專利名稱：一種陣列處理器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體芯片技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種陣列處理器。
背景技術(shù)：
陣列處理器(Array Processor)具有強(qiáng)大的計算能力，高度靈活的可配置性和可 擴(kuò)展性，逐漸成為高性能集成電路的發(fā)展方向。然而由于半導(dǎo)體芯片的制造工藝復(fù)雜，陣列 處理器集成越來越多的計算單元，導(dǎo)致生產(chǎn)過程易產(chǎn)生芯片缺陷，這些缺陷可能會使芯片 不能正常工作或失效，造成芯片廢棄，大大降低芯片的良率和可靠性，提高芯片生產(chǎn)成本。
由于工藝不穩(wěn)定性，在某些特定環(huán)境下(如高溫或者受到某類射線的干擾)，芯片 中某些模塊在運行中也會出現(xiàn)失效的現(xiàn)象，導(dǎo)致芯片整體功能錯誤。 現(xiàn)有的陣列處理器容錯檢測技術(shù)，大多針對芯片由于制造工藝問題出現(xiàn)的硬失效 情況，即在芯片正常工作之前，通過容錯電路判斷芯片是否出現(xiàn)故障，繼而采取規(guī)避措施提 升芯片良率。但無法檢測和糾正正常工作中由于環(huán)境參數(shù)發(fā)生改變導(dǎo)致的芯片失效，無法 保證陣列處理器在惡劣環(huán)境下的穩(wěn)定工作。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的問題是克服現(xiàn)有陣列處理器無法在正常工作中進(jìn)行故障檢測，提 供一種陣列處理器，實現(xiàn)了陣列處理器在正常工作中的故障檢測。 為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的技術(shù)方案是一種陣列處理器，包括多個由計算單 元和通訊單元相連組成的功能單元，所述功能單元之間相連形成網(wǎng)絡(luò)，還包括至少一個故 障檢測單元，所述故障檢測單元與其鄰近的功能單元相連接，用于對功能單元進(jìn)行故障檢 本發(fā)明實施例中，所述故障檢測單元包括學(xué)習(xí)模塊、第一存儲器和比較模塊，其 中 學(xué)習(xí)模塊，與所述功能單元相連，用于獲取所述功能單元的參考狀態(tài)值并產(chǎn)生與 該功能單元對應(yīng)的故障匹配因子； 第一存儲器，與學(xué)習(xí)模塊連接，用于存儲故障匹配因子； 比較模塊，分別與所述功能單元和第一存儲器連接，用于比較所檢測的功能單元
的狀態(tài)信息與其對應(yīng)的故障匹配因子的相似度或相反度，判斷功能單元是否出現(xiàn)故障。 本發(fā)明實施例中，所述陣列處理器還包括一定數(shù)量的閑置功能單元，所述故障檢
測單元的檢測結(jié)果輸出端與通訊單元相連，當(dāng)某個功能單元檢測為故障時，該功能單元的
通訊單元啟動重構(gòu)操作，激活一個閑置功能單元代替所述故障功能單元。 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明通過在陣列處理器中加入多個故障檢測單元，多個故障
檢測單元之間互相連接形成檢測網(wǎng)絡(luò)，每個故障檢測單元負(fù)責(zé)對周圍區(qū)域內(nèi)的功能單元進(jìn)
行檢測檢測，從而實現(xiàn)正常工作時對整個陣列處理器芯片的故障檢測功能。 進(jìn)一步的，故障檢測單元還可以根據(jù)自身狀態(tài)的變化進(jìn)行學(xué)習(xí)并總結(jié)規(guī)則，通過實時比較功能單元的狀態(tài)與規(guī)則得到檢測結(jié)果，根據(jù)檢測結(jié)果規(guī)避故障單元，使陣列處理 器具有動態(tài)容錯能力，保證陣列處理器在工作中出現(xiàn)軟失效時，能通過實時內(nèi)建的故障檢 測單元進(jìn)行功能糾錯和修復(fù)，實施冗余功能單元重構(gòu)，從而提高陣列處理器的可靠性，保證 自身任務(wù)的正確執(zhí)行，大大提高了陣列處理器在各種環(huán)境下工作的可靠性，延長了陣列處 理器的工作壽命。


圖1是本發(fā)明實施例提供的一種陣列處理器結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本發(fā)明實施例提供的一種故障檢測單元結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3是本發(fā)明實施例提供的一種故障檢測單元結(jié)構(gòu)示意圖； 圖4是本實施例提供的一種功能單元接收故障檢測單元檢測順序示意圖。
具體實施例方式
下面通過具體的實施例并結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。 本發(fā)明的基本思想是通過在陣列處理器中加入多個故障檢測單元，多個故障檢測
單元之間互相連接形成檢測網(wǎng)絡(luò)，每個故障檢測單元負(fù)責(zé)對周圍區(qū)域內(nèi)的功能單元進(jìn)行檢
測檢測，從而實現(xiàn)正常工作時對整個陣列處理器芯片的故障檢測功能。 請參閱圖1所示，圖1為本發(fā)明實施例提供的一個基本的陣列處理器加上故障檢 測網(wǎng)絡(luò)組成的可容錯陣列處理器結(jié)構(gòu)示意圖。其中，陣列處理器網(wǎng)絡(luò)包括若干計算單元 (Processing Element,PE) 1、通訊單元(本實施例為路由單元Router或交換單元Switch, R/S) 2、以及連接所述計算單元1和通訊單元2的互聯(lián)網(wǎng)絡(luò)3。計算單元1和通訊單元2組 成一個功能單元。所述功能單元之間通過互聯(lián)網(wǎng)絡(luò)3網(wǎng)狀連接。計算單元l用于處理數(shù)據(jù)， 通訊單元2用于功能單元之間的通訊，計算單元1通過通訊單元2與周圍的計算單元1進(jìn) 行通訊。本發(fā)明還在陣列處理器中加入故障檢測單元4，所述故障檢測單元4與其鄰近的功 能單元相連接，每個故障檢測單元4對其連接的功能單元進(jìn)行故障檢測。所述故障檢測單 元4可以位于功能單元中的計算單元1或通訊單元2中，也可以獨立于計算單元1和通訊 單元2，設(shè)置在每個功能單元之間。 本發(fā)明實施例中，所述計算單元1和通訊單元2都是可配置的，通過配置所述計算 單元1可以改變各個計算單元的具體功能，通過配置所述通訊單元2可以改變計算單元1 間的連接結(jié)構(gòu)，從而滿足不同的算法要求。 所述故障檢測單元4之間可復(fù)用陣列中功能單元連線5，也可通過專用連線6相 互連接，形成故障檢測網(wǎng)絡(luò)。故障檢測網(wǎng)絡(luò)和陣列處理器網(wǎng)絡(luò)之間通過連線5連接起來，實 現(xiàn)故障檢測單元4對陣列功能單元的檢測。每個故障檢測單元4對其近鄰范圍內(nèi)的功能單 元進(jìn)行故障檢測，其負(fù)責(zé)檢測的功能單元可以是一個，也可以是鄰近的多個(本實施例為4 個)。每個故障檢測單元4所作用的區(qū)域可以是相互獨立的，也可以是重疊的，根據(jù)具體的 設(shè)計約束、容錯能力需求和制造工藝等因素確定。同樣，每個功能單元可以接受鄰近的一個 故障檢測單元4檢測，也可接受鄰近多個(本實施例為4個)故障檢測單元4檢測。檢測 的內(nèi)容可以是功能單元工作狀態(tài)，也可是功能單元的運行結(jié)果，如標(biāo)志位和操作碼等，這些 信息可從功能單元的寄存器或存儲器中讀出。
此外，本發(fā)明陣列處理器的陣列兩側(cè)分別增加一列的閑置功能單元(圖中未示 出)。當(dāng)故障檢測單元4檢測出某一功能單元出現(xiàn)故障時，故障的功能單元將相應(yīng)的故障信 號線置位，與該故障的功能單元相關(guān)的通訊單元2將接收到這個信號，并由該通訊單元2啟 動重構(gòu)操作，激活附近的閑置功能單元代替該故障的功能單元。 請參閱圖2所示，圖2是本實施例提供的一種故障檢測單元結(jié)構(gòu)示意圖。所述故 障檢測單元4包括學(xué)習(xí)模塊41、第一存儲器42、比較模塊43、檢測網(wǎng)絡(luò)輸入多路器44、功能 單元狀態(tài)信息輸入多路器45、檢測結(jié)果輸出多路器46、檢測網(wǎng)絡(luò)輸出多路器47、計數(shù)器48 和定時器49。 請參閱圖3所示，本發(fā)明實施例中，所述學(xué)習(xí)模塊41進(jìn)一步包括第二存儲器411、 隨機(jī)值產(chǎn)生器412和匹配因子選擇模塊413。其中，第二存儲器411與隨機(jī)值產(chǎn)生器412相 連接，用于存儲各個待測功能單元的參考狀態(tài)值(例如標(biāo)志位、特征碼)。所述參考狀態(tài)值 會根據(jù)待測功能單元輸入的狀態(tài)信息在學(xué)習(xí)時間范圍內(nèi)進(jìn)行更新。隨機(jī)值產(chǎn)生器412根據(jù) 功能單元的參考狀態(tài)值產(chǎn)生隨機(jī)值作為候選故障匹配因子，匹配因子選擇模塊413通過執(zhí) 行選擇算法，從候選故障匹配因子中選取較優(yōu)的故障匹配因子作為陣列處理器判斷功能單 元是否故障的判斷條件，然后將選出的故障匹配因子存儲在第一存儲器42中。該模塊可由
狀態(tài)機(jī)實現(xiàn)，也可采用程序控制器的實現(xiàn)方案；特別的，選擇算法包括但不限于正向選擇算
法、反向選擇算法、克隆選擇算法等借鑒生物免疫學(xué)原理的自學(xué)習(xí)方法。當(dāng)功能單元的狀態(tài)
信息正常時，即故障檢測單元認(rèn)為狀態(tài)轉(zhuǎn)換是正常的時候，學(xué)習(xí)模塊41會根據(jù)當(dāng)前的功能
單元狀態(tài)與原有的參考狀態(tài)值進(jìn)行比較，假設(shè)將當(dāng)前功能單元狀態(tài)值替換掉參考狀態(tài)值中
的一個可以使得這組參考狀態(tài)值內(nèi)部呈現(xiàn)更大的差異，則進(jìn)行該替換操作，形成新的參考
狀態(tài)值組。同時學(xué)習(xí)模塊41在新的參考狀態(tài)值基礎(chǔ)上產(chǎn)生更優(yōu)的故障匹配因子。該過程
實現(xiàn)了故障檢測單元的自學(xué)習(xí)和自適應(yīng)。在芯片剛開始工作的一段時間內(nèi)，故障檢測單元
4所寄存的規(guī)則很大程度上反映的是預(yù)設(shè)的規(guī)則，當(dāng)陣列處理器運行了一段時間之后，功能
單元的運行狀態(tài)通過自學(xué)習(xí)機(jī)制對功能單元狀態(tài)規(guī)則的影響將越來越大。 所述故障匹配因子由一段二進(jìn)制碼表示，二進(jìn)制碼的內(nèi)容及碼長可以是預(yù)先設(shè)置
好的，也可以由學(xué)習(xí)模塊41通過觀察功能單元正常工作一段時間后總結(jié)得到，也可以從其
他故障檢測單元4交換得到。 學(xué)習(xí)模塊41的輸入主要有第一存儲器42寄存的故障匹配因子、當(dāng)前功能單元的 狀態(tài)信息和通過檢測網(wǎng)絡(luò)傳送過來的鄰近故障檢測單元所存儲的故障匹配因子。
本發(fā)明實施例中，所述學(xué)習(xí)模塊41產(chǎn)生故障匹配因子的流程是若候選故障匹配 因子與所述參考狀態(tài)值的相似度低于一定閾值(該閾值可由設(shè)計者自定義)，并且第一存 儲器42中故障匹配因子的數(shù)量尚未達(dá)到預(yù)設(shè)上限，則直接將該候選故障匹配因子存入第 一存儲器42中，否則將候選故障匹配因子與存儲器中所檢測的功能單元對應(yīng)的故障匹配 因子比較，判斷候選故障匹配因子相似度是否大于相似度最大者，或者相反度是否大于相 反度最大者，如果滿足條件則用該候選故障匹配因子替換存儲器中原有的相似度最大，或 者相反度最大的那個故障匹配因子，否則放棄該候選故障匹配因子。 本發(fā)明實施例中，由于每個故障檢測單元4對鄰近4個功能單元進(jìn)行檢測，所以第
一存儲器42被劃分為四部分，分別記錄四個功能單元的故障匹配因子。 舉例說明，本實施例中第一存儲器42中最多只能存儲N個故障匹配因子，那么對應(yīng)于某個功能單元就有N/4個故障匹配因子，故障檢測單元4在檢測該功能單元時，將該功 能單元的狀態(tài)信息與N/4個故障匹配因子比較，在比較時可以采用一一比較然后統(tǒng)計分?jǐn)?shù) 的形式判斷功能單元是正常還是故障，或者當(dāng)比較到某個故障匹配因子判斷功能單元為故 障時即不用再繼續(xù)進(jìn)行比較的方式。 所述第一存儲器42和第二存儲器411可以是市場上各類存儲介質(zhì)的存儲器，包括 但不限于SRAM (Static RAM)、寄存器等。特別的，本發(fā)明中第一存儲器42和第二存儲器411 可以是同一個存儲器。 所述比較模塊43接收當(dāng)前功能單元1狀態(tài)信息和第一存儲器42相應(yīng)存儲器段的 故障匹配因子，將當(dāng)前功能單元狀態(tài)按照一定的規(guī)則(例如連續(xù)相同位、海明距離、位間約 束等)與相應(yīng)存儲器段的故障匹配因子進(jìn)行比較。如果功能單元的狀態(tài)信息與故障匹配因 子在一定程度上相似或相反，則認(rèn)為該功能單元出現(xiàn)故障。如果學(xué)習(xí)模塊41采用的是正向 選擇算法，則產(chǎn)生的故障匹配因子表達(dá)的是故障信息，則比較相似程度，如果相似程度大于
一定閥值，則認(rèn)為功能單元故障；如果學(xué)習(xí)模塊41采用的是反向選擇算法，則產(chǎn)生的故障 匹配因子表達(dá)的是正常信息，則比較相反程度，如果相反程度小于一定閥值，則認(rèn)為功能單 元故障。所述閥值由設(shè)計者根據(jù)實際經(jīng)驗選取恰當(dāng)值。相似或相反程度的確定由比較模塊 43完成。同時，通過檢測結(jié)果輸出多路器46發(fā)出信號通知負(fù)責(zé)實施重配置的單元(在本實 施例中為路由單元或交換單元)。 所述計數(shù)器48與第一存儲器42、功能單元狀態(tài)信息輸入多路器45、和檢測結(jié)果輸 出多路器46相連接，用于控制第一存儲器42 、功能單元狀態(tài)信息輸入多路器45和檢測結(jié)果 輸出多路器46。計數(shù)器48作為選擇信號，使故障檢測單元4按一定順序輪流檢測鄰近的四 個功能單元。 而對于任何一個功能單元，在一個具體實施例中，按照圖4所示，從0到3的順序， 在每個時刻都會有一個故障檢測單元對其進(jìn)行檢測。即在同一時間內(nèi)，故障檢測單元4只 對一個功能單元進(jìn)行故障檢測。例如，當(dāng)計數(shù)器48為3時，故障檢測單元4檢測的是其左 下角的功能單元。這時，功能單元狀態(tài)輸入多路器45會選擇右上角功能單元的狀態(tài)輸入， 使它與存儲器段3所寄存的狀態(tài)規(guī)則相比較，其結(jié)果會送到檢測結(jié)果輸出多路器46，而下 一次計數(shù)器48的值是0時，則對該故障檢測單元4的右下角的功能單元進(jìn)行檢測，如此循 環(huán)檢測。 本發(fā)明實施例中，由于每個故障檢測單元4對鄰近4個功能單元進(jìn)行檢測，所以計 數(shù)器48采用了 0-3計數(shù)器，檢測網(wǎng)絡(luò)輸入多路器44、功能單元狀態(tài)信息輸入多路器45、檢 測結(jié)果輸出多路器46、檢測網(wǎng)絡(luò)輸出多路器47均采用4-1多路器。 本發(fā)明實施例中，所述定時器49與學(xué)習(xí)模塊41相連接，用來計時，在一段給定時 間內(nèi)控制學(xué)習(xí)模塊41對功能單元自身狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測，通過自學(xué)習(xí)方法獲得故障匹配因子， 即在系統(tǒng)正常工作一段時間后，故障檢測單元4才能有效進(jìn)行故障檢測。多個故障檢測單 元4可以共用一個定時器。 本發(fā)明實施中，如果功能單元檢測為故障，發(fā)出信號通知負(fù)責(zé)實施重配置的單元， 本實施例中負(fù)責(zé)實施重配置的單元為路由單元或交換單元。當(dāng)故障檢測單元4檢測出某一 功能單元出現(xiàn)故障時，故障的功能單元4將相應(yīng)的故障信號線置位，與該故障功能單元相 關(guān)的路由單元或交換單元將接收到這個信號，并由該路由單元或交換單元啟動重構(gòu)操作，激活附近的閑置功能單元代替該故障功能單元。 需要說明的是，在陣列處理器工作前，本發(fā)明實施例會先進(jìn)行算法映射以確定陣
列上各個功能單元的任務(wù)以及功能單元間的連接關(guān)系。確定了各個功能單元所負(fù)責(zé)的任務(wù)
后，就可以獲得相應(yīng)功能單元的基本參考狀態(tài)值。完成功能單元的配置或程序加載后，通過
檢測網(wǎng)絡(luò)將各個功能單元的基本參考狀態(tài)值加載到相應(yīng)的檢測單元的比較模塊中對應(yīng)于
該功能單元的存儲器段，加載完成后再配置好通訊單元，讓處理器開始正常工作。 綜上所述，本發(fā)明提供一種陣列處理器，通過在陣列處理器中加入多個故障檢測
單元，多個故障檢測單元之間互相連接形成檢測網(wǎng)絡(luò)，每個故障檢測單元負(fù)責(zé)對周圍區(qū)域
內(nèi)的功能單元進(jìn)行檢測檢測，從而實現(xiàn)對整個陣列處理器芯片的檢測功能。 同時，故障檢測單元還可以根據(jù)自身狀態(tài)的變化進(jìn)行學(xué)習(xí)并總結(jié)規(guī)則，通過實時
比較功能單元的狀態(tài)與規(guī)則得到檢測結(jié)果，根據(jù)檢測結(jié)果規(guī)避故障單元，使陣列處理器具
有動態(tài)容錯能力，保證陣列處理器在工作中出現(xiàn)軟失效時，能通過實時內(nèi)建的故障檢測單
元進(jìn)行功能糾錯和修復(fù)，實施冗余功能單元重構(gòu)，提高陣列處理器的可靠性，保證自身任務(wù)
的正確執(zhí)行，大大提高了陣列處理器在各種環(huán)境下工作的可靠性，延長了陣列處理器的工
作壽命。 以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實施方式對本發(fā)明所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定 本發(fā)明的具體實施只局限于這些說明。對于本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在 不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明的 保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種陣列處理器，包括多個由計算單元和通訊單元相連組成的功能單元，所述功能單元之間相連形成網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，還包括至少一個故障檢測單元，所述故障檢測單元與其鄰近的功能單元相連接，用于對功能單元進(jìn)行故障檢測。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列處理器，其特征在于，所述故障檢測單元包括學(xué)習(xí)模塊、 第一存儲器和比較模塊，其中學(xué)習(xí)模塊，與所述功能單元相連，用于獲取所述功能單元的參考狀態(tài)值并產(chǎn)生與該功 能單元對應(yīng)的故障匹配因子；第一存儲器，與學(xué)習(xí)模塊連接，用于存儲故障匹配因子；比較模塊，分別與所述功能單元和第一存儲器連接，用于比較所檢測的功能單元的狀 態(tài)信息與其對應(yīng)的故障匹配因子的相似度或相反度，判斷功能單元是否出現(xiàn)故障。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列處理器，其特征在于，所述學(xué)習(xí)模塊包括第二存儲器、隨 機(jī)值產(chǎn)生器以及匹配因子選擇模塊，其中第二存儲器，用于存儲待測功能單元的參考狀態(tài)值；隨機(jī)值產(chǎn)生器，其一端與第二存儲器連接，用于根據(jù)功能單元的參考狀態(tài)值隨機(jī)產(chǎn)生 故障匹配因子；匹配因子選擇模塊，與隨機(jī)值產(chǎn)生器連接，用于通過執(zhí)行選擇算法，從候選故障匹配因 子中選取所述故障匹配因子。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的陣列處理器，其特征在于，所述匹配因子選擇模塊用于判斷 所述第一存儲器中的故障匹配因子的數(shù)量是否達(dá)到預(yù)設(shè)上限，如果尚未達(dá)到預(yù)設(shè)上限，則 直接將該候選故障匹配因子存入存儲器中；如果已達(dá)到預(yù)設(shè)上限，則將候選故障匹配因子 與第一存儲器中所檢測的功能單元對應(yīng)的故障匹配因子比較，判斷候選故障匹配因子相似 度是否大于相似度最大者，或者相反度是否大于相反度最大者，如果滿足條件則用該候選 故障匹配因子替換存儲器中原有的相似度最大，或者相反度最大的那個故障匹配因子，否 則放棄該候選故障匹配因子。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的陣列處理器，其特征在于，當(dāng)故障匹配因子表達(dá)的是故障信 息時，所述比較模塊用于比較功能單元的狀態(tài)信息和故障匹配因子之間的相似程度，如果 相似程度大于一定閥值，則認(rèn)為功能單元故障；當(dāng)故障匹配因子表達(dá)的是正常信息時，所述 比較模塊用于比較功能單元的狀態(tài)信息和故障匹配因子之間的相反程度，如果相反程度小 于一定閥值，則認(rèn)為功能單元故障。
6. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列處理器，其特征在于，所述故障檢測單元用于檢測多個 功能單元，所述故障檢測單元還包括計數(shù)器、功能單元狀態(tài)信息輸入多路器和檢測結(jié)果輸 出多路器，其中功能單元狀態(tài)信息輸入多路器的輸入端分別連接多個功能單元，輸出端連接學(xué)習(xí)模 塊，用于將各功能單元的參考狀態(tài)值輸出到學(xué)習(xí)模塊；檢測結(jié)果輸出多路器的輸入端連接比較模塊，輸出端輸出故障檢測單元對功能單元的 檢測結(jié)果；計數(shù)器，分別與第一存儲器、功能狀態(tài)信息輸入多路器和檢測結(jié)果輸出多路器相連接， 用于控制故障檢測單元按一定順序?qū)δ軉卧M(jìn)行故障檢測。
7. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列處理器，其特征在于，所述故障檢測單元還包括檢測網(wǎng)絡(luò)輸入多路器和檢測網(wǎng)絡(luò)輸出多路器，檢測網(wǎng)絡(luò)輸入多路器的輸入端分別和周圍其他故障 檢測單元連接，輸出端連接本故障檢測單元的學(xué)習(xí)模塊，用于輸入其他故障檢測單元的故 障匹配因子；檢測網(wǎng)絡(luò)輸出多路器的輸入端與本故障檢測單元的第一存儲器連接，輸出端 分別與周圍其他故障檢測單元連接，用于輸出故障匹配因子給其他故障檢測單元。
8. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列處理器，其特征在于，所述計數(shù)器為0-3計數(shù)器；檢測網(wǎng) 絡(luò)輸入多路器、功能單元狀態(tài)信息輸入多路器、檢測結(jié)果輸出多路器、檢測網(wǎng)絡(luò)輸出多路器 均為4-1多路器；第一存儲器至少劃分為四部分，分別記錄四個功能單元的故障匹配因子。
9. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列處理器，其特征在于，所述陣列處理器還包括定時器，每 個定時器至少跟一個故障檢測單元連接，所述定時器用來控制故障檢測單元中的學(xué)習(xí)模塊 在一段給定時間內(nèi)對功能單元的狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測，使學(xué)習(xí)模塊通過自學(xué)習(xí)方法獲得故障匹配 因子。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1-9任一項所述的陣列處理器，其特征在于，所述陣列處理器還包括 一定數(shù)量的閑置功能單元，所述故障檢測單元的檢測結(jié)果輸出端與通訊單元相連，當(dāng)某個 功能單元檢測為故障時，該功能單元的通訊單元啟動重構(gòu)操作，激活一個閑置功能單元代 替所述故障功能單元。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種陣列處理器，包括多個由計算單元和通訊單元相連組成的功能單元，所述功能單元之間相連形成網(wǎng)絡(luò)，還包括至少一個故障檢測單元，所述故障檢測單元與其鄰近的功能單元相連接，用于對功能單元進(jìn)行故障檢測。本發(fā)明通過在陣列處理器中加入多個故障檢測單元，多個故障檢測單元之間互相連接形成檢測網(wǎng)絡(luò)，每個故障檢測單元負(fù)責(zé)對周圍區(qū)域內(nèi)的功能單元進(jìn)行檢測檢測，從而實現(xiàn)正常工作時對整個陣列處理器芯片的故障檢測功能。
文檔編號G06F15/80GK101706767SQ20091010959
公開日2010年5月12日 申請日期2009年8月13日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月13日
發(fā)明者葉兆華, 吳澤俊, 戴鵬, 王新安, 雍珊珊 申請人:北京大學(xué)深圳研究生院