專(zhuān)利名稱(chēng)：觸控檢測(cè)方法及電容式觸控系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于觸控檢測(cè)領(lǐng)域，且特別是有關(guān)于一種執(zhí)行于電容式觸控面 板的觸控檢測(cè)方法以及電容式觸控系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今，觸控面板已被廣泛地整合于各類(lèi)電子產(chǎn)品上作為輸入裝置，使用者 僅需以觸碰物體(例如手指或觸控筆之類(lèi)的物體)在面板上滑動(dòng)或接觸，使光標(biāo) 產(chǎn)生相對(duì)移動(dòng)或絕對(duì)坐標(biāo)移動(dòng)，即可完成包括文字書(shū)寫(xiě)、巻動(dòng)視窗及虛擬按鍵 等各種輸入。其中，電容式觸控面板為一種可供手指在平滑的面板上移動(dòng)以控 制光標(biāo)移動(dòng)的觸控面板，當(dāng)手指觸碰面板時(shí)，所觸碰位置(亦即觸控點(diǎn))的第一 感測(cè)方向及第二感測(cè)方向上的感應(yīng)能量大小將產(chǎn)生改變，通過(guò)檢測(cè)感應(yīng)能量的 大小即可判斷物體是否觸碰電容式觸控板及計(jì)算出觸碰位置坐標(biāo)。
在某些電容式觸碰面板的設(shè)計(jì)上，會(huì)因?yàn)槟承┘夹g(shù)上的考慮(如繞線問(wèn)題
或是系統(tǒng)的檢測(cè)能力)，只能采用較大的感測(cè)墊，例如5毫米X5毫米或7毫米 X7毫米尺寸大小的感測(cè)墊；由此可知，實(shí)際上電容式觸控面板的解析度和顯 示面板的解析度相比，兩者的差距是相當(dāng)大，很容易產(chǎn)生從低解析度對(duì)應(yīng)到高 解析度后所造成的失真。因此，如何將實(shí)際上較低解析度的電容式觸控面板對(duì) 應(yīng)到高解析度的顯示面板而能減少對(duì)應(yīng)上的失真，是目前亟待解決的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一就是在提供一種觸控檢測(cè)方法，以降低較低解析度的電 容式觸控面板對(duì)應(yīng)到較高解析度的顯示面板后會(huì)造成的失真。 本發(fā)明的又一 目的是提供一種電容式觸控系統(tǒng)。
本發(fā)明一實(shí)施例提出的一種觸控檢測(cè)方法，其執(zhí)行于電容式觸控面板；觸 控檢測(cè)方法包括步驟在第一感測(cè)方向上找出第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊，第一
感測(cè)墊為物體觸碰電容式觸控面板時(shí)在第一感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，第二感測(cè)墊為與第一感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊中感測(cè)能量最高者；以及依據(jù)第一感測(cè)
墊與第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于第一感測(cè)方向 上的輸出觸碰位置在第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊間的特定處。
在本發(fā)明一實(shí)施例中，前述的依據(jù)第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差 值與位置距離之間的比值，設(shè)定于第一感測(cè)方向上的輸出觸碰位置在第一感測(cè)
墊與第二感測(cè)墊間的特定處的步驟包括在第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊在第一感
測(cè)方向上分別對(duì)應(yīng)的第一坐標(biāo)與第二坐標(biāo)間內(nèi)插至少一個(gè)虛擬坐標(biāo)；以及依據(jù)
第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定在第一 感測(cè)方向上的前述輸出觸碰位置的坐標(biāo)為第一坐標(biāo)與前述至少一個(gè)虛擬坐標(biāo) 中的特定者。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中，前述的第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的位置距離為第 一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的幾何中心的連線長(zhǎng)度。
在本發(fā)明一實(shí)施例中，前述的觸控檢測(cè)方法更包括步驟在第二感測(cè)方向 上找出第三感測(cè)墊與第四感測(cè)墊，第三感測(cè)墊為物體觸碰電容式觸控面板時(shí)在 第二感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，第四感測(cè)墊為與第三感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊 中感測(cè)能量最高者；以及依據(jù)第三感測(cè)墊與第四感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置 距離之間的比值，設(shè)定于第二感測(cè)方向上的輸出觸碰位置在第三感測(cè)墊與第四 感測(cè)墊間的特定處。
本發(fā)明再一實(shí)施例提出的一種電容式觸控系統(tǒng)，其包括電容式觸控面板、 顯示面板以及主機(jī)；電容式觸控面板包括電容式感測(cè)墊陣列、第一處理裝置 以及第二處理裝置。電容式感測(cè)墊陣列包括多個(gè)沿第一感測(cè)方向排列的感測(cè)墊 以及多個(gè)沿第二感測(cè)方向排列的感測(cè)墊，第一處理裝置與這些沿第一感測(cè)方向 排列的感測(cè)墊電性耦接，第二處理裝置與這些沿第二感測(cè)方向排列的感測(cè)墊相 電性耦接且通過(guò)第一通訊端口與第一處理裝置進(jìn)行通訊，主機(jī)與顯示面板相電 性耦接，且通過(guò)第二通訊端口與前述電容式觸控面板的第一處理裝置和第二處 理裝置的一個(gè)進(jìn)行通訊，以接收第一處理裝置產(chǎn)生的于第一感測(cè)方向上的輸出 觸碰位置以及第二處理裝置產(chǎn)生的于第二感測(cè)方向上的輸出觸碰位置，并依據(jù) 這些輸出觸碰位置控制顯示面板顯示的光標(biāo)。其中，第一處理裝置適于執(zhí)行下 列步驟于第一感測(cè)方向上找出第一該感測(cè)墊與第二該感測(cè)墊，第一感測(cè)墊為 物體觸碰電容式觸控面板的電容式感測(cè)墊陣列時(shí)在第一感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，第二感測(cè)墊為與第一感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊中感測(cè)能量最高者；以及
依據(jù)第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于 第一感測(cè)方向上的前述輸出觸碰位置在第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊間的特定處。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，前述的第一處理裝置執(zhí)行的依據(jù)第一感測(cè)墊與第 二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于第一感測(cè)方向上的輸
出觸碰位置在第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊間的特定處的步驟包括在第一感測(cè)墊 與第二感測(cè)墊于第一感測(cè)方向上分別對(duì)應(yīng)的第一坐標(biāo)與第二坐標(biāo)間內(nèi)插至少 一個(gè)虛擬坐標(biāo)；以及依據(jù)第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離
之間的比值，設(shè)定于第一感測(cè)方向上的前述輸出觸碰位置的坐標(biāo)為第一坐標(biāo)與 前述的至少一個(gè)虛擬坐標(biāo)中的特定者。其中，第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的位置 距離可第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的幾何中心的連線長(zhǎng)度。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中，前述的電容式觸控系統(tǒng)的第二處理裝置適于執(zhí)行
下列步驟在第二感測(cè)方向上找出第三感測(cè)墊與第四感測(cè)墊，第三感測(cè)墊為物 體觸碰電容式觸控面板的電容式感測(cè)墊陣列時(shí)在第二感測(cè)方向上感測(cè)能量最 高者，第四感測(cè)墊為與第三感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊中感測(cè)能量最高者；以及依 據(jù)第三感測(cè)墊與第四感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于第 二感測(cè)方向上的前述輸出觸碰位置在第三感測(cè)墊與第四感測(cè)墊間的特定處。
本發(fā)明實(shí)施例利用電容式觸控面板的物體(例如手指)接觸到感測(cè)墊面積 和感測(cè)能量成正比的特性，在相鄰的感測(cè)墊之間內(nèi)插出更多的坐標(biāo)，并依據(jù)其 感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，來(lái)推算出更接近物體實(shí)際觸碰的位置。 因此，可以有效的提升電容式觸碰面板的解析度，并降低對(duì)應(yīng)到較高解析度的 顯示面板后會(huì)造成的失真。
為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉較佳 實(shí)施例，并配合所附附圖，作詳細(xì)說(shuō)明如下。


通過(guò)參照前述說(shuō)明及下列附圖，本發(fā)明的技術(shù)特征及優(yōu)點(diǎn)得以獲得完全了解。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例提出的一種電容式觸控系統(tǒng)的一結(jié)構(gòu)框圖2繪示本發(fā)明實(shí)施例提出的一種觸控檢測(cè)方法的在X感測(cè)方向上找出特定的兩個(gè)感測(cè)墊并獲取這兩個(gè)感測(cè)墊的感測(cè)能量差值以及位置距離的步驟； 圖3繪示本發(fā)明實(shí)施例提出的觸控檢測(cè)方法的依據(jù)圖2中找出的兩個(gè)特定 的感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離間的比值設(shè)定X感測(cè)方向上的輸出觸控 位置的步驟；
圖4繪示本發(fā)明實(shí)施例提出的一種觸控檢測(cè)方法的于Y感測(cè)方向上找出 特定的兩個(gè)感測(cè)墊并獲取這兩個(gè)感測(cè)墊的感測(cè)能量差值以及位置距離的步驟；
圖5繪示本發(fā)明實(shí)施例提出的觸控檢測(cè)方法的依據(jù)圖4中找出的兩個(gè)特定 的感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離間的比值設(shè)定Y感測(cè)方向上的輸出觸控 位置的步驟。
其中，附圖標(biāo)記 10:電容式觸控系統(tǒng) 12:電容式觸控面板
120:電容式感測(cè)墊陣列
1201、 1203:感測(cè)線
122: X感測(cè)方向處理裝置 123:通訊端口
124: Y感測(cè)方向處理裝置
13:主通訊端口 14:主機(jī) 16:顯示面板 160:光標(biāo)
AEx、 AEy:感測(cè)能量差值 ADx、 ADy:位置距離 Cx、 Cy:幾何中心 1201P、 1203P:感測(cè)墊
20:手指
具體實(shí)施例方式
有關(guān)本發(fā)明的前述及其他技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)與功效，在以下配合參考附圖的
8一較佳實(shí)施例的詳細(xì)說(shuō)明中，將可清楚的呈現(xiàn)。以下實(shí)施例中所提到的方向用 語(yǔ)，例如上、下、左或右等，僅是參考附加附圖的方向。因此，使用的方向 用語(yǔ)是用來(lái)說(shuō)明并非用來(lái)限制本發(fā)明。
參見(jiàn)圖1，其為本發(fā)明實(shí)施例提出的一種電容式觸控系統(tǒng)的一結(jié)構(gòu)框圖。
電容式觸控系統(tǒng)10包括電容式觸控面板12、主機(jī)14以及顯示面板16。
電容式觸控面板12包括電容式感測(cè)墊陣列120、X感測(cè)方向處理裝置122 以及Y感測(cè)方向處理裝置124。電容式感測(cè)墊陣列120包括多條相互平行設(shè)置 且沿X感測(cè)方向延伸的感測(cè)線1201、以及多條相互平行設(shè)置且沿Y感測(cè)方向 延伸的感測(cè)線1203。其中，每一感測(cè)線1201包括多個(gè)沿X感測(cè)方向排列的菱 形的感測(cè)墊1201P (如圖2所示)，每一感測(cè)線1203包括多個(gè)沿Y感測(cè)方向 排列的菱形的感測(cè)墊1203P (如圖4)所示。X感測(cè)方向處理裝置122與這些 感測(cè)線1201的沿X感測(cè)方向排列的感測(cè)墊1201P相電性耦接。Y感測(cè)方向處 理裝置124與這些沿Y感測(cè)方向排列的感測(cè)墊1203P相電性耦接且通過(guò)通訊 端口 123與X感測(cè)方向處理裝置122進(jìn)行通訊。
主機(jī)14與顯示面板16電性耦接；主機(jī)14通過(guò)主通訊端口 13與電容式觸 控面板12的Y感測(cè)方向處理裝置124進(jìn)行通訊，以接收X感測(cè)方向處理裝置 122產(chǎn)生的于X感測(cè)方向上的輸出觸碰位置以及Y感測(cè)方向處理裝置124產(chǎn) 生的于Y感測(cè)方向上的輸出觸碰位置，并依據(jù)這些輸出觸碰位置控制顯示面 板16顯示的光標(biāo)160。當(dāng)然，主機(jī)14亦可通過(guò)主通訊端口 13與電容式觸控 面板12的X感測(cè)方向處理裝置122而非Y感測(cè)方向處理裝置124進(jìn)行通訊， 其可達(dá)成相同的功效。
下面將結(jié)合圖2至圖4具體描述一種執(zhí)行于觸控檢測(cè)系統(tǒng)10的電容式觸 控面板12的觸控檢測(cè)方法。
參見(jiàn)圖2，當(dāng)物體例如單個(gè)手指20觸碰電容式觸控面板12的電容式感測(cè) 墊陣列120時(shí)，在X感測(cè)方向上找出特定的第(x+l)個(gè)感測(cè)墊1201P與第x 個(gè)感測(cè)墊1201P，并獲取第(x+l)個(gè)感測(cè)墊1201P與第x個(gè)感測(cè)墊1201P的 感測(cè)能量差值A(chǔ)Ex及位置距離ADx。其中，第(x+l)個(gè)感測(cè)墊1201P為手 指20觸碰電容式感測(cè)墊陣列120時(shí)在X感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，第x個(gè) 感測(cè)墊1201P為與第(x+l)個(gè)感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊1201P中感測(cè)能量最高 者；第(x+l)個(gè)感測(cè)墊1201P與第x個(gè)感測(cè)墊1201P的位置距離ADx為例如是兩者的幾何中心Cx的連線長(zhǎng)度。
參見(jiàn)圖3，其繪示依據(jù)感測(cè)能量差值A(chǔ)Ex與位置距離ADx之間的比值(A Ex/ADx)設(shè)定于X感測(cè)方向上的輸出觸碰位置在第(x+l)個(gè)感測(cè)墊1201P 與第x個(gè)感測(cè)墊1201P間的特定處的步驟。具體地可包括下列步驟
(1) 利用內(nèi)插法在第(x+l)個(gè)感測(cè)墊1201P與第x個(gè)感測(cè)墊1201P于X 感測(cè)方向上分別對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)A* (x+l)與坐標(biāo)八*乂之間內(nèi)插(2N+1)個(gè)虛擬 坐標(biāo)。其中，A為X感測(cè)方向上的坐標(biāo)放大系數(shù)，坐標(biāo)八* (x+l)與坐標(biāo)A申x 之間的中點(diǎn)坐標(biāo)為(A*x+A/2)，每相鄰的兩個(gè)坐標(biāo)之間的距離為A/2 (N+l)。
(2) 依據(jù)第(x+l)個(gè)感測(cè)墊1201P與第x個(gè)感測(cè)墊1201P的感測(cè)能量 差值A(chǔ)Ex與位置距離ADx之間的比值(AEx/ADx)，設(shè)定于X感測(cè)方向上 的輸出觸碰位置的坐標(biāo)為坐標(biāo)A* (x+l)與(2N+1)個(gè)虛擬坐標(biāo)中的特定者
(例如圖3橢圓圈住的虛擬坐標(biāo))。其中，比值(AEx/ADx)越大，于X感 測(cè)方向上的輸出觸碰位置的坐標(biāo)越靠近坐標(biāo)A* (x+l) ， AEx的值相應(yīng)地也 就越大。
同樣地，參見(jiàn)圖4，在單個(gè)手指20觸碰電容式觸控面板12的電容式感測(cè) 墊陣列120時(shí)，于Y感測(cè)方向上找出特定的第(y+l)個(gè)感測(cè)墊1203P與第y 個(gè)感測(cè)墊1203P，并獲取第(y+l)個(gè)感測(cè)墊1203P與第y個(gè)感測(cè)墊1203P的 感測(cè)能量差值A(chǔ)Ey及位置距離ADy。其中，第(y+l)個(gè)感測(cè)墊1203P為手 指20觸碰電容式感測(cè)墊陣列120時(shí)在Y感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，第y個(gè) 感測(cè)墊1203P為與第(y+l)個(gè)感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊1203P中感測(cè)能量最高 者；第(y+l)個(gè)感測(cè)墊1203P與第y個(gè)感測(cè)墊1203P的位置距離ADy為例 如是兩者的幾何中心Cy的連線的長(zhǎng)度。
參見(jiàn)圖5，其繪示依據(jù)感測(cè)能量差值A(chǔ) Ey與位置距離A Dy之間的比值(A Ey/ADy)設(shè)定于Y感測(cè)方向上的輸出觸碰位置在第(y+l)個(gè)感測(cè)墊1203P 與第y個(gè)感測(cè)墊1203P間的特定處的步驟。具體地可包括下列步驟
(I) 利用內(nèi)插法在第(y+l)個(gè)感測(cè)墊1203P與第y個(gè)感測(cè)墊1203P于Y 感測(cè)方向上分別對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)8* (y+l)與坐標(biāo)8*7之間內(nèi)插(2M+1)個(gè)虛擬 坐標(biāo)。其中，B為Y感測(cè)方向上的坐標(biāo)放大系數(shù)，坐標(biāo)B^ (y+l)與坐標(biāo)8*丫 之間的中點(diǎn)坐標(biāo)為(B*y+B/2)，每相鄰的兩個(gè)坐標(biāo)之間的距離為B/2 (M+l)。
(II) 依據(jù)第(y+l)個(gè)感測(cè)墊1203P與第y個(gè)感測(cè)墊1203P的感測(cè)能量
10差值A(chǔ)Ey與位置距離ADy之間的比值(AEy/ADy)，設(shè)定于Y感測(cè)方向上 的輸出觸碰位置的坐標(biāo)為坐標(biāo)B* (y+l)與(2M+1)個(gè)虛擬坐標(biāo)中的特定者 (例如圖5橢圓圈住的虛擬坐標(biāo))。其中，比值(AEy/ADy)越大，于Y感 測(cè)方向上的輸出觸碰位置的坐標(biāo)越靠近坐標(biāo)B* (y+l) ， AEy的值相應(yīng)地也
就越大。
至此，可得知手指20在電容式觸控面板12的電容式感測(cè)墊陣列120的觸 碰位置的坐標(biāo)，亦即前述于X、 Y感測(cè)方向上的輸出觸碰位置的坐標(biāo)。對(duì)于本 實(shí)施例提出的前述觸控檢測(cè)方法，圖2及圖3繪示的步驟可由電容式觸控面板 10的X感測(cè)方向處理裝置122執(zhí)行，圖4及圖5繪示的步驟可由電容式觸控 面板10的Y感測(cè)方向處理裝置124執(zhí)行。
需要說(shuō)明的是，本發(fā)明前述實(shí)施例提出的觸控檢測(cè)方法雖然僅以單點(diǎn)觸碰 作為舉例進(jìn)行說(shuō)明，然其同樣適用于多點(diǎn)觸碰的情形。在多點(diǎn)觸碰的情形下， 針對(duì)每一個(gè)觸碰位置執(zhí)行一次本發(fā)明實(shí)施例提出的觸控檢測(cè)方法，即可獲得對(duì) 應(yīng)各個(gè)觸碰位置的在X、 Y感測(cè)方向上的輸出觸碰位置。
綜上所述，本發(fā)明前述實(shí)施例利用電容式觸控面板的物體(例如手指)接 觸到感測(cè)墊面積和感測(cè)能量成正比的特性，在相鄰的感測(cè)墊之間內(nèi)插出更多的 坐標(biāo)，并依據(jù)其感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，來(lái)推算出更接近物體實(shí) 際觸碰的位置。因此，可以有效的提升電容式觸碰面板的解析度，并降低對(duì)應(yīng) 到較高解析度的顯示面板后會(huì)造成的失真。
另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可對(duì)本發(fā)明前述實(shí)施例提出的觸控檢測(cè)方法及電 容式觸控系統(tǒng)做適當(dāng)變更，例如適當(dāng)改變感測(cè)墊的形狀、電容式觸控系統(tǒng)的結(jié) 構(gòu)配置、及/或位置距離的確定方法等等。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情 況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但 這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
ii
權(quán)利要求
1.一種觸控檢測(cè)方法，執(zhí)行于一電容式觸控面板，其特征在于，該觸控檢測(cè)方法包括步驟在一第一感測(cè)方向上找出一第一感測(cè)墊與一第二感測(cè)墊，該第一感測(cè)墊為一物體觸碰該電容式觸控面板時(shí)在該第一感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，該第二感測(cè)墊為與該第一感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊中感測(cè)能量最高者；以及依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的一輸出觸碰位置在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊間的一特定處。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控檢測(cè)方法，其特征在于，依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于該第一感測(cè) 方向上的該輸出觸碰位置在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊間的該特定處的步驟包括在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊于該第一感測(cè)方向上分別對(duì)應(yīng)的一第一坐標(biāo)與一第二坐標(biāo)間內(nèi)插至少一個(gè)虛擬坐標(biāo)；以及依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比 值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置的坐標(biāo)為該第一坐標(biāo)與該至少 一個(gè)虛擬坐標(biāo)中的一特定者。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控檢測(cè)方法，其特征在于，該第一感測(cè)墊與 該第二感測(cè)墊的該位置距離為該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的幾何中心的連 線長(zhǎng)度。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控檢測(cè)方法，其特征在于，更包括步驟于一第二感測(cè)方向上找出一第三感測(cè)墊與一第四感測(cè)墊，該第三感測(cè)墊 為該物體觸碰該電容式觸控面板時(shí)在該第二感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，該第四感測(cè)墊為與該第三感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊中感測(cè)能量最高者；以及依據(jù)該第三感測(cè)墊與該第四感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比 值，設(shè)定于該第二感測(cè)方向上的一輸出觸碰位置在該第三感測(cè)墊與該第四感測(cè) 墊間的一特定處。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸控檢測(cè)方法，其特征在于，依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊間的該特定處的步 驟包括在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊于該第一感測(cè)方向上分別對(duì)應(yīng)的一第一 坐標(biāo)與一第二坐標(biāo)間內(nèi)插至少一個(gè)虛擬坐標(biāo)；以及依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比 值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置的坐標(biāo)為該第一坐標(biāo)與該至少 一個(gè)虛擬坐標(biāo)中的一特定者。
6. —種電容式觸控系統(tǒng)，其特征在于，其包括 一電容式觸控面板，包括一電容式感測(cè)墊陣列，其包括多個(gè)沿第一感測(cè)方向排列的感測(cè)墊以及多個(gè)沿第二感測(cè)方向排列的感測(cè)墊；一第一處理裝置，與所述沿第一感測(cè)方向排列的感測(cè)墊電性耦接； 一第二處理裝置，與所述沿第二感測(cè)方向排列的感測(cè)墊電性耦接，且通過(guò)一第一通訊端口與該第一處理裝置進(jìn)行通訊； 一顯示面板；以及一主機(jī)，與該顯示面板相電性耦接，且通過(guò)一第二通訊端口與該電容式 觸控面板的該第一處理裝置和該第二處理裝置的一個(gè)進(jìn)行通訊，以接收該第一 處理裝置產(chǎn)生的于該第一感測(cè)方向上的一輸出觸碰位置以及該第二處理裝置 產(chǎn)生的于該第二感測(cè)方向上的一輸出觸碰位置，并依據(jù)所述輸出觸碰位置控制 該顯示面板顯示的一光標(biāo)；其中，該第一處理裝置適于執(zhí)行下列步驟于該第一感測(cè)方向上找出一第一該感測(cè)墊與一第二該感測(cè)墊，該第 一感測(cè)墊為該物體觸碰該電容式觸控面板的該電容式感測(cè)墊陣列時(shí)在該第一 感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，該第二感測(cè)墊為與該第一感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊 中感測(cè)能量最高者；以及依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間 的比值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置在該第一感測(cè)墊與該第二 感測(cè)墊間的一特定處。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的電容式觸控系統(tǒng)，其特征在于，該第一處理裝置執(zhí)行的依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊間的一特定處的步驟包括在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊在該第一感測(cè)方向上分別對(duì)應(yīng)的一第一 坐標(biāo)與一第二坐標(biāo)間內(nèi)插至少一個(gè)虛擬坐標(biāo)；以及依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比 值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置的坐標(biāo)為該第一坐標(biāo)與該至少 一個(gè)虛擬坐標(biāo)中的一特定者。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的電容式觸控系統(tǒng)，其特征在于，該第一感測(cè)墊 與該第二感測(cè)墊的該位置距離為該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的幾何中心的 連線長(zhǎng)度。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的電容式觸控系統(tǒng)，其特征在于，該第二處理裝置適于執(zhí)行下列步驟在該第二感測(cè)方向上找出一第三該感測(cè)墊與一第四該感測(cè)墊，該第三感 測(cè)墊為該物體觸碰該電容式觸控面板的該電容式感測(cè)墊陣列時(shí)在該第二感測(cè) 方向上感測(cè)能量最高者，該第四感測(cè)墊為與該第三感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊中感 測(cè)能量最高者；以及依據(jù)該第三感測(cè)墊與該第四感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比 值，設(shè)定于該第二感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置在該第三感測(cè)墊與該第四感測(cè) 墊間的一特定處。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的電容式觸控系統(tǒng)，其特征在于，該第一處理裝置執(zhí)行的依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間 的比值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊間的 一特定處的歩驟包括在該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊于該第一感測(cè)方向上分別對(duì)應(yīng)的一第一坐標(biāo)與一第二坐標(biāo)間內(nèi)插至少一個(gè)虛擬坐標(biāo)；以及依據(jù)該第一感測(cè)墊與該第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比 值，設(shè)定于該第一感測(cè)方向上的該輸出觸碰位置的坐標(biāo)為該第一坐標(biāo)與該至少 一個(gè)虛擬坐標(biāo)中的一特定者。
全文摘要
一種觸控檢測(cè)方法執(zhí)行于電容式觸控面板，其包括步驟在第一感測(cè)方向上找出第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊，第一感測(cè)墊為物體觸碰電容式觸控面板時(shí)在第一感測(cè)方向上感測(cè)能量最高者，第二感測(cè)墊為與第一感測(cè)墊相鄰接的感測(cè)墊中感測(cè)能量最高者；以及依據(jù)第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊的感測(cè)能量差值與位置距離之間的比值，設(shè)定于第一感測(cè)方向上的輸出觸碰位置在第一感測(cè)墊與第二感測(cè)墊間的特定處。本發(fā)明還提供適于執(zhí)行前述觸控檢測(cè)方法的電容式觸控系統(tǒng)。
文檔編號(hào)G06F3/044GK101493742SQ200910118688
公開(kāi)日2009年7月29日 申請(qǐng)日期2009年3月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月3日
發(fā)明者何程翔, 楊佳峰, 許育民 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司