專利名稱：觸控裝置的定位裝置及其定位方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種定位裝置及其定位方法，尤其涉及一種可提高觸控裝置定位觸碰 位置的準確性的裝置及其方法。
背景技術：
隨著技術的日新月異，大多電子裝置，例如筆記型計算機、手機或是可攜式多媒 體播放器等電子裝置，通常配置有觸控面板，以取代傳統(tǒng)鍵盤作為新一代的輸入接口。觸控 面板大致可區(qū)分為電阻式、電容式、紅外線式及超音波式等，其中以電阻式觸控面板與電容 式觸控面板為最常見的產品。電容式觸控面板為通過手指或導體材質靠近或觸碰觸控面 板，而使觸控面板的電容值產生變化。當觸控面板偵測到電容值變化時，便可判斷出手指或 導體材質靠近或觸碰的位置，并且執(zhí)行觸碰位置所對應的功能操作。電容式觸控面板具有 多指觸控的特性，可提供人性化地操作，因而逐漸受到市場的青睞。美國專利公告案號第5825352號提出一種多指接觸感測方法，其采用電容值變化 曲線中的波峰及波谷來判斷所觸碰的位置。在此專利案中，先依序地將兩相鄰傳感器所感 測的電容值進行比較，并且依據電容值變化的趨勢為上升或下降來尋找波峰或波谷的位 置。當掃描完單一軸向上(例如X軸或Y軸)的傳感器后，便儲存所偵測到的波峰值及其 位置。倘若波峰值大于參考臨界值時，便可判斷此波峰的位置受到觸碰。而將相鄰波峰的 電容值及波峰值加以運算，便可得知多指于觸控面板上的觸碰位置。然而，觸控面板在未受觸碰的情況下，會因環(huán)境因素而使傳感器所感測的電容值 有微小的噪聲變化。上述處理程序為先偵測波峰及波谷再進行觸碰的判斷，因此噪聲所引 起的電容值很可能被視為波峰而儲存起來，再進一步地判斷波峰的位置是否為觸碰位置。 此時，對噪聲所引起的電容值進行運算不僅浪費系統(tǒng)運算資源，也造成無謂的系統(tǒng)耗電。而 且，以往定位觸碰位置的計算方法為依據傳感器所感測的電容值來求得質心位置，以作為 觸碰位置。對某一傳感器而言，在觸碰位置位于傳感器中央及位于邊界的情況下，傳感器所 感測的電容值會有所不同，這也影響所計算的觸碰位置的準確性。

發(fā)明內容
本發(fā)明提供一種觸控裝置的定位裝置及其定位方法，其可不受噪聲影響而偵測掃 描線是否處于碰觸狀態(tài)，以降低觸碰判斷上的運算量。另外，依據掃描線所感測的電容值來 計算出長度值并據以計算觸碰位置，以提高觸控裝置的定位準確性。本發(fā)明提出一種觸控裝置的定位方法，其中觸控裝置具有多條掃描線。首先，感測 所述掃描線上的電容值。接著，選取第i掃描線以及其相鄰的掃描線子集合上所感測的電 容值。當第i掃描線上的電容值大于掃描線子集合的電容值，則判斷第i掃描線上的電容 值為波峰電容值。依據波峰電容值及掃描線子集合的電容值計算觸碰位置。在本發(fā)明一實施例中，上述依據波峰電容值及掃描線子集合的電容值計算觸碰位 置的步驟更包括依據波峰電容值及掃描線子集合的第i+Ι電容值及第i_l電容值，分別計算出第i長度值、第i+ι長度值及第i-Ι長度值；當第i長度值小于次長度值與參考系數的加權值時，計算第i長度值及次長度值的第一權重和作為觸碰位置，其中次長度值為第i-1 長度值及第i+ι長度值的最大值。在本發(fā)明一實施例中，上述依據波峰電容值及掃描線子集合的電容值計算觸碰位 置的步驟更包括當第i長度值大于或等于次長度值與參考系數的加權值時，計算第i-Ι長 度值、第i長度值及第i+ι長度值的第二權重和作為觸碰位置。本發(fā)明另提出一種觸控裝置的定位裝置，其中觸控裝置具有多個傳感器。此定位 裝置包括多任務器及處理單元。多任務器耦接觸控裝置，用以選取第i掃描線以及其相鄰 的掃描線子集合所分別感測的電容值。處理單元包括峰值檢測器及位置檢測器。峰值檢測 器耦接多任務器。峰值檢測器于第i掃描線大于掃描線子集合所感測的電容值，判斷第i 掃描線所感測的電容值為波峰電容值。位置檢測器耦接多任務器及峰值檢測器。當第i掃 描線所感測的電容值為波峰電容值時，位置檢測器依據波峰電容值及掃描線子集合的電容 值計算觸碰位置。在本發(fā)明一實施例中，上述位置檢測器依據波峰電容值及掃描線子集合的第i+1 電容值及第i-ι電容值，分別計算出第i長度值、第i+ι長度值及第i-ι長度值。當第i長 度值小于次長度值與參考系數的加權值時，位置檢測器計算第i長度值及次長度值的第一 權重和作為觸碰位置，其中次長度值為第i-ι長度值及第i+ι長度值的最大值。在本發(fā)明一實施例中，當第i長度值大于或等于次長度值與參考系數的加權值 時，位置檢測器計算第i-Ι長度值、第i長度值及第i+ι長度值的第二權重和作為觸碰位 置。上述定位方法及定位裝置，在本發(fā)明一實施例中參考系數相關于觸控工具的面 積。本發(fā)明將掃描線所感測的電容值與碰觸臨界值進行比較，以判斷掃描線是否處于 碰觸狀態(tài)。由此，可以免除噪聲所引起的電容值影響定位的不必要運算，以及降低系統(tǒng)運算 資源的消耗。另外，當處于碰觸狀態(tài)的掃描線所感測的電容值為波峰電容值時，便依據掃描 線及其相鄰的掃描線子集合所感測的電容值計算出多個長度值，并據以計算觸控位置。由 此，可提高觸碰位置定位的準確性。為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖作詳 細說明如下。


圖1為本發(fā)明一實施例的一觸控裝置1的示意圖；圖2為本發(fā)明實施例圖1中轉換單元120所感測的電容值的示意圖；圖3為本發(fā)明一實施例的觸控裝置的定位方法的流程圖；圖4為本發(fā)明實施例圖3中計算觸碰位置的流程圖；圖5為本發(fā)明實施例圖3中計算觸碰位置的另一流程圖；附圖標記說明1-觸控裝置； 50-觸控面板；10、20_菱形狀電極；100-定位裝置；110-多任務器； 120-轉換單元；
130-處理單元；131-碰觸檢測器；132-峰值檢測器；133-位置檢測器；210 213-移動窗口 ；A、B-觸碰位置；Cth-碰觸臨界值；D (x, y)-坐標； S301 S304-本發(fā)明一實施例的觸控裝置的定位方法的步驟；S401 S403、S501 S503-本發(fā)明一實施例的計算觸碰位置的步驟。
具體實施例方式圖1為本發(fā)明一實施例的一觸控裝置1的示意圖。請參照圖1，觸控裝置1包含一 觸控面板50及一定位裝置100。觸控面板50為一電容式觸控面板，其在X軸及Y軸上，以 軸交錯方式(inter leaved)進行菱形狀電極矩陣的配置。其中，X軸上每一掃描線CINO CIN7上的電極系電性導通，且Y軸上每一掃描線CIN8 CIN15上的電極亦是電性導通。定 位裝置100包括多任務器110、轉換器單元120以及處理單元130。多任務器110耦接觸控面板50。當觸控工具(例如手指或觸控筆)接觸到觸控 面板50時，菱形狀電極與觸控工具形成電容耦合而使傳感器所感測的電容值產生變化。因 此，當進行觸控面板50的碰觸偵測時，多任務器110便依據掃描順序，依序地驅動轉換單元 120感測各掃描線上的電容值。舉例來說，掃描順序依序地為掃描線CINO — CIN1. . . — CIN7 — CIN8 — CIN9. . . — CIN15 — CIN0...，經由偵測觸碰 位置位于X軸及Y軸的坐標，便可以二維坐標定位觸碰位置。轉換單元120為一模擬數字轉換器(analog to digital converter，ADC)，可以 為一電容數字轉換器(capacitance to digital converter，CDC)，其耦接多任務器110與 處理單元130之間。轉換單元120用以將模擬格式的電容值轉換為數字格式的電容值，以 便于處理單元130判讀及處理。處理單元為一微控制器(micro-controller)，其包括碰觸檢測器131、峰值檢測 器132及位置檢測器133。碰觸檢測器131耦接轉換單元120，其依據轉換單元120所感測 的電容值與一碰觸臨界值的比較結果，來判斷電容值的變化為觸控工具碰觸(或接近)觸 控面板50所引起或者為噪聲所引起，以避免對噪聲所造成的電容值變化進行不必要的運 算。峰值檢測器132耦接轉換單元120及碰觸檢測器131。當觸控工具碰觸或接近觸控面 板50時，轉換單元120針對各掃描線所感測的電容值會形成具有波峰波谷的曲線。本實施 例采用一移動窗口來選取一掃描線以及其相鄰的掃描線子集合上所感測的電容值，以進行 波峰判斷，其中移動窗口逐一地位移一掃描線，當選取的掃描線的電容值大于其掃描線子 集合的電容值，則判斷為波峰。位置檢測器133耦接轉換單元120及峰值檢測器132。位置檢測器133依據波峰 的位置來判斷受碰觸的掃描線坐標，接著定位出觸碰位置。一般而言，感測到波峰電容值的 掃描線坐標會很接近觸碰位置。受限于菱形狀電極的尺寸設計，觸控面板顯示的分辨率通 常高于電極矩陣配置的分辨率。菱形狀電極尺寸越大，相對地會降低偵測出觸碰位置的分辨率。舉例來說，圖2為本發(fā)明實施例圖1中轉換單元120所感測的電容值的示意圖。請 參考圖1及圖2，當使用者利用觸控工具(例如手指、觸控筆等)于圖1所示的觸碰位置A 及B上碰觸觸控面板50時，掃描線CINO CIN7所感測的電容值分別為圖2所示的電容值CO C7。參考移動窗口 210，首先選取掃描線CINO上所感測的電容值CO及其相鄰的掃描 線Cim上所感測的電容值Cl。由于電容值CO小于碰觸臨界值Cth，因此碰觸檢測器131判 斷感測電容值CO不處于碰觸狀態(tài)。這也意味著觸碰位置不位于電容值CO所對應的掃描線 CINO位置，故無需對電容值CO及Cl進行運算來定位觸碰位置。接著，將移動窗口 210向右 位移一掃描線，以選取掃描線CI m上所感測的電容值Cl及其相鄰的掃描線子集合上所感 測的電容值，例如兩側相鄰的掃描線CINO及CIN2上所感測的電容值CO及C2。由于電容值 Cl亦小于碰觸臨界值Cth，故碰觸檢測器131判斷感測電容值Cl亦不處于碰觸狀態(tài)，無需對 電容值CO、Cl及C2進行運算來定位觸碰位置。
接下來，移動窗口 211選取掃描線CIN2上所感測的電容值C2及其兩側相鄰的掃 描線Cim及CIN3上所感測的電容值Cl及C3。此時，電容值C2大于碰觸臨界值Cth，表示 電容值C2為觸碰工具碰觸或接近觸控面板50所引起的，故碰觸檢測器131會判斷感測電 容值C2處于碰觸狀態(tài)。接著，峰值檢測器132依據電容值Cl C3，可檢測出電容值C2高 于相鄰的電容值Cl及C3，進而判斷電容值C2為波峰電容值。也就是說，觸碰位置為接近或 者位于電容值C2所對應的掃描線坐標上。同樣地，經由計算觸碰位置A位于掃描線cmio 上的Y軸坐標，便可以二維坐標D (x, y)來定位觸碰位置A，相關運算于后說明。參考移動窗口 212選取掃描線CIN3上所感測的電容值C3及其兩側相鄰的掃描線 CIN2及CIN4上所感測的電容值C2及C4。雖然電容值C3所對應的掃描線CIN3會因電容 值C3大于碰觸臨界值Cth而判斷為碰觸狀態(tài)，但是依據電容值C2 C4之間的比較結果，可 以得知電容值C3不為波峰電容值，這也表示觸碰位置接近但不位于電容值C3所對應的掃 描線坐標上，因而不對電容值C2 C4進行運算來定位觸碰位置。接著，在移動窗口 212向 右位移一掃描線而選取電容值C3、C4及C5的情況下，以及移動窗口 212更向右位移一掃描 線而選取電容值C4、C5及C6的情況下，因為電容值C4及C5不大于碰觸臨界值Cth，故處理 方式如電容值CO及Cl相同，無須對所擷取的電容值進行運算來定位觸碰位置。接著，參考移動窗口 213而選取掃描線CIN6上所感測的電容值C6及其兩側相鄰 的掃描線CIN5及CIN7上所感測的電容值C5及C7。由于電容值C6大于碰觸臨界值Cth，且 電容值C6大于相鄰的電容值C5及C7而為波峰電容值，因此位置檢測器133判斷觸碰位置 為接近或者位于電容值C6所對應的掃描線坐標上，相關運算于后說明。在本實施例中，經 由比較所擷取的電容值與碰觸臨界值的方式，以及分析所擷取的電容值是否為波峰電容值 的方式，可以免除定位觸碰位置時不必要的運算，可有效地降低運算量。依據上述說明，在此可歸納為下列的方法流程。圖3為本發(fā)明一實施例的觸控裝 置的定位方法的流程圖。請參照圖3，首先感測第i掃描線以及與第i掃描線相鄰的掃描線 子集合上的電容值(步驟S301)，其中掃描線子集合包括相鄰的第i-Ι掃描線及第i+Ι掃描 線。接著，依據第i掃描線上所感測的電容值及碰觸臨界值，判斷第i掃描線是否處于碰觸 狀態(tài)(步驟S302)，并且當第i掃描線處于碰觸狀態(tài)時，進一步地依據上述所感測的電容值， 判斷第i掃描線上所感測的電容值是否為波峰電容值(步驟S303)。當第i掃描線上所感 測的電容值為波峰電容值，則依據所感測的電容值來計算觸碰位置(步驟S304)。相反地， 當第i掃描線不處于碰觸狀態(tài)，或者當第i掃描線上所感測的電容值不為波峰電容值時，無 須對所擷取的電容值進行運算來定位觸碰位置。以下詳細敘述定位觸碰裝置的運算。圖4為本發(fā)明實施例圖3的計算觸碰位置的流程圖。一般而言，電容值正比于菱形狀電極與觸控工具電容耦合的面積。由于對應某一軸向的坐標位置為一維的長度信息 而非二維的面積信息，因此以往直接采用電容值進行質心坐標的運算來作為觸碰位置的方 式，往往與實際的觸碰位置有較大的誤差。因此，位置檢測器133依據第i掃描線所感測的 電容值Ci以及掃描線子集合所感測的電容值Ci+1及C^1，計算電容值C” Ci+1及Ch的長度 值，并據以定位觸碰位置。舉例來說，長度值可以為掃描線上所感測的電容值的平方根。另外，由于觸控工具碰觸觸控面板50的面積影響感測有電容值變化的掃描線數 量，為了提高定位觸碰位置的準確性，位置檢測器133更依據相關于觸控工具面積的參考 系數α，以進行定位觸碰位置的運算，其中參考系數α與觸控工具的面積成反比且大于1。 此參考系數α會依據電路結構及設計而有所不同，對觸控筆而言，參考系數可以為1.4，且 對觸碰面積大于觸控筆的手指而言，參考系數可以為1. 15。
以移動窗口 211所選取的電容值Cl C3為例，位置檢測器133依據電容值C2及 其相鄰的電容值Cl及C3，分別計算出電容值Cl C3的長度值、厄及腸,其中電 容值C2為波峰電容值，且電容值C 3次于電容值C2，即電容值C2大于電容值Cl。接著，位 置檢測器133將長度值M與由長度值與參考系數α計算得來的加權值進行比較(步 驟S401)，其中圖4中所示的表示次于波峰電容值的電容值所運算獲得長度值可能是 長度值‘或長度值V^T，需視實際情況而定。當長度值大于或者等于長度值M與參考系數α的加權值時，表示觸控面板 50受到碰觸的范圍較有可能涵蓋電容值C2及C3所對應的掃描線，因此位置檢測器133計 算長度值ν 及長度值M的權重和Wl作為觸碰位置(步驟S402)，其中Pi表示電容值Ci 所對應的掃描線位于觸控裝置的位置索引。相反地，當長度值M小于長度值W與參考 系數α的加權值，表示觸控面板50受到碰觸的范圍較有可能涵蓋電容值Cl C3所對應 的掃描線，因此位置檢測器133計算長度值W、M及M的權重和W2作為觸碰位置 (步驟 S403)。此外，可由電容值計算出的權重和作為觸碰位置，以下再提一實施例值說明。圖5 為本發(fā)明實施例圖3的計算觸碰位置的另一流程圖。請參照圖4及圖5，其不同之處為步 驟S502及S503。當長度值M大于或者等于長度值M與參考系數α的加權值時，位置 檢測器133計算電容值C2及C3的權重和Wl作為觸碰位置(步驟S502)，其中Pi表示電容 值Ci所對應的掃描線位于觸控裝置的位置索引。相反地，當長度值h小于長度值M與 參考系數α的加權值，位置檢測器133計算電容值C1、C2及C3的權重和W2作為觸碰位置 (步驟 S503)。綜上所述，上述實施例的定位裝置及其定位方法可將掃描線所感測的電容值與碰 觸臨界值進行比較，以判斷掃描線是否處于碰觸狀態(tài)。另外，當處于碰觸狀態(tài)的掃描線所感 測的電容值為波峰臨界值時，便依據掃描線及其相鄰的掃描線子集合所感測的電容值，計 算這些電容值的長度值，并據以計算觸控位置，或者依據掃描線及其相鄰的掃描線子集合 所感測的電容值計算觸控位置。最后應說明的是以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術方案，而非對其限制；盡 管參照前述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解其依然 可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本發(fā)明各實施例技術方案的 神和范圍。
權利要求
一種觸控裝置的定位方法，其特征在于，其中所述觸控裝置具有多條掃描線，所述定位方法包括以下步驟感測所述掃描線上的電容值；選取所述掃描線的一第i掃描線以及其相鄰的一掃描線子集合上所感測的電容值；當所述第i掃描線上的電容值大于所述掃描線子集合的電容值，則判斷所述第i掃描線上的電容值為一波峰電容值；以及依據所述波峰電容值及所述掃描線子集合的電容值計算一觸碰位置。
2.根據權利要求1所述的定位方法，其特征在于，其中所述依據所述波峰電容值及所 述掃描線子集合的電容值計算所述觸碰位置的步驟，更包括依據所述波峰電容值及所述掃描線子集合的一第i+Ι電容值及一第i_l電容值，分別 計算出一第i長度值、一第i+Ι長度值及一第i_l長度值；以及當所述第i長度值小于一次長度值與一參考系數的一加權值時，計算所述第i長度值 及所述次長度值的一第一權重和作為所述觸碰位置，其中所述次長度值為所述第i_l長度 值及所述第i+Ι長度值的最大值。
3.根據權利要求2所述的定位方法，其特征在于，其中所述參考系數相關于一觸控工 具的面積。
4.根據權利要求3項所述的定位方法，其特征在于，其中所述參考系數大于1，且所述 參考系數與所述觸控工具的面積成反比。
5.根據權利要求2所述的定位方法，其特征在于，其中所述第一權重和 Wi = (-JcZi X^il + λ/q X^)K-Jc^+4c,),其中‘為所述次長度值，‘、犯分別為所述第i-ι長度值、所述第i長度值及所述第i+ι長度值，且Pi-^Pi及pi+1分別為所 述第i-Ι電容值Cp1、所述波峰電容值Ci及所述第i+Ι電容值Ci+1所對應的所述掃描線位 于所述觸控裝置的位置索引。
6.根據權利要求2所述的定位方法，其特征在于，其中所述依據所述波峰電容值及所 述掃描線子集合的電容值計算所述觸碰位置的步驟，更包括當所述第i長度值大于或等于所述次長度值與所述參考系數的所述加權值時，計算所 述第i-ι長度值、所述第i長度值及所述第i+ι長度值的一第二權重和作為所述觸碰位置。
7.根據權利要求6所述的定位方法，其特征在于，其中所述第二權重和別為所述第i-l長度值、所述第i長度值及所述第i+ι長度值，且PifPi及pi+1分別為所述 第i-l電容值Cp1、所述波峰電容值Ci及所述第i+Ι電容值Ci+1所對應的所述掃描線位于 所述觸控裝置的位置索引。
8.根據權利要求1所述的定位方法，其特征在于，其中所述選取所述掃描線的所述第i 掃描線以及其相鄰的所述掃描線子集合上所感測的電容值的步驟，更包括依據所述第i掃描線所感測的電容值及一碰觸臨界值，判斷所述第i掃描線是否處于 一碰觸狀態(tài)；以及當所述第i掃描線處于所述碰觸狀態(tài)，進行所述當所述第i掃描線上的電容值大于所 述掃描線子集合的電容值，則判斷所述第i掃描線上的電容值為所述波峰電容值的步驟。2
9.根據權利要求1所述的定位方法，其特征在于，其中所述依據所述波峰電容值及所 述掃描線子集合的電容值計算所述觸碰位置的步驟，更包括依據所述波峰電容值及所述掃描線子集合的一第i-ι電容值及一第i+ι電容值，分別 計算出一第i長度值、一第i-ι長度值及一第i+ι長度值；以及當所述第i長度值小于一次長度值與一參考系數的一加權值時，計算所述波峰電容值 及一次電容值的一第一權重和作為所述觸碰位置，其中所述次長度值為所述第i-ι長度值 及所述第i+ι長度值的最大值，且所述次電容值為所述第i-ι電容值及所述第i+ι電容值 的最大值。
10.根據權利要求9所述的定位方法，其特征在于，其中所述第一權重和Wl= (Ci±1 XPii^Ci XPi) / (Cii^Ci)，其中Ciil為所述次電容值，Pb、Pi及Pi+1分別為所述第i-1 電容值Ch、所述波峰電容值Ci及所述第i+Ι電容值Ci+1所對應的所述掃描線位于所述觸 控裝置的位置索引。
11.根據權利要求9所述的定位方法，其特征在于，其中所述依據所述波峰電容值及所 述掃描線子集合的電容值計算所述觸碰位置的步驟，更包括當所述第i長度值大于或等于所述次長度值與所述參考系數的所述加權值時，計算所 述波峰電容值、所述第i電容值及所述第i+Ι電容值的一第二權重和作為所述觸碰位置。
12.根據權利要求11所述的定位方法，其特征在于，其中所述第二權重和W2= (Cp1 XPi-JCiXPJCwXPwV(Ci-ACJCw)，其中 Ph、Pi 及 Pi+1 分別為所述第 i-1 電容值 C^1、所述波峰電容值Ci及所述第i+Ι電容值Ci+1所對應的所述掃描線位于所述觸控裝置的 位置索引。
13.—種觸控裝置的定位裝置，其特征在于，其中所述觸控裝置具有多條掃描線，包括一多任務器，耦接所述觸控裝置，用以選取所述掃描線中一第i掃描線以及其相鄰的 一掃描線子集合所分別感測的電容值；以及一處理單元，包括一峰值檢測器，耦接所述多任務器，當所述第i掃描線上的電容值大于所述掃描線子 集合所感測的電容值，判斷所述第i掃描線所感測的電容值為一波峰電容值；以及一位置檢測器，耦接所述多任務器及所述峰值檢測器，當所述第i掃描線所感測的電 容值為所述波峰電容值時，依據所述波峰電容值及所述掃描線子集合的電容值計算一觸碰位置。
14.根據權利要求13所述的定位裝置，其特征在于，其中所述位置檢測器依據所述波 峰電容值及所述掃描線子集合的一第i+Ι電容值及一第i-i電容值，分別計算出一第i長 度值、一第i+Ι長度值及一第i-i長度值，當所述第i長度值小于一次長度值時與一參考系 數的一加權值時，所述位置檢測器計算所述第i長度值及所述次長度值的一第一權重和作 為所述觸碰位置，其中所述次長度值為所述第i-1長度值及所述第i+Ι長度值的最大值。
15.根據權利要求14所述的定位裝置，其特征在于，其中所述參考系數相關于一觸控 工具的面積。
16.根據權利要求15所述的定位裝置，其特征在于，其中所述參考系數大于1，且與所 述觸控工具的面積成反比。
17.根據權利要求14所述的定位裝置，其特征在于，其中所述第一權重 奶一&乂^+^父巧久^^ + ^^^，其中&為所述次長度值，^^^&及#分別為所述第i_l長度值、所述第i+Ι長度值及所述第i長度值，且Ρη、Ρμ及Pi分別 為所述第i_l電容值C^1、所述第i+Ι電容值Ci+1及所述波峰電容值Ci所對應的所述掃描 線位于所述觸控裝置的地址索引。
18.根據權利要求14所述的定位裝置，其特征在于，其中當所述第i長度值大于或等于 所述次長度值與所述參考值的所述加權值時，所述位置檢測器計算所述第i_l長度值、所 述第i長度值及所述第i+Ι長度值的一第二權重和作為所述觸碰位置。
19.根據權利要求18所述的定位裝置，其特征在于，其中所述第二權重和 爐2=(&><小+V^M+V^x^vc^+V^+V^),其中&、#及分別為 所述第i_l長度值、所述第i長度值以及所述第i+Ι長度值，Pi-PPi及Pi+1分別為第i_l電 容值C^1、波峰電容值Ci及第i+Ι電容值Ci+1所對應的所述掃描線位于所述觸控裝置的地 址索引。
20.根據權利要求13所述的定位裝置，其特征在于，其中所述處理單元更包括一碰觸 檢測器，其耦接于所述多任務器與所述峰值檢測器之間，用以依據所述第i掃描線所感測 的所述電容值及一碰觸臨界值，判斷所述第i掃描線是否處于一碰觸狀態(tài)，并且當所述第i 掃描線處于所述碰觸狀態(tài)時，所述峰值檢測器則判斷所述第i掃描線所感測的電容值是否 為所述波峰電容值。
21.根據權利要求13所述的定位裝置，其特征在于，其中所述位置檢測器依據所述波 峰電容值及所述掃描線子集合的一第i+Ι電容值及一第i_l電容值，分別計算出一第i長 度值、一第i+Ι長度值及一第i_l長度值，當所述第i長度值小于一次長度值時與一參考系 數的一加權值時，所述位置檢測器計算所述波峰電容值及一次電容值的一第一權重和作為 所述觸碰位置，其中所述次長度值為所述第i_l長度值及所述第i+Ι長度值的最大值，且所 述次電容值為所述第i_l電容值及所述第i+Ι電容值的最大值。
22.根據權利要求21所述的定位裝置，其特征在于，其中所述第一權重和Wl= (Ci±1 XPii^Ci XPi) / (Cii^Ci)，其中Ciil為所述次電容值，Pb、Pi及Pi+1分別為所述第i_l 電容值C^1、所述波峰電容值Ci及所述第i+Ι電容值Ci+1所對應的所述掃描線位于所述觸 控裝置的位置索引。
23.根據權利要求21項所述的定位裝置，其特征在于，其中當所述第i長度值大于或等 于所述次長度值與所述參考值的所述加權值時，所述位置檢測器計算所述第i_l電容值、 所述波峰電容值及所述第i+Ι電容值的一第二權重和作為所述觸碰位置。
24.根據權利要求23所述的定位裝置，其特征在于，其中所述第二權重和W2= ((^1 XPi-JCiXPJCwXPwV(Ci-ACJCw)，其中 Ph、Pi 及 Pi+1 分別為所述第 i-1 電容值 C^1、所述波峰電容值Ci及所述第i+Ι電容值Ci+1所對應的所述掃描線位于所述觸控裝置的 位置索引。
25.根據權利要求13所述的定位裝置，其特征在于，更包括一轉換單元，耦接于所述多任務器與所述處理單元之間，用以將具有一模擬格式的所 述電容值轉換為具有一數字格式的所述電容值。
全文摘要
一種觸控裝置的定位裝置及其定位方法，其中觸控裝置具有多條掃描線。在定位方法中，首先感測這些掃描線上的電容值。接著，選取第i掃描線以及其相鄰的掃描線子集合所感測電容值。當第i掃描線上的電容值大于掃描線子集合的電容值時，判斷第i掃描線上的電容值為波峰電容值。最后，依據波峰電容值及掃描線子集合的電容值計算觸碰位置。
文檔編號G06F3/044GK101882036SQ20091013631
公開日2010年11月10日 申請日期2009年5月7日 優(yōu)先權日2009年5月7日
發(fā)明者盧正隆, 黃舜耕 申請人:聯陽半導體股份有限公司