多個(gè)模式讀取該些二進(jìn)制文件150，以 取得包含于該些二進(jìn)制文件150中的多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D。組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110用 以根據(jù)該些二進(jìn)制文件150中的該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D產(chǎn)生一總體配置數(shù)據(jù)(global RAIDconfiguration information)，并且對(duì)應(yīng)該些模式更新總體配置數(shù)據(jù)。另外，記錄單元 170用以記錄總體配置數(shù)據(jù)。通過(guò)位于該些二進(jìn)制文件150中的多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D， 測(cè)試人員不需要反復(fù)對(duì)于實(shí)體磁盤機(jī)進(jìn)行插拔的動(dòng)作，并且可通過(guò)記錄的總體配置數(shù)據(jù)直 接得知測(cè)試結(jié)果，可以提升測(cè)試的便利性，以及提升測(cè)試效率。 本實(shí)施例的磁盤陣列的測(cè)試系統(tǒng)100是應(yīng)用依照本發(fā)明一較佳實(shí)施例的磁盤陣 列的測(cè)試方法來(lái)進(jìn)行測(cè)試。請(qǐng)參照?qǐng)D2，其示出了依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的磁盤陣列的測(cè)試 方法的流程圖。首先，如步驟SI所示，以一第一模式讀取多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D，用以模 擬依照一第一方式連接多個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)。本實(shí)施例的測(cè)試方法中，還包括提供該些二進(jìn)制 文件150的步驟，該些二進(jìn)制文件分別包含有各磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D。該步驟中，讀取單元130是根據(jù)第一模式讀取全部的二進(jìn)制文件150。藉之，組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110連接讀取全部 的磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D。實(shí)際應(yīng)用上，當(dāng)組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110連接讀取全部的磁盤陣列配置 數(shù)據(jù)D時(shí)，測(cè)試系統(tǒng)100是模擬組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110連接于全部的實(shí)體磁盤機(jī)。亦即，當(dāng)組 態(tài)只讀存儲(chǔ)器連接讀取其中一個(gè)二進(jìn)制文件150時(shí)，可視為連接于一個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)。
接著，進(jìn)行步驟S2，根據(jù)該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D產(chǎn)生總體配置數(shù)據(jù)。測(cè)試系統(tǒng) 100是利用組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110將該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D整合產(chǎn)生總體配置數(shù)據(jù)。
再來(lái)，本實(shí)施例的方法進(jìn)行步驟S3，以一第二模式讀取該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D， 用以模擬依照一第二方式連接該些實(shí)體磁盤機(jī)。本實(shí)施例的第二模式中，例如是僅連接讀 取部分的磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D。測(cè)試系統(tǒng)100利用讀取單元130根據(jù)第二模式，讀取部分的 二進(jìn)制文件150。藉之，組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110僅連接讀取部分的磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D。實(shí)際 應(yīng)用上，當(dāng)組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110連接讀取部分的磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D時(shí)，測(cè)試系統(tǒng)100是模 擬組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110連接于部分的實(shí)體磁盤機(jī)。本實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)100透過(guò)減少連接 讀取的二進(jìn)制文件150的數(shù)目，模擬部分的實(shí)體磁盤機(jī)被拔除的狀態(tài)。不需要真正進(jìn)行實(shí) 體磁盤機(jī)拔除的動(dòng)作，除可節(jié)省在硬件中采用實(shí)體磁盤機(jī)的成本外，還可簡(jiǎn)化測(cè)試的步驟， 進(jìn)而提升測(cè)試效率。 本實(shí)施例的測(cè)試方法接下來(lái)進(jìn)行對(duì)應(yīng)第二模式更新總體配置數(shù)據(jù)的步驟，如步驟 S4所示。測(cè)試系統(tǒng)100中，當(dāng)組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110連接讀取磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D的狀態(tài)改 變時(shí)，例如減少連接讀取磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D的數(shù)目(模擬部分的實(shí)體磁盤機(jī)被拔除)，組 態(tài)只讀存儲(chǔ)器110便會(huì)對(duì)應(yīng)磁盤陣列當(dāng)下的狀態(tài)更新總體配置數(shù)據(jù)。 另外，本實(shí)施例的測(cè)試方法中還進(jìn)行記錄總體配置數(shù)據(jù)的步驟，如步驟S5所示。 實(shí)際應(yīng)用上，測(cè)試系統(tǒng)100是利用記錄單元170記錄更新前以及更新后的總體配置數(shù)據(jù)。測(cè) 試人員可直接通過(guò)記錄的總體配置數(shù)據(jù)，得知由第一模式改變至第二模式讀取該些磁盤陣 列配置數(shù)據(jù)D前后，磁盤陣列的配置方式。以此可以得知測(cè)試的結(jié)果，省去等待輸出模塊處 理的時(shí)間。 更進(jìn)一步來(lái)說(shuō)，本實(shí)施例的測(cè)試方法還包括以一第三模式讀取該些磁盤陣列配置 數(shù)據(jù)D的步驟，用以模擬依照一第三方式連接該些實(shí)體磁盤機(jī)。本實(shí)施例中，第三模式與第 一模式相同；亦即，在第三模式中，組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110連接讀取全部的磁盤陣列配置數(shù)據(jù) D。藉之，測(cè)試系統(tǒng)100可模擬復(fù)將全部實(shí)體磁盤機(jī)與組態(tài)只讀存儲(chǔ)器連接的方式。接著， 組態(tài)只讀存儲(chǔ)器110對(duì)應(yīng)第三模式更新總體配置數(shù)據(jù)。然后，記錄單元170還記錄更新后 的總體配置數(shù)據(jù)。本實(shí)施例中，記錄單元170可重復(fù)進(jìn)行記錄的步驟，用以記錄多筆更新前 及更新后的總體配置數(shù)據(jù)，以形成一列表。由于不需進(jìn)行耗時(shí)費(fèi)工的實(shí)體磁盤機(jī)插拔動(dòng)作， 測(cè)試系統(tǒng)100可快速、連續(xù)地逐項(xiàng)進(jìn)行磁盤陣列的測(cè)試動(dòng)作，并且將多項(xiàng)測(cè)試后的總體配 置數(shù)據(jù)整合為列表，測(cè)試人員可同時(shí)得知多項(xiàng)測(cè)試的結(jié)果。 本實(shí)施例中，第二以及第三模式分別以減少并回復(fù)連接讀取磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D 的數(shù)目為例，用以模擬拔除以及接回部分實(shí)體磁盤機(jī)的狀態(tài)。然而本實(shí)施例的技術(shù)并不限 制于此，凡利用改變模式來(lái)模擬不同的實(shí)體磁盤機(jī)連接方式者，均可應(yīng)用于此。另外一方 面，本實(shí)施例中是以該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D包含于該些二進(jìn)制文件150中為例，因此實(shí)際 上本實(shí)施例的測(cè)試方法可應(yīng)用于一操作系統(tǒng)中，利用在操作系統(tǒng)環(huán)境中讀取該些二進(jìn)制文 件150的方式來(lái)進(jìn)行測(cè)試。然而，在不同的實(shí)施方式中，該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D也可存儲(chǔ)于一內(nèi)存中。請(qǐng)參照?qǐng)D3，其示出了依照本發(fā)明另一較佳實(shí)施例的測(cè)試系統(tǒng)的功能方塊圖。 測(cè)試系統(tǒng)100'中，該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D存儲(chǔ)于一內(nèi)存190中。因此，本實(shí)施例的測(cè)試 系統(tǒng)100'實(shí)際上也可應(yīng)用于操作系統(tǒng)啟動(dòng)前(post-OS)的韌件環(huán)境中。
該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D可由待測(cè)磁盤陣列系統(tǒng)中的實(shí)體硬盤得知。例如通過(guò)解 析待測(cè)磁盤陣列系統(tǒng)中各硬盤的RIS(Reserved Information Sectors)磁區(qū)，得知其配置 數(shù)據(jù)的字段，以制作出相對(duì)應(yīng)的磁盤陣列配置數(shù)據(jù)D。因此，通過(guò)制作出相對(duì)應(yīng)的磁盤陣列 配置數(shù)據(jù)D，本實(shí)施例的測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)100即可應(yīng)用于不同類型及品牌的磁盤陣列 系統(tǒng)，大幅提升了應(yīng)用的彈性。 上述依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的磁盤陣列的測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)連接讀取多 個(gè)與實(shí)體磁盤機(jī)中相同的磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，模擬連接于多個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)的狀態(tài)。進(jìn)行測(cè) 試時(shí)，僅需改變連接讀取磁盤陣列配置數(shù)據(jù)的模式，不需進(jìn)行實(shí)體磁盤機(jī)的插拔，可以提升 測(cè)試的便利性，并節(jié)省應(yīng)用多個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)進(jìn)行測(cè)試的硬件及人力成本。再者，通過(guò)解析實(shí) 體磁盤機(jī)的配置信息來(lái)制作對(duì)應(yīng)的多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，使依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的測(cè) 試方法及測(cè)試系統(tǒng)可應(yīng)用于不同品牌及型態(tài)的磁盤陣列系統(tǒng)，提升應(yīng)用的彈性。此外，通過(guò) 同時(shí)記錄多筆總體配置數(shù)據(jù)的方式，可批次連續(xù)進(jìn)行多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，并可讓測(cè)試人員同時(shí) 得知多項(xiàng)測(cè)試結(jié)果，進(jìn)而提升測(cè)試的效率。 雖然本發(fā)明已以實(shí)施方式揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，熟悉本領(lǐng)域的技 術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范 圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種磁盤陣列的測(cè)試方法，其特征在于，包括以一第一模式讀取多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，用以模擬依照一第一方式連接多個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)；根據(jù)該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)產(chǎn)生一總體配置數(shù)據(jù)；以一第二模式讀取該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，用以模擬依照一第二方式連接該些實(shí)體磁盤機(jī)；對(duì)應(yīng)該第二模式更新該總體配置數(shù)據(jù)；以及記錄該總體配置數(shù)據(jù)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，該測(cè)試方法還包括 提供多個(gè)二進(jìn)制文件，該些二進(jìn)制文件分別包含有各該磁盤陣列配置數(shù)據(jù)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于一內(nèi) 存中。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，在該第一模式中，一組態(tài)只讀存儲(chǔ)器 連接讀取全部的該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試方法，其特征在于，在該第二模式中，該組態(tài)只讀存儲(chǔ)器 連接讀取部分的該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，該測(cè)試方法還包括 以一第三模式讀取該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，用以模擬依照一第三方式連接該些實(shí)體磁盤機(jī)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法，其特征在于，該測(cè)試方法還包括對(duì)應(yīng)該第三模式更新該總體配置數(shù)據(jù)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于，在該測(cè)試方法中，該記錄步驟重復(fù)執(zhí) 行多次，以記錄多筆更新前及更新后的該總體配置數(shù)據(jù)。
9. 一種磁盤陣列的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括多個(gè)二進(jìn)制文件，各該二進(jìn)制文件包含有一磁盤陣列配置數(shù)據(jù)； 一讀取單元，用以根據(jù)多個(gè)模式讀取該些二進(jìn)制文件；一組態(tài)只讀存儲(chǔ)器，用以根據(jù)該些二進(jìn)制文件中的該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)產(chǎn)生一總體 配置數(shù)據(jù)，并對(duì)應(yīng)該些模式更新該總體配置數(shù)據(jù)；以及 一記錄單元，用以記錄該總體配置數(shù)據(jù)。
10. —種磁盤陣列的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括 一內(nèi)存，存儲(chǔ)有多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)；一讀取單元，用以根據(jù)多個(gè)模式從該內(nèi)存讀取該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)；一組態(tài)只讀存儲(chǔ)器，用以根據(jù)讀取的該些磁盤陣列配置數(shù)據(jù)產(chǎn)生一總體配置數(shù)據(jù)，并 對(duì)應(yīng)該些模式更新該總體配置數(shù)據(jù)；以及 一記錄單元，用以記錄該總體配置數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種磁盤陣列的測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)。測(cè)試系統(tǒng)包括一讀取單元、一組態(tài)只讀存儲(chǔ)器、一記錄單元以及多個(gè)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)。磁盤陣列數(shù)據(jù)包含于多個(gè)二進(jìn)制文件中或存儲(chǔ)于一內(nèi)存中。測(cè)試方法首先，讀取單元以一第一模式讀取磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，以模擬依照第一方式連接多個(gè)實(shí)體磁盤機(jī)。接著，組態(tài)只讀存儲(chǔ)器根據(jù)磁盤陣列配置數(shù)據(jù)產(chǎn)生一總體配置數(shù)據(jù)。再來(lái)，讀取單元以一第二模式讀取磁盤陣列配置數(shù)據(jù)，以模擬依照第二方式連接實(shí)體磁盤機(jī)。其次，組態(tài)只讀存儲(chǔ)器對(duì)應(yīng)第二模式更新總體配置數(shù)據(jù)。然后，利用記錄單元記錄總體配置數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G06F11/26GK101788943SQ20091000606
公開日2010年7月28日 申請(qǐng)日期2009年1月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月22日
發(fā)明者陳重江 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司